郜鵬,方翔,溫凱,雷云澤,熊子涵,李嬌月,劉星,鄭娟娟,安莎
(西安電子科技大學(xué) 物理學(xué)院,西安710071)
光學(xué)顯微鏡具有結(jié)構(gòu)簡單、對樣品損傷?。蓪铙w樣品進行成像)、可對生物樣品中特定結(jié)構(gòu)(借助熒光標(biāo)記)進行選擇性成像等優(yōu)點,在了解物質(zhì)和生命過程中發(fā)揮著決定性作用。然而,光學(xué)顯微鏡的空間分辨率受衍射限制為λ/2(一般為200 nm)[1]。人們?yōu)榻鉀Q此問題,提出了超分辨率(Super Resolution,SR)顯微方法,如單分子定位顯微(Single-Molecule Localization Microscopy,SMLM)[2-4]、受激發(fā)射損耗顯微(Stimulated emission depletion,STED)[5-7]和結(jié)構(gòu)光照明顯微(Structured Illumination Microscopy,SIM)[8-14],將光學(xué)顯微鏡的空間分辨率提高到幾十納米甚至幾納米。2014年,發(fā)明超分辨光學(xué)顯微技術(shù)的三位科學(xué)家因此被授予諾貝爾化學(xué)獎。在SR 技術(shù)中,SIM 技術(shù)因其成像速度快、對樣品損傷小,在活體樣品成像中脫穎而出。SIM 利用照明光斑和樣品之間的“莫爾效應(yīng)”,收集傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)無法探測到的樣品高頻信息,進而重構(gòu)出超分辨圖像。由于產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)光同樣會收到物鏡數(shù)值孔徑(Numerical Aperture,NA)的影響,線性SIM(激發(fā)的熒光與激發(fā)強度呈線性關(guān)系)的空間分辨率只能在衍射極限基礎(chǔ)上提高兩倍[15]。相比之下,非線性SIM 通過利用發(fā)射模式中的高次諧波,實現(xiàn)了超過兩倍的分辨率增強[1]。結(jié)構(gòu)光照明還可以和定量相位顯微相結(jié)合,實現(xiàn)對透明樣品的高分辨、高襯度相位成像[16]。
在傳統(tǒng)SIM 中,通常利用空間光調(diào)制器(Spatial Light Modulator,SLM)或數(shù)字微鏡器件(Digital Micromirror Device,DMD)快速生成和切換不同方向及相移量的條紋結(jié)構(gòu)光完成移相。然而,其成像通量受到SLM/DMD 本身像素個數(shù)的限制。例如,對于采用100×/1.4NA 物鏡和532 nm 激發(fā)光的SIM 顯微鏡,若要獲得兩倍的分辨率提升,SLM 或DMD 需產(chǎn)生周期為190 nm 的條紋/點陣結(jié)構(gòu)光。受投影器件像素個數(shù)(如1 920×1 080 像素)的限制,該結(jié)構(gòu)光場僅能覆蓋90 μm×50 μm 的視場,無法滿足組織或病理切片等生物樣品超分辨成像的需求。目前也存在幾種擴展SIM 成像視場的技術(shù):首先,可以通過機械平移樣品來逐一拍攝樣品的不同部位,然后對再現(xiàn)的SIM 圖像進行拼接獲得大視場SR 圖像[17,18]。其次,還可以利用平面聚合物波導(dǎo)代替?zhèn)鹘y(tǒng)物鏡獲得較大的SR-SIM 圖像[19]。其中,前者較為耗時,后者對樣品的制備要求較高。此外,利用物理光柵在樣品上的投影也可在大視場中產(chǎn)生條紋圖案[20,21]。然而,該方法需要對光柵進行物理旋轉(zhuǎn)(改變條紋方向)和平移(實現(xiàn)相移),限制了SIM 的成像速度。
