納米級(jí)磁性測(cè)量領(lǐng)域首個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布

據(jù)歐盟2022 年1 月18 日消息，其歐洲創(chuàng)新與研究計(jì)量計(jì)劃（EMPIR）項(xiàng)目“納米級(jí)可追溯磁場(chǎng)測(cè)量”（Nano-scale traceable magnetic field，15SIB06，NanoMag）提高了歐洲的計(jì)量能力，對(duì)磁場(chǎng)的精確和可追溯測(cè)量擴(kuò)展到微米和納米尺度。這為高分辨率磁場(chǎng)測(cè)量的國(guó)際協(xié)調(diào)做出了貢獻(xiàn)，并使得歐洲工業(yè)界能夠以前所未有的精度水平來(lái)測(cè)量和使用磁場(chǎng)，可供計(jì)算機(jī)、磁感應(yīng)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的工業(yè)用戶(hù)在質(zhì)量控制和產(chǎn)品性能方面制定新的標(biāo)準(zhǔn)。

EMPIR 表示該項(xiàng)目的成果也促使《IEC TS 62607—9—1：納米制造-關(guān)鍵控制特性-第9—1 部分：可追溯的空間分辨納米級(jí)雜散磁場(chǎng)測(cè)量-磁力顯微鏡》（IEC TS 62607—9—1: Nanomanufacturing- Key control characteristics - Part 9—1:Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy）國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布，這是首個(gè)納米級(jí)磁性測(cè)量領(lǐng)域的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，將對(duì)活躍在磁成像領(lǐng)域以及納米磁性材料和設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域的公司和研究中心提供幫助。

該標(biāo)準(zhǔn)的摘要說(shuō)明如下：

IEC TS 62607—9—1:2021 確定了一種標(biāo)準(zhǔn)化方法來(lái)表現(xiàn)空間變化的磁場(chǎng)，通過(guò)磁力顯微鏡（MFM）對(duì)平面磁性樣品的空間分辨率低至10 nm。MFM 主要檢測(cè)垂直于樣品表面的雜散磁場(chǎng)分量。 該分辨率是通過(guò)使用磁性納米結(jié)構(gòu)的參考物質(zhì)對(duì)MFM 探針進(jìn)行校準(zhǔn)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

該IEC 技術(shù)規(guī)范的目的在于規(guī)定和描述以下方面的內(nèi)容：

1）用于可追溯的高分辨率雜散磁場(chǎng)測(cè)量的參考物質(zhì)；

2）用來(lái)確定儀器校準(zhǔn)功能（ICF）的校準(zhǔn)程序，如果需要，還要確定進(jìn)入去卷積處理的MFM 關(guān)鍵參數(shù)：

3）去卷積處理，允許使用ICF 從被測(cè)量的MFM 數(shù)據(jù)中計(jì)算出定量的雜散磁場(chǎng)數(shù)據(jù)；

4）對(duì)測(cè)量不確定度的評(píng)估，包括防止可能在測(cè)量過(guò)程中出現(xiàn)的，會(huì)導(dǎo)致對(duì)結(jié)果錯(cuò)誤解讀的潛在人工制品。

［信息來(lái)源］廣東省WTO/TBT 通報(bào)咨詢(xún)研究中心.納米級(jí)磁性測(cè)量領(lǐng)域首個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布[EB/OL]. (2022-2-21).http://www.tbt.org.cn/