蔡玲瓏,靳宇暉,江丹宇,馬志欽,楊賢,舒想
(廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院,廣東 廣州 510080)
套管是變壓器重要的附件,統(tǒng)計數(shù)據(jù)表明套管故障占變壓器事故的30%。目前油紙絕緣套管現(xiàn)場電氣試驗(yàn)技術(shù)主要有絕緣電阻測試、介損及電容量測試,難以有效發(fā)現(xiàn)套管受潮、絕緣老化等缺陷。頻域介電譜(frequency domain spectroscopy,F(xiàn)DS)具有測試方便、無損、攜帶信息豐富等優(yōu)點(diǎn)逐漸被用于油紙絕緣套管的現(xiàn)場測試[1-3]。
已有學(xué)者對受潮、老化作用下油紙絕緣套管的FDS特性開展了實(shí)驗(yàn)室研究,表明FDS可用于油紙絕緣套管介損和老化缺陷診斷[4-7]。文獻(xiàn)[8-9]研究了油紙絕緣套管寬頻介電譜測試機(jī)理及其等效建模,揭示了套管介電譜曲線高低頻的曲線機(jī)理。文獻(xiàn)[10-11]研究了水含量和老化程度對油紙絕緣套管FDS曲線的影響,表明水含量和老化程度可以對油紙?zhí)坠苋毕葸M(jìn)行區(qū)分,低頻段曲線受到水分和老化影響,高頻段受老化影響顯著。文獻(xiàn)[12]提出了采用水分補(bǔ)償因子以量化分析絕緣紙含水量的方法,以進(jìn)一步考慮水分對套管FDS的影響。文獻(xiàn)[13]提出了在特征頻域段內(nèi)采用介質(zhì)損耗積分值作為絕緣評估的特征參量,通過介質(zhì)損耗積分大小來判斷油紙絕緣套管的受潮和老化狀態(tài)。文獻(xiàn)[14]提出采用多輸出支持向量回歸算法逼近FDS曲線與油紙絕緣老化和水分之間的非線性映射關(guān)系,來評估油紙絕緣試品的老化程度和水分含量。
對于油紙絕緣套管FDS在現(xiàn)場的應(yīng)用,已有學(xué)者證實(shí)了其可行性。文獻(xiàn)[15]基于現(xiàn)場FDS測試發(fā)現(xiàn)了一起套管現(xiàn)場診斷出現(xiàn)老化缺陷。文獻(xiàn)[16]通過FDS測試發(fā)現(xiàn)一起高壓干式套管屏間局部絕緣劣化缺陷。
目前研究的油紙絕緣套管FDS測試是基于實(shí)驗(yàn)室條件下的特定對象,缺少針對現(xiàn)場測試的結(jié)果判斷方法,主要以定性判斷為主,包括橫向比對、縱向比對和同類型比對[17]。橫向比對依賴于測試人員的技術(shù)水平,受主觀影響較大;縱向比對和同類型比對需要指紋數(shù)據(jù),且易受測試環(huán)境的影響。在此背景下,本文基于大量不同電壓等級的油紙絕緣套管現(xiàn)場FDS測試數(shù)據(jù),分析套管運(yùn)行過程中老化、受潮等缺陷對其FDS特性影響,總結(jié)出基于FDS的油紙絕緣套管現(xiàn)場診斷方法。在此基礎(chǔ)上,提出一種基于Fréchet相似度的套管FDS判斷方法并制定診斷判據(jù),通過大量現(xiàn)場測試案例對該診斷判據(jù)有效性進(jìn)行了驗(yàn)證,驗(yàn)證結(jié)果表明該算法對不同電壓等級、不同類型套管缺陷診斷具有普適性。
電介質(zhì)極化強(qiáng)度F(t)由瞬時極化強(qiáng)度F∞(t)和松弛極化強(qiáng)度Fr(t)組成[18],可表示為
F(t)=F(t)+Fr(t).
(1)
式中t為時間。
電介質(zhì)電通量密度D(t)由場強(qiáng)E0(t)和極化強(qiáng)度F(t)決定[19],可表示為
D(t)=ε0E0(t)+F(t).
(2)
式中ε0為真空介電常數(shù)。
由麥克斯韋方程可知,電流密度
(3)
式中σ0為介質(zhì)的電導(dǎo)率。
對電流密度進(jìn)行傅氏變換,即
J(ω)=jωε0×
jωε0(ε′(ω)-jε″(ω))E0(ω).
