趙 岳,李 華,康世發(fā),秦 星,郭惠楠
(中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所,陜西 西安 710119)
為保證在連續(xù)變焦過(guò)程中獲得目標(biāo)區(qū)域的圖像清晰一致,使變焦系統(tǒng)在長(zhǎng)短焦極限位置均具有較高的調(diào)制傳遞函數(shù)[1-4],對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)提出較高要求。目前,常用的裝調(diào)方法有兩種:一種是以光學(xué)定心加工為基準(zhǔn),根據(jù)平行光管星點(diǎn)像的狀態(tài),通過(guò)調(diào)整光學(xué)元件的不同空間姿態(tài)完成裝調(diào);另一種是以調(diào)焦組的入射光線光軸為基準(zhǔn),依次對(duì)變倍組、補(bǔ)償組及后固定組完成共軸調(diào)整[5]。由于上述過(guò)程中光學(xué)元件數(shù)量較多,無(wú)法對(duì)光學(xué)系統(tǒng)中各光學(xué)元件的空間姿態(tài)進(jìn)行量化,且裝調(diào)周期長(zhǎng),裝調(diào)精度低,已不再滿足現(xiàn)階段的裝調(diào)需求。如何在變焦系統(tǒng)裝調(diào)過(guò)程中定位影響像差的光學(xué)元件空間姿態(tài),以及確保光學(xué)元件具有較高的共軸精度,是一項(xiàng)非常有價(jià)值的研究課題。
本文所研究的變焦光學(xué)系統(tǒng),通過(guò)機(jī)械補(bǔ)償法來(lái)降低像差的影響[6-8]。該系統(tǒng)由4 個(gè)不同組元相互作用完成成像,包括前固定鏡組、變倍鏡組、補(bǔ)償鏡組和后固定鏡組。在成像過(guò)程中前固定鏡組完成對(duì)光線的匯聚,為后面的變倍鏡組提供參考目標(biāo);變倍鏡組做線性運(yùn)動(dòng),完成系統(tǒng)焦距的變化;補(bǔ)償鏡組通過(guò)光桿直線導(dǎo)軌實(shí)現(xiàn)與變倍組的相對(duì)運(yùn)動(dòng),用以補(bǔ)償運(yùn)動(dòng)過(guò)程中的像面位移。后固定鏡組則是將補(bǔ)償鏡組所成物像匯聚在探測(cè)器靶面上,如圖1所示。
光學(xué)性能指標(biāo)要求該系統(tǒng)焦距為13.8 mm~280 mm,像元大小為3.45 μm×3.45 μm,相對(duì)孔徑為1/2.4~1/6.23。裝調(diào)完成后要求空間頻率140 lp/mm 時(shí),長(zhǎng)短焦中心視場(chǎng)傳遞函數(shù)值分別大于0.45 和0.55,長(zhǎng)短焦軸外0.7 視場(chǎng)傳遞函數(shù)值分別大于0.25 和0.35,變焦全程光學(xué)系統(tǒng)相對(duì)畸變優(yōu)于3.2%。為達(dá)到上述要求,需要嚴(yán)格保證系統(tǒng)的光軸一致性。
圖1 變焦光學(xué)系統(tǒng)Fig.1 Zoom optical system
首先需要對(duì)光學(xué)元件完成微應(yīng)力裝調(diào),通常使用Zygo 干涉儀將其面形控制在RMS≤ 0.025λ,減小面型對(duì)像散等像差的影響。
光學(xué)系統(tǒng)中各光學(xué)元件的空間姿態(tài)是影響該系統(tǒng)成像質(zhì)量的主要因素,采用光學(xué)定心加工技術(shù)[9],對(duì)微應(yīng)力光學(xué)元件共軸精度進(jìn)行有效控制,保證各光學(xué)元件間同軸精度在0.01 mm 以內(nèi),上下配合端面平行差 ≤0.005 mm。為了降低變焦光學(xué)系統(tǒng)的球差,要求調(diào)焦組和后固定組中各光學(xué)元件空氣間隔公差 ≤±0.01 mm,變倍組與補(bǔ)償組中各光學(xué)元件空氣間隔公差 ≤±0.02 mm,變倍組中銷釘中心與膠合鏡2 的間隔公差 ≤±0.015 mm,補(bǔ)償組中銷釘中心與透鏡7 的間隔公差 ≤±0.015 mm。
使用1 m 焦距平行光管對(duì)變焦系統(tǒng)在長(zhǎng)短焦位置時(shí)的3#鑒別率板及 φ0.10 mm 星點(diǎn)像進(jìn)行目視檢測(cè),所得鑒別率板圖像銳利度較高,星點(diǎn)像較圓整。為量化光學(xué)系統(tǒng)指標(biāo),使用傳遞函數(shù)儀進(jìn)一步檢測(cè),結(jié)果如表1所示。從表1可以看出,系統(tǒng)長(zhǎng)短焦焦距滿足設(shè)計(jì)要求,但長(zhǎng)短焦傳遞函數(shù)MTF低于技術(shù)要求,表明初裝完成的光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部存在一定的像差,需要做進(jìn)一步分析與調(diào)整。
