李 杰, 劉林生
(北京自動測試技術(shù)研究所, 北京 100088)
內(nèi)部示波器是ATE測試設(shè)備上的一個調(diào)試工具模塊,在大多數(shù)進口ATE設(shè)備上都配備了這個模塊。內(nèi)部示波器的主要功能就是可以動態(tài)地顯示ATE被測芯片某個輸出管腳的實時波形,它極大豐富了ATE設(shè)備的調(diào)試手段、降低了測試成本、縮短了編程和調(diào)試的周期,是ATE測試設(shè)備進入中高端市場必備的一個模塊。
內(nèi)部示波器從主要功能上看與我們現(xiàn)在使用的外部示波器沒有本質(zhì)的區(qū)別,一些基本的示波器功能它都可以提供。但對于測試工程師來說,在編寫測試程序或者調(diào)試測試程序時,相對于外部示波器來說,內(nèi)部示波器的優(yōu)點是非常明顯的。首先,內(nèi)部示波器相對外部示波器最大的優(yōu)點在于采樣點的不同,外部示波器的采樣點一般都在芯片的管腳上,內(nèi)部示波器的采樣點在管腳電路驅(qū)動/比較器的輸出端,這就決定了內(nèi)部示波器能更精確地顯示輸出的波形;其次,外部示波器即使內(nèi)阻再大在某些情況也是不能被忽視的,這就導(dǎo)致了測試準(zhǔn)確度的下降,而內(nèi)部示波器是不涉及內(nèi)阻問題的;第三,在某些特殊場合,比如中測的時候,看不到被測的圓片,所以根本沒有條件使用外部示波器,這也是內(nèi)部示波器的優(yōu)勢;綜上所述,內(nèi)部示波器對于中高端ATE設(shè)備來說是一個必不可少的模塊。
對于數(shù)字ATE設(shè)備來說,它沒有配備波形采集的模塊,那要如何實現(xiàn)對被測芯片輸出波形的采集呢?我們看圖1所示的一個波形,它看起來雖然是連續(xù)的,但我們同樣可以把它看成是由無數(shù)個點組成的,把這些點連起來就成了連續(xù)的圖形了。而數(shù)字ATE設(shè)備對輸出管腳的輸出電壓是可以采集到的,所以在一個測試周期內(nèi),每間隔一定的時間對輸出管腳采集一次輸出電壓,并把這些采集到的電壓值進行作圖處理,只要間隔時間足夠小,那么最終做出的就是該管腳的連續(xù)輸出波形了。
圖1 典型輸出波形
數(shù)字ATE設(shè)備采集輸出管腳電壓值有兩種常見的方法,一種方法是通過直流參數(shù)測試,對輸出管腳加流測壓測得輸出電壓值。這種方法顯然不適合用于此處,因為直流參數(shù)測試加流測壓的方法實際上是對輸出管腳加入負(fù)載的情況下測得的輸出電壓值,這個電壓值是和負(fù)載有關(guān)的,不能準(zhǔn)確地反映輸出管腳的波形情況。另一種方法是功能測試得到管腳輸出電壓值,通過對輸出高/低電平比較電壓的設(shè)置,以及功能測試是否通過來得到管腳輸出電壓的值。這個電壓值是和負(fù)載無關(guān)的,能夠準(zhǔn)確地反映輸出波形。
下面以我所研制的BC3192V50數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)為例,詳細(xì)說明內(nèi)部示波器模塊的實現(xiàn)方法以及需要解決的一些技術(shù)難點。
首先來看一下如何用功能測試的方法來采集輸出管腳的輸出電壓。對于一個芯片的輸出管腳來說,輸出波形與功能測試的測試圖形是一一對應(yīng)的,如圖2所示,測試圖形的每一拍對應(yīng)輸出波形的一個周期,右圖所示的波形在測試圖形文件上顯示的就是“LHLHL”,功能測試實際上就是檢驗輸出管腳的輸出狀態(tài)是否正確。如果在測試圖形文件上某輸出管腳的內(nèi)容是“LHLHL”,功能測試又顯示“通過”,則可判斷該管腳的輸出波形如圖2所示。ATE上的“H”和“L”是由輸出高/低比較電平(VOH/VOL)這兩個參數(shù)決定的,管腳輸出電壓大于VOH,ATE判定為“H”狀態(tài),小于VOL判定為“L”狀態(tài),這就不難看出,如果把VOH和VOL設(shè)定為同一個電壓值,并且從0V(或者VCC)開始以一個很小的1V遞增(或遞減),每次都進行功能測試,則在功能測試結(jié)果變化的那個點對應(yīng)的VOH和VOL的電壓值就是輸出管腳此刻的輸出電壓值。
圖2 典型輸出波形詳解
通過上面的介紹可以看出,要得出輸出電壓值,必須在功能測試結(jié)果變化的跳變點上才可以,那么問題又出現(xiàn)了,功能測試是對所有輸出管腳做判斷的,如何才能得到所需輸出管腳的功能跳變點呢?常規(guī)方法是對功能測試的測試圖形做屏蔽處理,也就是說將所有無關(guān)輸出管腳的測試圖形文件內(nèi)容改為“X”(輸出不關(guān)心狀態(tài)),這就保證了只對關(guān)心的輸出管腳做功能測試。但這種方法既麻煩又費時,還容易產(chǎn)生錯誤,這里我們采用BC3192測試系統(tǒng)自帶的失效存儲器來完成這個操作。失效存儲器在每次功能測試結(jié)束后自動存儲,它存儲的內(nèi)容是所有輸出管腳功能測試的結(jié)果,失效為“1”,通過為“0”,我們要判斷某個管腳在測試圖形某一拍的功能測試結(jié)果,只需讀出失效存儲器對應(yīng)位的內(nèi)容就可以了。圖3顯示了BC3192失效存儲器的內(nèi)容,該測試圖形有8拍,前14拍是流水。