本文將介紹一種大視場條紋/點陣結(jié)構(gòu)光照明顯微技術(shù)。該技術(shù)利用物理光柵投影產(chǎn)生大通量條紋/點陣結(jié)構(gòu)光,同時利用SLM 快速實現(xiàn)結(jié)構(gòu)光相移和條紋方向選擇。與傳統(tǒng)SIM 技術(shù)相比,該技術(shù)可顯著提高成像通量;與條紋結(jié)構(gòu)光相比,點陣結(jié)構(gòu)光只需要記錄五幅原始熒光圖像,便可以獲得樣品的超分辨圖像,提高了成像速度。
提出的大視場(條紋/點陣)結(jié)構(gòu)光照明SIM[22]裝置如圖1(a)所示:激光器發(fā)出的光經(jīng)過偏振片P1和P2后,被擴束成平行光。該照明光經(jīng)過二維光柵(80 線對/mm)后分別在45°和-45°方位上產(chǎn)生±1 級衍射光,這四個光束經(jīng)過透鏡L3后聚焦在空間光調(diào)制器(SLM,1 920×1 200 像素,像素大小8 μm,HDSLM80R,UPOLabs Co.,Ltd.,China)上的四個象限內(nèi)。為了避免聚焦光束對SLM 的損傷,實驗中在SLM 和透鏡L3的焦平面之間保留了一距離d(例如d=5 mm)。通過在四個象限上同時加載不同的灰度值圖像和二進制光柵(對兩個正交方向上±1 級衍射光的頻譜進行調(diào)制)來實現(xiàn)結(jié)構(gòu)光的相移或方向選擇。被SLM 相位調(diào)制后的照明光頻譜由望遠鏡系統(tǒng)L4-L5進一步成像到一空間掩膜板(Mask)上。如圖1(a)中插圖所示,該掩膜板包含直徑為350 μm 和間距為5.5 mm 的四個圓孔,以阻擋除45°和-45°方位上的±1 級衍射光之外的結(jié)構(gòu)光頻譜。偏振方向分別為s 和p 偏振的兩個偏振片分別放置在45°和-45°方向的±1 級頻譜位置上,避免兩個正交方向上光束之間發(fā)生干涉。隨后,生成的結(jié)構(gòu)光條紋通過望遠鏡系統(tǒng)L5-L6和由鏡筒透鏡(Tube-lens,TL)和顯微物鏡(Microscopic Objective,MO)組成的望遠鏡系統(tǒng)TL-MO 中繼到樣品平面。通常,結(jié)構(gòu)光場的頻譜會充滿物鏡MO 的后瞳,以便在樣品平面上產(chǎn)生周期最小的正弦條紋圖案。
圖1 大視場SIM 的光路示意圖Fig.1 The schematic setup of large-field SIM
在成像光路中,結(jié)構(gòu)光照明激發(fā)所產(chǎn)生的熒光由望遠鏡系統(tǒng)MO-TL 成像到CMOS 相機(4 096×3 000像素,像素尺寸3.45 μm,Basler ace acA4112-20um,Basler 視覺技術(shù)(北京)有限公司,中國)上。在該成像光路中,二向色鏡DM(FF545/650-Di01-25×36,Semrock,USA)用來分離激發(fā)光和熒光。此外,在CMOS 相機前面放置了一個濾光片(FF01-562/40-25,Semrock,USA)阻擋來自背景的激發(fā)光束和雜散光。
傳統(tǒng)SIM 使用SLM/DMD 生成條紋/點陣圖案,其數(shù)量受SLM/DMD 像素數(shù)量限制為500 個左右(每個周期用四個像素進行移相操作)。此外,由于SLM/DMD 的離散化像素結(jié)構(gòu)產(chǎn)生多級衍射光,降低所產(chǎn)生的條紋質(zhì)量和光強利用率[23]。相比之下,所提出的方法將二維光柵和SLM 相結(jié)合,能夠生成1 760 個條紋/光點(22 mm×80 線對/mm),達到傳統(tǒng)SIM 通量的3 倍。同時,該方法采用SLM 來實現(xiàn)相移操作,具有速度快、操作簡便、重復(fù)性好的優(yōu)點。
