譚興華 楊 東 陳瑞斌
(河南四達(dá)檢測(cè)技術(shù)有限公司, 許昌 461000)
近年來電力線路的金線、GIS導(dǎo)線斷裂事故頻發(fā),對(duì)電力系統(tǒng)的安全穩(wěn)定運(yùn)行構(gòu)成嚴(yán)重威脅。正確分析變電站 GIS故障原因,及時(shí)進(jìn)行 GIS日常維護(hù)工作,是保證電網(wǎng)安全穩(wěn)定運(yùn)行的重要工作之一[1]。而無損探傷檢測(cè),是指在不破壞、或者說不影響待檢測(cè)對(duì)象組件使用性能的前提下,利用一種光、聲或者電等特性,借助現(xiàn)代技術(shù)和設(shè)備,以物理方式實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的方法總稱[2]。而X射線檢測(cè)技術(shù),具有全面性、細(xì)致性等特征,因此研究X射線無損探傷技術(shù),在變電站運(yùn)行狀態(tài)GIS檢測(cè)中的應(yīng)用,通過使用X射線無損探傷技術(shù),對(duì)因地理位置復(fù)雜、探測(cè)困難的變電站用電設(shè)備和輸電線路進(jìn)行檢測(cè),進(jìn)一步維護(hù)電網(wǎng)和電力系統(tǒng)使用的安全性。
為了阻止高頻電場(chǎng)磁場(chǎng)脈沖干擾X射線無損探傷技術(shù)的工作,并且X射線損害工作人員身體健康狀態(tài),應(yīng)用X射線無損探傷技術(shù)之前,首先設(shè)計(jì)一個(gè)防護(hù)裝置,用來屏蔽電場(chǎng)磁場(chǎng)脈沖和射線。設(shè)計(jì)防護(hù)裝置之前,首先要計(jì)算X射線源的射線強(qiáng)度,公式為:
P0=kIHV2
(1)
公式中:P0表示X射線初始強(qiáng)度;k表示比例系數(shù);I表示管電流值;H表示檢測(cè)對(duì)象的原子序數(shù);V表示管電壓。根據(jù)裝置參數(shù),取比例系數(shù)、電流、電壓的最大值,分別為1.4×10-6、1.25mA和160kV,根據(jù)檢測(cè)對(duì)象的序數(shù),計(jì)算X射線的初始強(qiáng)度為:
P0=1.4×10-6×1.25×1602×74=3.3152 C/kg
(2)
(3)
因此選擇上述材料,作為防護(hù)裝置的基本制作材料,制作3類不同的防護(hù)裝置,表1為實(shí)際應(yīng)用測(cè)試下,3種防護(hù)裝置的屏蔽能力比較結(jié)果[3]。
分析表1中的比較數(shù)據(jù),選擇全封閉金屬罩,該封閉金屬罩不是真正意義上的全面屏蔽,而是僅留有1個(gè)可探入X射線的孔口,在不使用時(shí)可以實(shí)現(xiàn)全面屏蔽。作為此次研究中的屏蔽裝置,一方面用來屏蔽干擾信號(hào),另一方面可以保護(hù)工人使用安全[4]。圖1為設(shè)計(jì)的全封閉金屬罩基本結(jié)構(gòu)。
表1 3種防護(hù)裝置的屏蔽性能比較
圖1 金屬屏蔽裝置主視圖
要求將該裝置能完全包圍X射線機(jī)和成像板,且能和安裝機(jī)構(gòu)完整契合,實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)工作的保護(hù)。
將上述裝置與其他檢測(cè)設(shè)備之間建立連接關(guān)系,然后設(shè)置不同的坐標(biāo)系,構(gòu)建X射線相機(jī)模型。X射線檢測(cè)后會(huì)生成X光照片,然后該照片進(jìn)入計(jì)算機(jī)后轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像,而該圖像的坐標(biāo)系原點(diǎn)在左上角,橫軸正方向向右,縱軸方向向下,并以M×N的數(shù)組形式存儲(chǔ),其中M表示圖像寬度,N表示圖像高度。因此利用像素在M×N中的行和列,表示像素在圖像坐標(biāo)系內(nèi)的基本坐標(biāo),但此時(shí)的像素點(diǎn)的位置,只是用像素個(gè)數(shù)表達(dá),因此需要建立全新的圖像坐標(biāo)。假設(shè)圖像的中心坐標(biāo)原點(diǎn)為O1,x軸和y軸與原始坐標(biāo)橫軸、縱軸同向,單位為毫米,則坐標(biāo)系O1xy的中心坐標(biāo)為(x0,y0),圖像中任意一個(gè)像素點(diǎn),在該坐標(biāo)系中的物理尺寸為:
