張恩厚
(華東冶金地質(zhì)勘查局物探隊(duì), 安徽蕪湖 241004)
20世紀(jì)50~70年代修筑的許多中小型水庫(kù)大壩為土質(zhì)大壩,修筑時(shí)經(jīng)過(guò)拋填、碾壓等方法構(gòu)筑成水庫(kù)大壩,鑒于當(dāng)時(shí)生產(chǎn)技術(shù)水平,許多壩體修筑還夾帶人力夯實(shí),因此造成壩體壓填不均,局部地區(qū)形成薄弱地帶,在水壓長(zhǎng)期作用下,壩體內(nèi)毛細(xì)滲透逐漸增多,壩體內(nèi)薄弱地帶逐漸變成含水豐富的浸潤(rùn)體,年長(zhǎng)日久,在庫(kù)水不斷壓沖作用下,浸潤(rùn)體部位逐漸變得松軟,豐水期往往發(fā)生坍塌、管涌等現(xiàn)象,對(duì)大壩安全造成嚴(yán)重危害。浸潤(rùn)體含水越多,其電阻率越低,根據(jù)這種特征,利用物探方法對(duì)大壩進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),對(duì)大壩內(nèi)含水豐富的松軟部位進(jìn)行探測(cè)定位,為后期鉆探注漿填實(shí),清除不良隱患體提供依據(jù)。本文通過(guò)對(duì)某水庫(kù)大壩內(nèi)不良隱患體的物探工作,介紹高密度電阻率法探測(cè)技術(shù)方法,說(shuō)明使用這種方法在探測(cè)大壩內(nèi)不良隱患體的有效性。
某水庫(kù)大壩修建于五十年代末期,建在原有崗地、河槽及山間洼地上,壩基地層分為7層,自上而下分別為:①層,淤泥質(zhì)重粉質(zhì)壤土;②層,重、中粉質(zhì)壤土,粉質(zhì)粘土;③層,淤泥質(zhì)重粉質(zhì)壤土夾細(xì)砂,局部夾砂壤土;④層,重粉質(zhì)壤土,粉質(zhì)粘土;⑤層,重粉質(zhì)壤土夾中細(xì)砂,細(xì)砂,重粉質(zhì)壤土夾礫石,泥礫石夾砂礫石;⑥層,強(qiáng)—中風(fēng)化等閃長(zhǎng)玢巖;⑦層,強(qiáng)—中風(fēng)化灰?guī)r。大壩上部主要為土質(zhì)結(jié)構(gòu),下部夾砂、礫石,基底為巖石,在修筑時(shí),土、石經(jīng)過(guò)層層碾壓,構(gòu)筑成壩,有效攔截水體。
大壩壩頂高程33m,正常蓄水位29m。壩體為土質(zhì)結(jié)構(gòu),隨著長(zhǎng)期水壓和庫(kù)水浸潤(rùn)作用下,壩體內(nèi)出現(xiàn)滲流,在壩坡前腳處出現(xiàn)滲水現(xiàn)象,尤其在豐水期,滲水更為明顯,對(duì)大壩的穩(wěn)固構(gòu)成威脅,為此需要通過(guò)物探方法確定壩體隱患部位。
高密度電阻率法是垂向直流測(cè)深和電測(cè)剖面探測(cè)相結(jié)合的一種方法。垂向直流測(cè)深是以測(cè)點(diǎn)為中心,逐漸改變供電和接受極距,在垂向方向上測(cè)量視電阻率。電測(cè)剖面探測(cè)是供電和接受極距不變,在水平方向上逐點(diǎn)測(cè)量視電阻率。壤土電阻率一般在10~30Ω·m,含水量越高,電阻率越低,當(dāng)壤土中夾雜礫石時(shí),其電阻率相應(yīng)增高,一般大于30Ω·m。因此當(dāng)大壩中出現(xiàn)含水豐富的浸潤(rùn)體時(shí),其電阻率很低,通常小于10Ω·m,形成明顯低阻異常。大壩電阻率隨含水量變化而變特征,為使用高密度電阻率法探測(cè)大壩中含水豐富的浸潤(rùn)體提供物理前提,進(jìn)而根據(jù)物探異常圈定壩體隱患部位。
根據(jù)水庫(kù)歷史資料,水庫(kù)滲水區(qū)域都集中于大壩中間區(qū)段,即圖1中測(cè)線布置區(qū)段,因此在壩頂、背水坡、坡腳分別布置L1、L2、L3三條平行測(cè)線,每條測(cè)線長(zhǎng)300m,平行于大壩走向(圖1),測(cè)線100m處大壩橫斷面圖見(jiàn)圖2,L3剖面高程32.4m,L2剖面高程27.4m,L1剖面高程21.2m。
圖1 測(cè)線布置圖及推測(cè)隱患區(qū)分布圖Figure 1.Survey line layout and inferred distribution of hidden troubles
