高鳳良,黃雄峰 ,范虹興,張炫焜
(1.三峽大學(xué)電氣與新能源學(xué)院,湖北 宜昌 443002;2.合肥工業(yè)大學(xué)電氣與自動(dòng)化工程學(xué)院,安徽 合肥 230009;3.國網(wǎng)金華供電公司,浙江 金華 321017;4.國網(wǎng)重慶市電力公司黨校(培訓(xùn)中心),重慶 400053)
絕緣柵雙極型晶體管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)同時(shí)具有高輸入阻抗和低導(dǎo)通壓降的特點(diǎn)[1-2],在功率半導(dǎo)體器件中具有很高的商業(yè)價(jià)值。近年來,IGBT模塊在各個(gè)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,如電動(dòng)汽車、艦船、高速火車、智能電網(wǎng)、風(fēng)力發(fā)電機(jī)和高壓直流輸電等[3-4]。當(dāng)IGBT模塊在高頻工況下作業(yè)時(shí),產(chǎn)生的功率損耗增大,尤其當(dāng)設(shè)備電壓等級(jí)較高、功率較大時(shí)(MV·A級(jí)),會(huì)造成更高的溫升,研究表明,由于溫度引起功率器件的失效占將近六成[5]。在器件處于溫度較高的工況下,長期運(yùn)行過程中將要承受溫度和應(yīng)力的波動(dòng),會(huì)對(duì)其壽命等造成影響,為保證器件能夠安全穩(wěn)定的運(yùn)行,對(duì)設(shè)備的散熱系統(tǒng)也提出了更高的要求,水冷的散熱能力是強(qiáng)制風(fēng)冷的15~30倍[6],與傳統(tǒng)的強(qiáng)制風(fēng)冷相比,水冷散熱更具優(yōu)勢。因此,對(duì)IGBT模塊進(jìn)行流場-溫度場耦合計(jì)算,研究IGBT功率模塊的散熱機(jī)理,可以為IGBT模塊散熱結(jié)構(gòu)的優(yōu)化提供理論依據(jù),對(duì)提高模塊工作時(shí)的安全性和可靠性具有重要意義。
目前,國內(nèi)外學(xué)者對(duì)大功率IGBT模塊的散熱問題做了一些研究。如在電動(dòng)汽車中,IGBT模塊主要的散熱方式為液冷散熱,已被證明散熱效果較為明顯[7];通過對(duì)散熱器散熱結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn),增大傳熱面積,使流體盡可能多的帶走熱量,可以提高散熱效率[8-9];用有限元仿真軟件分別對(duì)順排針柱散熱器和叉排針柱散熱器進(jìn)行數(shù)值模擬分析,結(jié)果表明叉排針柱散熱器對(duì)流體具有很好的擾流作用,散熱效果比順排針柱散熱器好[10];通過對(duì)微通道進(jìn)行建模,設(shè)計(jì)不同形狀的翅片,研究翅片形狀和排列間距對(duì)散熱效果的影響,結(jié)果表明三角形散熱器的翅片散熱效果最好[11]。以上文獻(xiàn)從不同角度對(duì)散熱器的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)來改善散熱器散熱性能,但對(duì)IGBT模塊流場-溫度場數(shù)值計(jì)算方法研究較少。
本文通過對(duì)IGBT模塊水冷散熱進(jìn)行理論分析,提出基于流場-溫度場耦合的溫升計(jì)算方法,并利用有限元仿真軟件對(duì)IGBT模塊進(jìn)行流場-溫度場耦合計(jì)算;之后搭建溫升試驗(yàn)平臺(tái)測量模塊的結(jié)溫,對(duì)比分析仿真結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果;最后改進(jìn)散熱器結(jié)構(gòu),分析不同結(jié)構(gòu)下的散熱效率,為散熱器結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì)提供依據(jù)。