(4)
公式中:a、b為原始圖像坐標(biāo)的長(zhǎng)和寬。根據(jù)上述計(jì)算,確定原始坐標(biāo)中的節(jié)點(diǎn),在新坐標(biāo)系中的位置[5]。而在變電站運(yùn)行狀態(tài)GIS檢測(cè)的實(shí)際工作中,使用相機(jī)進(jìn)行拍攝時(shí),拍攝位置是動(dòng)態(tài)變化的,因此需要設(shè)置一個(gè)世界坐標(biāo)系,確定攝像機(jī)和GIS在實(shí)際空間中的位置,該坐標(biāo)系與設(shè)置的圖像坐標(biāo)系、相機(jī)坐標(biāo)系之間的關(guān)系,如圖2所示。
圖2 圖像坐標(biāo)系、世界坐標(biāo)系、相機(jī)坐標(biāo)系基本關(guān)系圖
根據(jù)上述設(shè)置結(jié)果,構(gòu)建X光攝像機(jī)模型。假設(shè)圖2中存在一個(gè)節(jié)點(diǎn)U,U在圖像上的投影點(diǎn)為點(diǎn)u,該點(diǎn)同時(shí)也是點(diǎn)U與相機(jī)光心O2的連線,也是圖像平面之間的交點(diǎn),因此默認(rèn)節(jié)點(diǎn)U在攝像機(jī)坐標(biāo)系下的坐標(biāo)為(Xc,Yc,Zc),投影點(diǎn)u在圖像坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為(x,y),因此有:
(5)
根據(jù)上述計(jì)算結(jié)果,構(gòu)建X射線相機(jī)模型,利用該模型確定每一個(gè)檢測(cè)環(huán)節(jié)中,具體檢測(cè)位置[6]。
選擇合適的管電壓、管電流,用來檢測(cè)變電站運(yùn)行狀態(tài)。其中在X射線無損探傷檢測(cè)工作中,管電壓會(huì)直接決定X射線的透照能力。而射線檢測(cè)的靈敏度,是工件對(duì)比度和成像板靈敏度來決定的。其中工件對(duì)比度,為X射線通過工件的不同區(qū)域后,得到的線強(qiáng)度比率;而成像板靈敏度是檢測(cè)系統(tǒng)決定的,很難被改變。因此可知管電壓與材料的吸收系數(shù)和缺陷深度之間,存在如下關(guān)系:
(6)
公式中:P1、P2分別表示X射線經(jīng)過無缺陷、有缺陷部位后的射線強(qiáng)度;λ表示吸收系數(shù);Δd表示缺陷深度[7]。其中缺陷深度是被檢測(cè)對(duì)象的實(shí)際定值,而材料吸收系數(shù)的具體取值,可以通過下列公式獲得:
λ=εφ3H3
(7)
公式中:ε表示系數(shù)定值;φ表示入射射線波長(zhǎng)。已知射線波長(zhǎng)與電壓成反比關(guān)系,因此采用較小的管電壓,提高工件對(duì)比度,提高圖像的質(zhì)量。總結(jié)出選用管電壓的條件:在條件允許時(shí),盡可能選用較低的管電壓,從而提高檢測(cè)對(duì)象的對(duì)比度,提高射線檢測(cè)的靈敏度,改善圖像質(zhì)量。而管電流是X射線機(jī),陰極加熱絲的電流,當(dāng)電流越大時(shí),射線機(jī)產(chǎn)生的電子就會(huì)越多,打到陽極靶的電子量也隨之增多,由此產(chǎn)生的射線數(shù)量就越多。而直接數(shù)字化X射線的攝影系統(tǒng)DR,通常情況下其透照時(shí)間為2s,并疊加4次采集圖像,同時(shí)焦距也為設(shè)定值,通過調(diào)節(jié)管電流,改變曝光度。當(dāng)DR檢測(cè)系統(tǒng)功率在900W時(shí),設(shè)置的最大透照電壓為300kV,因此設(shè)置管電流為3mA,便于在調(diào)整管電壓時(shí),不用再更改管電流值[8]。通過同時(shí)考慮管電壓與管電流的用途與關(guān)系,選擇適合變電站GIS檢測(cè)的管電壓與管電流,完成變電站運(yùn)行狀態(tài)檢測(cè)任務(wù)。
