高 陽,蔣 永,焦 正
(上海大學(xué)環(huán)境與化學(xué)工程學(xué)院,上海 200444)
鋰離子電池作為一種新型化學(xué)電源,因具有高能量密度、長(zhǎng)循環(huán)壽命以及環(huán)境友好等特點(diǎn)而得到廣泛應(yīng)用[1]。目前,石墨作為實(shí)際應(yīng)用的負(fù)極材料,理論容量較低,已不能滿足新型電子器件對(duì)高容量的需求。研究者對(duì)錫基材料、碳基材料和硅基材料進(jìn)行深入研究,其中硅基材料具有安全性高、儲(chǔ)量豐富、充放電電壓較低(<0.5 V)以及理論比容量高(4 200 mAh·g-1)等優(yōu)點(diǎn),成為取代石墨負(fù)極的最佳材料[2]。但是,硅材料缺乏導(dǎo)電性、體積膨脹,導(dǎo)致顆粒粉化、結(jié)構(gòu)崩塌、喪失電接觸和生成不穩(wěn)定的固體電解質(zhì)界面膜(solid elecerolyte interphase,SEI),容量大幅度衰減,限制了實(shí)際應(yīng)用[3]。電化學(xué)性能優(yōu)異的硅負(fù)極材料具有重要的應(yīng)用價(jià)值,本工作擬通過構(gòu)造三維連通的中空硅球與石墨烯復(fù)合材料改善導(dǎo)電性,抑制顆粒粉化團(tuán)聚和預(yù)留足夠緩沖空間,提高材料的循環(huán)穩(wěn)定和倍率性能。
為改善硅負(fù)極材料結(jié)構(gòu)、穩(wěn)定循環(huán)性能,通常采用硅納米化和導(dǎo)電物質(zhì)復(fù)合,小尺寸顆粒不但可以降低體積膨脹、抑制團(tuán)聚,而且嵌鋰阻力變小,避免死鋰產(chǎn)生。設(shè)計(jì)新穎的納米結(jié)構(gòu),如硅納米顆粒[4]、硅納米線/管[5]、硅薄膜[6]、多孔硅與硅碳復(fù)合物[7],單層與雙層蛋黃殼結(jié)構(gòu)[8]和石榴結(jié)構(gòu)[9],都利用獨(dú)特結(jié)構(gòu)優(yōu)勢(shì)提升電性能。新穎的納米結(jié)構(gòu)具有抑制體積膨脹,縮短電子和離子通道,導(dǎo)電物質(zhì)降低界面電子阻力,避免顆粒粉化團(tuán)聚,增強(qiáng)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,顯著提升初始效率、循環(huán)穩(wěn)定性和倍率性能。
本工作設(shè)計(jì)的中空硅球/石墨烯復(fù)合結(jié)構(gòu)具有諸多優(yōu)點(diǎn):①中空硅球內(nèi)部空隙為硅嵌鋰預(yù)留緩沖空間,降低了體積膨脹應(yīng)力對(duì)結(jié)構(gòu)的破壞作用;②中空硅球縮短了電子和離子通道,不必深度嵌入硅球內(nèi)部,降低了能量勢(shì)壘和死鋰的產(chǎn)生;③石墨烯納米片可避免活性材料直接暴露于電解液,避免形成更多的SEI 膜,抑制顆粒結(jié)構(gòu)粉化溶解,并改善了顆粒表面電子傳導(dǎo)性。水熱反應(yīng)條件下,石墨烯還原收縮成三維多孔石墨烯氣凝膠,H-Si球被石墨烯收縮遷移,嵌入多孔的氣凝膠中,可以防止硅球團(tuán)聚,并提供了導(dǎo)電通道;而溶劑熱反應(yīng)條件下,H-Si 球與帶正電的石墨烯靜電沉積包覆還原,柔性的石墨烯包覆并保護(hù)硅球避免結(jié)構(gòu)粉化,降低了硅球界面電子阻力,防止過多形成SEI膜。
