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      無損光譜技術(shù)在文物保護(hù)中的應(yīng)用進(jìn)展

      2023-02-22 06:25:14陳冬梅馬亮亮張獻(xiàn)明
      光譜學(xué)與光譜分析 2023年2期
      關(guān)鍵詞:顏料光譜文物

      陳冬梅, 馬亮亮, 張獻(xiàn)明

      1. 山西師范大學(xué)化學(xué)與材料科學(xué)學(xué)院, 文物化學(xué)研究院, 山西 太原 030006 2. 天水師范學(xué)院化學(xué)工程與技術(shù)學(xué)院, 甘肅 天水 741001 3. 太原理工大學(xué)化學(xué)學(xué)院, 山西 太原 030024

      引 言

      文物蘊(yùn)含著豐富的歷史, 藝術(shù)和科學(xué)價(jià)值, 這些價(jià)值和信息的提取需要現(xiàn)代科技手段與方法支持。 無損光譜技術(shù)是指在不對(duì)文物產(chǎn)生宏觀與潛在損傷的條件下, 采用光譜方法研究文物的結(jié)構(gòu)與材料組成、 病害機(jī)理、 表面特性以及缺陷變化, 獲取文物原料來源、 制作工藝與年代、 保護(hù)與修復(fù)材料等信息的應(yīng)用型分析技術(shù)。 該技術(shù)無需制樣, 具有非破壞性, 最小干預(yù)等特點(diǎn), 在分析檢測(cè)過程中不會(huì)對(duì)樣品帶來任何危害, 已被廣泛應(yīng)用于文物保護(hù)與修復(fù)、 考古、 文物鑒定等領(lǐng)域。

      1 無損光譜分析技術(shù)

      文物與考古領(lǐng)域中的無損光譜分析儀器有便攜儀器, 有固定式的帶樣品倉/臺(tái)的儀器, 檢測(cè)時(shí)不需取樣; 若分析時(shí)用樣量很小, 不給文物造成視覺上的損傷, 這種微損分析也可看作無損分析。

      1.1 X射線熒光光譜

      X射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectroscopy, XRF)是通過待測(cè)物中元素的特征X射線波長(zhǎng)(或能量)進(jìn)行元素定性和定量分析的一種無損鑒定技術(shù)。 XRF儀有可移動(dòng)和固定式兩種, 可移動(dòng)XRF常用做文物的原位無損分析, 通過青花瓷的胎、 彩和釉的分析, 獲取其制作年代, 原料和加工工藝的信息[1], 便攜式XRF僅可對(duì)器物表面做淺層分析, 對(duì)表面不均勻的釉面陶瓷, Ortega-Feliu等[2]采用微區(qū)XRF(μXRF)和質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜(PIXE)進(jìn)行分析, 發(fā)現(xiàn)釉料中Pb, Sn, Na, K和Mg元素含量高; 助熔劑主要是氧化鉛, 由氧化錫乳濁; 色釉中的黑色與Mn和Fe有關(guān); 青釉與Cu和Fe有關(guān), 比例因釉色而異; 藍(lán)釉以鈷氧化物為主; 其中兩件鉛、 錫白釉, 表面的金屬光澤是Cu和Cu+Ag的納米顆粒; 釉降解最嚴(yán)重的樣品中, Cl含量很高, 可能與近海環(huán)境有關(guān)。

      Masi等[3]通過青銅器現(xiàn)場(chǎng)XRF分析, 發(fā)現(xiàn)氟硅烷涂層限制合金成分的變化, 依此判斷涂層的耐久性。 Ager等[4-5]采用XRF, μPIXE和μXRF分析了一套羅馬硬幣, 通過μPIXE判斷元素的表面富集并估算富集層厚度[6]: 發(fā)現(xiàn)高純度的第納爾成分均勻(97.8% Ag~1.4% Cu), 表面無明顯銀富集; 低純度的維多利亞銀幣表層有富銀層(89.5% Ag~9.8% Cu), 其厚度為250 μm, 中心部分含56.7% Ag~42.5% Cu[圖1(a,b)]。 將XRF獲得的硬幣主要元素平均濃度和標(biāo)準(zhǔn)偏差, 通過 GRT(校正)、 μXRF(測(cè)量切割橫截面)分析[7], 發(fā)現(xiàn)硬幣中Ag和Cu的含量與直接分析硬幣的切割截面得到的整體成分一致(圖2), 對(duì)于表面富銀幣(低純銀), Ag和Cu的校正濃度可重現(xiàn)整體合金的濃度; 對(duì)高純度銀幣(Ag>96 Wt%), 未發(fā)現(xiàn)銀的表面富集。 Andric等[8]采用XRF分析圣像畫和紙板畫上的彩繪, 采用主成分分析(PCA)、 層次聚類分析(HCA)和散射矩陣, 對(duì)獲得的譜峰面積和光譜強(qiáng)度數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并降維, 結(jié)果表明, XRF經(jīng)PCA數(shù)據(jù)降維后, 通過線性分類, 可對(duì)藝術(shù)品來源進(jìn)行有效歸因, 在短時(shí)間內(nèi)和/或現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)特別有用。 納米XRF和XANES結(jié)合對(duì)含砷顏料的降解狀態(tài)表征非常有用。