得到檢測(cè)X光圖像后,通過幾何變換、灰度變換、圖像平滑和閾值分割手段,處理GIS檢測(cè)圖像。首選在幾何變換過程中,對(duì)原始X光圖像進(jìn)行大小、形狀和位置變換,同時(shí)縮放原始圖像,并將整個(gè)成像區(qū)域用以像素為單位的網(wǎng)格覆蓋,將圖像進(jìn)行翻轉(zhuǎn),得到對(duì)應(yīng)的X射線圖像。再進(jìn)行灰度變換處理,該處理工程的計(jì)算表達(dá)式為:
h(x,y)=F[f(x,y)]
(8)
公式中:h(x,y)表示經(jīng)過變換后,某一點(diǎn)的灰度值;f(x,y)表示原始X光圖像中,某一點(diǎn)的灰度值;F表示一種操作手段,即點(diǎn)操作和模板操作手段。利用灰度變換改變?cè)紙D像的灰度范圍,增強(qiáng)圖像的對(duì)比度,改善檢測(cè)圖像的視覺觀察效果[9]。第三步進(jìn)行圖像平滑處理。通過該技術(shù)消除圖像采集、傳輸及后續(xù)處理工作中出現(xiàn)的噪聲。此次研究利用模板思想平滑處理像素點(diǎn)。通過計(jì)算一個(gè)像素點(diǎn),與周圍其他像素點(diǎn)的平均灰度,找到其中突然變化的點(diǎn)并剔除,在一定程度上降低噪聲,但圖像會(huì)產(chǎn)生一定程度的模糊,因此執(zhí)行模板運(yùn)算時(shí),不允許模板移出邊界;還要求通過分解的方法進(jìn)行平滑運(yùn)算,達(dá)到提高運(yùn)算速度這一要求。圖3為平滑處理前后的背景圖像。
圖3 平滑處理前后的圖像
最后進(jìn)行圖像分割,將重點(diǎn)檢測(cè)區(qū)域中的部件圖像信息,從原始圖像中分割出來,達(dá)到便于觀察和處理的操作目的。而該操作下,兩次灰度過濾的起始和終止灰度值,都是可改變的,并且可以設(shè)置成不同的區(qū)域顏色,通過調(diào)整閾值范圍,在圖像上將GIS軟件從檢測(cè)背景中分離出來,便于比較觀察,至此實(shí)現(xiàn)X射線無損探傷技術(shù),在變電站運(yùn)行狀態(tài)GIS檢測(cè)中的應(yīng)用[10]。
為了驗(yàn)證此次提出的應(yīng)用手段,是否安全可靠,進(jìn)行實(shí)地測(cè)試,對(duì)比不同測(cè)試電壓下,X射線無損探傷技術(shù)的應(yīng)用效果。
選擇實(shí)驗(yàn)所需的各項(xiàng)檢測(cè)設(shè)備以及實(shí)驗(yàn)測(cè)試對(duì)象,圖4為實(shí)驗(yàn)選擇的主要設(shè)備。
圖4 X射線檢測(cè)設(shè)備
圖4中,X射線機(jī)為XXG-2005RH型號(hào)的便攜式中頻X射線探傷機(jī),X射線管電壓峰值為100~200kVP,X射線管電流平均值為5mA,X射線輻射角為40±5°,安全工作壓力為0.36Mpa~0.45Mpa。平板探測(cè)器采用的是VAREX平板影像探測(cè)器,型號(hào)為1308DX,像素面積13×8cm2,極限分辨率為3.94lp/mm,能量范圍為40~160kV。
