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    熱浸鍍鋁硅鍍層微觀組織結(jié)構(gòu)表征

    2021-09-22 03:23:18崔桂彬鞠新華尹立新嚴(yán)春蓮
    表面技術(shù) 2021年8期
    關(guān)鍵詞:物相鍍層電解

    崔桂彬,鞠新華,尹立新,嚴(yán)春蓮

    (首鋼集團(tuán)有限公司技術(shù)研究院,北京 100043)

    隨著熱成形技術(shù)的快速發(fā)展,以22MnB5 高強鋼為代表的熱成形鋼在汽車領(lǐng)域被廣泛采用[1-6]。熱成形鋼之所以能快速地發(fā)展起來,主要是因為借助表面鍍層處理技術(shù)很好地解決了熱成形鋼在成形過程中的表面高溫氧化和脫碳問題[7-12]。熱成形鋼經(jīng)過表面鍍層處理后,可以獲得良好的耐高溫、耐腐蝕等特性,同時具有良好的外觀。最典型的鍍層為熱浸鍍Al-10%Si鍍層[13-16]。對該鍍層的研究發(fā)現(xiàn),鍍層主要由Al-Fe二元合金和Al-Si-Fe 三元合金構(gòu)成[17]。對于鋁硅鍍層的研究有諸多報道,如鍍液成分、熱浸鍍工藝、熱成形工藝、鍍層結(jié)構(gòu)等對鋁硅鍍層的影響[18-20]。這些研究報道主要是借助掃描電鏡、電子探針和X 射線衍射儀對鋁硅鍍層進(jìn)行形貌和成分分析,通過成分和物相定量結(jié)果,推測可能含有的物相組成和比例,而通過菊池花樣標(biāo)定的方式進(jìn)行物相結(jié)構(gòu)分析鮮有報道。因此,本文主要借助電鏡掃描、X 射線衍射和電子背散射衍射技術(shù)對鋁硅鍍層的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入細(xì)致的分析,為最終滿足實際生產(chǎn)中獲得較好的產(chǎn)品提供技術(shù)支撐。

    1 試驗

    1.1 材料

    試驗材料為熱浸鍍鋁硅鍍層鋼板,基板為22MnB5,板厚2 mm。鍍鋁硅工藝為:經(jīng)過退火后,進(jìn)入裝有鍍液的鋁硅鍋,經(jīng)氣刀吹掃控制鍍層厚度,然后通過冷卻塔冷卻。鍍液成分:Al 90%,Si 10%。

    1.2 樣品制備

    將鋁硅鍍層樣品加工成塊狀樣,尺寸為10 mm×12 mm,共計加工2 塊樣品,編號分別為1#和2#。首先將1#樣品進(jìn)行超聲波清洗,清洗溶液為酒精,清洗干凈后,利用掃描電鏡(JSM-7001F)和能譜(EDS)對其進(jìn)行表面形貌觀察與成分分析。然后將1#樣品進(jìn)一步電解拋光,電解液為10%(體積分?jǐn)?shù))的高氯酸酒精溶液,再利用掃描電鏡觀察高Si 相在基體中的分布情況。將2#樣品截面進(jìn)行機械拋光,然后進(jìn)行硅溶膠拋光,拋光盤轉(zhuǎn)速為100 r/min,拋光時間為30 min,拋光的主要目的是去除機械拋光過程中引入的應(yīng)力,再利用掃描電鏡、能譜儀和電子背散射衍射儀(EBSD)對鍍層截面分別進(jìn)行形貌觀察、成分分析和物相結(jié)構(gòu)分析。然后將硅溶膠拋光后的樣品進(jìn)行電解拋光,再利用掃描電鏡對鍍層截面中的高Si相進(jìn)行觀察與成分分析。

    2 結(jié)果及討論

    2.1 鋁硅鍍層表面形貌與成分

    1#鋁硅鍍層樣品表面的形貌與成分如圖1 所示。圖1a 為掃描電鏡下的二次電子形貌,從圖中無法分辨具體的形貌特征。圖1b 為掃描電鏡下的背散射電子圖像,圖中呈現(xiàn)出2 種形貌特征:一種是以深灰色顯示的基體;另外一種是以灰白色顯示并具有魚骨狀形貌的物相。圖1c 為圖1b 中紅色虛線框區(qū)域?qū)?yīng)的成分面分布和位置P1、P2的成分。不難發(fā)現(xiàn),深灰色的基體為富Al 相,如位置P2。另外灰白色魚骨狀的形貌特征為富Fe 相,如位置P1。除此之外,成分面分布圖中顯示還分布著少量的高Si 相,無論是二次電子圖像,還是背散射電子圖像,這些高Si 相在鋁硅鍍層表面沒有對應(yīng)的形貌。

