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      利用DAC 芯片和運(yùn)算放大器構(gòu)建可編程電流源

      2021-04-12 02:23:22肖偉杰
      關(guān)鍵詞:負(fù)載電阻電流值阻值

      肖偉杰

      (中國(guó)兵器裝備集團(tuán)自動(dòng)化研究所, 四川 綿陽(yáng) 621000)

      0 引言

      電流源,即理想電流源,是從實(shí)際電源抽象出來(lái)的一種模型[1],其特點(diǎn)是輸出電流不受電壓和負(fù)載電阻變化而變化、直流等效電阻無(wú)窮大、交流等效電阻無(wú)窮大;其種類可分為可調(diào)電流源與脈沖電流源, 輸出電流可調(diào)的稱為可調(diào)電流源, 脈沖電流源電路采用高速場(chǎng)效應(yīng)管實(shí)現(xiàn)對(duì)恒流源電流的復(fù)制和倍乘[2],降低脈沖電流源輸出負(fù)載對(duì)前級(jí)深度負(fù)反饋部分的影響,提高電路的穩(wěn)定性,并利用模擬多路復(fù)用器對(duì)電流鏡柵極的控制, 將脈沖信號(hào)傳遞到脈沖電流中,從而輸出脈沖電流。

      1 電流源特點(diǎn)

      電流源在電真空管、各種標(biāo)準(zhǔn)燈(如光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)燈)、常用的充電器、精密儀器的參數(shù)測(cè)量與校準(zhǔn)、傳感器驅(qū)動(dòng)和通信等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用[3]。

      本文設(shè)計(jì)了一種基于V/I 轉(zhuǎn)換電路并利用DAC 芯片產(chǎn)生電壓而搭建的可調(diào)電流源[4],先通過(guò)原理分析,了解工作原理, 進(jìn)而使用軟件仿真的形式模擬實(shí)際電路探討其可行性,最后選用DAC 芯片、運(yùn)算放大器等元器件搭建實(shí)際電路, 并給出軟件仿真與實(shí)際電路的電流跟隨精度以及帶負(fù)載能力等數(shù)據(jù)[5]。

      2 電路描述與分析

      電流源電路如圖1 所示, 此電路即是一種簡(jiǎn)單并實(shí)用的V/I 轉(zhuǎn)換電路。該電路需要兩個(gè)運(yùn)算放大器,U1 組成了同相求和運(yùn)算電路,U2 則是構(gòu)成電壓跟隨器。 輸入電壓Ui 通過(guò)匹配電阻后加在運(yùn)算放大器U1 的同相輸入端,該電壓與輸出電流成比例關(guān)系。 周圍電路配置的四個(gè)匹配電阻, 分別與U1 的同相輸入端和反相輸入端以及U2 的輸出端連接。

      圖1 V/I 轉(zhuǎn)換電路

      在理想條件下,電阻網(wǎng)絡(luò)完全匹配,此時(shí)R1 上的電壓就等于輸入電壓Ui,根據(jù)電流定律I=U/R,從而產(chǎn)生恒定的電流I。

      我們假設(shè)上圖中的運(yùn)算放大器為理想運(yùn)算放大器,此時(shí)根據(jù)虛短、虛斷的原理,我們可以得到UP1=UN2、UP2=UN2、iR2=ii、iRO=iO。 進(jìn)而我們可以分析得到如下關(guān)系式:

      從公式(4)表明,圖中所示電路存在一定的系統(tǒng)誤差, 主要誤差來(lái)源于匹配電阻的匹配精度、RO的電阻阻值誤差以及負(fù)載電阻的誤差。這些誤差大都可以通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)消除;其次根據(jù)上式可看出,改變輸出電流的方式有兩種:一是保持采集電阻的阻值大小不變,改變輸入電壓的大??;二是保持輸入電壓的大小不變,改變采集電阻的阻值。 本次設(shè)計(jì)是采用高精度固定值采集電阻,利用DAC 芯片產(chǎn)生可變電壓調(diào)節(jié)電流輸出,達(dá)到電流源可調(diào)的目的。

      3 元器件選擇

      從前面的分析可得,為保證輸出電流誤差最小,本次設(shè)計(jì)需要從以下幾個(gè)方面進(jìn)行元器件選擇: 一是為了保證匹配電阻的匹配精度, 本設(shè)計(jì)采用的是精密片式薄膜固定分壓電阻網(wǎng)絡(luò), 其阻值允許偏差可以達(dá)到±0.1%,溫度漂移可達(dá)到±10ppm/℃,這里的匹配電阻需要選擇合適的阻值,并不能一味地選擇大阻值來(lái)增大匹配精度,因?yàn)槿绻柚颠^(guò)大,會(huì)影響整個(gè)系統(tǒng)的帶負(fù)載能力,且會(huì)使系統(tǒng)的正反饋超過(guò)合理范圍, 進(jìn)而增加系統(tǒng)自激振蕩的風(fēng)險(xiǎn);二是采集電阻RO,我們選用的是有可靠性的片式薄膜固定電阻器,其阻值允許偏差可以達(dá)到±0.01%,溫度漂移可達(dá)到±10ppm/℃, 采集電阻阻值大小與DAC 芯片輸出電壓、系統(tǒng)供電和負(fù)載電阻大小等都有關(guān)系,所以需要多次計(jì)算,得到合適的阻值。

      負(fù)載電阻由外界決定,這里就不再考慮。

      由于考慮到可調(diào)電流分辨率要高, 且供電簡(jiǎn)單等因素, 在這里我們選用完整的雙通道12 位DAC 芯片AD8522,其提供8.68×6mm 的14 引腳SOP14 封裝,數(shù)據(jù)接口為串行借口,片上自帶參考電壓,緩沖電壓輸出,無(wú)需外部器件,有著4.095V 滿幅電壓(1mV/LSB)。