圖3 失效存儲器內(nèi)容
通過BC3192測試系統(tǒng)的VOH和VOL電平的設(shè)定以及失效存儲器內(nèi)容的讀取,我們現(xiàn)在可以采集到輸出管腳在時鐘周期某一點上的輸出電壓了,但如何在整個時鐘周期的不同點上采集輸出電壓呢?數(shù)字ATE設(shè)備上驅(qū)動/響應(yīng)格式化器是必不可少的模塊,而響應(yīng)格式化器的功能之一就是讓用戶自行決定在一個時鐘周期內(nèi)何時進行功能比較,它一般提供兩種比較方——沿比較和窗口比較。窗口比較需要設(shè)定一個時間窗口,比如時鐘周期100 ns,窗口設(shè)定為【60 ns,80 ns】,則功能測試會在【60 ns,80 ns】這個窗口內(nèi)對輸出電平進行比較,只要出現(xiàn)了正確的電平,就判斷功能測試通過。而沿比較只需要設(shè)定一個比較沿,比如時鐘周期100 ns,比較沿設(shè)定為80 ns,則功能測試會在80 ns時對輸出電平進行比較,80ns時的輸出電平正確功能測試才會判斷通過。BC3192測試系統(tǒng)響應(yīng)沿的分辨率為1 ns,所以只需要使用沿比較的方式進行功能測試,每間隔1 ns采集一次輸出管腳的輸出電壓,就可以在整個時鐘周期內(nèi)采集到足夠多的輸出電壓值了。
通過上面的分析,我們使用軟件編程,把周期數(shù)作為第一循環(huán),采樣時間作為第二循環(huán),VOH和VOL電壓值作為第三循環(huán),對芯片進行功能測試,把得到的輸出電壓值作圖就可以得到輸出波形了。但這并不是實際的波形,它和實際波形還有一定的差距,下面我們來討論內(nèi)部示波器實現(xiàn)中的一些難點和波形優(yōu)化的問題。
首先我們不能忽視的一點是所關(guān)心輸出管腳的測試圖形文件上如果出現(xiàn)了“X”(輸出不關(guān)心)和“T”(輸出三態(tài))這兩個狀態(tài),在VOH和VOL相等的情況下,功能測試是不會出現(xiàn)跳變點的,這就導(dǎo)致輸出電平采集的失敗。為了避免這種狀態(tài)的產(chǎn)生,在電壓采集之前,對測試圖形文件還要進行一定的處理,將文件中的“X”和“T”狀態(tài)任意改為“H”或者“L”,以保證功能測試跳變點的出現(xiàn),從而能順利地采集到輸出電壓值。
其次對于內(nèi)部示波器模塊來說,采集時間是個敏感問題,從原理來看,3個循環(huán)嵌套,1 ns的分辨率,電壓步進值如果也很小的話,整個的采集時間是很長的,如何能優(yōu)化這個采集時間也是一個難點。要對VOH和VOL電壓循環(huán)優(yōu)化,我們可以首先先確定每個時鐘周期內(nèi)輸出波形的預(yù)期值,這可以通過測試圖形文件得到,預(yù)期值為低,則循環(huán)從VCC開始,預(yù)期值為高,則循環(huán)從0V開始,這就能有效減少給循環(huán)的次數(shù),同時還可以采取半值比較的方法,比如循環(huán)從VCC開始,下一個點檢測VCC/2,如跳變點沒產(chǎn)生,則檢測VCC/4,如產(chǎn)生了檢測3VCC/4,以此類推,可大大縮短VOH和VOL電壓循環(huán)的次數(shù),減少采集時間。對采集時間循環(huán)的優(yōu)化可根據(jù)測試周期決定,保持該循環(huán)最大循環(huán)100次較為適宜,也就是說周期大于100 ns的時候,可以相應(yīng)增加采集時間間隔,保證循環(huán)次數(shù)不會太大。
對所得到的輸出管腳波形進行優(yōu)化和平滑是必需的,最主要的原因就是該波形存在過沖問題。過沖一般會出現(xiàn)在輸出波形變化的時候,也就是波形從低變高或者從高變低的時候,過沖的電壓值一般都很高,有可能達到VCC,但它不是真實的,這主要是由采集時間接近0 ns的時候,功能測試結(jié)果不穩(wěn)定造成的。根據(jù)這種情況,把采集的前5-10個點進行優(yōu)化,可以得到比較真實的波形。波形的平滑也是必須的,因為即使是1 ns采集間隔,在作圖的時候間隔也是很大的,如果不進行平滑,做出的波形銳度會很大,看起來很不舒服。我們可以通過軟件的計算,在兩個間隔點之間再取100個點,每個點的增量為間隔的1%,這樣再畫出的波形就較為真實了。
內(nèi)部示波器 作為一個非常實用的調(diào)試模塊,越來越受到測試工程師的歡迎,國產(chǎn)設(shè)備配備該模塊是大勢所趨,也必然是國產(chǎn)設(shè)備進入中高端市場的必備軟件模塊。
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