基于圖1 所示的實驗光路,分別開展基于條紋結(jié)構(gòu)光照明的SIM 成像和基于點陣結(jié)構(gòu)光照明的SIM成像。
首先,驗證將SLM 和針孔濾波相結(jié)合產(chǎn)生一維結(jié)構(gòu)光條紋的可行性。將SLM 第三象限的灰度值固定為0,第一象限依次設(shè)置為0、2π/3 和4π/3 相移量時所需灰度值圖像。同時,在第二象限和第四象限加載0-π 二進制相位光柵(如圖1(b)所示),通過衍射和針孔濾波來抑制該象限上±1 級衍射光束的光強,如圖2(a)所示。圖2(b)和(a)顯示了在SLM 上加載二進制光柵前后結(jié)構(gòu)光的頻譜分布。定量分析表明:在第二和第四象限加載0-π 二進制相位光柵后,經(jīng)過針孔的光強僅為原來的4.5%,可以忽略不計。最終產(chǎn)生45°方向條紋結(jié)構(gòu)光,如圖2(c)所示。采用類似操作即可獲得-45°方向的一維條紋結(jié)構(gòu)光。當(dāng)SLM 第一象限分別加載0、79 和158 灰度值時,可以獲得0、2π/3 和4π/3 相移的條紋結(jié)構(gòu)光,如圖2(e)所示。其沿同一虛線的強度分布如圖2(g)所示,對其正弦擬合結(jié)果表明,其相移分別為[0,1.84,4.67]rad,接近理論值[0,2π/3,4π/3]rad,因此該方法可提供準(zhǔn)確相移。
圖2 基于光柵投影和SLM 相移的大視場條紋和點陣結(jié)構(gòu)光Fig.2 Large-field fringe and lattice structured illumination based on grating projection and SLM phase shifting
其次,通過對直徑為240 nm、熒光發(fā)射峰值波長為580 nm(λem)的熒光小球(RF240C,激發(fā)波長532 nm,輝質(zhì)生物,上海,中國)進行成像,來證明條紋結(jié)構(gòu)光照明大視場SIM 的超分辨成像能力。在本實驗中,使用有效成像視場為690 μm×517 μm 的低倍物鏡(20×/NA0.75)(見圖3(a)),其橫向分辨率的理論值為δplan=0.61λem/NA=472 nm。實驗中,條紋結(jié)構(gòu)光在樣品平面上的周期PSIM為0.69 μm。此時,SIM 空間分辨率增強倍率:[(2×NA/λem)+1/PSIM]/(2×NA/λem)=1.6[24]倍,故而空間分辨率理論值可達247 nm。
實驗中,利用SLM 實現(xiàn)相移和選擇條紋方向,同時利用CMOS 記錄樣品在結(jié)構(gòu)光照明下的熒光圖像。最后,通過SIM 重建算法[25,26]即可獲得樣品的超分辨SIM 圖像,如圖3(a)所示。選取圖3(a)中不同位置的5 個感興趣區(qū)域?qū)?yīng)的寬場圖像和SIM 圖像進行放大比較。通過對虛線處兩個相鄰小球的強度曲線分析(如圖3(b)所示),可以發(fā)現(xiàn)SIM 成像模式相比寬場成像模具有更高的空間分辨能力。為了定量評估橫向分辨率,從圖3(a)中隨機選擇了20 個熒光小球,統(tǒng)計結(jié)果如圖3(c)所示,寬場圖像的小球的半高全寬(Full Width at Half Maximum,F(xiàn)WHM)為543±20 nm,SIM 對應(yīng)的FWHM 為302±13 nm,即SIM 成像模式將空間分辨率提升了1.8 倍。需要指出的是,由于成像系統(tǒng)中存在像差,因此兩種成像模式的空間分辨率均低于理論分辨率,并且由于SIM 重建中使用的去卷積操作有助于空間分辨率提升,進而實驗測得的分辨率增強倍率(1.8 倍)高于理論分辨率增強倍率(1.6 倍)。