X射線無損探傷技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)在不拆卸變電設(shè)備和不破壞周邊環(huán)境的情況下實(shí)現(xiàn)變電站運(yùn)行狀態(tài)GIS檢測(cè),其主要是由平板探測(cè)器中的成像裝置收集X射線機(jī)照射變電設(shè)備后的射線信息,實(shí)現(xiàn)可視化診斷。按照?qǐng)D4所示的X射線檢測(cè)設(shè)備,利用數(shù)據(jù)傳輸網(wǎng)線,連接移動(dòng)工作站和平板探測(cè)器;利用控制電纜連接控制箱和X射線機(jī),搭建實(shí)驗(yàn)測(cè)試環(huán)境。通過對(duì)控制箱設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù),使X射線機(jī)產(chǎn)生X射線對(duì)被檢測(cè)部位進(jìn)行透射,最后傳輸至移動(dòng)工作站形成數(shù)字影像(圖5)。
圖5 實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái)
已知X射線圖像質(zhì)量,與電流、電壓和焦距相關(guān),因此將GIS相關(guān)硬件,擺放到平板探測(cè)器的中間位置,或者讓平板探測(cè)器的中間位置,完全覆蓋GIS相關(guān)硬件的待檢測(cè)位置,如圖6所示。
圖6 檢測(cè)位置示意圖
實(shí)驗(yàn)共設(shè)置兩個(gè)測(cè)試組,第一組測(cè)試中,不在X射線機(jī)和平板探測(cè)器附近,添加此次設(shè)計(jì)的金屬罩;第二組測(cè)試組,在X射線機(jī)和平板探測(cè)器周圍,安裝全封閉金屬罩,比較兩個(gè)測(cè)試組之間的檢測(cè)差異性。為了保證參與工作人員的人身安全,當(dāng)X射線開始檢測(cè)任務(wù)時(shí),讓實(shí)驗(yàn)人員站在輻射區(qū)以外。上述工作準(zhǔn)備完畢后,開始實(shí)驗(yàn)。
在X射線機(jī)無屏蔽情況下,設(shè)置3組不同的電壓,利用X射線檢測(cè)變電站運(yùn)行狀態(tài)下,GIS接續(xù)管處的工作狀態(tài),如圖7所示。
圖7 未安裝全封閉金屬罩的X射線拍攝結(jié)果
根據(jù)圖7可知,當(dāng)外加電壓超過150kV后,X射線機(jī)無法反饋檢測(cè)結(jié)果,這是由于輸電線路局部放電故障,導(dǎo)致檢測(cè)區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生了不同頻率的高頻電場(chǎng)磁場(chǎng)脈沖,該電磁脈沖破壞檢測(cè)設(shè)備中的電子元件,直接干擾X射線的正常工作,從而影響檢測(cè)結(jié)果。
安裝全封閉金屬罩,保證其他測(cè)試條件不變,被屏蔽后的X射線機(jī),對(duì)接續(xù)管的檢測(cè)結(jié)果,如圖8所示。
圖8 安裝全封閉金屬罩的X射線拍攝結(jié)果
根據(jù)圖8所示的四組拍攝結(jié)果可以看出,利用全封閉金屬罩隔離X射線機(jī)后,X射線機(jī)可以在變電站高電壓工作狀態(tài)下正常工作,X射線機(jī)不受超強(qiáng)電磁環(huán)境的影響,拍攝的效果同樣清晰。由此可見,此次研究設(shè)計(jì)的全封閉金屬罩,能夠幫助X射線無損探傷技術(shù),完成對(duì)變電站運(yùn)行狀態(tài)的GIS檢測(cè)。
根據(jù)大量實(shí)驗(yàn)測(cè)試證實(shí),此次提出的X射線無損探傷技術(shù)的應(yīng)用方法,取得了理想的研究成果,但此次研究存在一定程度的不足之處。第一,在處理X射線拍攝圖像上,還要進(jìn)一步加強(qiáng);同時(shí)還可以引入無損檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用思路,進(jìn)一步優(yōu)化X射線相機(jī)模型,為電路行業(yè)的發(fā)展,提供更先進(jìn)的技術(shù)支持。