(4)
式中:ω為角速度;ε′(ω)為復(fù)介電常數(shù)實(shí)部,是全電流中容性電流密度,表征極化損耗;ε″(ω)為復(fù)介電常數(shù)虛部,是全電流中阻性電流密度,表征電導(dǎo)損耗;εr為介質(zhì)在高頻時的相對介電常數(shù);χ′(ω)、χ″(ω)分別為復(fù)磁化率的實(shí)部和虛部。
由式(4)可知,電介質(zhì)的介質(zhì)損耗包括電導(dǎo)損耗和極化損耗,頻域介質(zhì)損耗是在頻域上測量電介質(zhì)的損耗。頻域介質(zhì)損耗定義為
(5)
電介質(zhì)的老化、水分等因素均會影響介質(zhì)的電導(dǎo)、介電常數(shù)等固有屬性,導(dǎo)致介質(zhì)損耗發(fā)生變化。通過觀察不同頻率下介質(zhì)損耗的變化趨勢,可以判斷電介質(zhì)是否存在老化、受潮等缺陷。
套管的介質(zhì)損耗主要由絕緣紙介質(zhì)損耗、絕緣油介質(zhì)損耗以及界面極化損耗組成。油浸紙屬于極性電介質(zhì),在20 ℃、1個標(biāo)準(zhǔn)大氣壓條件下,其相對介電常數(shù)為3.3~4.4,電阻率為1 015 Ω·cm。根據(jù)介質(zhì)損耗特性,在較低頻率時以電導(dǎo)性損耗為主,在較高頻率,以極化損耗為主[20-21],紙板的介電響應(yīng)特性如圖1(a)所示。絕緣油屬于中性電介質(zhì),在20 ℃、1個標(biāo)準(zhǔn)大氣壓條件下,其相對介電常數(shù)為2.1,電阻率為2×1 015 Ω·cm,絕緣油的介電響應(yīng)特性如圖1(b)所示。油紙絕緣套管紙板和油的組合導(dǎo)致多層電介質(zhì)的絕緣結(jié)構(gòu)、電導(dǎo)率和介電常數(shù)的比例不一致,造成多層電介質(zhì)的電荷重新分配,使得油紙電介質(zhì)交界處積累電荷,形成界面極化,其界面極化介電響應(yīng)特性如圖1(c)所示。綜合絕緣紙、絕緣油和界面極化損耗結(jié)果,油紙絕緣套管的介質(zhì)損耗曲線如圖1(d)所示。
水分作為強(qiáng)極性電介質(zhì),其相對介電常數(shù)為81,電阻率為107 Ω·cm,會造成絕緣紙介質(zhì)損耗升高。從理論上分析,油紙絕緣套管介質(zhì)損耗曲線在低頻段和高頻段反映的是套管水分含量,在中頻段反映的是絕緣油特性。根據(jù)以上分析,可初步判斷油紙絕緣套管內(nèi)部劣化情況。
2019年1月對某220 kV主變壓器進(jìn)行三相套管現(xiàn)場FDS測試,測試結(jié)果如圖2所示。圖2中:A相套管FDS曲線與B、C相的相比在0.001~10 Hz范圍內(nèi)明顯增大,表明A相套管內(nèi)部可能受潮。
圖1 油紙絕緣套管介質(zhì)損耗曲線Fig.1 Dielectric loss curves of oil-paper insulated bushing
對A相套管進(jìn)行油色譜和微水試驗(yàn),結(jié)果見表1。根據(jù)表1利用三比值法可得油色譜組分為0、0、0,呈現(xiàn)出低溫過熱的特征??拷∮涂诘挠蜆铀趾科撸呀咏?guī)程注意值,但內(nèi)部油樣水分含量正常。
圖2 220 kV套管FDS測試結(jié)果Fig.2 FDS test results of 220 kV bushing
表1 A相套管油色譜和微水測試結(jié)果Tab.1 Oil chromatography and water test results of A phase bushing μL/L
對套管進(jìn)行解體檢查:套管末屏、套管頭部未發(fā)現(xiàn)進(jìn)水受潮痕跡;套管頭部密封良好,檢查內(nèi)部光亮,無銹蝕或進(jìn)水受潮痕跡;套管底部均壓環(huán)內(nèi)部整潔光亮,無異常。對套管電容芯子進(jìn)行了逐層解體檢查,各層電容屏鋁箔電極及電容紙光亮整潔、無褶皺臟污及受潮痕跡,未發(fā)現(xiàn)異常。
