純SV語言搭建驗(yàn)證平臺

張 靜，卜 剛

(南京航空航天大學(xué) 電子信息工程學(xué)院，江蘇 南京 211106)

0 引 言

芯片的驗(yàn)證[1-7]，是提高芯片流片成功的關(guān)鍵。驗(yàn)證工作與設(shè)計(jì)仿真工作不同，仿真是為了證明設(shè)計(jì)方案的正確性，而驗(yàn)證是為了證明方案中不存在錯(cuò)誤。設(shè)計(jì)錯(cuò)誤很容易造成芯片完全不能工作，而修正錯(cuò)誤再重新流片不但需要額外的費(fèi)用，更會延遲芯片上市時(shí)間，這對芯片開發(fā)造成了巨大的風(fēng)險(xiǎn)?，F(xiàn)如今，芯片制造工藝更加精細(xì)，芯片制造費(fèi)用的增加，芯片功能變得越來越復(fù)雜，驗(yàn)證的重要性也在不斷增加。

目前來說，SystemVerilog[3,6-11]已經(jīng)成為比較主流的驗(yàn)證語言，SystemVerilog語言具有許多優(yōu)點(diǎn)，諸如隨機(jī)約束[12]、功能覆蓋率[2,13]、斷言技術(shù)和利用面向?qū)ο笏枷霕?gòu)建驗(yàn)證平臺的一般方法。這些優(yōu)點(diǎn)能極大提高芯片驗(yàn)證的效率，保障芯片設(shè)計(jì)的正確率，縮短芯片上市時(shí)間。

1 SystemVerilog語言

此處介紹的驗(yàn)證技術(shù)，專注于受約束的隨機(jī)測試，它利用功能覆蓋率來衡量進(jìn)度并指導(dǎo)驗(yàn)證。SystemVerilog最有意義的優(yōu)點(diǎn)在于，它允許用戶在多個(gè)項(xiàng)目中使用連續(xù)一貫的語法來構(gòu)造可靠并且可重復(fù)的驗(yàn)證環(huán)境。SystemVerilog提供了一種建模語言，簡化了自頂向下的設(shè)計(jì)，可以在SystemVerilog中創(chuàng)建模型，然后在下一層重新定義每個(gè)模塊，初始的系統(tǒng)級模型也可以被重新用作參考模型，不僅如此，它還引入了直接編程接口(DPI)，能更加簡單地連接C、C++或者其他非Verilog編程語言。

相比于硬件描述語言(HDL)，SystemVerilog硬件驗(yàn)證語言(hardware verification language，HVL)[5,14]具有典型的性質(zhì)：

●受約束的隨機(jī)激勵(lì)生成；

●功能覆蓋率；

●更高層次的結(jié)構(gòu)，尤其是面向?qū)ο缶幊蹋?/p>

●多線程及線程的通信；

●支持HDL數(shù)據(jù)類型，例如Verilog的四狀態(tài)數(shù)值；

●集成了事件仿真器，便于對設(shè)計(jì)施加控制。

還有其他很多有用的性質(zhì)，但上述特性已經(jīng)能夠支撐創(chuàng)建高度抽象的測試平臺。

采用隨機(jī)測試[14]的原因如圖1所示。

圖1 隨機(jī)測試與定向測試的時(shí)間比較

圖1是傳統(tǒng)驗(yàn)證的定向測試方法和高級驗(yàn)證的隨機(jī)測試方法的比較[15]，對這兩種方法所用的驗(yàn)證周期以及功能覆蓋率進(jìn)行對比。采用定向測試方法時(shí)，使用的時(shí)間與功能覆蓋率呈線性關(guān)系。隨著增加定向測試?yán)木帉憯?shù)量，功能覆蓋率穩(wěn)步上升。采用隨機(jī)測試方法時(shí)，由于需要準(zhǔn)備隨機(jī)驗(yàn)證環(huán)境，開始時(shí)會有一段覆蓋率沒有增加的時(shí)間段。當(dāng)隨機(jī)驗(yàn)證環(huán)境準(zhǔn)備完畢，運(yùn)行隨機(jī)測試?yán)?，可以隨機(jī)產(chǎn)生大量激勵(lì)，功能覆蓋率會有大幅增加。當(dāng)覆蓋率增加不明顯時(shí)，分析未覆蓋情況，加緊約束或添加定向測試?yán)?，對未覆蓋的情況進(jìn)行覆蓋，直至功能覆蓋率達(dá)到100%。由圖可以看出，雖然采用隨機(jī)測試的方法會有一段覆蓋率為零的時(shí)間段，但從整個(gè)驗(yàn)證周期來看，隨機(jī)測試方法會比定向測試方法更具優(yōu)勢，尤其是隨著集成電路規(guī)模和復(fù)雜度的增加，這種基于覆蓋率驅(qū)動的受約束隨機(jī)激勵(lì)方法會更符合驗(yàn)證的需要。

