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      計算機(jī)組成硬件綜合實驗箱故障診斷與維護(hù)探討

      2021-03-17 06:22:08福建師范大學(xué)數(shù)信學(xué)院福建福州350108
      儀器儀表用戶 2021年3期
      關(guān)鍵詞:程序代碼指示燈芯片

      胡 珊(福建師范大學(xué) 數(shù)信學(xué)院,福建 福州 350108)

      0 引言

      《計算機(jī)組成原理》是高校計算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、物聯(lián)網(wǎng)工程、電子信息科學(xué)與技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)工程與管理、軟件工程等多個專業(yè)的硬件基礎(chǔ)課程,也是計算機(jī)硬件課程體系中的核心環(huán)節(jié)[1,2]。實驗教學(xué)作為該課程理論教學(xué)的重要補(bǔ)充,有著至關(guān)重要的作用。該課程實驗的載體——計算機(jī)硬件綜合實驗箱(清華大學(xué)科教儀器廠生產(chǎn)的TEC-8)使用率高,使用人員多,但在實驗過程中,由于使用人員種種不規(guī)范的操作,及接觸點(diǎn)氧化導(dǎo)致開關(guān)接觸不良、靜電影響等,致使該硬件實驗系統(tǒng)的故障處理與維護(hù)相當(dāng)繁雜[3],維護(hù)工作量大。有部分學(xué)者致力于組成原理虛擬實驗環(huán)境的開發(fā)和研究,不過對于硬件實驗,虛擬仿真的環(huán)境并不能完全取代真正的硬件環(huán)境,培養(yǎng)和鍛煉學(xué)生的創(chuàng)新精神和動手能力還得需要在硬件實驗箱上進(jìn)行磨煉與提升[4]。由于硬件實驗箱沒有還原系統(tǒng),沒有開機(jī)檢測功能,也沒有一套標(biāo)準(zhǔn)的維護(hù)方法,維護(hù)時只能每臺通電測試,由維護(hù)人員做部分計算機(jī)組成實驗項目,然后憑經(jīng)驗來判斷是否有故障或故障在哪,再不然就郵寄返廠維修。不僅耗時而且還嚴(yán)重影響設(shè)備完好率,不利于實驗教學(xué)的正常開展。

      表1 部分微程序代碼表Table 1 Partial microprogram code table

      圖1 TEC-8實驗箱面板功能示意圖Fig.1 Panel diagram of TEC-8 experiment box

      1 硬件實驗箱維護(hù)與故障診斷

      圖1是TEC-8實驗箱面板功能示意圖。

      1.1 基于微程序代碼表的快速維護(hù)

      打開實驗箱,編程開關(guān)下?lián)艿健罢!?,控制轉(zhuǎn)換處“微程序”,DZ1正常位(短接左、中腳),DP為1,實驗箱接通電源,按復(fù)位按鈕CLR,即表示置當(dāng)前微地址uA5~uA0為00H,后繼微地址NuA5~NuA0為01H,參見該實驗箱對應(yīng)的微程序代碼表,如表1所示部分微程序代碼表[5]。此時,P0、NuA0、SEL1、SEL0燈亮(在代碼表中顯示為1即高電平),其余燈滅,表示實驗箱基本正常。

      不過維護(hù)過程中,部分試驗箱會出現(xiàn)以下問題:

      1)學(xué)生反映控制存儲器代碼有問題。是否真有問題,那就選取一種操作模式(比如令SWCSWBSWA=100寫寄存器),按QD一次,當(dāng)前微地址應(yīng)為09H(uA3和uA0亮),對照微程序代碼表,后繼地址08H(NuA3亮),SELECT、SEL0、SBUS、STOP、DRW亮。第二次按QD,則當(dāng)前微地址應(yīng)為08H,后繼為0AH……第五次按QD,恢復(fù)到按CLR時狀態(tài),即當(dāng)前微地址00H。在這一循環(huán)過程中,若有指示燈的亮滅狀態(tài)與代碼表不符,則控存代碼確有問題,處理方式為重置COM4~COM0,不過重置時要注意的是:先關(guān)實驗箱電源,接好串口編程電纜,編程開關(guān)要上撥到“編程位”,取下DZ1短路片,再打開實驗箱電源進(jìn)行COM口的重置。重置過程中,觀測實驗箱微指令燈是否閃爍,若軟件顯示成功,并伴隨微指令燈閃爍,則實驗箱基本恢復(fù)正常。

      2)按QD后,指示燈沒反應(yīng)。這種情況下,首先檢查時序T1~T3有無波形,該故障一般由Time1芯片壞,或單脈沖旁的兩個與非門74LS00壞或接觸不良而引起。