套管解體過程中對電容芯子不同部位絕緣紙進(jìn)行取樣,油樣及紙樣的測量結(jié)果見表2。由表2可見:電容芯子從外到內(nèi)聚合度呈下降趨勢,說明越靠近導(dǎo)電桿部位,套管老化越嚴(yán)重;從絕緣紙水分含量上看,越靠近內(nèi)層,絕緣紙的水分含量越高。根據(jù)檢修試驗(yàn)規(guī)程,220 kV絕緣紙含水量(質(zhì)量分?jǐn)?shù))一般不大于3%,可以認(rèn)為套管的電容芯子已整體受潮。
表2 電容芯子絕緣紙樣分析Tab.2 Analysis of insulation paper pattern of capacitor core
2018年9月對某500 kV套管進(jìn)行FDS測試,現(xiàn)場FDS試驗(yàn)結(jié)果如圖3所示。圖3中:B相套管FDS曲線與A、C相的相比存在明顯差異;B相套管FDS曲線在0.01 ~10 Hz范圍呈現(xiàn)出尖峰型,表明套管內(nèi)絕緣油可能發(fā)生劣化。
圖3 500 kV套管FDS測試結(jié)果Fig.3 FDS test results of 500 kV bushing
分別對三相套管取油樣進(jìn)行油色譜分析和油中微水含量測量,結(jié)果見表3。由表3可知:三相套管油中微水含量正常,但B相套管H2、CH4、C2H2體積分?jǐn)?shù)及總烴含量均已超標(biāo)準(zhǔn)注意值。
表3 三相套管油色譜和微水測試結(jié)果 Tab.3 Oil chromatography and water test results of three phase bushings μL/L
局部放電測試結(jié)果見表4。由于該套管油色譜異常,懷疑內(nèi)部絕緣存在較為嚴(yán)重的缺陷,故只將局部放電測試電壓最高升至333 kV。
表4 局部放電測試結(jié)果Tab.4 Partial discharge test results
套管排油后拆卸金具、瓷套、油位計、末屏引出裝置等附件,并逐個對附件進(jìn)行檢查,檢查是否存在放電痕跡、異物附著、形變、物理性損傷、進(jìn)水痕跡等。發(fā)現(xiàn)套管密封情況良好,沒有進(jìn)水受潮的痕跡。
對套管電容芯解體檢查,發(fā)現(xiàn)套管每層電容屏的鋁箔上都存在大量的褶皺,在最里層絕緣紙和粘合縫隙處發(fā)現(xiàn)大量金黃色X-蠟。
分析認(rèn)為:套管生產(chǎn)過程中,工藝處理不當(dāng),導(dǎo)致最里層絕緣紙產(chǎn)生皺褶;皺褶處電場會發(fā)生畸變,在運(yùn)行電壓或過電壓下產(chǎn)生油中局部放電,致使油中溶解氣體異常,并生成X-蠟,蠟狀物使FDS測試結(jié)果異常。
Fréchet距離是法國數(shù)學(xué)家Fréchet于1906年提出的一種路徑空間相似性算法,該算法考慮路徑空間距離,對有空間時序的曲線相似度評價效率更高。其定義如下:
設(shè)二元組(S,d)是1個度量空間,d是S的度量函數(shù),無需指明度量函數(shù)時,度量空間簡稱為S。設(shè)A和B是S上的2條連續(xù)曲線,即A:[0,1]→S,B:[0,1]→S;再設(shè)α和β是單位區(qū)間的2個重參數(shù)化函數(shù),即α:[0,1]→[0,1],β:[0,1]→[0,1],則曲線A與B曲線的Fréchet距離F(A,B)定義為
(6)
將F(A,B)離散化,曲線P由p個軌跡點(diǎn)組成,曲線Q由q個軌跡點(diǎn)組成。σ(P)和σ(Q)分別表示2個軌跡點(diǎn)的順序集合,則有:σ(P)={u1,…,up}和σ(Q)={v1,…,vq},ui(i=1,2,…,p)、vj(j=1,2,…,q)為軌跡點(diǎn),同時獲得序列點(diǎn)對
(ua1,νb1),(ua2,νb2),…,(uam,νbm).
(7)
式中:m為自然數(shù);ai、bi為序列點(diǎn)序值數(shù);a1=1,b1=1,am=p,bm=q,為保證點(diǎn)的順序,對于任意i=1,2,…,q有ai+1=ai或ai+1=ai+1,bi+1=bi或bi+1=bi+1。P、Q軌跡點(diǎn)之間的序列對之間長度‖L‖定義為各序列歐式距離最大值,即
(8)
那么其離散Fréchet距離定義為
δdF(P,Q)=min‖L‖.