      圖1 μPIXE兩枚硬幣橫截面元素圖(a): 第納爾銀幣; (b): 維多利亞銀幣(分析面積: 2.5 mm×2.5 mm); 圖片來自文獻(xiàn)[6], 已獲得elsevier版權(quán)(2020)許可Fig.1 μPIXE elemental maps of thecross-section of two coins(a): Denarius; (b): Victoriatus (analyzed area: 2.5 mm×2.5 mm); Reproduced with the permission from[6]; Copyright (2020) elsevier

      圖2 通過XRF測(cè)量表面, 用GRT校正, 用μXRF測(cè)量硬幣的橫截面得到的denarius(N2, N8, N9)和 victoriatus(N10, N11)中銀、 銅的含量(Wt%)圖片來自文獻(xiàn)[7], 已獲得elsevier版權(quán)(2016)許可Fig.2 Silver and copper contents (in Wt%) of denarius(N2, N8, N9) and victoriatus (N10, N11), measured on the surface by XRF, corrected by GRT, measured in the cut cross-sections by μXRF Reproduced with the permission from[7]; copyright (2016) elsevier

      廣域X射線熒光(MA-XRF)技術(shù)不接觸文物就可獲得成像圖案完整的元素分布; 通過對(duì)繪畫顏料元素的實(shí)時(shí)成像, 全面解釋顏料的性質(zhì)及應(yīng)用技術(shù), 證明不同時(shí)期的修復(fù)干預(yù)[9]。 Kokiasmenou等[10]采用原位MA-XRF檢測(cè)皮洛斯的“內(nèi)斯特宮殿”壁畫, 發(fā)現(xiàn)深棕色、 橙色和紅色顏料是赭石, 還檢測(cè)到方解石、 針鐵礦、 埃及藍(lán)和骨螺紫, 采用Ni/Fe/Ti組合濾光片在紫色區(qū)域中發(fā)現(xiàn)了溴, 證實(shí)壁畫中的紫色大海是骨螺紫和埃及藍(lán)的混合物。 在戰(zhàn)斗圖案中, 發(fā)現(xiàn)畫的底層是骨螺紫和含錳的黑色顏料, 上層是粉狀埃及藍(lán), 圖像采用了疊加技術(shù), 為當(dāng)時(shí)繪畫工藝和材料提供重要證據(jù)。 礦物石膏中鈣和鍶同時(shí)存在, 若顏料中發(fā)現(xiàn)鍶說明繪畫中使用了石膏, 鈣與鍶的比值或許可以作為壁畫中硫酸鈣來源的標(biāo)志[11]。 Alfeld等[12]利用廣域X射線熒光光譜(MA-XRF)研究了錫弗諾斯寶庫浮雕飾帶, 在盾牌與服裝圖案的細(xì)節(jié)中, 發(fā)現(xiàn)了鉛白, 這在以前調(diào)查中并未發(fā)現(xiàn)。

      XRF易實(shí)現(xiàn)熒光量子產(chǎn)率和壽命等參數(shù)的定量測(cè)定, 分析時(shí)需控制環(huán)境與酸堿度的影響, 檢測(cè)時(shí)難免受熒光干擾; 對(duì)表面不平整度較大的文物做面掃描時(shí), 結(jié)果不理想。 MA-XRF在恒定的測(cè)試距離可得到最好的結(jié)果, 但無法檢測(cè)復(fù)雜表面。 同步輻射熒光光譜(SRXRF)不受晶體、 樣品厚度的限制, 分辨率高, 檢測(cè)限低。 已用于膠結(jié)物以及包含相同元素的不同物種的無損分析[13]。 因質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜(PIXE)和SRXRF費(fèi)用昂貴, 應(yīng)用受限。