圖3 直徑240 nm 熒光小球的寬場和SIM 成像比較Fig.3 Wide-field and SIM imaging on 240 nm-diameter fluorescent beads
除了分辨率增強外,空間帶寬積(Spatial Bandwidth Product,SBP)也是光學(xué)成像系統(tǒng)的一個重要參量。SBP 越大,通過光學(xué)系統(tǒng)所獲得的信息越多。SBP 可以通過視場除以最小可分辨的有效區(qū)域來估計,對于該系統(tǒng),SBP 可計算為:(4 000×3.45 μm/20)×(3 000×3.45 μm/20)/(π×0.3022μm2)=125 萬;對于傳統(tǒng)SIM,其有效視場受限于SLM/DMD 的像素數(shù),考慮到每個周期用3 個像素采樣,生成與該系統(tǒng)相同的條紋(周期0.69 μm)時,一個1 920×1 080 像素的SLM/DMD 只能覆蓋442 μm×248 μm 的視場(每個條紋周期由4 個像素所采樣),對應(yīng)有效SBP 為:442×248 μm2/(π×0.3022μm2)=38 萬??傻迷撓到y(tǒng)相比傳統(tǒng)SIM具有3 倍的SBP 增強[9]。
基于圖1 所示實驗光路,還可以用于產(chǎn)生二維點陣結(jié)構(gòu)光,以更快的速度實現(xiàn)快速超分辨成像。相比條紋結(jié)構(gòu)光照明,在產(chǎn)生點陣結(jié)構(gòu)光時無需在SLM 上加載0-π 二進制相位光柵。為了實現(xiàn)二維點陣的相移操作,僅需在SLM 四個象限加載不同灰度值圖像。具體地,將SLM 第三和第四象限的相位固定為0,將第一和第二象限的相位進行成對變化(如圖1(c)所示),可以實現(xiàn)對兩組相互垂直的條紋結(jié)構(gòu)光的相移操作。方便起見,用φr,i和φs,j表示第一和第二象限的相位,下標(biāo)i和j分別表示在第一和第二象限上執(zhí)行的相移次數(shù)。具體地,依次在SLM[第一象限,第二象限]上加載[0,0]、[0,2π/3]、[0,4π/3]、[2π/3,0]和[4π/3,2π/3]的相位組合,來獲得5 組點陣結(jié)構(gòu)光。圖2(d)為相移量組合[0,0]時的結(jié)構(gòu)光圖案,圖2(f)和(h)分別為對應(yīng)相移量組合[0,0]、[0,2π/3]、[0,4π/3]的相移點陣結(jié)構(gòu)光圖案和強度分布。通過對強度曲線正弦擬合可以得出,此例中點陣結(jié)構(gòu)光的相移誤差為0.26 rad,說明該方法具有較高的相移精度。通過依次記錄樣品在以上5 組點陣結(jié)構(gòu)光照明下的低分辨熒光圖像,結(jié)合再現(xiàn)方法,便可得到空間分辨率超越衍射極限的SIM 圖像。
簡要介紹點陣結(jié)構(gòu)光的再現(xiàn)方法。在點陣SIM 中,點陣圖案是由兩組垂直的條紋結(jié)構(gòu)光非相干疊加生成的,因此其強度分布可以表示為
式中,r表示二維空間位置矢量;I0(r)表示點陣光的直流分量;ms、mt是沿45o和-45o方向條紋結(jié)構(gòu)光的調(diào)制深度;κs和κt是分別沿45°和-45°方向兩組正交條紋的空間頻率。
在點陣結(jié)構(gòu)光Ii,j(r)的照明下,被熒光標(biāo)記的樣品S(r)由顯微成像單元MO-TL 成像到CMOS 相機。此時,樣品的熒光圖像強度分布為S·Ii,j(r)與系統(tǒng)的強度點擴散函數(shù)hD(r)的卷積,即
式中,Di,j(r)表示相機記錄的強度分布。對式(2)進行傅里葉變換,可得
式中,k為頻率域的坐標(biāo)矢量和分別為Di,j(r)、hD(r)、S(r)和Ii,j(r)的頻譜。將式(1)代入式(3)可得
式中,