正常工作條件下,IGBT模塊的結(jié)溫主要來自內(nèi)部芯片功率損耗所產(chǎn)生的熱量,因此,要對(duì)IGBT模塊進(jìn)行流場-溫度場的耦合分析,需要準(zhǔn)確地計(jì)算模塊在運(yùn)行過程中產(chǎn)生的功率損耗。
IGBT模塊開關(guān)頻率較高時(shí),在開通、關(guān)斷過程中會(huì)產(chǎn)生能量損耗,稱為動(dòng)態(tài)功耗;在導(dǎo)通、關(guān)斷狀態(tài)下產(chǎn)生的功耗稱為靜態(tài)功耗[12]。IGBT模塊關(guān)斷狀態(tài)下,幾乎無電流流過,模塊的關(guān)態(tài)功耗為零。因此,IGBT模塊的總功率損耗P主要由通態(tài)功耗Pf和開關(guān)功耗Ps組成。通態(tài)功耗Pf為
式中:Uon為模塊開通時(shí)的導(dǎo)通壓降;Ion為流經(jīng)器件的電流。
開關(guān)功耗Ps與IGBT模塊開通和關(guān)斷過程中電流、電壓的大小有關(guān),同時(shí)也受開通和關(guān)斷所用時(shí)間的影響[13],其開、關(guān)功耗分別為
式中:Pson為開通功耗;Psoff為關(guān)斷功耗;u,i分別為模塊開關(guān)過程中瞬時(shí)電壓值和瞬時(shí)電流值;t0為初始時(shí)間;ton,toff分別為開通、關(guān)斷過程中所用時(shí)間。所以:
1.2.1 熱傳遞理論
熱傳遞有熱傳導(dǎo)、熱對(duì)流和熱輻射3種傳遞方式[14]。在實(shí)際運(yùn)行過程中,IGBT模塊熱傳遞同時(shí)包含以上3種方式,但在對(duì)IGBT模塊進(jìn)行熱分析時(shí)可以忽略比較弱的熱傳遞現(xiàn)象[15]。
熱傳導(dǎo)是固體之間熱量傳遞的主要方式,IGBT模塊在運(yùn)行過程中,芯片內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生大量的焦耳熱,熱量自上而下形成傳導(dǎo)通路,依次經(jīng)過上焊料層、上銅層、覆銅陶瓷基板(direct bonding copper,DBC)、下銅層、下焊料層和基板。對(duì)流傳熱是以流體為介質(zhì),利用流體可流動(dòng)性和熱脹冷縮的特性傳遞熱量。為使IGBT模塊工作時(shí)結(jié)溫處于安全范圍內(nèi),通常會(huì)在模塊基板下方安裝散熱器,來增強(qiáng)模塊和流體之間的熱量傳遞,降低模塊的整體溫度。采用強(qiáng)制對(duì)流能夠加快對(duì)流傳熱,使散熱效果更加明顯。一般情況下,IGBT模塊的極限工作溫度通常為150℃。研究表明,當(dāng)物體溫度超過500℃時(shí),輻射傳熱才比較明顯,因此,在正常工況下IGBT模塊產(chǎn)生的熱輻射效應(yīng)可以忽略[16]。本文采用有限元數(shù)值模擬的方法分析含散熱結(jié)構(gòu)的IGBT模塊溫度場分布情況,根據(jù)以上熱傳導(dǎo)理論,含散熱結(jié)構(gòu)IGBT模塊的穩(wěn)態(tài)溫度場方程可以表示為
式中:λ為導(dǎo)熱系數(shù);x,y,z為坐標(biāo)軸方向;qv為熱源密度;α為對(duì)流散熱系數(shù);為沿邊界法向的溫度變化率;T為材料溫度;Tf為流體溫度。
1.2.2 流體控制方程
不同流動(dòng)狀態(tài)下的流體對(duì)應(yīng)不同的控制方程,對(duì)冷卻液流動(dòng)狀態(tài)的判定是進(jìn)行水冷基板仿真模擬的第一步,冷卻液流動(dòng)狀態(tài)判定依據(jù)為雷諾數(shù)(Re)的大小,雷諾數(shù)的定義為
式中:ρ為冷卻液密度;u為入口流速;d為水流直徑;μ為冷卻液的動(dòng)力黏度。