      1.2 激光誘導(dǎo)擊穿光譜

      激光誘導(dǎo)擊穿光譜(laser-induced breakdown spectroscopy, LIBS)是一種準(zhǔn)無損檢測(cè)技術(shù), 利用高能脈沖激光激發(fā)樣品表面形成等離子體, 通過等離子體特征發(fā)射光譜進(jìn)行元素的定性定量分析。 用于檢測(cè)主元素和微量元素(包括輕元素), 靈敏度高, 燒蝕斑點(diǎn)可達(dá)到1 μm, 可將獲得的樣品元素組成信息與其空間坐標(biāo)相關(guān)聯(lián)。 直接用于水下和現(xiàn)場(chǎng)分析, 在金屬、 玻璃, 繪畫、 陶瓷[14]等的組成分析、 來源研究, 對(duì)文物修復(fù)保護(hù)方面有重大意義。

      LIBS可用來研究青銅器的腐蝕產(chǎn)物和腐蝕過程, 驗(yàn)證青銅器中金屬離子從本體到表面的遷移現(xiàn)象[15]。 采用LIBS定位銅合金上的脫鋅膜, 可進(jìn)行脫合金區(qū)的橫向和深度研究[16]。 Bai等[17]通過LIBS識(shí)別了考古鐵樣中不同鋼相中的碳濃度及分布, 為金相法中快速冷卻或淬火鋼的測(cè)量開辟了新途徑。 對(duì)古代玻璃, 通過Na, Ca和Si的LIBS強(qiáng)度, 可確定玻璃從表面到內(nèi)部的逐步脫堿化過程[18]。 Caneve等[19]采用LIBS鑒定龐貝古城壁畫不同深度的化學(xué)元素, 并提出: Si, Ca, Mg與Fe的線強(qiáng)度比可識(shí)別顏料并評(píng)估圖層厚度。 Yin等[20]采用LIBS討論了莫高窟綠色顏料粒徑與燒蝕深度的關(guān)系, 研究表明, 激光的平均燒蝕速率隨著顏料粒徑的減小而逐漸增大[圖3(a,b)], 該法可用于莫高窟壁畫綠色層厚度的原位測(cè)量。 Kuzmanovic等[21]采用LIBS分析了古鉛釉陶器, 發(fā)現(xiàn)棕色、 褐色釉顯色元素是Mn, 黃釉的顯色元素是Sn和Sb, 藍(lán)色是Cu和Co, 綠色是Cu, 白色是Pb或Pb+Sn, 確立了釉料元素組成與釉色的相關(guān)性。

      圖3 (a)綠色層的厚度與激光在不同粒徑顏料層上的穿透次數(shù); (b)顏料粒徑與燒蝕速率的變化關(guān)系圖片來自文獻(xiàn)[20], 已獲得elsevier Masson SAS版權(quán)(2021)許可Fig.3 (a) Thickness of green painted layers versus the penetration numbers of laser shots on painted layers of simulated samples from each pigment particle size fraction; (b) variation trend of particle size and ablation rates Reproduced with the permission from [20]; copyright(2021) Elsevier Masson SAS; All rights reserved