點陣SIM 比條紋結(jié)構(gòu)光照明SIM 具有更快的成像速度。SLM 的幀速率(Frames Per Second,F(xiàn)PS)為60 幀/s,CMOS 相機在全幀曝光模式下的最大幀速率為23 幀/s。條紋結(jié)構(gòu)光SIM 需要拍攝6 幅原始圖像重建單幅超分辨圖像,因此其超分辨率成像速度最快為23/6 幀/s。相比之下,點陣結(jié)構(gòu)光SIM 需要記錄5 幅原始圖像來重構(gòu)一幅超分辨圖像,因此點陣結(jié)構(gòu)光SIM 超分辨率成像速度為23/5 幀/s。
同樣利用直徑為240 nm 的熒光小球驗證點陣結(jié)構(gòu)光照明大視場SIM 的超分辨成像能力。圖4(a)所示分別為在相移組合[0,0]、[0,2π/3]、[0,4π/3]、[2π/3,0]和[4π/3,2π/3]結(jié)構(gòu)光照明對應(yīng)的5 幅熒光圖像Irs,0(x,y)、Ir,1(x,y)、Ir,-1(x,y)、Is,1(x,y)和Is,-1(x,y)。其中,從圖4(a)的放大圖像中可以明顯看到二維點陣結(jié)構(gòu)光對應(yīng)的“棋盤”圖樣。同時,從Irs,0(x,y)的頻譜分布中可以看出(如圖4(b)所示),其頻譜由沿著±45°方向的0,±1 級衍射光頻譜組成,該結(jié)果表明點陣結(jié)構(gòu)光照明光是由兩組正交方向的條紋結(jié)構(gòu)光非相干疊加而成,且不同結(jié)構(gòu)光之間不存在交叉干涉項。
圖4 點陣結(jié)構(gòu)光照明下熒光小球的原始熒光圖像Fig.4 Raw fluorescence image of fluorescent beads under lattice illumination
利用再現(xiàn)方法獲得不同方向的頻率分量后,結(jié)合與傳統(tǒng)SIM 相同的重構(gòu)方式,熒光小球的超分辨SIM圖像如圖5(a)所示,為了便于比較,在圖中并列放置了該樣品對應(yīng)的寬場熒光圖像。通過對圖中感興趣區(qū)域?qū)?yīng)的寬場熒光圖像和SIM 圖像進行放大比較,且對兩個相鄰小球進行強度曲線分析可以發(fā)現(xiàn),SIM 圖像能夠展現(xiàn)出樣品更多的細節(jié)結(jié)構(gòu)。此外,從圖5(a)中隨機選擇20 個熒光小球,并統(tǒng)計其強度分布的半高全寬(FWHM),如圖5(c)所示。統(tǒng)計結(jié)果為,寬場成像的小球的FWHM 為560±30 nm,SIM 對應(yīng)的FWHM 為313±24 nm,即結(jié)構(gòu)光照明將空間分辨率提升了1.78 倍。
圖5 直徑為240 nm 熒光小球的寬場和點陣SIM 成像比較Fig.5 Wide-field and lattice SIM imaging on 240 nm-diameter fluorescent beads
為了進一步驗證點陣結(jié)構(gòu)光照明大視場SIM 的超分辨成像能力,分別利用寬場和點陣SIM 對小鼠干細胞中的微管結(jié)構(gòu)進行成像。實驗中,用一級抗體(β-Tubulin,#2146,兔抗)和二級抗體(IgG(H+L)-Alexa Fluor 532,羊抗兔)標(biāo)記小鼠干細胞中的微管結(jié)構(gòu)。圖6(a)的左右兩側(cè)分別為該樣品的寬場和基于點陣結(jié)構(gòu)光的SIM 圖像。圖6(b)放大展示了圖6(a)中橙色方框?qū)?yīng)子區(qū)域的寬場和SIM 圖像,對比發(fā)現(xiàn)SIM 圖像具有更多細節(jié)結(jié)構(gòu)和更高的信噪比。其中,前者受益于SIM 的超分辨能力,后者受益于SIM 的層析能力。為了更加直觀地比較寬場圖像和SIM 圖像的空間分辨能力,圖7(a)展示了圖6(b)中寬場和SIM 圖像中相同虛線位置的強度分布。