本文IGBT模塊水冷散熱器冷卻液采用純 水,其密度為 996.52 kg·m-3,動(dòng)力黏度為0.000 895 kg·(m·s)-1,水冷散熱器的進(jìn)水口直徑為0.01 m,進(jìn)水口流速為1 m·s-1;水導(dǎo)熱系數(shù)為0.59 W·(m·K)-1,比熱容為4 186 J·(kg·K)-1。根據(jù)式(6)可以計(jì)算得到雷諾數(shù)Re=11 134,可以判定水冷基板內(nèi)水的流動(dòng)狀態(tài)為湍流。
IGBT模塊水冷系統(tǒng)中,冷卻水的流動(dòng)控制方程可表示如下。
1)冷卻水的質(zhì)量守恒方程。冷卻水的質(zhì)量守恒方程可以表示為
式中:ux,uy,uz為水在x,y,z方向上速度矢量u的分量。
2)冷卻水的動(dòng)量守恒方程。冷卻水的動(dòng)量守恒方程可以表示為
式中:t為時(shí)間;p為水微元體上的壓力。
3)流體湍流方程。文中設(shè)定冷卻水為不可壓縮流體,標(biāo)準(zhǔn)k-ε模型方程可以表示為
式中:t為時(shí)間;k為湍流動(dòng)能;ε為耗散率;μt為水的湍動(dòng)粘度;xi,xj為坐標(biāo)位置;i,j為下標(biāo),i,j=x,y,z且i≠j;Gk為層流速度梯度產(chǎn)生的湍流動(dòng)能;σk,σε為普朗特?cái)?shù);C1ε,C2ε為常量;u,v,w分別為x,y,z方向的速度分量。
基于不同的封裝工藝,IGBT模塊主要分為焊接式和壓接式兩大類。焊接式IGBT封裝結(jié)構(gòu)如圖1所示,由下到上,IGBT內(nèi)部結(jié)構(gòu)依次為散熱器、基板、下焊料層、DBC層(下銅層、陶瓷襯板、上銅層)、上焊料層、芯片、鍵合線,IGBT芯片和續(xù)流二極管(freewheeling diode,F(xiàn)WD)芯片通過鍵合線利用超聲焊接技術(shù)連接在一起;器件內(nèi)部與外殼之間的縫隙填充硅膠,可以緩解外部震動(dòng)對(duì)內(nèi)部器件的影響;對(duì)底板進(jìn)行特殊加工設(shè)計(jì),使底板與散熱器表面結(jié)構(gòu)高度吻合,減小接觸面間隙,提高模塊的散熱能力。
圖1 焊接式IGBT模塊封裝結(jié)構(gòu)圖Fig.1 Structure diagram of welded IGBT module
文中選取型號(hào)為5SNA 0800N330100焊接式IGBT模塊為研究原型,其額定電壓為3.3 kV,額定電流為800 A。IGBT模塊內(nèi)部分2個(gè)管,每個(gè)管由2個(gè)單元并聯(lián)而成,單元內(nèi)部包含4片IGBT芯片和2片F(xiàn)WD芯片,芯片下方通過焊料與上銅層焊接在一起;下銅層焊接在基板上,基板與芯片之間通過DBC陶瓷層絕緣隔離。
IGBT模塊為型號(hào)5SNA 0800N330100,水冷散熱器為400 mm×300 mm×40 mm的長方體結(jié)構(gòu),根據(jù)實(shí)際尺寸建立其等比例幾何模型,IGBT模塊仿真模型如圖2所示,散熱器結(jié)構(gòu)如圖3所示。
圖2 IGBT模塊仿真模型Fig.2 Simulation model of IGBT module
圖3 水冷散熱器結(jié)構(gòu)圖Fig.3 Structure diagram of water-cooling radiator
考慮仿真計(jì)算復(fù)雜程度,對(duì)幾何模型進(jìn)行簡化。鍵合線對(duì)功率模塊溫度分布影響較小[17],因此在建立有限元模型時(shí)可將其忽略。IGBT芯片為整個(gè)模塊的熱源,熱量經(jīng)焊料層向下傳遞,在劃分網(wǎng)格時(shí),對(duì)芯片層、焊料層進(jìn)行精細(xì)網(wǎng)格劃分,對(duì)其他部分采用標(biāo)準(zhǔn)劃分尺寸。