      晶體管方面因?yàn)橄到y(tǒng)供電電壓大, 所以需要選擇一個(gè)BVCEO(基極開(kāi)路,CE 結(jié)擊穿電壓)大于供電電壓,且ICM(最大輸出平均電流)大于輸出電流的晶體管,因此我們選用BCP54, 它可以提供高于運(yùn)算放大器和單電阻輸出的電流。

      而在運(yùn)算放大器方面, 其既要滿足偏置電流和失調(diào)電壓要盡可能小的特性, 又要符合溫漂小、 增益大的特點(diǎn),且還要供電簡(jiǎn)單,最好是單電源供電,所以我們選擇LM158。 當(dāng)然如果你需要的輸出電流小的話,你可以選擇CMOS 類型的運(yùn)算放大器;如果需要高輸入阻抗,那FET輸入運(yùn)算放大器更加適合。

      溫度是重要的環(huán)境因。 溫度的變化會(huì)使整個(gè)電路參數(shù)發(fā)生漂移, 因此在選擇上述元器件時(shí)都盡可能選擇低溫漂的等級(jí), 目的是為了讓整個(gè)系統(tǒng)可以在較寬的溫度范圍內(nèi)工作,保持元器件的性能和技術(shù)指標(biāo)符合要求。

      4 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析

      我們?cè)贛ultisim10.0 的環(huán)境下對(duì)圖1 電路進(jìn)行仿真,并在完成了電路調(diào)試后,我們通過(guò)下面幾種方案,在常態(tài)條件下測(cè)試電路的各項(xiàng)性能,得到如下數(shù)據(jù)。

      一是采用固定阻值的負(fù)載電阻,通過(guò)調(diào)節(jié)DAC 芯片輸出電壓大小, 分析輸出電流的理論值與實(shí)際值之間的差值和輸出電流大小的關(guān)系。 這里我們采用阻值為75Ω的固定電阻器充當(dāng)外部負(fù)載,調(diào)節(jié)DAC 輸出電壓。

      從表1 中, 我們可以分析得到圖2 所示的輸入電壓與電流差關(guān)系曲線和圖3 所示的理論電流值與實(shí)際電流值關(guān)系曲線。在表1 中我們可以看出,仿真出來(lái)的結(jié)果是略好于實(shí)際測(cè)試朱來(lái)的效果,從圖2 趨勢(shì)線中 表明在負(fù)載電阻為75Ω 的情況下,我們線性的調(diào)節(jié)DAC 芯片輸出電壓的大小,理論值與實(shí)際值的差值以75mA 為界,當(dāng)輸出電流小于75mA 時(shí),理論值小于實(shí)際值相差,彼此之間的差距逐漸縮小,但高于75mA 后,差值逐漸增大,實(shí)際值小于理論值,并且隨著輸出電流的逐漸變大,差值有繼續(xù)變大的趨勢(shì)。

      表1 電流穩(wěn)定性測(cè)試數(shù)據(jù)

      圖2 輸入電壓與電流差關(guān)系曲線

      圖3 理論電流值與實(shí)際電流值關(guān)系曲線

      二是通過(guò)保持DAC 芯片輸出電壓不變,改變負(fù)載電阻的大小,測(cè)試在同一電壓輸入的情況下,負(fù)載電阻大小變化與輸出電流變化的關(guān)系。 在這里我們?cè)O(shè)置輸入電壓為1.8V,而采集電阻為36Ω,根據(jù)電流定律I=U/R,則理論輸出電流為50mA,而帶載能力測(cè)試數(shù)據(jù)如表2 所示。

      表2 帶載能力測(cè)試數(shù)據(jù)

      從上表我們可以看出, 雖然輸入電壓有mV 級(jí)的波動(dòng),但幾乎可以視為一直穩(wěn)定不變。因此我們可以得出如下結(jié)論,在輸入電壓不變的情況下,負(fù)載電阻與輸出電流呈反比的關(guān)系,即負(fù)載電阻越大,輸出電流越小。

      5 元器件布局

      在元器件布局時(shí),元器件需要遠(yuǎn)離發(fā)熱區(qū)域,特別是采集電阻,即使是其溫度漂移系數(shù)為±10ppm/℃,在溫度變化時(shí),也會(huì)有較為明顯的變化。 如果有條件,可以將整個(gè)系統(tǒng)放置在恒溫裝置中或采取導(dǎo)熱的形式, 快速將元器件表面熱量帶走。

      6 結(jié)束語(yǔ)

      本設(shè)計(jì)采用DAC 芯片、運(yùn)算放大器、晶體管和匹配電阻構(gòu)建可編程電流源。考慮到冗余設(shè)計(jì),整個(gè)系統(tǒng)可采用30V 以下單電源供電,電流輸出范圍寬,且電流可調(diào)分辨率高,常態(tài)條件下,精度高于0.7%。

      其次在此基礎(chǔ)上存在如下一些類型的變化。 如果需要固定電流源,可以將DAC 芯片替換成精度合適的基準(zhǔn)電壓源, 并通過(guò)電流定律計(jì)算后選擇合適阻值的采集電阻,達(dá)到想要的輸出電流值。

      如果需要更大或者更小的輸出電流范圍, 可以選用合適的基準(zhǔn)電壓源。其中在某些更小的輸出電流范圍,可以刪除晶體管這個(gè)器件, 然后選用那些具有低偏置電流和低失調(diào)電壓的運(yùn)算放大器,這樣還可以達(dá)到降低成本、提高系統(tǒng)穩(wěn)定性等目的。

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