對比兩條曲線可以看出:點陣結(jié)構(gòu)光照明SIM 可分辨寬場成像無法分辨的微管結(jié)構(gòu)。同時,利用基于去相關(guān)空間分辨率的分析方法[27]對圖6(b)中寬場和SIM 圖像進行評定。圖7(b)和(c)中的分析結(jié)果表明:寬場和SIM 圖像的空間截止頻率分別為3.0 μm-1和6.4 μm-1,對應(yīng)空間分辨率分別為0.67 μm 和0.31 μm。需要說明的是,由于點陣結(jié)構(gòu)光照明SIM 通過評估信號和噪聲之間的相對權(quán)重來測定空間分辨率,與寬場成像相比分辨率提升超過兩倍;并且該方法中的相移操作可以抑制離焦背景噪聲,使空間分辨率的預(yù)測值也得到了提升。與SBP 分析類似,基于光柵投影和SLM 相移的點陣結(jié)構(gòu)光SIM 相比傳統(tǒng)SIM 具有3 倍的SBP 增強[9]。
圖6 寬場和點陣SIM 對Alexa fluor 532 標(biāo)記下固定小鼠干細胞中微管的成像比較Fig.6 Wide-field and lattice SIM image of the microtubules in fixed mouse stem cells labeled with Alexa fluor 532
圖7 寬場和點陣SIM 成像的空間分辨率比較Fig.7 Comparison of spatial resolution of wide-field and lattice SIM imaging
本文介紹了一種基于光柵投影和SLM 相移的大視場SIM 技術(shù)?;谕粚嶒炑b置,實現(xiàn)了條紋結(jié)構(gòu)光照明和點陣結(jié)構(gòu)光照明,具有成像速度快、視場大、分辨率高的優(yōu)點。與傳統(tǒng)基于SLM/DMD 投影的SIM技術(shù)相比,該方法產(chǎn)生結(jié)構(gòu)光的個數(shù)不受投影器件限制,其成像通量是傳統(tǒng)SIM 的3 倍(目前主要受限于CMOS 相機的通量)。該技術(shù)通過采用振幅光柵投影,避免了SLM/DMD 投影中的色散效應(yīng),可以直接用于多色SIM 成像。與現(xiàn)有的基于光柵投影的SIM 相比,該方法利用SLM 進行相移,具有更快的成像速度(目前受制于CMOS 相機的曝光時間,最終超分辨成像速度最快為23/5 幀/s)。目前,結(jié)構(gòu)光的照明方向被限制在兩個正交方向。通過采用Dammam 光柵,可在三個或更多方向上生成結(jié)構(gòu)光照明,從而實現(xiàn)各向同性的空間分辨率增強。然而,大視場SIM 也存在一些不足:首先,當(dāng)采用單向條紋結(jié)構(gòu)光照明時,會損失50%的光照強度;其次,由于需要同時使用物理光柵和SLM 來產(chǎn)生相移結(jié)構(gòu)光,具有相對復(fù)雜的裝置。點陣結(jié)構(gòu)光照明與條紋結(jié)構(gòu)光照明相比各有優(yōu)勢,點陣結(jié)構(gòu)光照明僅需要記錄5 幅原始強度圖樣就可以重建出樣品超分辨相位圖像,具有更快的成像速度;另外條紋結(jié)構(gòu)光可以充分利用CMOS 相機的灰度階(不需要復(fù)用兩組正交結(jié)構(gòu)光照明下的強度圖像),具有更高的信噪比。
隨著人工智能(尤其是深度學(xué)習(xí)技術(shù))的不斷發(fā)展,大視場結(jié)構(gòu)光照明SIM 的超分辨重建速度,以及相位/熒光雙模式成像的融合速度將會得到大幅提升。期望本文介紹的結(jié)構(gòu)光照明顯微技術(shù)可以被廣泛地應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、材料化學(xué)等研究領(lǐng)域。