2 DUT介紹

圖2中的DUT是由兩個(gè)子模塊構(gòu)成的具有兩級流水的系統(tǒng)模塊[16]，第一級為一個(gè)預(yù)處理器模塊(EXECUTE PREPROCESSOR)，第二級為一個(gè)算術(shù)邏輯運(yùn)算單元(ALU)模塊：

圖2 DUT結(jié)構(gòu)

●預(yù)處理器：對外部輸入的數(shù)據(jù)和控制信號進(jìn)行處理，并產(chǎn)生對應(yīng)的ALU可接受的數(shù)據(jù)和控制信號。

●算數(shù)邏輯運(yùn)算單元：根據(jù)輸入的opselect，operation和shift_number信號執(zhí)行相關(guān)算數(shù)邏輯運(yùn)算。

這兩個(gè)子模塊都可以具有各自獨(dú)立的時(shí)鐘和復(fù)位信號，文中這兩個(gè)子模塊的時(shí)鐘和復(fù)位信號是一致的。

基本功能描述：

●復(fù)位：復(fù)位時(shí)，所有的時(shí)序邏輯輸出都為0，這些信號包括：預(yù)處理輸出信號中的aluin1，aluin2，operation_out，opselect_out，shift_number enable_arith，enable_shift以及ALU輸出的信號aluout，carry。

●預(yù)處理器功能描述：所有時(shí)序邏輯的輸出只有在enable_ex==1的條件下才會發(fā)生變化。

●ALU：所有指令信號只在以下兩個(gè)條件成立之一才有效：enable_arith==1 or enable_shift=1。這些信號均在時(shí)鐘的上升沿處進(jìn)入ALU子模塊，ALU可執(zhí)行移位操作和算數(shù)邏輯運(yùn)算，以及數(shù)據(jù)傳輸。

3 驗(yàn)證架構(gòu)

SystemVerilog平臺如圖3所示。

組件搭建描述[15]：

3.1 Packet類

將數(shù)據(jù)信息封裝進(jìn)入Packet類，利用隨機(jī)化和相關(guān)約束產(chǎn)生隨機(jī)數(shù)據(jù)，創(chuàng)建兩個(gè)packet對象，一個(gè)包在DUT輸入端輸入，另一個(gè)包和DUT輸出的數(shù)據(jù)相參照。

圖3 SystemVerilog平臺

隨機(jī)化的部分代碼：

rand reg[`REGISTER_WIDTH-1:0] src1;

rand reg[`REGISTER_WIDTH-1:0] src2;

rand reg[`REGISTER_WIDTH-1:0] imm;

…………………….

相關(guān)約束的部分代碼：

constraint Limit {

src1 inside{[0∶65534]}

src2 inside{[0∶65534]};

imm inside{[0∶65534]};

mem_data inside{[0∶65534]};

opselect_gen inside {[0∶1],[4∶5]};

3.2 Generate類

封裝了gen()任務(wù)和一個(gè)start()方法，其中start()方法的循環(huán)由系統(tǒng)全局變量number_packets控制。如果number_packets≤0，則這個(gè)循環(huán)是無限的。如果number_packets>0,則這個(gè)循環(huán)在循環(huán)這么多次后會停止。在調(diào)用gen()之后，會創(chuàng)建一個(gè)隨機(jī)化packet對象(pkt2send)的拷貝，并且通過out_box郵箱發(fā)送到Driver。

