數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的測試結(jié)構(gòu)分析

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目前已有的數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)在器件生產(chǎn)工藝上有所不同，它的種類分類相對較多，其中主要涵蓋了功能、直流參數(shù)以及交流參數(shù)三大測試技術(shù)領(lǐng)域。

一、數(shù)字集成電路的測試原理分析

數(shù)字集成電路的測試原理內(nèi)容豐富，主要包含3點，以下將進行逐一分析。

(一)功能測試原理分析。功能測試分析主要圍繞數(shù)字集成電路的驗證設(shè)計展開，了解電路是否符合預(yù)期與所需功能技術(shù)要求。分析其功能測試原理內(nèi)容，主要希望結(jié)合輸入端中的若干激勵信號與測試圖形進行分析，完全參照電路規(guī)定頻率信號分析被測器件內(nèi)容。隨后需要實施數(shù)據(jù)采集操作，分析輸出與預(yù)期兩大狀態(tài)背景下的圖形比較機制，查看并判斷電路優(yōu)劣變變化。在該過程中，需要對測試圖形進行評判，在分析其功能器件良好的狀態(tài)下才能進行測試圖形實際測試。整體來講，基于圖形測試的功能測試故障覆蓋率相當之高，且測試耗時相對較短，在有效檢驗被測器件工藝與故障過程中，希望結(jié)合測試系統(tǒng)對測試矢量精度進行分析，由此來提升測試電路運行質(zhì)量。

(二)直流參數(shù)測試原理分析。在直流參數(shù)測試過程中，其主要目的就是為了確定器件參數(shù)，對接觸性測試過程、輸出負載能力測試以及電源電流測試內(nèi)容進行分析，了解電平測試轉(zhuǎn)換過程。就以接觸性測試為例，它主要圍繞測試接口與器件連接展開。整個過程要參考直流參數(shù)測試原理來保證測定輸入、輸出到位，同時為管腳保護二極管有效降壓。而在輸出負載能力測試方面則需要利用器件考察來分析噪聲背景下的負載能力變化，合理判斷器件在電流負載條件下的電平輸出水平。隨后要繼續(xù)進行漏電流測試，專門對器件輸出與輸出的負載特性進行分析，進而建立內(nèi)部輸入分析機制，管理器件管腳間絕緣層部分，看其是否形成短路狀態(tài)。在電源電流測試過程中則利用到了PMU施壓測試方法，結(jié)合器件規(guī)定對電壓背景下的最大電流功耗消耗量進行分析，該檢測方法在針對器件缺陷檢測方面非常有效，其中更包含了動態(tài)與靜態(tài)兩種功耗測試方法。

(三)交流參數(shù)測試原理分析。最后是交流參數(shù)測試原理分析，它在針對晶體管轉(zhuǎn)換過程中會對時序關(guān)系進行測定，這一測定的主要目的是確保交流參數(shù)測試器件能夠在規(guī)定時間范圍內(nèi)實現(xiàn)狀態(tài)交流轉(zhuǎn)換[1]。

二、數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)中測試結(jié)構(gòu)的基本構(gòu)成

數(shù)字集成電路的測試系統(tǒng)中擁有完備的測試結(jié)構(gòu)，該測試結(jié)構(gòu)豐富了測試功能內(nèi)容，保證做到對數(shù)字集成電路的全方位測量。具體來說，它主要就運用到了現(xiàn)代虛擬技術(shù)內(nèi)容，結(jié)合軟硬件對被測試芯片、器件等自動測試功能內(nèi)容進行分析，保證實現(xiàn)對傳統(tǒng)測量技術(shù)的有效變革。以下簡單探討了數(shù)字集成電路的測試系統(tǒng)中測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的基本構(gòu)成。下文主要結(jié)合5點來談。

