紀(jì)成臣 袁斌 江旭
(吉水中電科微波科技有限公司,江西 吉安 331600)
目前,市場(chǎng)光模塊的主流封裝為雙密度四通道小型可熱插拔(quad small form-factor pluggable double density,QSFP-DD)和八通道小型可熱插拔(octal small form-factor pluggable,OSFP),2種封裝對(duì)印制電路板(printed circuit board,PCB)板邊插頭尺寸精度和厚度精度要求極其嚴(yán)格,板與卡槽對(duì)準(zhǔn)精度的偏差將直接影響插頭插入的連接效果,偏差過大將直接導(dǎo)致接觸不良或者短路。因此±0.05 mm 成為行業(yè)首選的公差,與之前普通PCB 控制的±0.15 mm 相比,制作的難度將顯著增加。本文將從如何控制板邊插頭區(qū)域的板厚、插頭卡槽的精度展開研究,并使之達(dá)到客戶要求。
針對(duì)板邊插頭模塊的制造,主要管控參數(shù)分別為板厚公差±0.05 mm 和卡槽精度公差±0.05 mm 2 個(gè)項(xiàng)目。在PCB 制造過程中,制前設(shè)計(jì)、流程設(shè)計(jì)、過程參數(shù)控制、物料的選擇、設(shè)備的選擇均會(huì)對(duì)以上2項(xiàng)公差造成較大的影響。
(1)常規(guī)光模塊PCB 設(shè)計(jì)流程:資料獲取→疊層設(shè)計(jì)→流程設(shè)計(jì)→工藝流程編制(manufacture indication,MI)輸出→計(jì)算機(jī)輔助制造(computer assisted manufacturing,CAM)輸出→工具輸出。
(2)常規(guī)光模塊PCB 制造流程:開料→內(nèi)層→自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)(automatic optical inspection,AOI)→壓合→鉆孔→沉銅電鍍→線路→酸性蝕刻→阻焊制作→字符制作→選化油墨/干膜→插頭鍍金→去引線→沉金→測(cè)試→成型→斜邊→最終質(zhì)量檢驗(yàn)(final quality control,F(xiàn)QC)。
目前常用的QSFP-DD 和OSFP 光模塊、雙重內(nèi)嵌式內(nèi)存模塊(dual in-line memory module,DIMM)與單邊直線內(nèi)存模塊(single inline memory module,SIMM)等儲(chǔ)存模塊均廣泛使用拔插板邊插頭,對(duì)尺寸的要求如圖1所示。
圖1 插頭尺寸公差要求
PCB 生產(chǎn)過程中,影響板邊插頭區(qū)域板厚的因素如下:①基板厚度公差;② 半固化片的數(shù)量;③壓合厚度均勻性的控制;④ 鍍層厚度的控制;⑤ 工藝流程的設(shè)定。
尺寸精度的影響因素如下:①鉆孔精度;② 線路對(duì)位精度;③銑機(jī)進(jìn)度;④ 銑帶設(shè)計(jì)方式;⑤ 測(cè)量誤差。
針對(duì)此類型PCB 的厚度公差及尺寸公差,在產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中進(jìn)行如下產(chǎn)品規(guī)劃:①在板材的選用方面,選擇S1000H 板料,板料選用標(biāo)準(zhǔn)公差,確保厚度一致性;② 選用單張1080、3313、2116 玻璃纖維布的黏結(jié)片,避免多張組合時(shí)的厚度誤差變大;③板邊插頭區(qū)域內(nèi)層需要鋪銅設(shè)計(jì),避免此區(qū)域采用黏結(jié)片填膠造成誤差變大;④ 優(yōu)化板邊流膠窗口設(shè)計(jì),控制壓合過程中的流膠均勻度。
針對(duì)以上類別產(chǎn)品的特殊性,采用脈沖垂直連續(xù)電鍍線(vertical conveyor plating,VCP)一次鍍夠孔銅厚度和面銅厚度,將整片板面的銅厚極差控制到5 μm 以內(nèi),然后使用負(fù)片蝕刻工藝方式來完成線路成像,可有效減少鍍銅均勻性造成的板厚誤差。