3.3 Interface

連接驗(yàn)證平臺和DUT的端口。但是在類里面不可直接定義interface，須使用virtual來定義。

3.4 Driver類

其中in_box將會用來從Generator向Driver接收Packet對象。out_box將用來從Driver向Scoreboard發(fā)送Packet對象。in_box和out_box都是pkt_mbox的類型。在Driver中start()方法是在一個(gè)無限的循環(huán)中執(zhí)行的。在這個(gè)循環(huán)的每一次執(zhí)行中，都會從in_box中獲取一個(gè)Packet對象。這個(gè)數(shù)據(jù)包對象的內(nèi)容將會通過send()發(fā)送經(jīng)過DUT。一旦這個(gè)Packet對象的發(fā)送過程完成后，這個(gè)Packet對象會被發(fā)送到scoreboard。

Generator到Driver的mailbox的代碼：

typedef mailbox#(Packet) in_box_type;

in_box_type in_box=new;

Driver到Scoreboard的mailbox的代碼：

typedef mailbox#(Packet) out_box_type;

out_box_type out_box=new;

3.5 Receiver類

調(diào)用recv()來從DUT中重新獲取Packet對象，將從DUT中獲取的Packet對象復(fù)制一份到out_box中去，在receiver中有start()方法，它將會執(zhí)行一個(gè)非阻塞的無限循環(huán)。每次循環(huán)中，都會從DUT中重新構(gòu)建一個(gè)Packet對象。一旦重新獲取后，這個(gè)Packet對象將會通過發(fā)出郵箱(out mailbox)發(fā)送到scoreboard。

Receiver連接到Scoreboard的mailbox的代碼：

typedef mailbox#(Packet) rx_box_type;

rx_box_type rx_out_box;

3.6 Scoreboard類

封裝check()任務(wù)，實(shí)現(xiàn)Scoreboard，Driver和Receiver之間的通信。Driver在發(fā)送數(shù)據(jù)包對象到DUT中時(shí)，也會將它發(fā)送到driver_mbox郵箱。一個(gè)Receiver在從DUT接收到數(shù)據(jù)時(shí)，也會發(fā)送Packet對象到receiver_mbox郵箱中去。

利用driver_mbox.num()和receiver_mbox.num()查看是否有包傳入，如果存在利用get()函數(shù)將從Driver傳入的包放入pkt2send,receiver傳入的包放入pkt2cmp,之后利用check()函數(shù)作比較。在Scoreboard這個(gè)類中還定義了coveragegroup來收集覆蓋率，定義DUT的各個(gè)功能點(diǎn)比如ALU的算術(shù)和移位功能，采用交叉覆蓋率，用sample()采樣，最后用get_coverage()收集覆蓋率。

Scoreboard用來連接Driver的mailbox的代碼：

typedef mailbox#(Packet) out_box_type;

out_box_type driver_mbox;

Scoreboard用來連接Receiver的mailbox的代碼：

typedef mailbox #(OutputPacket) rx_box_type;

rx_box_typereceiver_mbox;

覆蓋率功能點(diǎn)定義部分代碼：

covergroup Arith_Cov_Ver2;

coverpoint pkt_sent.imm;

src1_cov:coverpoint pkt_sent.src1 ;

……………………………………

opselect_cov2:coverpoint pkt_sent.opselect_gen {

bins shift={0};

bins arith={1};

bins mem={[4∶5]};

}

…………………………………

cross src1_cov, src2_cov;

endgroup

covergroup的例化與采樣：

Arith_Cov_Ver1=new();

……………………………………

Arith_Cov_Ver1.sample();

……………………………………

覆蓋率的收集：

coverage_value1=Arith_Cov_Ver1.get_coverage();

………………………………………….

3.7 Test類

聲明并例化各組件，正確連接郵箱，調(diào)用每個(gè)類的start()方法，設(shè)置reset()任務(wù)。

部分代碼：

組件的聲明：

Driver drv;

………………………

組件的例化：

drv=new();

………………………..

組件的啟動：

drv.start();

………………………..