由焊接式IGBT封裝結(jié)構(gòu)圖可知,模塊各層由不同的材料封裝而成,通過查閱相關(guān)資料來確定各層材料屬性,如表1所示。溫度對(duì)硅材料的導(dǎo)熱系數(shù)、熱容的影響較明顯,在數(shù)值模擬計(jì)算時(shí)需要考慮因溫度變化而引起的材料屬性的變化(具體函數(shù)關(guān)系見表1)。
表1 IGBT各層材料屬性Tab.1 Material properties of each layer of IGBT
溫度場邊界條件:在仿真計(jì)算時(shí),把芯片作為熱源,直接在芯片上加載功率損耗模擬芯片的發(fā)熱。當(dāng)器件處于長期導(dǎo)通狀態(tài)時(shí),模塊總功率損耗將由IGBT芯片的通態(tài)損耗組成,通過功率損耗計(jì)算公式,計(jì)算出平均功率損耗為3.08 kW;環(huán)境溫度取25℃,散熱器表面與空氣之間的對(duì)流換熱系數(shù)為5 W·(m2·℃)-1。
流場邊界條件:假設(shè)散熱器中冷卻水為連續(xù)不可壓縮液體,其性質(zhì)為恒值,冷卻水與散熱器管道接觸邊界各處的流速均為零,出口邊界條件指定為充分發(fā)展流動(dòng),進(jìn)水口水溫為25℃,水流速度設(shè)置為1 m·s-1。
對(duì)含散熱結(jié)構(gòu)IGBT模塊的流場溫度場的耦合計(jì)算后,經(jīng)有限元分析軟件后處理,可以得到含散熱結(jié)構(gòu)的IGBT模塊各部分溫度場分布的情況,求得的最終結(jié)果如圖4~圖6所示。
圖4 含散熱結(jié)構(gòu)的IGBT模塊整體溫度分布Fig.4 Temperature distribution of IGBT module with heat dissipation structure
圖5 水冷散熱器溫度分布Fig.5 Temperature distribution of water-cooling radiator
圖6 散熱器流體溫度分布Fig.6 Temperature distribution of fluid in radiator
由圖4可知,IGBT芯片作為熱源,熱量從上往下、從中間向四周擴(kuò)散傳播;芯片的最高溫度為129.18℃,小于IGBT工作的極限溫度。
由圖5可知,熱源主要集中在中間區(qū)域,熱量向周圍擴(kuò)散,中間區(qū)域溫度最高為84.6℃。
由圖6可知,隨著水的流動(dòng),水溫會(huì)逐漸升高,但流向出口時(shí)會(huì)略微降低,在熱源附近達(dá)到最高為43.9℃,出水口溫度為40.1℃。
搭建的IGBT溫升測試平臺(tái)基本構(gòu)成如圖7所示,主要包括電源系統(tǒng)、水冷系統(tǒng)、溫度系數(shù)測試系統(tǒng)、監(jiān)測與控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等。監(jiān)測與控制系統(tǒng)可以結(jié)合下位機(jī)來實(shí)現(xiàn)各個(gè)系統(tǒng)間的通信和控制,以實(shí)現(xiàn)溫度數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集,同時(shí)還能保證測試設(shè)備穩(wěn)定可靠的運(yùn)行。
圖7 IGBT模塊溫升測試平臺(tái)基本構(gòu)成Fig.7 Basic composition of IGBT module temperature rise test platform
由于IGBT芯片封裝在模塊內(nèi)部,直接測量其結(jié)溫難以實(shí)現(xiàn)。經(jīng)研究發(fā)現(xiàn),當(dāng)給IGBT模塊通入小電流時(shí),其飽和壓降與結(jié)溫表現(xiàn)出一定的規(guī)律,兩者之間呈線性關(guān)系[18],關(guān)系圖如圖8所示。因此,溫升測試中結(jié)溫的測量可采用小電流下飽和壓降法進(jìn)行推導(dǎo)[19]。