試劑:硅酸四乙酯(tetraethyl orthosilicate, TEOS),過硫酸鉀(K2S2O8),苯乙烯,鎂粉(Mg),鹽酸(HCl),均購(gòu)自國(guó)藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司;甲基丙烯酰氧乙基三甲基氯化銨(dimethyl carbonate,DMC),聚二烯丙基二甲基氯化銨(poly dimethyl diallyl ammonium,PDDA),購(gòu)自上海阿拉丁生化科技股份有限公司;乙炔黑,購(gòu)自上海膠體化工廠;高純鋰片,購(gòu)自天津中能鋰業(yè)有限公司;鋰離子電池電解液,購(gòu)自張家港市國(guó)泰華榮有限公司。
儀器:華辰Chi660C 電化學(xué)工作站;CT2001A 藍(lán)電電池測(cè)試系統(tǒng),冷凍干燥機(jī)FD-1A-50,JSM-7500F 掃描電子顯微鏡,JSM-2010F 透射電子顯微鏡,RigakuD/MAX-2200VPC 型X射線衍射儀,超級(jí)凈化手套箱Universal2240-750。
1.2.1 制備聚苯乙烯(polystyrene,PS)球
采用微乳液聚合法合成氨基功能化的聚苯乙烯球。稱0.3 g 過硫酸鉀作為引發(fā)劑加入三口燒瓶,加入150 mL 去離子水,攪拌至固體溶解后添加6 mL 苯乙烯單體,氮?dú)獗Wo(hù)下70°C加熱5 h 后,逐滴滴加714 mL 的甲基丙烯酰氧乙基三甲基氯化銨進(jìn)行接枝反應(yīng),聚合20 h 后離心清洗,冷干。
1.2.2 制備H-Si 球
取0.6 g 聚苯乙烯球添加到10 mL 去離子水中,超聲分散2 h,再將其滴加到60 mL 體積比V(乙醇):V(去離子水)=1:1 的混合溶液中,形成乳白色溶液,逐滴滴加1.5 mL TEOS攪拌隔夜,離心清洗,烘干收集??諝庵?00°C 煅燒熱分解聚苯乙烯球,得到中空SiO2球,與Mg 粉混合均勻(質(zhì)量比m(SiO2):m(Mg)=5:3),氬氣條件下700°C 熱處理6 h。用1 mol/L的HCl 浸泡去除反應(yīng)不完全的Mg 和反應(yīng)副產(chǎn)物Mg2Si,得到純凈的H-Si 球。
1.2.3 制備中空硅球/石墨烯復(fù)合材料
(1)制備H-Si/GA。質(zhì)量比為1:1 的中空硅球和氧化石墨烯單獨(dú)分散在30 mL 的去離子水中,硅球溶液攪拌2 h,石墨烯溶液超聲分散2 h;二者在100 mL 的聚四氟乙烯反應(yīng)釜中混合,曝氣處理0.5 h 后密封,180°C 水熱10 h;用乙醇與水混合溶液浸泡水凝膠6 h,冷凍干燥得到三維多孔石墨烯氣凝膠內(nèi)嵌中空硅球。
(2)制備H-Si/G。石墨烯溶液與PDDA 混合攪拌2 h,超聲分散2 h 使氧化石墨烯(graphene oxide, GO)氨基功能化。H-Si 球粉末分散去離子水得到均勻硅水溶液,逐滴滴加到質(zhì)量比為1:1 的氨基功能化氧化石墨烯溶液中攪拌,隔夜。H-Si 球靜電作用吸附嵌于氧化石墨烯層中,二者緊緊吸附沉積形成包覆層狀復(fù)合物,用水合肼還原,清洗烘干得到H-Si/G 粉末。
圖1 中空硅球/石墨烯復(fù)合材料合成示意圖Fig.1 Schematic illustration of producing hollow silicon sphere/graphene composites
將復(fù)合材料、碳黑、黏結(jié)劑按質(zhì)量比70:20:10 混合,加入N-甲基吡咯烷酮進(jìn)行打漿,然后涂覆在銅片上,60°C 真空干燥,放進(jìn)超級(jí)凈化手套箱,組裝成CR2032 型扣式電池。將封口后的扣式電池在LAND CT2001A 藍(lán)電充放電儀上進(jìn)行恒流充放電測(cè)試,在CHI 660C 電化學(xué)分析儀上進(jìn)行循環(huán)伏安法測(cè)試和交流阻抗法測(cè)試。