(9)
基于離散Fréchet距離定義,具體實(shí)施如下:
a)待比較序列分別為XP={P(1),…,P(n),…,P(N)},XQ={Q(1),…,Q(m),…,Q(M)},其中:P(n)=yn,n為XP上點(diǎn)序號,n=1為起始點(diǎn),n=N為末尾點(diǎn);Q(m)=ym,m為XQ上點(diǎn)序號,m=1為起始點(diǎn),m=M為末尾點(diǎn)。
b)計算序列XP上各點(diǎn)到序列XQ上各點(diǎn)的距離,距離矩陣為
(10)
式中dmn=|yn-ym|,為序列XP上的第n個點(diǎn)到序列XQ上的第m個點(diǎn)的距離,1≤m≤M,1≤n≤N。
c)計算2個序列的離散Fréchet距離,令δdF(XP,XQ)=C(M,N),根據(jù)定義:當(dāng)M=1,N=1時,C(M,N)=C(1,1)=d11;當(dāng)M>1,N=1時,C(M,N)=max{C(M-1,1),dM1};當(dāng)M=1,N>1時,C(M,N)=max{C(1,N-1),d1N};當(dāng)M>1,N>1時,F(xiàn)réchet距離C(M,N)=max{min[C(M-1,N),C(M-1,N-1),C(M-1,N)],dMN}。
d)定義2個序列XP、XQ的相似度
(11)
其中η越大2個序列越接近,η越小2個序列差異越大。
油紙絕緣套管FDS的常用判斷方法是相間比較法。由于三相套管測量環(huán)境一致,且不需要?dú)v史數(shù)據(jù),故該方法成為最簡便的判斷方法。但該方法需要依賴于現(xiàn)場測試人員的專家經(jīng)驗(yàn),結(jié)果判斷受人為因素影響大。
基于Fréchet相似度算法的FDS診斷方法可將結(jié)果進(jìn)行量化分析,輔助現(xiàn)場測試人員判斷,降低誤判斷的風(fēng)險。FDS測試結(jié)果可歸為介損序列,根據(jù)Fréchet相似度算法特性可知,當(dāng)2條頻譜曲線越相似時,其Fréchet相似度η越大,反之則相反。
由以上分析可知,油紙絕緣套管FDS在不同頻段反映的缺陷信息不同,因此將FDS測試結(jié)果分為低頻段(0.001 ~0.1 Hz)、中頻段(0.1~10 Hz)和高頻段(10~1 000 Hz)進(jìn)行分別比較,從而輔助判斷不同缺陷類型。
令η(A,B)、η(B,C)、η(C,A)為A、B、C三相套管FDS曲線兩兩之間的Fréchet相似度?,F(xiàn)場FDS測試中,不同結(jié)構(gòu)、不同電壓等級缺陷套管三相FDS曲線如圖4所示。應(yīng)用Fréchet相似度算法算出對應(yīng)Fréchet相似度η見表5。
圖4 不同電壓等級缺陷套管FDS曲線Fig.4 FDS curves of defected bushing with different voltage levels
表5 部分缺陷套管Fréchet相似度Tab.5 Fréchet similarity of partial defected bushing
選取現(xiàn)場FDS測試不同結(jié)構(gòu)、不同電壓等級正常套管三相FDS曲線如圖5所示,對應(yīng)Fréchet相似度η見表6。
圖5 不同電壓等級正常套管FDS曲線Fig.5 FDS curves of normal bushing with different voltage levels
表6 部分正常套管Fréchet相似度Tab.6 Fréchet similarity of normal bushings
根據(jù)上述套管FDS測試結(jié)果及Fréchet相似度η對比可知:正常套管頻譜曲線相似度高,其Fréchet相似度η越大;缺陷套管頻譜曲線相似度低,其Fréchet相似度η越小。
結(jié)合現(xiàn)場測試的200多支套管FDS測試結(jié)果,本文總結(jié)出規(guī)律如下:在低頻段,若η小于10,表明2條曲線在低頻段差異較大,套管存在受潮風(fēng)險;在頻率較高時,若η小于100,則表明2條曲線在中頻段差異較大,套管存在老化風(fēng)險。
本文研究了套管電介質(zhì)響應(yīng)模型,揭示不同頻段測試曲線所對應(yīng)的不同缺陷類型,并提出基于Fréchet相似度的套管現(xiàn)場FDS測試診斷判據(jù)。通過上述研究和案例分析,可以得出以下結(jié)論:
a)油紙絕緣套管FDS測試曲線,在低頻段(0.01 Hz以下)反映套管內(nèi)部水分含量;在中頻段(0.01~10 Hz)反映套管絕緣油老化程度。
b)套管頻譜曲線相似度越高,其Fréchet相似度η越大;曲線相似度低,其Fréchet相似度η越小。
c)大量現(xiàn)場測試案例表明,不同結(jié)構(gòu)、不同電壓等級套管的Fréchet相似度η判斷均有效。在低頻段,若η小于10,表明套管存在受潮風(fēng)險;在高頻段,若η小于100,表明套管存在老化風(fēng)險??蓪⒌皖l段相似度η為10和中頻段相似度η為100作為套管FDS缺陷診斷注意值,供現(xiàn)場測試人員參考。