(一)數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的虛擬內(nèi)容參數(shù)與硬件結(jié)構(gòu)。一般來說，數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)會采用到大量虛擬內(nèi)容參數(shù)，完善硬件結(jié)構(gòu)內(nèi)容。其主要參數(shù)指標主要包括了測試速度、數(shù)據(jù)緩存深度、16位邏輯信號輸入輸出、電壓等等。一般要采用到毫安與微安兩種級別的直流電流信號采集模式，其測試速度大約可控制在40MS/s，數(shù)字緩存深度應(yīng)該控制在5KB，而同時要為系統(tǒng)提供+5V和+12V電壓，保證系統(tǒng)模塊正常組建。

在數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)中主要對它其中的數(shù)字溫度傳感器進行分析，建立低功耗、微型化、抗干擾能力強且測量范圍廣的數(shù)字信號傳送單片機處理機制，并明確溫度測量范圍，保證測溫分辨率達到指定目標。而濕度測量方面則會采用到電容式濕度傳感器，配合瞬間脫濕功能保證濕度測量范圍被控制在99%以內(nèi)[2]。

(二)數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的信息傳送模塊。在采用4X4矩陣按鍵方面需要建立信息傳送控制端，建立10個數(shù)字按鍵與溫濕度、光照性等等功能鍵之間建立關(guān)聯(lián)關(guān)系。整體來看，其系統(tǒng)中可采用到非編碼鍵盤模式，利用按鍵對信息傳送模塊中的數(shù)據(jù)信息內(nèi)容進行識別，并配合全局掃描法對信息傳送模塊信息傳送內(nèi)容進行調(diào)整。

(三)數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的主控模塊硬件結(jié)構(gòu)。在主控模塊硬件結(jié)構(gòu)中，需要設(shè)計采用到單片機作為核心主控芯片。芯片的整體運算能力相對較強，且軟件編程也相對靈活，具有較大自由度。在軟件編程過程中，可利用到各種算法與邏輯控制技術(shù)，建立功耗、體積較小且技術(shù)成熟、成本較低、擁有較高產(chǎn)品性價比、可滿足系統(tǒng)設(shè)計需求的設(shè)計體系，確保對所采集的溫濕度數(shù)據(jù)與光照信號數(shù)據(jù)進行全面檢測，最后輸入相應(yīng)控制值進行比較。如果發(fā)現(xiàn)控制值超出設(shè)定范圍需要采用到蜂鳴器建立警報提醒機制，避免系統(tǒng)受到外界無序信號干擾。

(四)數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的顯示模塊硬件結(jié)構(gòu)。在系統(tǒng)中主要圍繞環(huán)境參數(shù)分析數(shù)字集成電路測試技術(shù)內(nèi)容，對顯示模塊——液晶顯示器進行分析，了解環(huán)境參數(shù)中的所有參數(shù)值，可設(shè)定8段陰陽極數(shù)碼管，并對所監(jiān)測參數(shù)設(shè)定值進行分析，提高系統(tǒng)整體監(jiān)測水平。

(五)數(shù)字集成電路測試系的聲音指示模塊硬件結(jié)構(gòu)。在聲音指示模塊設(shè)計過程中需要采用到蜂鳴器，其整體看來電路設(shè)計相當簡單，設(shè)計成本低，可較好實現(xiàn)警報預(yù)警功能。

結(jié)合上述5點展開系統(tǒng)軟件設(shè)計，它主要采用到了模塊化設(shè)計，配合編譯器建立軟件開發(fā)平臺，并采用到C51語言進行自主語言編寫。同時它也會設(shè)計建立溫濕度、光照度檢測子系統(tǒng)[3]。

總結(jié)

數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)其測試結(jié)構(gòu)內(nèi)容復(fù)雜，主要運用虛擬數(shù)字集成電路測試內(nèi)容優(yōu)化參數(shù)與軟硬件結(jié)構(gòu)，確保測試工作全面實施到位，測試結(jié)果精確。在未來，其系統(tǒng)中還會運用到更多數(shù)字化集成技術(shù)內(nèi)容，體現(xiàn)其測試系統(tǒng)的應(yīng)有價值。