圖2 是中空硅球/石墨烯復(fù)合材料合成過程中產(chǎn)物的物相特征圖譜。可以看出:中空硅球H-Si 的衍射峰都與立方晶體硅(JCPDS:27-1402)晶面相對(duì)應(yīng),說明合成了純相的H-Si 顆粒[10]。石墨烯氣凝膠內(nèi)嵌硅球復(fù)合物H-Si/GA 的所有衍射峰都保存下來,峰強(qiáng)信號(hào)變?nèi)酰瑧?yīng)該是衍射信號(hào)被遮擋,說明硅球內(nèi)嵌石墨烯氣凝膠中。此外,在22°附近出現(xiàn)一個(gè)很小峰包,歸因于硅球表面局部氧化。溶劑熱反應(yīng)形成石墨烯與H-Si 復(fù)合物的衍射峰同H-Si 和H-Si/GA 相似,峰強(qiáng)度也變?nèi)酢?/p>
圖2 中空硅球/石墨烯復(fù)合材料合成過程中產(chǎn)物的物相特征圖譜Fig.2 XRD patterns of hollow silicon sphere/graphene composite
圖3是中空硅球/石墨烯復(fù)合材料合成過程不同階段產(chǎn)物的透射電子顯微鏡(transmission electron microscope,TEM)圖??梢钥闯觯阂訮S 球(微乳法合成200~300 nm 的氨基功能化PS 球)為模板合成的PS@SiO2的球形結(jié)構(gòu)發(fā)生不規(guī)則變化和接觸性連接在一起;觀察透射襯底深淺狀態(tài)可知包覆層厚度約30~50 nm,說明TEOS 在PS 球表面水解形成SiO2包覆層??諝庀聼崽幚鞵S@SiO2得到中空SiO2球(見圖3(c)),可以看出,中空球殼結(jié)構(gòu)完整,形貌輪廓清晰。鎂熱還原SiO2球,離心清洗烘干得到中空硅球(見圖3(d)),可以看出,球殼部分變粗糙,對(duì)應(yīng)于小尺寸硅顆粒,但仍舊保持球形結(jié)構(gòu)完整,說明合成純相的納米硅顆粒。以H-Si 球與氧化石墨烯水熱反應(yīng)形成三維多孔石墨烯氣凝膠內(nèi)嵌中空硅球(見圖3(e)),分散良好沒有團(tuán)聚的蓬松石墨烯氣凝膠中嵌入中空硅球,硅球表面變光滑,可能是高溫高壓的水熱條件硅表面形成薄薄硅氧化物。另外,以功能化的石墨烯包覆中空硅球和水合肼還原氧化石墨烯得到復(fù)合物(見圖3(f)),靜電吸附作用使石墨烯覆蓋在硅球表面,石墨烯褶皺程度和襯底深淺狀態(tài),說明還原石墨烯層層沉積在硅球表面。同時(shí),復(fù)合物中硅球仍舊維持球形,相對(duì)于蓬松的氣凝膠內(nèi)嵌硅球,緊密連接的包覆狀復(fù)合物可以提供更便捷的電子通道。
圖3 樣品H-Si/G 不同合成階段TEM 照片F(xiàn)ig.3 TEM images of H-Si/G samples in different periods
對(duì)制備的中空硅球/石墨烯復(fù)合材料進(jìn)行掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope, SEM)測(cè)試,復(fù)合物整體外觀形貌特點(diǎn)如圖4 所示。圖4(a)為H-Si/GA 的外觀形貌,觀察到石墨烯收縮褶皺,不均勻的堆疊,存在中空硅球嵌入石墨烯氣凝膠中(紅色箭頭),也存在中空硅球分布在氣凝膠表面(黃色箭頭)。整體而言,多孔的石墨烯氣凝膠為硅球預(yù)留緩沖空間,硅球內(nèi)部空隙空間也提供緩沖空間;導(dǎo)電極佳的還原石墨烯提供電子通道,并保護(hù)硅球避免與電解液接觸形成SEI 膜,導(dǎo)致不可逆容量和首次庫(kù)倫效率低。圖4(b)為H-Si/G 的外觀結(jié)構(gòu),可以發(fā)現(xiàn)石墨烯片與硅球明顯的包覆輪廓,所有亞微米球形顆粒團(tuán)聚物表面均被一層或少層紗狀的石墨烯所覆蓋,兩者之間緊密貼合,石墨烯的輪廓因硅球的形狀而明細(xì)凸起或下陷。這種結(jié)構(gòu)不僅可以保持結(jié)構(gòu)穩(wěn)固而且提高導(dǎo)電通道,這種層層組裝包覆結(jié)構(gòu)在上下兩個(gè)界面為硅球顆粒提供導(dǎo)電通道,同時(shí)硅球顆粒之間存在石墨烯連接的通道,防止硅球顆粒團(tuán)聚,抑制體積膨脹和保護(hù)整體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。