      3)按QD后,COM4~COM0下排燈反應(yīng)正常(表明脈沖輸出正常),而上排燈除SELECT外均不亮。該故障大多由控制轉(zhuǎn)換框內(nèi)的74LS00芯片損壞引起,更換該芯片即可。

      4)按CLR及QD多次,COM4~COM0下排燈當(dāng)前微地址和后繼微地址按微代碼表亮滅正常(即脈沖輸出正常),不過SEL3~SEL0全亮不滅且COM4寫入失敗。在測試COM4芯片和對應(yīng)的74LS245芯片正常后,一般該故障由微程序控制器內(nèi)的OE-WE芯片故障引起。

      5)按CLR及第一次QD,指示燈按微代碼表反應(yīng)正常,但不論后續(xù)按QD多次,實驗箱指示燈不變且COM4寫入失敗。對應(yīng)的74LS245芯片故障導(dǎo)致寫入失敗,更換后可以正常寫入,若實驗箱故障現(xiàn)象依舊,則COM1上排的74LS08一般出現(xiàn)故障。

      在進(jìn)行硬件實驗箱維護(hù)時,選定某種操作模式,按微程序代碼表走一遍,根據(jù)實驗箱指示燈亮滅狀態(tài)即可判斷實驗箱是否正常。若有故障,也可判斷在哪個區(qū)域或最可能的故障芯片。以上的故障有可能一種,也有可能多種故障并存,需要管理人員多方分析,逐個排查。

      1.2 實驗過程中故障排查和處理

      學(xué)生實驗過程中反映的故障,一般并非實驗箱本身的硬件故障問題。因為一般投入實驗用的基本通過了維護(hù)測試,且本文1.1節(jié)已經(jīng)詳述了維護(hù)的方法,這里主要針對實驗過程中出現(xiàn)的問題進(jìn)行分析,闡述故障如何排除和處理。

      硬件實驗箱故障診斷本著“從簡單的事情入手,先外后內(nèi),抓主要問題”原則。以《計算機(jī)組成原理》實驗一“運(yùn)算器組成實驗”為例,加以分析。

      圖2為運(yùn)算器組成實驗電路圖[5]。實驗過程中出現(xiàn)數(shù)據(jù)寫不進(jìn)寄存器,或A7~A0、B7~B0顯示不正確。

      首先,檢查實驗箱右上角控制轉(zhuǎn)換開關(guān)是否撥到“獨(dú)立”(實驗一到實驗三均要撥到獨(dú)立)。若在微程序位置,則電平控制信號開關(guān)的高、低電平送不進(jìn)寄存器控制端(如RS0、RS1等),被鉗制住了。這是最容易被人忽視的細(xì)節(jié),同時也是最簡單的處理手段。

      其次,保證SBUS高電平有效(即允許SD0~SD7開關(guān)信號送到DUBS線上),用邏輯筆檢查連線是否正常。若正常,再看SD0~SD7對應(yīng)的燈D0~D7是否亮滅,撥上,高電平,燈亮;撥下,低電平,燈滅。從外部入手,檢查連線、開關(guān)等是否正常。

      第三,若以上兩項正常,則檢查SBUS三太門74LS244芯片是否有問題或其底座是否有問題。

      這里只是用一個簡單的事例闡述了實驗過程中故障排查和處理,要根據(jù)故障現(xiàn)象、實驗電路圖及實驗接線表綜合判斷故障所在的大致位置,借助邏輯筆確定故障所在位置。

      2 結(jié)束語

      圖2 運(yùn)算器組成實驗電路圖Fig.2 Experimental circuit diagram for arithmetic unit

      計算機(jī)硬件綜合實驗箱是高校計算機(jī)及其相關(guān)專業(yè)實踐教學(xué)的必備設(shè)備,是培養(yǎng)學(xué)生實踐能力和創(chuàng)新精神的重要武器,其維護(hù)和管理的不當(dāng)會直接影響設(shè)備完好率,甚至影響實驗教學(xué)的正常開展。本文一方面結(jié)合TEC-8硬件實驗箱在微程序狀態(tài)下單拍跟蹤每條微指令的執(zhí)行情況,各指示燈的亮滅狀態(tài)和微程序代碼表,從而快速確認(rèn)實驗箱的好壞,或故障的大致位置及處理方式;另一方面,對于實驗過程中出現(xiàn)的故障,結(jié)合實驗電路原理圖,實驗接線表和故障現(xiàn)象,本著“從簡單的事情入手,先外后內(nèi),抓主要問題”原則來處置故障。從而提高了維護(hù)人員的工作效率,大大減輕實驗管理人員的維護(hù)工作量,保證設(shè)備正常運(yùn)作和實驗教學(xué)正常進(jìn)行。

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