      LIBS結(jié)合拉曼光譜可獲取被測(cè)物的分子結(jié)構(gòu)和元素組成信息, 如探討壁畫劣變與保存環(huán)境的關(guān)系[22], 評(píng)估巖石裸露層成分的變異性[23]。 LIBS與XRF、 PIXE聯(lián)合可相互補(bǔ)充和印證, Lazic等[24]采用此法表征了蛋彩畫與油畫顏料、 釉面陶瓷和羅馬硬幣, 比較了三種技術(shù)對(duì)四種樣品主要成分和微量成分的定量分析結(jié)果, 如蛋彩畫中的藍(lán)彩, XRF分析為藍(lán)銅礦, 但XRF對(duì)以Na, Al, Si和S為主的天青石無法檢測(cè); 采用PIXE檢測(cè)到了Al, Si, S, K和Ca等低Z元素, 但無法檢測(cè)C元素; 通過LIBS可檢測(cè)到Li, C和Cu元素, 證明藍(lán)彩是藍(lán)銅礦和天青石的混合物, 并通過Cu和Si的線強(qiáng)度比從表面到石膏層的變化, 證實(shí)藍(lán)銅礦是在制備層上再被天青石覆蓋。 對(duì)比三種技術(shù)對(duì)蛋彩畫顏料的分析結(jié)果(表1), 可建立其在材料表征中的優(yōu)勢(shì)和局限性。 LIBS結(jié)合PCA和隨機(jī)森林法可鑒定無機(jī)顏料和有機(jī)粘合劑組成的現(xiàn)代涂料, 如丙烯酸, 醇酸樹脂和苯乙烯丙烯酸樹脂[25], 此法也適用于有機(jī)顏料與聚合物粘合劑混合物的表征, LIBS結(jié)合PCA還可探討陶器的起源。 Siozos等[26]將LIBS數(shù)據(jù)經(jīng)監(jiān)督神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法處理, 成功的鑒定了考古人類遺骸。 LIBS對(duì)組成不均勻的樣品, 測(cè)試精密度較差, 光譜受環(huán)境波動(dòng)影響大。

      表1 LIBS, XRF和PIXE對(duì)三種蛋彩顏料的檢測(cè)結(jié)果及LIBS譜線[24]Table 1 Elements and their most prominent lines of three egg tempera pigments by LIBS, XRF and PIXE techniques[24]

      雙脈沖顯微LIBS(DP-μLIBS)可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)三維成像, Senesi等[27]利用DP-μLIBS的三維成像研究了城市環(huán)境中石灰?guī)r的風(fēng)化蝕變程度, 發(fā)現(xiàn)從表面黑色結(jié)殼到下部石灰?guī)r, 大氣塵埃、 顆粒物和周圍環(huán)境中的Fe, Si和Na等元素的LIBS強(qiáng)度隨深度增加在減少, 而Ca的LIBS強(qiáng)度在增加。 光纖LIBS(FO-LIBS)比傳統(tǒng)的LIBS更適于遠(yuǎn)程分析和復(fù)雜環(huán)境, Chen等[28]利用FO-LIBS定量分析了生鐵中的微量元素, 用線性和非線性模型對(duì)LIBS數(shù)據(jù)通過處理, 發(fā)現(xiàn)非線性處理方法可有效克服光譜干擾、 基體效應(yīng)和自吸效應(yīng)對(duì)FO-LIBS的影響, 提高定量分析精度。

      1.3 X射線光電子能譜

      X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是一種表面分析方法, 元素標(biāo)識(shí)性強(qiáng), 可獲得待測(cè)物表面1~12 nm的元素氧化數(shù)、 含量和存在方式。 王芬等[29]采用XPS分析了五代耀州窯天青瓷釉中鐵元素的化學(xué)態(tài), 判斷了瓷釉的燒制氣氛, 結(jié)合XRF、 X射線衍射(XRD)、 掃描電鏡-能譜(SEM-EDS)分析等技術(shù)進(jìn)一步研究了青瓷胎體的著色及透光機(jī)理[30], 發(fā)現(xiàn)胎中SiO2含量低于其他朝代的樣品, 此特征為古青瓷定年提供了理論依據(jù); 高含量的Fe2O3和TiO2促進(jìn)了黑胎中鐵鈦化合物、 低價(jià)氧化鈦及Ti2O3的形成; 黑胎中較多的晶界與微孔充當(dāng)散射中心使入射光的透射率降低, 故青瓷的半透明與晶界和微孔的散射光有關(guān)。 XPS和電化學(xué), 色譜技術(shù)聯(lián)用, 可研究青銅器和陶器的病害成因, Liang等[31]采用XPS和電化學(xué)法研究了Cu-Sn-Pb青銅合金在土壤中的腐蝕行為, 合金比例采用陜西周原遺址青銅遺物的分析數(shù)據(jù), 結(jié)果表明, 腐蝕主要由基體合金的自發(fā)溶解形成, 隨著Cu含量的增加, 腐蝕速率降低, 當(dāng)Cu含量為79.81(Wt%)時(shí), 青銅器腐蝕速率最低。 Jin等[32]采用XPS、 XRD和離子色譜檢測(cè)陶器中的可溶鹽, 判斷出可溶鹽主要來自周圍大氣環(huán)境。