圖8 小電流測量下IGBT導(dǎo)通壓降與結(jié)溫關(guān)系圖Fig.8 Relationship between IGBT turn-on voltage drop and temperature under low current measurement
在進(jìn)行溫度系數(shù)測試時(shí),隨機(jī)選擇兩個(gè)IGBT模塊放入恒溫箱內(nèi),測量電流取100 mA,測試溫度從30~150℃每隔20℃,保持45分鐘,測量不同結(jié)溫、小電流下的UCE的值,得出結(jié)溫與UCE兩者的關(guān)系式。經(jīng)過多次測量取平均值,計(jì)算后溫度系數(shù)為-2.28 mV/℃,結(jié)溫壓降關(guān)系式截距為0.512 79。
計(jì)算出結(jié)溫與導(dǎo)通壓降關(guān)系式之后,將IGBT模塊安裝在溫升測試系統(tǒng)中的試驗(yàn)工位上,如圖9所示,并在上位機(jī)中設(shè)置試驗(yàn)參數(shù),具體數(shù)值為:加熱時(shí)間30 s,冷卻時(shí)間30 s,測試電流100 mA,環(huán)境溫度25℃,溫度系數(shù)-2.28 mV/℃,UGE=15 V。然后開始溫升測試。
實(shí)驗(yàn)時(shí),選取室溫下的純水為冷卻介質(zhì),在兩種不同的工況下進(jìn)行溫升測試實(shí)驗(yàn)。工況①:不同電流梯度下IGBT模塊溫度測試。實(shí)驗(yàn)時(shí)加載電流設(shè)定范圍為100~800 A,電流變化梯度為100 A;進(jìn)水口流速為1 m/s,水溫為25℃。工況②:不同進(jìn)水口流速下IGBT模塊溫度測試。實(shí)驗(yàn)時(shí)設(shè)定電流為800 A,進(jìn)水口流速的范圍為1~2 m/s,進(jìn)水口流速變化梯度為0.2 m/s,水溫為25℃。以上實(shí)驗(yàn)中,每組數(shù)據(jù)測試10次取平均值。
IGBT模塊溫度測試實(shí)驗(yàn)結(jié)果與仿真計(jì)算結(jié)果對(duì)比如圖10和圖11所示。由圖10可以看出,隨著電流的增大,仿真溫度和實(shí)驗(yàn)溫度的差值越來越大,但不同電流下的IGBT模塊實(shí)驗(yàn)結(jié)溫與仿真結(jié)溫的誤差為5%左右,屬于正常誤差范圍,實(shí)驗(yàn)結(jié)溫與仿真結(jié)溫相比較高;由圖11可以看出,不同進(jìn)水口流速下的IGBT模塊實(shí)驗(yàn)結(jié)溫與仿真結(jié)溫的誤差為4%左右,且進(jìn)水口流速越大,IGBT模塊結(jié)溫越低,散熱器散熱效果更明顯。
圖10 不同電流梯度下IGBT模塊溫度Fig.10 IGBT module temperature under different current gradients
圖11 不同進(jìn)水口流速IGBT模塊溫度Fig.11 IGBT module temperature under different water inlet flow rate
散熱器管道結(jié)構(gòu)的不同將會(huì)直接影響流體在管道內(nèi)的流動(dòng)狀態(tài),會(huì)改變流體流速的大小和速度場分布,進(jìn)而對(duì)散熱器的散熱效果產(chǎn)生影響。因此,對(duì)管道結(jié)構(gòu)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)可以提高散熱效率。在保證管道截面積不變的條件下,將圓形管道結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)成長方形結(jié)構(gòu)并對(duì)整個(gè)模塊進(jìn)行流場-溫度場耦合計(jì)算,從結(jié)果中讀取IGBT模塊的最高結(jié)溫為125.77℃,雖小于圓形結(jié)構(gòu)的129.18℃,但效果提升并不明顯。