為驗(yàn)證復(fù)合材料中硅球與石墨烯的結(jié)合狀態(tài),對(duì)H-Si/G 進(jìn)行形貌、微結(jié)構(gòu)和元素表征分析。由H-Si/G 的低倍掃描圖(見圖5(a))可以觀察到數(shù)個(gè)中空硅球聚集成到一塊,其外邊緣被石墨烯片緊緊吸附包覆,依據(jù)石墨烯褶皺狀態(tài),表明石墨烯應(yīng)具有較佳的導(dǎo)電性。根據(jù)透射電鏡下襯底深淺狀態(tài)(見圖5(b)),可以看出中空硅球被石墨烯包裹住,硅球周邊延伸的石墨烯納米片可以顯著提高硅球顆粒之間電子傳導(dǎo)能力。分散在石墨烯納米片的單個(gè)中空硅球放大后(見圖5(c))可以看出,球形結(jié)構(gòu)完整,在球殼處分散著包裹住硅球的石墨烯。這樣的結(jié)構(gòu)不僅束縛維持硅球結(jié)構(gòu)在循環(huán)過程中體積膨脹不塌陷,還能提高單個(gè)硅球與周圍活性物質(zhì)之間的電子連接通道。對(duì)硅球與石墨烯結(jié)合處做高分辨透射(見圖5(d)),可知有序的晶格條紋對(duì)應(yīng)為硅顆粒的(111)晶面,周邊襯底淺色的無序狀條紋對(duì)應(yīng)為石墨烯。為進(jìn)一步確認(rèn)物相,對(duì)石墨烯包裹單個(gè)中空硅球做元素分布(見圖5(e)、(f)和(g))??梢钥闯觯柙貎H在球形輪廓中呈現(xiàn),而碳元素信號(hào)則遍布于硅球球殼和其外圍,進(jìn)一步說明硅球被石墨烯充分包覆。
圖4 H-Si/GA 和H-Si/G 的SEM 圖Fig.4 SEM images of H-Si/GA and H-Si/G
圖5 H-Si/G 的結(jié)構(gòu)表征與元素分析Fig.5 Structral characterization and element analysis of H-Si/G
對(duì)于中空硅球與石墨烯采用水熱和溶劑熱兩種反應(yīng)機(jī)制形成的復(fù)合物,分別進(jìn)行循環(huán)伏安法、循環(huán)、倍率和交流阻抗等電化學(xué)測(cè)試。圖6(a)為0.1 mV·s-1掃描速率下前三圈的CV曲線。在首次陰極掃描中,約在0.75 V 處出現(xiàn)還原峰,對(duì)應(yīng)于復(fù)合物中石墨烯和電解液分解,同時(shí)鋰離子與活性材料表面接觸形成SEI 膜,造成較大的不可逆容量損失[11]。此外,Li+與Si形成合金的嵌入反應(yīng)在0.25 V 左右,先形成無定型LixSi 化合物,再繼續(xù)嵌Li+反應(yīng)形成結(jié)晶態(tài)Li15Si4。在首次陽極掃描中,0.32 和0.50 V 處出現(xiàn)兩個(gè)氧化峰,可解釋為結(jié)晶態(tài)Li15Si4脫Li+形成非結(jié)晶態(tài)LixSi,后者繼續(xù)脫Li+反應(yīng)形成無定型Si 的相變過程。此外,氧化峰和還原峰的強(qiáng)度逐漸加強(qiáng),并且峰形疊加非常重合,說明活性材料具有很好的鋰離子嵌入動(dòng)力學(xué)和電極結(jié)構(gòu)維持性特征[12]。圖6(b)為H-Si/G、H-Si/GA 和H-Si 在100 mA·g-1電流密度下100 次循環(huán)后的放電比容量,三者分別保持718.2、568.6 和338.8 mAh·g-1。由數(shù)據(jù)差異可知,溶劑熱反應(yīng)復(fù)合物中石墨烯緊密包覆硅球改善了材料表面電子傳輸狀況,電子和離子傳輸?shù)焦枨虮砻嫱ǖ来蟠罂s減,由此帶來更低的界面電子阻力。同時(shí),包覆作用的石墨烯片防止硅球直接暴露于電解液中,抑制顆粒脫落和粉化,并提高了容量。