      XPS可分析彩繪顏料, Rusu等[33]采用XPS鑒定了尼古拉-格里高萊斯庫的繪畫, 發(fā)現(xiàn)深藍(lán)色顏料是天然群青; 結(jié)合XRF、 SEM-EDS、 紅外光譜等技術(shù)證明每種顏色均是幾種不同比例的顏料混合而成, 羧酸和羧酸鉛的發(fā)現(xiàn)表明繪畫中的顏料已經(jīng)發(fā)生了降解。 Oujja等[34]研究了不同波長(zhǎng)激光輻射和脈沖時(shí)間對(duì)繪畫原始顏料的影響, 在248 nm激光下用500 fs, 在1 064和213 nm激光下用150 ps和15 ns的激光脈沖輻照朱砂、 鉻酸鉛和孔雀石, 采用XPS、 熒光光譜、 拉曼光譜對(duì)顏料的變化進(jìn)行表征, 結(jié)果表明, 當(dāng)鉻酸鉛和孔雀石發(fā)生還原時(shí), 朱砂產(chǎn)生相變。 與紅外脈沖(皮秒和納秒照射)相比, 紫外超短脈沖(飛秒和皮秒照射)可以最大限度地減少對(duì)這些變化影響。

      XPS可分析文物保護(hù)材料, Masi等[35]采用XPS分析青銅表面的3-巰基-丙基三甲氧基硅烷涂層, 得到了涂層與青銅元素相互作用的詳細(xì)信息。 Wang等[36]采用XPS研究了l-半胱氨酸對(duì)銅綠的抑制機(jī)理, 結(jié)果表明, l-半胱氨酸分子在CuCl表面上的化學(xué)吸附是通過—SH上的S原子和—NH2上的N原子進(jìn)行, 緩蝕膜中的銅以Cu+存在。

      XPS不能做樣品整體成分分析, 也不能做深度分析。

      1.4 拉曼光譜

      拉曼光譜(Raman spectroscopy, RS)是一種光散射光譜, 常用于文物物相結(jié)構(gòu)分析與鑒別。 如通過RS識(shí)別紙質(zhì)中不同來源的炭黑, 分析紙張顏料及老化產(chǎn)物, 評(píng)估清洗效果, 通過纖維素在900 cm-1處的峰寬判斷其結(jié)晶度, 峰越寬結(jié)晶度越低, 則紙張老化越嚴(yán)重[37]。 Li等[38]通過RS, XRD和XPS表征了寧夏仰韶時(shí)期的彩陶, 發(fā)現(xiàn)黑彩大部分是錳鐵礦, 有少量的黑錳礦和磁鐵礦, 表明黑彩裝飾有多種類型。 Stanzani等[39]采用便攜式RS(532, 785 nm)、 可移動(dòng)RS(532, 633和785 nm)和固定式RS(1 064 nm)分析木板畫顏料, 便攜式RS僅檢測(cè)到鉛白、 方解石和朱砂; 可移動(dòng)和不可移動(dòng)RS識(shí)別出更多顏料: 白彩有鉛白、 方解石、 石膏和白鉛礦; 紅彩有朱砂、 鉛丹、 鉛黃和赤鐵礦; 藍(lán)彩有藍(lán)銅礦、 靛藍(lán)和青金石, 體現(xiàn)了可移動(dòng)式RS儀在文物無損分析中的優(yōu)越性。 顯微拉曼光譜(MRS)結(jié)合了RS和顯微分析特點(diǎn), 可區(qū)分古代彩繪膠料種類。 固定式RS(1 064 nm)能檢測(cè)到含熒光和對(duì)光不穩(wěn)定的化合物, 快速鑒定多組分樣品, 解決了MRS分析過程中的光化學(xué)分解、 熱效應(yīng)、 熒光效應(yīng)等問題, 可鑒別文物中的有機(jī)染料。 Chiriu等[40]采用便攜式RS(1 064 nm)分析了一組古代陶器, 發(fā)現(xiàn)其主要組成是石英, 方解石、 少量長(zhǎng)石和赤鐵礦, 通過獲得的橄欖石和銳鈦礦鑒定出陶器的燒成溫度為600~700 ℃, 并通過陶器中非晶碳在1 300和1 600 cm-1的D、 G譜峰, 探討了陶器的制作工藝。