    圖1 1#鋁硅鍍層樣品表面的形貌與成分Fig.1 Morphology and composition of the surface of 1# Al-Si coating sample

    為了弄清楚鋁硅鍍層樣品表面中高Si 相的形貌與其在基體中的分布情況,對樣品表面進(jìn)行電解拋光,對應(yīng)的電解拋光工藝參數(shù):電壓為15 V,電解時間為8 s,流速為10 mm2/s,電解溫度為15 ℃,實際電流為0.8 A。電解拋光后,高Si 相的形貌與成分如圖2 所示。從圖2a—c 中可以看出,以亮白色顯示且具有清晰的樹枝晶狀形貌特征的物相即為圖1c 成分面分布中的高Si 相。這點通過位置P1的成分分析(見圖2d)得到證實,其主要成分近似為70%Si 和30%Al,即高Si 相。位置P2為基體成分,經(jīng)成分分析為高Al 相。

    圖2 1#鋁硅鍍層樣品表面電解拋光后高Si 相的形貌與成分Fig.2 Morphology and composition of high Si phase of the surface of 1# Al-Si coating sample after electropolishing

    2.2 鋁鋅板鍍層截面形貌與成分

    2#鋁鋅板樣品截面形貌和能譜成分分析如圖3所示。結(jié)合鍍層截面形貌與能譜(EDS)成分分布可知,鍍層沿厚度方向分為2 層:與鋼基體接觸的內(nèi)層為合金層,該層的厚度約為5 μm,其成分為Fe、Al、Si,如圖3a 中的位置P3;遠(yuǎn)離鋼基體的外層為鋁硅層,該層的厚度約為25 μm,合金層中大部分為深灰色的富Al 相,如圖3a 中的位置P1,同時還有少量淺灰色的條狀或片狀顆粒,如圖3a 中位置P2,其Fe含量明顯比富Al 相高。除此之外,從圖3b 中Si 的分布可以看出,有大量的高Si 相存在,但在圖3a 中并沒有與之對應(yīng)的形貌特征。

    同樣,為了弄清楚鋁硅鍍層樣品截面沿著厚度方向上高Si 相的形貌與其分布情況,對樣品截面進(jìn)行電解拋光,對應(yīng)的電解拋光工藝參數(shù):電壓為10 V,電解時間為3 s,流速為10 mm2/s,電解溫度為15 ℃,實際電流為0.5 A。電解拋光后,高Si 相的形貌與成分如圖4 所示。圖4a 為鋁硅鍍層截面二次電子形貌,圖4b 為與之對應(yīng)的鋁硅鍍層截面背散射電子圖像(成分像)。經(jīng)電解拋光后,基體相被電解掉,不容易被電解的亮白色條狀或片狀的高Si 相保留了下來,主要存在于合金層與鋁硅層界面以及鋁硅層中。在合金層與鋁硅層的界面處開始形成一薄層,同時還有一部分高Si 相持續(xù)生長,一直延續(xù)到表層,如圖4b 中位置P1。對圖4b 中紅色線框區(qū)域進(jìn)行面分析(如圖4c所示),不難發(fā)現(xiàn),這些高Si 相與圖3b 中Si 的分布相呼應(yīng)。對圖4b 中位置P1處的亮白色條狀顆粒進(jìn)行菊池花樣標(biāo)定(如圖4d 所示),其物相可以確定為Si。

    圖3 2#鋁硅鍍層樣品截面的形貌與成分Fig.3 Morphology and composition of the cross-section of the 2# Al-Si coating sample

    圖4 2#鋁硅鍍層樣品截面經(jīng)電解拋光后的形貌與成分Fig.4 Morphology and composition of the cross-section of 2# Al-Si coating sample after electropolishing

    結(jié)合鋁硅鍍層中高Si 相表面與截面的形貌和成分分析,不難發(fā)現(xiàn),分布在合金層與鋁硅層界面處的高Si 相可以進(jìn)一步阻礙鍍層的生長,從而間接控制鍍層的厚度。同時,分布于鋁硅層中的高Si 相,在三維空間中以三維立體網(wǎng)狀骨架的結(jié)構(gòu)形式存在,這種立體網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)形式作為鍍層的主體框架,可以有效地提高鍍層的強韌性和成形性能。

