胡 棟,李杜偉,陳增江,翟永軍,陸 斌
(泰安市特種設(shè)備檢驗(yàn)研究院,山東 泰安 271000)
氫能是一種來(lái)源廣泛、清潔無(wú)碳、靈活高效、應(yīng)用場(chǎng)景豐富的二次能源,隨著新能源技術(shù)的發(fā)展及人類對(duì)潔凈能源的不斷追求,氫能已經(jīng)成為全球能源技術(shù)革命和產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要方向[1]。
氫能產(chǎn)業(yè)研究?jī)?nèi)容涵蓋氫氣制取、儲(chǔ)運(yùn)、加氫基礎(chǔ)設(shè)施、氫燃料電池等多個(gè)領(lǐng)域,在氫能儲(chǔ)運(yùn)領(lǐng)域,高壓氣態(tài)儲(chǔ)氫、低溫液化儲(chǔ)氫、吸附儲(chǔ)氫、金屬氫化物和有機(jī)物儲(chǔ)氫等是目前儲(chǔ)氫技術(shù)的重要發(fā)展方向,其中高壓氣態(tài)儲(chǔ)氫已經(jīng)具備產(chǎn)業(yè)化條件。由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,攜帶方便,高壓氫氣瓶是近年來(lái)車用氫氣儲(chǔ)存的重要手段。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)[2],高壓氫氣瓶分為I型、Ⅱ型、III型和IV型4種類型,其中I型瓶為全金屬氣瓶,Ⅱ型瓶為金屬內(nèi)膽纖維環(huán)向纏繞氣瓶、III型瓶為金屬內(nèi)膽纖維全纏繞氣瓶、IV型瓶為非金屬內(nèi)膽纖維全纏繞氣瓶,其中III型應(yīng)用較為廣泛,常見(jiàn)的III型瓶?jī)?nèi)膽多采用鋁合金6061材質(zhì),這種材料與氫氣具有良好的相容性及抗晶間腐蝕能力[3],且韌性較好,具有較強(qiáng)的抗疲勞損傷能力。纏繞層通常采用碳纖維全纏繞制成,具有較好的剛性[4]。
為保證鋁制內(nèi)膽在高壓臨氫環(huán)境及疲勞載荷的作用下的長(zhǎng)期安全運(yùn)行,需在制造及使用過(guò)程中對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)[5],由于鋁不具有磁性,且晶粒粗大,具有各向異性特征,常用的磁粉、超聲等技術(shù)手段效果不佳,特別針對(duì)在用氣瓶檢測(cè)時(shí),由于纏繞層不可拆卸,檢測(cè)難度較大。
交流電磁場(chǎng)是一種新型的電磁檢測(cè)技術(shù),通過(guò)電磁感應(yīng)在工件表面產(chǎn)生均勻電流場(chǎng),在缺陷部位引起磁場(chǎng)擾動(dòng),從而進(jìn)行缺陷的定量及定性分析[6],對(duì)金屬材料檢測(cè)具有廣泛的適用性。本文通過(guò)制作鋁制內(nèi)膽試樣,并制作各種類型缺陷,進(jìn)行交流電磁場(chǎng)檢測(cè)研究,討論該技術(shù)的可行性。
圖1所示為交流電磁場(chǎng)檢測(cè)原理,探頭施加交流電后會(huì)在導(dǎo)電體工件表面感應(yīng)出均勻交變電流,在結(jié)構(gòu)連續(xù)部位,均勻電流場(chǎng)不發(fā)生擾動(dòng),空間磁場(chǎng)信號(hào)不會(huì)發(fā)生突變,當(dāng)探頭從缺陷上方經(jīng)過(guò)時(shí),由于缺陷處空間不連續(xù)導(dǎo)致電流從缺陷的兩端和底部繞過(guò),由于集膚效應(yīng)的影響,缺陷兩端的電流密度增大,缺陷底部的電流密度減小,且缺陷最深處電流密度達(dá)到最小值。
圖1 交流電磁場(chǎng)檢測(cè)原理Fig.1 Detection principle of AC electromagnetic field
電流密度的分布不均引起空間磁場(chǎng)的畸變,將畸變磁場(chǎng)分解成三個(gè)空間向量,可以得到磁通密度在三個(gè)維度上的分量,其中平行于電流方向的分量為BY,沿表面垂直于電流方向的分量為BX,垂直于工件表面的分量為BZ,在缺陷部位,沿缺陷長(zhǎng)度方向的分量BX特征如圖1右上所示,在缺陷端點(diǎn)處形成兩個(gè)波峰,缺陷中間形成波谷,且波谷最深處與缺陷最深處具有較強(qiáng)的對(duì)應(yīng)性,因此通常采用BX進(jìn)行缺陷深度的定量,BZ在反映缺陷端點(diǎn)信號(hào)上具有更加明顯的特征,如圖1左上所示,根據(jù)右手定則,缺陷起點(diǎn)處與終點(diǎn)處由于電流繞行的方向不同,端點(diǎn)信號(hào)會(huì)產(chǎn)生兩個(gè)方向相反的波峰,利用BZ信號(hào)的這一特點(diǎn),可進(jìn)行缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量,BY特征如圖一右下所示,由于數(shù)量級(jí)較小,在不需要特殊處理下,可不用于缺陷的判定。