3.8 Top模塊

聲明接口，實(shí)現(xiàn)DUT和平臺互連，設(shè)置時(shí)鐘信號。

部分代碼：

平臺互連：

Top dut(.clock(top_if.clock)，.enable_ex(top_if.enable_ex),………………………);

設(shè)置時(shí)鐘信號：

#(simulation_cycle/2)

Clock = ～Clock;

4 仿真結(jié)果

編寫完SystemVerilog代碼后開始進(jìn)行平臺驗(yàn)證，主要采用questamsim軟件進(jìn)行仿真驗(yàn)證，使用命令啟動平臺、生成打印信息報(bào)告以及收集覆蓋率報(bào)告。

根據(jù)輸出的波形圖和生成的驗(yàn)證報(bào)告來比較DUT功能的正確與否，并查看輸出的功能覆蓋率報(bào)告來檢查各功能點(diǎn)的實(shí)現(xiàn)狀況。

圖4 信息打印

由圖4可以發(fā)現(xiàn)DUT的輸出和模型的輸出是一致的，DUT的設(shè)計(jì)滿足功能實(shí)現(xiàn)，圖4還打印出各個(gè)功能點(diǎn)的覆蓋率狀況以便于分析如何添加測試用例來使功能覆蓋率達(dá)到100%。

波形圖中定位處由隨機(jī)輸入的信號來看實(shí)現(xiàn)的是算數(shù)邏輯，即將aluin2的低十六位賦值給aluout的高十六位，并將aluout的低十六位置零。由圖中aluin2為32’h00003a1e,aluout為32’h00000000可得運(yùn)算是正確的，且各使能信號也正確無誤。

圖5 DUT部分波形(1)

圖5檢測了DUT的算數(shù)邏輯，只是DUT其中一個(gè)功能點(diǎn)。圖6列出了DUT基于隨機(jī)激勵(lì)測試的所有功能點(diǎn)實(shí)現(xiàn)的波形圖，查看整體波形，檢查每個(gè)功能點(diǎn)實(shí)現(xiàn)的具體情況，可以發(fā)現(xiàn)DUT的設(shè)計(jì)是沒問題的。

圖6 DUT部分波形(2)

圖7描述了此DUT的功能覆蓋率，可見覆蓋率還未達(dá)到100%，尤其是算數(shù)和移位運(yùn)算單元比較低，因此可以修改約束條件增加測試用例來使功能覆蓋率提高，從而保證驗(yàn)證的完備性。

圖7 功能覆蓋率(1)

由圖8可知，通過增加測試用例以及修改相關(guān)約束條件，可以發(fā)現(xiàn)覆蓋率有了明顯的提高，所有的覆蓋率都達(dá)到了100%，說明該測試點(diǎn)已經(jīng)得到了充分的驗(yàn)證。由此可見，增加定向測試激勵(lì)配合隨機(jī)激勵(lì)可以大幅提高功能覆蓋率，由圖8可見所有的測試點(diǎn)的覆蓋率都達(dá)到了100%。因此可得，基于SV語言的優(yōu)點(diǎn)，可以減少驗(yàn)證時(shí)間并提高驗(yàn)證效率。

圖8 功能覆蓋率(2)

5 結(jié)束語

定向測試每次只能測試一個(gè)特性，而無法模擬設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中所面對的復(fù)雜的激勵(lì)和配置，為了得到穩(wěn)健的設(shè)計(jì)，使用受約束的隨機(jī)激勵(lì)加上功能覆蓋率，才能在最大限度內(nèi)創(chuàng)建出最廣泛的激勵(lì)。文中演示了如何使用SV語言面向?qū)ο缶幊痰姆椒ń⒁粋€(gè)由覆蓋率驅(qū)動并且受約束的隨機(jī)分層測試平臺。基于SV的驗(yàn)證，充分利用了SV語言中提供的隨機(jī)約束和斷言機(jī)制，改變了傳統(tǒng)的直接測試的方法，基于覆蓋率驅(qū)動的驗(yàn)證極大提高了驗(yàn)證的效率和完備性，有效縮短了驗(yàn)證周期。