      RS可評(píng)估絲織品的光照損傷度[41], 用不同波長(zhǎng)光源照射絲織品, 每240 h后通過色差法和RS評(píng)估絲織品的色彩損傷, 結(jié)果表明, 隨著波長(zhǎng)的增加, 兩種方法對(duì)絲織品的色彩損傷趨勢(shì)相同(表2), 即波長(zhǎng)越短, 絲織品的色彩損傷程度越大。 Becerra等[42]采用RS、 LIBS和紫外-可見光譜分析檸檬酸鹽穩(wěn)定的Ag/TiO2納米殺菌劑, 發(fā)現(xiàn)殺菌劑可有效防止石灰石上生物污垢的形成。

      表2 不同窄光源波長(zhǎng)下, 絲織品的色彩相對(duì)損傷系數(shù)Table 2 The relative color damage cofficients of silk samples under different narrow light source wavelengths

      共振拉曼光譜(RRS)對(duì)具有共振拉曼活性生色團(tuán)的多環(huán)芳香化合物具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。 Rosi等[43]首次利用RRS識(shí)別絲織品上的茜草和羊皮紙上的苔色素。 表面增強(qiáng)拉曼光譜(SERS)中表面增強(qiáng)是指有機(jī)分子吸附在金屬原子粗糙的表面使拉曼散射強(qiáng)度極大增加, 從而產(chǎn)生強(qiáng)而清晰的分辨譜, 可識(shí)別傳統(tǒng)RS不能識(shí)別的譜峰。 有機(jī)染色劑在激光激發(fā)下發(fā)強(qiáng)光, SERS可用于染料、 水彩、 蛋彩畫及油中色淀顏料的鑒定[44], Shabunya-Klyachkovskaya等[45]發(fā)現(xiàn)無機(jī)顏料礦物性質(zhì)與SERS增強(qiáng)特征有依賴關(guān)系, 建立了無機(jī)微晶顏料RS和SERS數(shù)據(jù)庫, 用以鑒別油畫和圖標(biāo)顏料。 用SERS的活性基底, 可快速鑒定歷史土建筑墻壁(土坯、 荊棘、 泥灰、 夯土)上的真菌物種[46]。

      RS大多做點(diǎn)分析, 面分析儀器較少且無法進(jìn)行大面積掃描; 顯微拉曼光譜(MRS)可層析成像, 但成像時(shí)間較長(zhǎng)或受環(huán)境影響易產(chǎn)生漂移; SERS在分析染料時(shí), 易受金屬基底的影響, 故無法分析混合染料。 RRS與SERS聯(lián)合可檢測(cè)單分子物質(zhì), 但檢測(cè)分子必須是含有共軛π電子體系的多環(huán)芳香類物質(zhì)。

      1.5 紅外光譜

      文物中廣泛應(yīng)用的紅外光譜(infrared spectroscopy, IR)主要有透射光譜和反射光譜, 包括近紅外光譜(NIR), 紅外反射光譜(IRR)和同步輻射紅外光譜(SR-FTIR)。

      NIR是通過分子基頻振動(dòng)產(chǎn)生的倍頻和合頻吸收獲取分子的結(jié)構(gòu)信息。 易曉輝等[47]采用NIR分析了珍貴紙張, 建立了紙張理化指標(biāo)(pH值、 纖維聚合度、 KMnO4值)的NIR測(cè)定模型, 驗(yàn)證了模型的相關(guān)性。 Chen等[48]采用NIR分析國(guó)畫印章, 將添加了噪聲的NIR數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)融合后建立了識(shí)別模型, 評(píng)價(jià)了模型的抗噪聲干擾, 通過12種印章之間的馬氏距離, 結(jié)合HCA推斷了印鑒的年代。 NIR結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué)在玉石, 絲織品, 木材等領(lǐng)域的研究, 大部分已取得開創(chuàng)性成果。 我國(guó)已將NIR用于紡織品成分檢測(cè)和纖維鑒別。 孫美君等[49]采用NIR、 高光譜建立了莫高窟壁畫起甲病害光譜數(shù)據(jù)庫, 對(duì)壁畫起甲做了風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。