高密度電阻率探測(cè)系統(tǒng)通過(guò)控制系統(tǒng)采集測(cè)量電極之間的電壓和電流,系統(tǒng)計(jì)算視電阻率,經(jīng)過(guò)反演處理,形成電阻率反演斷面圖。使用儀器為重慶地質(zhì)儀器廠生產(chǎn)的DUK-2A高密度電法系統(tǒng),一次布置60根電極,采用施倫貝爾測(cè)深法采集數(shù)據(jù),最大隔離層數(shù)為16,其中L3剖面相鄰電極間距為2m,L1、L2剖面相鄰電極間距為3m。為保證采集數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,穩(wěn)定,進(jìn)行了儀器系統(tǒng)檢查和接地電阻測(cè)量,正確無(wú)誤后,開(kāi)展數(shù)據(jù)采集,對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯,剔除畸變數(shù)據(jù),最后通過(guò)軟件進(jìn)行迭代反演,生成電阻率反演斷面圖,依據(jù)反演斷面圖推斷解釋。
圖3 L1、L2、L3剖面ρs反演斷面圖Figure 3.ρs inversion sections of L1,L2 and L3 profiles
圖2 水庫(kù)大壩橫斷面圖Figure 2.Cross-section of the reservoir dam
對(duì)L1、L2、L3三條剖面ρs異常分別進(jìn)行反演,形成電阻率異常反演斷面圖,見(jiàn)圖3。從位于壩頂L3剖面ρs反演斷面圖看出,壩頂高程32.5m至高程29m之間3.5m范圍內(nèi),該區(qū)間壩體表現(xiàn)為相對(duì)高電阻率異常區(qū),這是由于該段處于壩體上部,處于庫(kù)區(qū)水面高程之上,很少受水庫(kù)水的浸潤(rùn),所以該段壩體呈高電阻率異常區(qū)。高程29m至高程22m之間7m范圍內(nèi),該區(qū)間壩體表現(xiàn)為相對(duì)低電阻率異常區(qū),其中在高程25m處附近壩體電阻率異常值最低,推測(cè)該段壩體為人工填埋的土質(zhì)體,土質(zhì)主要為壤土,受到水庫(kù)水的長(zhǎng)期浸潤(rùn)作用,所以該段壩體呈低電阻率異常區(qū)。在高程22m以下為大壩下部,表現(xiàn)為相對(duì)高電阻率異常區(qū),這是由于該段壩體中含礫石較多或?yàn)榛鶐r巖石,因此表現(xiàn)為高阻異常。L2、L1剖面電阻率異常分布特征和L3剖面相似,總體上,大壩上部為壤土,加之庫(kù)水長(zhǎng)期浸潤(rùn),因此在大壩上部表現(xiàn)為低阻異常,大壩下部由于含礫石較多或?yàn)榛讕r石,因此大壩下部表現(xiàn)為高阻異常。
在L1、L2、L3三條剖面0m~65m區(qū)段上,壩體下部總體表現(xiàn)為高阻異常區(qū),該段壩體中填石較多,因而造成高阻異常,每條剖面中高阻異常中出現(xiàn)明顯縱向低阻異常區(qū),低阻異常區(qū)分別為:在L3剖上以16Ω·m圈定的低阻異常區(qū)位于34.5m~40.2m區(qū)段上,其頂部高程為22.7m,低阻異常沒(méi)有閉合,向地下繼續(xù)延伸;在L2剖上以12Ω·m圈定的低阻異常區(qū)位于31.6m~39.3m區(qū)段上,低阻異常閉合,其上下頂端高程分別為21.8m、12.9m;在L1剖上以4Ω·m圈定的低阻異常區(qū)位于35.8m~44.9m區(qū)段上,低阻異常閉合,其上下端高程分別為19.7m、10m,三個(gè)低阻異常夾于高阻異常中,在縱方向上呈狹長(zhǎng)帶狀,異常形態(tài)相似,異常值很低,三者投影到平面圖上連接構(gòu)成一條低阻異常帶,見(jiàn)圖1,推測(cè)低阻異常帶為壩體中被水充分浸潤(rùn)形成的滲漏通道,是壩坡前腳處滲水主要原因,為大壩隱患區(qū)域。
土質(zhì)水壩長(zhǎng)期受到庫(kù)水浸潤(rùn),在薄弱區(qū)段形成含水豐富的浸潤(rùn)體,容易發(fā)生滲漏、管涌現(xiàn)象,嚴(yán)重影響水庫(kù)大壩安全,構(gòu)成大壩主要隱患。含水豐富的浸潤(rùn)體含水量高,其電阻率比周圍壩體電阻率低很多,形成明顯的低阻異常,根據(jù)大壩低阻異常分布特征,可以推測(cè)滲漏通道位置。利用大壩中浸潤(rùn)體含水量越多,其電阻率越低特征,可以使用高密度電阻率法探測(cè)大壩中低阻異常區(qū)段,高密度電阻率法具有垂向直流測(cè)深和電測(cè)剖面探測(cè)相結(jié)合優(yōu)點(diǎn),采集數(shù)據(jù)快,探測(cè)精度高,反演速度快,及時(shí)顯示反演圖像,現(xiàn)場(chǎng)確定低阻異常區(qū),利用多條測(cè)線探測(cè),結(jié)合現(xiàn)場(chǎng)情況,勾繪低阻異常帶,推測(cè)壩體易滲漏區(qū),確定了大壩隱患區(qū)域,為后期大壩注漿治理隱患區(qū)提供依據(jù)。