因此,進(jìn)一步對(duì)長方形管道做了兩種不同結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì),一種是把管道截面由長方形改成凹凸形;另一種是在管道兩側(cè)增加擾流擋板,優(yōu)化后的管道結(jié)構(gòu)如圖12所示。在對(duì)散熱器管道結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)的過程中,為了能夠準(zhǔn)確地分析不同管道結(jié)構(gòu)對(duì)IGBT模塊溫度場分布的影響,需要保持管道結(jié)構(gòu)的長度和截面積不變。設(shè)計(jì)完成后,基于不同的管道結(jié)構(gòu)對(duì)整個(gè)IGBT模塊進(jìn)行耦合場數(shù)值計(jì)算,其他條件不改變,得出不同進(jìn)水口流速下IGBT模塊最高結(jié)溫如圖13所示。
圖12 優(yōu)化設(shè)計(jì)后的管道結(jié)構(gòu)Fig.12 Optimized design of pipeline structure
圖13 各管道結(jié)構(gòu)不同進(jìn)水口流速IGBT模塊溫度Fig.13 The temperature of the IGBT module with different inlet flow rate for each pipeline structure
由圖13可以看出,在進(jìn)水口流速為1 m/s時(shí),凹凸形結(jié)構(gòu)和擾流結(jié)構(gòu)下IGBT模塊的最高結(jié)溫分別為118.46℃和121.48℃,說明經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)后的散熱器散熱效率提升明顯;隨著進(jìn)水口流速的增加,IGBT模塊的最高結(jié)溫會(huì)隨之降低,但當(dāng)流速大于3.5 m/s時(shí),散熱效果提升并不明顯,考慮實(shí)際使用成本,最佳進(jìn)水口流速應(yīng)在3.5 m/s左右。
通過對(duì)含散熱結(jié)構(gòu)IGBT模塊的流場溫度場的耦合計(jì)算和溫升測試,可以得出以下結(jié)論:
1)采用有限元仿真軟件對(duì)含散熱結(jié)構(gòu)的IGBT模塊進(jìn)行數(shù)值計(jì)算,仿真結(jié)果能夠直觀體現(xiàn)流體流動(dòng)的情況和溫度分布情況,可以為散熱器結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì)提供理論依據(jù)。
2)基于耦合場數(shù)值計(jì)算的結(jié)果能夠說明流體可以帶走大功率電子器件工作時(shí)產(chǎn)生的熱量,讓器件工作時(shí)的結(jié)溫處于允許范圍內(nèi)。采用水冷散熱器能夠提高器件的可靠性和安全性,且進(jìn)水口流速越大,散熱效果愈加明顯。
3)由仿真結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)比分析可知,溫度變化基本一致,其誤差在正常范圍內(nèi),驗(yàn)證了理論分析和仿真計(jì)算的正確性。
4)水冷散熱器主要是通過對(duì)流換熱來實(shí)現(xiàn)對(duì)大功率電子器件的散熱,換熱面的傳熱面積和形狀以及流體介質(zhì)和流動(dòng)情況是影響對(duì)流換熱的主要因素。因此,在優(yōu)化設(shè)計(jì)散熱器結(jié)構(gòu)時(shí)可以考慮增大傳熱面積、改進(jìn)換熱面形狀和增強(qiáng)擾流強(qiáng)度,如散熱管道可以采用叉排結(jié)構(gòu)來增強(qiáng)散熱效果。