ynopsys將HAPS糾錯(cuò)可見度提升100倍
2012-03-31 16:01:46
電子設(shè)計(jì)工程 2012年10期
全球領(lǐng)先的電子器件和系統(tǒng)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和制造軟件及知識產(chǎn)權(quán)（IP）供應(yīng)商新思科技公司日前宣布：為其HAPS?基于FPGA原型系統(tǒng)的用戶推出新版的Deep Trace Debug深度追蹤糾錯(cuò)軟件。借助HAPSDeep Trace Debug，原型工程師可利用比傳統(tǒng)FPGA片上邏輯糾錯(cuò)器所用的存儲器高出將近100倍的信號存儲容量。新的深度追蹤糾錯(cuò)功能同時(shí)增強(qiáng)了容量和故障隔離性能，同時(shí)釋放片上FPGA存儲器來滿足驗(yàn)證復(fù)雜的系統(tǒng)級芯片（SoC）設(shè)計(jì)之需求。
為確保高速接口設(shè)計(jì)的正確功能，在幾毫秒內(nèi)通常需要獲得幾十個(gè)采樣點(diǎn)。傳統(tǒng)上，設(shè)計(jì)師不得不做出選擇：以消耗大量的FPGA存儲資源來捕獲冗長的信號追蹤歷史記錄，還是丟失信號追蹤歷史記錄的細(xì)節(jié)可見度來節(jié)省FPGA存儲資源。通過將Synopsys Identify智能集成電路仿真器（IICE）與一個(gè)HAPSDeep Trace Debug SRAM子板配對，HAPSDeep Trace Debug允許許多獨(dú)特的帶有復(fù)雜觸發(fā)條件的信號探點(diǎn)可被記錄，并且在系統(tǒng)執(zhí)行時(shí)存儲大量狀態(tài)歷史記錄來提供更深的記錄。SRAM子板也可釋放FPGA片上RAM，使其用于為SoC設(shè)計(jì)的存儲模塊提供原型。
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