表1 光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)結(jié)果Table1 Detection results of optical system
由圖1可知,該變焦系統(tǒng)由多個(gè)組元構(gòu)成,裝調(diào)過(guò)程不可避免會(huì)引入人為誤差,使光學(xué)系統(tǒng)不再具有對(duì)稱性,從而產(chǎn)生各類像差。每一光學(xué)元件對(duì)于像差的影響各不相同,在裝調(diào)過(guò)程中需要控制的變量也相對(duì)較多,增加了判斷像差敏感元件的難度,降低了裝調(diào)效率。本節(jié)在像差檢測(cè)的基礎(chǔ)上,使用CAA 技術(shù),根據(jù)敏感元件的分布,完成對(duì)影響像差敏感元件的定位工作。
CAA(computer aided alignment)技術(shù)是指光學(xué)系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)[10],是一種針對(duì)傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)過(guò)程中出現(xiàn)的光學(xué)元件空間姿態(tài)不可控、無(wú)量化、隨機(jī)因子影響大等缺點(diǎn)提出的一種新方法,通常應(yīng)用在離軸三反光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)中。CAA 技術(shù)的核心是對(duì)光學(xué)系統(tǒng)中光學(xué)元件空間姿態(tài)進(jìn)行量化及控制,其主要方法首先是使用干涉儀對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行波像差檢測(cè),然后根據(jù)檢測(cè)結(jié)果及光學(xué)系統(tǒng)中心偏測(cè)量結(jié)果,進(jìn)行Zemax 或CodeV 軟件仿真,從而得出各光學(xué)元件的空間姿態(tài)位置及其調(diào)整量。最后通過(guò)使用各種調(diào)整工裝,使各光學(xué)元件的空間姿態(tài)趨近于理論分析結(jié)果,從而完成光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)。
由定義可知,波像差是實(shí)際波面與理想波面之間的光程差。當(dāng)光學(xué)元件面形或空間姿態(tài)發(fā)生微量變化時(shí),便會(huì)引入波像差,導(dǎo)致成像質(zhì)量發(fā)生相應(yīng)變化,進(jìn)一步表現(xiàn)為MTF 指標(biāo)不達(dá)標(biāo)。對(duì)于精度要求較高的光學(xué)系統(tǒng),通過(guò)定心加工校正各元件同軸度后,在系統(tǒng)裝調(diào)中由于人為因素的存在,仍會(huì)引入裝調(diào)誤差,即光學(xué)元件偏心與傾斜,均會(huì)對(duì)該光學(xué)系統(tǒng)彗差、像散、場(chǎng)曲和畸變產(chǎn)生相應(yīng)的變化[11-12],但是不會(huì)對(duì)系統(tǒng)的球差產(chǎn)生影響。因此在精密光學(xué)鏡頭裝調(diào)過(guò)程中必須保證光學(xué)系統(tǒng)的共軸精度,消除由光學(xué)元件偏心或傾斜所造成的像差。針對(duì)上文初裝后檢測(cè)結(jié)果,采用Zygo 干涉儀對(duì)其光學(xué)系統(tǒng)波像差進(jìn)行檢測(cè),原理如圖2所示。
對(duì)初裝完成的變焦光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行波像差檢測(cè)可知,在短焦極限位置的像散為0.013 λ,彗差為1.282 λ,球差為0.005 λ;在長(zhǎng)焦極限位置的像散為0.014 λ,彗差為1.882 λ,球差為0.005 λ。由此可見(jiàn),彗差是該系統(tǒng)主要的像差,是造成變焦光學(xué)系統(tǒng)長(zhǎng)短焦MTF 不達(dá)標(biāo)的主要因素。
圖2 干涉儀檢測(cè)鏡頭波像差示意圖Fig.2 Schematic diagram of wave aberration testing by interferometer
為了進(jìn)一步有效定位產(chǎn)生彗差的光學(xué)元件,對(duì)變焦光學(xué)系統(tǒng)在長(zhǎng)焦極限位置進(jìn)行中心偏檢測(cè),結(jié)果如表2所示。
表2 偏心檢測(cè)結(jié)果Table2 Results of eccentricity detection