      IRR可解決一些吸收光譜難以解決的問題, 配備顯微系統(tǒng)后分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。 Rosi等[50]通過顯微IRR檢測(cè)了十七世紀(jì)一件木雕的表面漆層, 通過斷面分析確定漆層存在多個(gè)過渡層。 IRR也可揭示陶器原料來源和制作工藝, Bruni等[51]通過兩件繪彩陶器的紅外反射光譜(IRR)以及MRS證明彩繪是燒制后所繪, 顏料赭石和炭黑涂刷在石灰層上面, 可能模仿了壁畫制作技術(shù); IRR結(jié)合XRF、 MRS、 漫反射光譜檢測(cè)另外的繪彩陶片, 發(fā)現(xiàn)紅色的赭石和富鐵粘土、 粉白色的富鈣粘土、 黑色MnO2均是燒前繪制。 Lamhasni等[52]結(jié)合ATR-FTIR和同步熒光光譜分析了石灰石古建筑上的黑色結(jié)殼, 發(fā)現(xiàn)其主要是方解石硫酸化產(chǎn)生的石膏, 富含SO2的油煙灰以及生物風(fēng)化產(chǎn)生的草酸鹽。 Iwanicka等[53]采用IRR和計(jì)算機(jī)斷層掃描(OCT)成功地評(píng)估了涂漆架上繪畫的清洗效果, OCT提供表面漆層圖像和給定區(qū)域的清漆厚度分布, IRR表征表面化合物, 揭示清漆的性質(zhì)并監(jiān)控漆層清洗進(jìn)度和處理的均勻性。

      SR-FTIR(同步輻射傅里葉變換紅外光譜)測(cè)量面積小, 可對(duì)繪畫層中的顏料、 膠結(jié)物等復(fù)雜混合物及少量化合物(如雜質(zhì), 老化產(chǎn)物)精確定位和分離, 關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)是能在反射模式下表征表面蝕變層, 無需提取樣本, 直接在大型物體表面工作[54]。

      IR中NIR不適于痕量分析; ATR-FTIR圖譜受樣品表面平整度的影響, 樣品室較小; SR-FTIR圖譜質(zhì)量高, 但在文物保護(hù)領(lǐng)域的研究處于起步階段。

      1.6 漫反射光譜

      漫反射光譜(diffuse reflectance spectroscopy, DRS), 通過測(cè)量樣品對(duì)紫外到短波紅外區(qū)光的漫反射, 獲取待測(cè)物表層信息, 無需取樣。 DRS可檢測(cè)吸收光譜不能直接測(cè)量的樣品, 如通過不同窯口古陶瓷的多波段分析, 鑒定古陶瓷。 國(guó)外已建立了繪畫常用顏料的光纖反射光譜(FORS)數(shù)據(jù)庫[55-56]。 中紅外FORS可分析油和樹脂、 多糖、 蛋白質(zhì)等復(fù)雜膠料及紡織品染料。 染料的熒光光譜和DRS很難區(qū)分時(shí)可結(jié)合成像技術(shù), Tamburini等[57]通過FORS和多光譜成功鑒別了大英博物館館藏的31件敦煌紡織品的染料類別, 建立了亞洲染料標(biāo)本的FORS法反射率和表觀吸收光譜的數(shù)據(jù)庫, 采用多光譜記錄了特定染料的反射率、 發(fā)光和吸收特性。 但這種方法對(duì)部分很類似的黃色染料無法區(qū)分, 纖維上某些染料的高濃度也會(huì)抑制發(fā)光, 染色太薄或過度染色的底層染料無法分析。 DRS對(duì)小波段的選取及混合顏料的鑒別還存在困難。