感應(yīng)電流在導(dǎo)體內(nèi)通常沿表面流動(dòng),這種現(xiàn)象為集膚效應(yīng)[7],集膚層厚度由式(1)確定:
(1)
式中,f為電流頻率,μ0為材料的磁導(dǎo)率,σ為材料的電導(dǎo)率。
由式(1)可知,集膚層厚度與材料的磁導(dǎo)率、電導(dǎo)率及電流頻率有關(guān),材料的磁導(dǎo)率、電導(dǎo)率是材料的固有屬性,由被檢測(cè)對(duì)象決定,因此,可通過(guò)降低頻率增大集膚層厚度,可實(shí)現(xiàn)從瓶?jī)?nèi)部進(jìn)行。
缺陷引起的電磁場(chǎng)擾動(dòng)[8]包含兩部分:
A(X,Y,Z)=A0(X,Y,Z)+Ap(X,Y,Z)
(2)
式中,A0(X,Y,Z)為檢測(cè)電流感應(yīng)的矢量勢(shì)函數(shù),Ap(X,Y,Z)為缺陷引起的電場(chǎng)擾動(dòng)感應(yīng)的矢量勢(shì)函數(shù),根據(jù)電磁感應(yīng),矢量勢(shì)函數(shù)A0(X,Y,Z)和Ap(X,Y,Z)都滿足Laplace方程[9]:
(3)
式(2)中,A0(X,Y,Z)滿足無(wú)缺陷時(shí)的邊界條件:
(4)
式(2)中,Ap(X,Y,Z)滿足含缺陷狀態(tài)的邊界條件:
(5)
式中,c表示缺陷寬度。
圖2所示為高壓氫氣瓶鋁制內(nèi)膽檢測(cè)試樣,在試樣表面加工5處缺陷,缺陷信息如表1所示。
圖2 檢測(cè)試樣Fig.2 Test sample
表1 缺陷信息Table 1 Defect information
實(shí)驗(yàn)采用中國(guó)石油大學(xué)生產(chǎn)的LKACFM-X1檢測(cè)系統(tǒng),如圖3所示,系統(tǒng)主要由主機(jī)、傳感器及編碼器組成。
圖3 LKACFM-X1檢測(cè)系統(tǒng)Fig.3 LKACFM-X1 detection system
該系統(tǒng)可兼容內(nèi)穿式、外套式、平板型、筆形等多種形式傳感器,并可支持16通道陣列探頭,針對(duì)鋁制內(nèi)膽纏繞氣瓶檢測(cè),宜采用定制內(nèi)穿式傳感器從內(nèi)表面進(jìn)行檢測(cè),本文主要采用螺紋式及8陣列傳感器進(jìn)行檢測(cè),如圖4所示。
圖4 陣列傳感器(左)和螺紋傳感器(右)Fig.4 Array sensor (left) and thread sensor (right)
圖5為試樣缺陷1交流電磁場(chǎng)檢測(cè)結(jié)果,其中a為BZ分量圖,其橫坐標(biāo)為距離,縱坐標(biāo)為相對(duì)幅值,b為成像圖,其橫坐標(biāo)為距離,與BZ分量圖一一對(duì)應(yīng),縱坐標(biāo)為對(duì)應(yīng)的通道號(hào),從檢測(cè)結(jié)果中可見(jiàn),對(duì)于試樣Φ3圓形缺陷,BZ分量圖與成像圖均能有效顯示,但相對(duì)幅值較低,僅約15 T,成像圖中對(duì)應(yīng)約5~7通道的覆蓋范圍。
a.缺陷1陣列探頭檢測(cè)BZ圖
圖6為缺陷2檢測(cè)結(jié)果,其中BZ分量圖特征明顯,相對(duì)幅值約60 T,具有明顯的波峰波谷特征,成像圖能量主要集中在4~5,表征較好的橫向分辨率。
a.缺陷2陣列探頭檢測(cè)BZ圖
圖7為缺陷3檢測(cè)結(jié)果,其中BZ分量圖特征相對(duì)圖6(a)信噪比降低,相對(duì)幅值約45 T,成像圖能量范圍增大,表征缺陷角度與掃查方向呈一定角度時(shí),橫向分辨率與靈敏度有所降低。
a.缺陷3陣列探頭檢測(cè)BZ圖
圖8為缺陷與掃查方向呈90°時(shí)檢測(cè)結(jié)果,BZ分量圖與檢測(cè)成像圖中均無(wú)明顯特征信號(hào)。對(duì)比圖6、圖7、圖8檢測(cè)結(jié)果說(shuō)明,缺陷與掃查方向夾角越大,檢測(cè)效果較差。
a.缺陷4陣列探頭檢測(cè)BZ圖
圖9為對(duì)瓶口螺紋檢測(cè)結(jié)果,其中BZ具有明顯的極值特征,蝶形圖形成閉環(huán)。
a.缺陷5陣列探頭檢測(cè)BZ圖
1.采用交流電磁場(chǎng)技術(shù)對(duì)高壓氫氣瓶鋁制內(nèi)膽檢測(cè),能夠檢測(cè)出條形、圓形及瓶口裂紋缺陷,其中條形缺陷檢測(cè)靈敏度較圓形缺陷檢測(cè)靈敏度高。
2.交流電磁場(chǎng)檢測(cè)靈敏度受缺陷方向影響較大,當(dāng)交流電磁場(chǎng)檢測(cè)方向與缺陷方向垂直時(shí),難以檢出,在實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)結(jié)合損傷模式確定檢測(cè)方向,以免缺陷漏檢。
3.采用陣列探頭檢測(cè)時(shí),不僅能進(jìn)行缺陷長(zhǎng)度定量,也可以進(jìn)行缺陷橫向定量,定量精度受陣列數(shù)及陣列間距影響。