圖3為變焦光學(xué)系統(tǒng)中光學(xué)元件在不同情況下偏心及傾斜對(duì)彗差的影響變化。結(jié)合現(xiàn)有裝配精度,使用CodeV 軟件仿真建模,得到光學(xué)元件敏感等級(jí)由高至低分布(1~10)及相應(yīng)MTF 變化量,結(jié)果如表3所示。由此可知,膠合鏡1、透鏡2、透鏡5、透鏡7 以及透鏡10 的不同空間姿態(tài)是變焦光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生彗差的主要因素,即為該系統(tǒng)產(chǎn)生像差的敏感光學(xué)元件,需要做針對(duì)性調(diào)整。
根據(jù)逆靈敏度公差分析方法[13-14],將上述變焦光學(xué)系統(tǒng)中心偏檢測(cè)結(jié)果帶入CodeV 軟件中構(gòu)建正態(tài)分布模型并進(jìn)行蒙特卡洛模擬仿真[15],確定誤差理想分布區(qū)間,從而精確求出補(bǔ)償量,即當(dāng)膠合鏡1、透鏡5 和透鏡7 的單邊偏心小于0.01 mm 以及透鏡10 單邊偏心小于0.008 mm,膠合鏡1 傾斜小于45′′,透鏡2 傾斜小于 60′′、透鏡5 傾斜小于 50′′,透鏡7 傾斜小于 60′′時(shí),可滿足理論設(shè)計(jì)對(duì)彗差的要求,使光學(xué)系統(tǒng)MTF 達(dá)到指標(biāo)要求。
圖3 偏心與傾斜彗差仿真結(jié)果Fig.3 Simulation results of eccentricity and tilt coma
表3 光學(xué)元件敏感等級(jí)Table3 Optical element sensitivity grades
根據(jù)中心偏測(cè)量?jī)x原理及應(yīng)用方法[16],設(shè)計(jì)了一種共軸調(diào)試裝置,通過(guò)芯軸與主鏡筒內(nèi)孔緊配合,完成對(duì)變焦相機(jī)主鏡筒機(jī)械內(nèi)孔軸與直線光桿導(dǎo)軌的平行性進(jìn)行精確測(cè)量,保證動(dòng)組組元光軸的共軸精度,從而降低彗差對(duì)光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的影響,測(cè)量原理如圖4所示。
圖4 測(cè)量原理Fig.4 Principle of measurement
表4為調(diào)整后的變焦光學(xué)系統(tǒng)光學(xué)元件偏心及傾斜調(diào)試后的測(cè)量結(jié)果。各光學(xué)元件偏心及傾斜均滿足上文中對(duì)變焦系統(tǒng)敏感光學(xué)元件的分析結(jié)果。表5為變焦光學(xué)系統(tǒng)在長(zhǎng)短焦極限位置時(shí)的MTF 測(cè)量值。通過(guò)對(duì)變焦光學(xué)系統(tǒng)中敏感光學(xué)元件空間姿態(tài)的調(diào)整,測(cè)得長(zhǎng)焦極限位置時(shí)軸上MTF 值為0.453,短焦軸上MTF 達(dá)到0.552;長(zhǎng)焦軸外0.7 視場(chǎng)MTF 為0.256,短焦軸外0.7 視場(chǎng)MTF為0.358,結(jié)果滿足設(shè)計(jì)要求。調(diào)整后的變焦光學(xué)系統(tǒng)長(zhǎng)短焦極限位置的彗差分別減小到0.011 λ和0.008 λ。
表4 偏心調(diào)試結(jié)果Table4 Eccentric adjustment results
表5 長(zhǎng)短焦MTF 實(shí)測(cè)值Table5 Measured value of long and short focal length MTF
本文采用CodeV 軟件分析了光學(xué)元件不同空間姿態(tài)變化時(shí)的像差特點(diǎn),在此基礎(chǔ)上確定了影響光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的敏感光學(xué)元件,并針對(duì)性地完成了調(diào)整。除此之外,采用了一種同軸調(diào)試裝置,對(duì)變焦相機(jī)主鏡筒機(jī)械內(nèi)孔軸與直線光桿導(dǎo)軌的平行性進(jìn)行了精確測(cè)量,保證了動(dòng)組組元光軸的同軸精度,實(shí)現(xiàn)了變焦光學(xué)系統(tǒng)各組元偏心的快速調(diào)試。最終檢測(cè)結(jié)果表明,在變焦光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)過(guò)程中采用該方法,可降低裝調(diào)過(guò)程中彗差的影響,使傳遞函數(shù)MTF 滿足設(shè)計(jì)要求。