      1.7 多光譜、 高光譜

      多光譜成像(multispectral imaging, MSI)、 高光譜成像(hyperspectral imaging, HSI)是光譜技術(shù)與光學(xué)成像的結(jié)合, 在滿足定性定量分析的同時(shí)實(shí)現(xiàn)了光學(xué)定位成像, 已用于手稿、 油畫、 彩繪文物、 遺址形貌和紡織品的分析識(shí)別。 Asscher等[58]通過MSI、 便攜式XRF與FORS, 分析了龐貝古城壁畫顏料, 發(fā)現(xiàn)綠彩和紅彩的化學(xué)組成分別是銅硅鈣石和鐵礦石。 Jones等[59]探討了MSI的分析過程, 發(fā)現(xiàn)不同文獻(xiàn)對(duì)較耗時(shí)的平場(chǎng)校正結(jié)果各不相同, 同時(shí)證實(shí)圖像配準(zhǔn)的要求還不太明確, 這為今后的技術(shù)改善提供了指導(dǎo)。 MSI波段少且窄, 對(duì)細(xì)節(jié)無法做精細(xì)分析。 HSI技術(shù)縮小了波段間隔(間隔<10 nm), 擴(kuò)展了波段范圍(400~2 500 nm), 可獲取文物表面現(xiàn)狀信息和隱藏信息, 對(duì)模糊圖像進(jìn)行視覺增強(qiáng)。 Peng等[60]通過壁畫、 陶器的HSI, 首次提出了一種彩繪文物圖案的自動(dòng)挖掘方法, 該方法將去噪處理后的最優(yōu)主成分圖像與可見光波段融合, 有效地獲取了彩繪文物的圖像信息, 為其他彩繪文物的數(shù)據(jù)和信息提取提供了方法指導(dǎo)。 Lugli等[61]采用NIR-HSI檢測(cè)骨質(zhì)文物, 通過HSI中每個(gè)像素計(jì)算的歸一化差分圖像(NDI)定位膠原蛋白, 依據(jù)NDI對(duì)膠原蛋白的相對(duì)含量分布做定性和半定量評(píng)價(jià), 此法可對(duì)骨骼進(jìn)行預(yù)篩選。

      2 結(jié) 論

      無損光譜分析技術(shù)雖已廣泛應(yīng)用在各類文物考古與科技保護(hù)中, 但仍存在一定的局限性。 XRF、 LIBS、 XPS進(jìn)行元素定性、 定量分析, 但XRF檢測(cè)范圍小于LIBS, 且LIBS分析時(shí)不限樣品形態(tài), 可對(duì)文物做深度和剖面分析, 然而國(guó)內(nèi)應(yīng)用較少, 缺乏可移動(dòng)設(shè)備。 XPS可識(shí)別同一元素的不同價(jià)態(tài), 目前只能進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室分析, 在XPS高分辨譜中, 經(jīng)常出現(xiàn)元素不同價(jià)態(tài)峰的疊加, 分峰處理時(shí)存在誤判情況, 定量分析也有一定難度。 RS, IR、 DRS進(jìn)行文物物相組成分析, 國(guó)內(nèi)外均有可移動(dòng)設(shè)備, 已用于文物的原位無損檢測(cè)。 RS可檢測(cè)大部分無機(jī)物和有機(jī)物, 但無法檢測(cè)生物樣品, 其熒光干擾仍是問題。 IR主要進(jìn)行文物定性分析, NIR做定量分析時(shí)需結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué)、 建立模型; ATR測(cè)試時(shí)樣品要緊貼ATR晶體, 檢測(cè)深度小; DRS無法檢測(cè)彩繪混合物及其多層結(jié)構(gòu)。 MSI、 HSI是完全無損技術(shù), 均可進(jìn)行文物現(xiàn)場(chǎng)攝影與成像。 MSI儀價(jià)廉, 檢測(cè)速度快。 HSI比MSI更加精細(xì), 但其數(shù)據(jù)處理繁雜, 缺乏針對(duì)文物的數(shù)據(jù)處理軟件和算法設(shè)計(jì), 且需要專業(yè)人員。

      目前, 各類技術(shù)的圖譜數(shù)據(jù)庫還不完善, 原位無損分析結(jié)果與實(shí)驗(yàn)室的技術(shù)要求仍有差距。 無損光譜分析技術(shù)經(jīng)常是多種技術(shù)綜合應(yīng)用, 進(jìn)行結(jié)果印證和補(bǔ)充。 化學(xué)計(jì)量學(xué)、 機(jī)器學(xué)習(xí)算法可實(shí)現(xiàn)光譜數(shù)據(jù)的處理和校正, 彌補(bǔ)其定量分析的不足, 大數(shù)據(jù)的到來將為各種無損光譜技術(shù)提供檢測(cè)數(shù)據(jù)的管理和共享平臺(tái)。 如何突破無損光譜技術(shù)的測(cè)試局限(如檢測(cè)限、 分辨率、 激光強(qiáng)度與波長(zhǎng)等), 提高技術(shù)達(dá)到實(shí)驗(yàn)室分析要求, 更好地體現(xiàn)優(yōu)勢(shì)互補(bǔ), 將是今后的一個(gè)研究重點(diǎn)。 綜合化、 便攜化、 過程自動(dòng)化儀器仍是未來發(fā)展的主要趨勢(shì)。

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