    2.3 鋁硅鍍層物相分析

    對1#鋁硅鍍層樣品表面進(jìn)行X 射線衍射(XRD)物相分析,如圖5 所示。根據(jù)鋁硅鍍層可能存在的物相和實際厚度,獲得物相分析的參數(shù)為采用耦合掃描模式,步長為0.01°~0.03°,掃描速度為1 (°)/min,掃描角度范圍為15°~60°。經(jīng)X 射線衍射圖譜與PDF卡片對比可以看出,鍍層中存在的物相為Al、Si、Al13Fe4、Al8Fe2Si、FeAl3Si2。從衍射峰強度可知,物相組成中大部分為Al 和Si,其他物相含量很低。綜上所述,鍍層中必然存在的物相為Al 和Si,可能存在的物相為Al13Fe4、Al8Fe2Si、FeAl3Si2。

    圖5 1#鋁硅鍍層樣品表面的X 射線衍射物相分析Fig.5 X-ray diffraction phase analysis on the surface of 1#Al-Si coating sample

    表1 中給出了鋁硅鍍層可能存在的物相晶體結(jié)構(gòu)和空間群數(shù)據(jù)[21-25]。從表1 中可知,Al、Fe、Si為常見的立方晶體結(jié)構(gòu),具有較高的對稱性。其中,Ai 和Si 均為面心立方結(jié)構(gòu),僅僅是點陣常數(shù)稍有差異;Al13Fe4為單斜結(jié)構(gòu),對稱性較差,Beta=107.72°;Al8Fe2Si 為六方結(jié)構(gòu),Gamma=120°;FeAl3Si2為正交結(jié)構(gòu)。

    表1 鋁硅鍍層可能存在的物相晶體結(jié)構(gòu)和空間群Tab.1 Possible phase crystal structure and space group of Al-Si coating

    根據(jù)上述X 射線衍射物相分析,鍍層中可能存在的物相有Al13Fe4、Al8Fe2Si、FeAl3Si2,這些物相含量較低,衍射峰強度較弱,且峰位較為接近,需要借助EBSD 菊池花樣標(biāo)定來識別。圖6 給出了2#鋁硅鍍層樣品截面形貌與菊池花樣。圖6a 為2#鋁硅鍍層截面沿厚度方向的微觀形貌,可以看出,有4 種不同的襯度,對應(yīng)位置P1、P2、P3、P4。經(jīng)上述成分分析可知,位置P1、P2、P3、P4對應(yīng)的相分別為富Al相、Fe 基體、富Fe 相和Fe-Al-Si 三元相。為了確定其物相結(jié)構(gòu),進(jìn)行了EBSD 分析,分別對4 個位置進(jìn)行菊池花樣標(biāo)定,如圖6b 所示。從菊池花樣標(biāo)定結(jié)果可知,位置P1處富Al 相的物相為Al,位置P2處Fe 基體的物相為Fe,位置P3處富Fe 相的物相為Al13Fe4,位置P4處Fe-Al-Si 三元相的物相為Al8Fe2Si。圖1b 中位置P1處的富Fe 相,經(jīng)菊池花樣標(biāo)定,其物相同樣為Al13Fe4。

    圖6 2#鋁硅鍍層樣品截面形貌與菊池花樣Fig.6 Cross-sectional morphology and Kikuchi pattern of Al-Si coating sample

    3 結(jié)論

    1)鋁硅鍍層表面由富Al 相、少量的富Fe 相以及樹枝晶狀分布的高Si 相構(gòu)成。

    2)鋁硅鍍層沿厚度方向分為內(nèi)外兩層,其外層為鋁硅層,主要由富Al 相、少量富Fe 相以及柱狀高Si 相構(gòu)成,高Si 相主要存在于合金層與鋁硅層界面以及鋁硅層中。其靠近鐵基體的內(nèi)層為合金層,其成分顯示由Fe-Al-Si 三元相構(gòu)成。

    3)對鋁硅鍍層的物相分析可知,鍍層中富Al相的物相為Al,富Fe 相的物相為Al13Fe4,合金層Fe-Al-Si 三元相的物相為Al8Fe2Si。對鋁硅鍍層中高Si 相的研究顯示,分布于合金層與鋁硅層界面處的高Si 相可以有效阻礙鍍層的生長,從而間接地控制鍍層的厚度,而分布于鋁硅層中的高Si 相在空間中以立體網(wǎng)狀骨架的結(jié)構(gòu)形式存在,這種立體網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)形式作為鍍層的主體框架,可以有效地提高鍍層的強韌性和成形性能。

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