圖6(c)為樣品H-Si/G、H-Si/GA 和H-Si 的倍率性能??梢钥闯觯合嗤堵氏翲-Si/G的放電比容量均高于H-Si/GA 和H-Si,在5 C 放電比容量時(shí)為208.2 mAh·g-1,當(dāng)恢復(fù)到0.1 C 時(shí),依舊保持為821.1 mAh·g-1,說明包覆狀石墨烯片明顯提高電性能。對(duì)樣品進(jìn)行交流(alternating current, AC)阻抗測(cè)試,驗(yàn)證材料的電荷轉(zhuǎn)移阻抗,判斷不同結(jié)構(gòu)對(duì)材料導(dǎo)電問題的改善。電化學(xué)阻抗譜(electrochemical impedance spectroscopy, EIS)測(cè)量結(jié)果顯示:所有曲線中均存在高頻區(qū)凹陷半圓和低頻區(qū)斜線;H-Si/G 電荷轉(zhuǎn)移電阻為99 Ω,遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于H-Si/GA(電阻為100 Ω)和H-Si(電阻為270 Ω),這表明復(fù)合材料具有高電導(dǎo)率和低界面電阻。
圖6 鋰離子電池電極材料H-Si/G 及對(duì)照樣品的電性能Fig.6 Electrochemical performances of H-Si/G and compared samples for lithium batteries
圖7 是樣品H-Si/G、H-Si/GA 和H-Si 在100 mA·g-1下首次充放曲線。可以看出:三者的電壓平臺(tái)與CV 中氧化還原峰相對(duì)應(yīng),其中H-Si/G 的首次充電和放電容量分別為1 464.5、2 357.4 mAh·g-1,明顯優(yōu)于H-Si/GA(1 227.5、2 240.1 mAh·g-1)和H-Si(799.3、1 664.8 mAh·g-1);3 個(gè)樣品的首次庫(kù)倫效率分別為62.1%、55.0%和H-Si 48.0%。溶劑熱反應(yīng)形成的H-Si/G 具有相對(duì)較高首效,可歸因于緊密包覆狀有助于形成薄SEI 膜并與表面緊密連接,有助于降低電子阻力,增大空隙空間,緩沖體積膨脹對(duì)結(jié)構(gòu)的破壞。
圖7 H-Si/G、H-Si/GA 和H-Si的首次充放電曲線Fig.7 Initial discharge-charge profiles of H-Si/G, H-Si/GA and H-Si
本工作以水熱和溶劑熱反應(yīng)成功制備了中空硅球/石墨烯復(fù)合材料。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:三維多孔石墨烯氣凝膠存在部分內(nèi)嵌中空硅球,疏松多孔氣凝膠存在緩沖結(jié)構(gòu)變形,石墨烯可以束縛硅球防止粉化和團(tuán)聚,但外露的硅球表面沒有足夠的保護(hù)措施,與電解液接觸導(dǎo)致容量大幅度縮減;而柔性的石墨烯納米片與硅球包覆狀層狀復(fù)合物,石墨烯維持整個(gè)復(fù)合結(jié)構(gòu)牢固,提高材料整體導(dǎo)電率,并抑制硅球顆粒之間的團(tuán)聚效應(yīng);內(nèi)部足夠空隙的中空硅球?yàn)檠h(huán)過程中嵌鋰預(yù)留足夠的緩沖空間,在100 次循環(huán)后仍維持著718.2 mAh·g-1高容量。