針對(duì)產(chǎn)品特性,在設(shè)備的選用方面,需要保證產(chǎn)品的高精度,對(duì)關(guān)鍵設(shè)備進(jìn)行以下選型規(guī)劃:①對(duì)壓機(jī)的均勻性、鉆孔鉆機(jī)的過程能力指數(shù)(complex process capability index,CPK)需要進(jìn)行生產(chǎn)前的檢測(cè),確保產(chǎn)品精度。壓機(jī)平整度檢測(cè)結(jié)果見表1。鉆機(jī)偏擺檢測(cè)數(shù)據(jù)如圖2 所示。② 選用脈沖式VCP 連續(xù)電鍍線,確保電鍍均勻性。③在線路制作過程中,使用激光直寫曝光機(jī)(laser direct imaging,LDI)自動(dòng)漲縮功能,自動(dòng)匹配鉆孔后漲縮,確保線路與孔的重合度在 15 μm 以內(nèi)。④ 在銑機(jī)的選用方面,使用電荷耦合器件(charge coupled device,CCD),采用粗銑+精修的走刀方式,確保銑帶和板件實(shí)際漲縮匹配。成型機(jī)主軸偏擺測(cè)量和尺寸精度檢測(cè)數(shù)據(jù)見表2和表3,其中表3判定標(biāo)準(zhǔn)為±5 mm。
表1 壓機(jī)平整度檢測(cè)結(jié)果
表2 成型主軸偏擺測(cè)量結(jié)果
表3 成型尺寸公差測(cè)量結(jié)果
圖2 鉆機(jī)偏擺檢測(cè)數(shù)據(jù)
通過上述工程設(shè)計(jì)、流程規(guī)劃及設(shè)備選型,在如下位置設(shè)定產(chǎn)品參數(shù)監(jiān)控點(diǎn):①壓合后板厚測(cè)試;② 電鍍后銅厚及板厚測(cè)試;③成品板厚測(cè)試;④ 成品插頭卡槽測(cè)量;⑤ 成品外形尺寸測(cè)量。
此板設(shè)計(jì)壓合后厚度(1.36±0.05)mm,對(duì)壓合后板件進(jìn)行九點(diǎn)法測(cè)量,檢測(cè)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)如圖3所示,均為合格。
圖3 測(cè)量壓合后板厚數(shù)據(jù)(單位:mm)
此板設(shè)計(jì)外層銅厚度≥35 μm,實(shí)際對(duì)電鍍后的板件進(jìn)行九點(diǎn)法測(cè)量,檢測(cè)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)如圖4 所示,均為合格。
圖4 電鍍后銅厚檢測(cè)數(shù)據(jù)(單位:μm)
取成品板件,用千分尺測(cè)量,收集批量數(shù)據(jù),成品板厚要求(1.46±0.05)mm,數(shù)據(jù)分析見表4和圖5。表4中,合格標(biāo)準(zhǔn)為±0.05 mm。
表4 成品板厚檢測(cè)結(jié)果
圖5 成品板厚的CPK分析結(jié)果
取成品板件,用三次元測(cè)量,收集批量數(shù)據(jù),成品要求(1.50±0.05)mm,數(shù)據(jù)分析見表5 和 圖6。表5中,合格標(biāo)準(zhǔn)為±0.05 mm。
表5 成品板邊插頭卡槽寬度檢測(cè)結(jié)果
圖6 板邊插頭卡槽的CPK分析結(jié)果
取成品板件,用三次元測(cè)量長(zhǎng)與寬,收集批量數(shù)據(jù)。成品要求長(zhǎng)邊(133.93±0.05)mm,數(shù)據(jù)分析見表6 和圖7;要求短邊(67.41±0.05)mm。數(shù)據(jù)分析見表7和圖8。
表6 成品長(zhǎng)邊尺寸檢測(cè)結(jié)果
表7 成品短邊尺寸檢測(cè)結(jié)果
圖7 外形長(zhǎng)邊尺寸的CPK分析結(jié)果
圖8 外形短邊尺寸的CPK分析結(jié)果
(1)板邊插頭區(qū)域板厚±0.05 mm,特殊公差產(chǎn)品需要對(duì)壓合結(jié)構(gòu)、工藝流程進(jìn)行策劃和過程控制,以控制插頭板厚。
(2)板邊插頭板的區(qū)域內(nèi)層建議鋪銅設(shè)計(jì),減少填膠造成的板厚影響。
(3)需要設(shè)計(jì)VCP 一次鍍夠+負(fù)片蝕刻工藝流程,確保電鍍均勻性受控,從而控制板厚均勻性。