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      X 射線熒光光譜法測定中、酸性巖礦石中銣鈮鉭鎢錫

      2019-09-12 08:17:32
      中國金屬通報(bào) 2019年8期
      關(guān)鍵詞:脫模劑熔劑標(biāo)樣

      周 洪

      (湘南地質(zhì)勘查院,湖南 郴州 423000)

      地球地殼組成85%以上都是硅酸鹽,硅酸鹽中由于硅氧四面體以不同的方式結(jié)合,形成了種類繁多的硅酸鹽類礦物。硅酸鹽巖石中二氧化硅的含量含量為52%~65%被稱為中性巖,主要巖石有閃長巖、閃長斑巖、安山巖等;二氧化硅的含量含量大于65%的被稱為酸性巖,主要巖石有花崗巖、流紋巖、石英斑巖等[1]。我國南嶺地區(qū)是最有代表性的鎢錫鈮鉭銣成礦區(qū)之一,對(duì)該地區(qū)各類多金屬礦床地球化學(xué)及成礦機(jī)理的研究表明[2-4],鎢錫鈮鉭銣在云英巖、堿長花崗巖、偉晶巖、粗安巖等中、酸性巖石中均有一定分布。根據(jù)文獻(xiàn)[5],我室主要采用的分析方法是火焰原子吸收光譜法測銣、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測鈮和鉭、可見分光光度法測鎢、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測錫。實(shí)際工作中發(fā)現(xiàn)上述方法存在樣品前處理流程繁瑣、鹽分和基體不利于穩(wěn)定測試的弊端;相比之下,X射線熒光光譜法有樣品前處理相對(duì)簡單、多元素主次含量同時(shí)測定、精密度高等突出優(yōu)勢。利用X射線熒光光譜法分別測定銣、鈮鉭、鎢錫已經(jīng)非常普遍[6-8],但尚未見對(duì)地質(zhì)勘查類樣品中這五種元素進(jìn)行同時(shí)測定的報(bào)道。本文主要采用樣品熔融法,對(duì)X射線熒光光譜法測定中、酸性巖礦石中銣鈮鉭鎢錫進(jìn)行了方法的實(shí)驗(yàn)。

      1 實(shí)驗(yàn)部分

      1.1 儀器與試劑

      荷蘭帕納科Axios max X射線熒光光譜儀,配套鈹端窗、銠靶X射線管和SuperQ軟件、監(jiān)控樣Ausmon;

      成都貴恒科技高頻自動(dòng)熔樣爐,配套鉑-黃金熔樣坩堝及成型模具。

      LiBr水溶液:40g/100mL的;NH4NO3水溶液:100g/100mL;混合熔劑:無水四硼酸鋰與偏硼酸鋰配比為67:33;

      國家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì):鉭礦石GBW07155,鎢礦石GBW07241,鎢 鉍 礦 石GBW07284,花 崗 巖 石GBW07103,安山巖GBW07104,石英砂巖GBW07106,水系沉積物GBW07375~GBW07386、GBW07311、GBW07318、GBW07363、GBW07366、GBW07302a, 土 壤 GBW07404~GBW07407、GBW07430。

      1.2 樣品制備

      準(zhǔn)確稱取105℃干燥的待測樣品0.6000g±0.0002g,混合熔劑6.0000g±0.0002g,置于50ml內(nèi)壁光滑的瓷坩堝中,用塑料細(xì)棒攪拌均勻,轉(zhuǎn)移至鉑黃金坩堝中,使用移液槍依次加入LiBr水溶液0.450g±0.005g、NH4NO3水溶液0.130g±0.005g,放置于高頻熔樣爐熔樣位,按表1所示程序進(jìn)行熔樣。手動(dòng)澆注結(jié)束后,待熔片與成型模具脫離并充分冷卻,倒出熔片,熔片與模具光潔面接觸面為樣品待測面,其背面貼標(biāo)簽,轉(zhuǎn)移至干燥器內(nèi)保存待測,注意不能污染和損傷待測面。標(biāo)準(zhǔn)樣品根據(jù)需要按一定比例精確稱樣后同上步驟,每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品制備平行兩份熔片:一份參與建立工作曲線,另一份則作為待測樣品,以檢驗(yàn)工作曲線的準(zhǔn)確性和樣品制備的穩(wěn)定性。

      表1 熔融制樣的程序設(shè)定

      1.3 主要待測元素的測定條件及標(biāo)樣含量范圍

      所有待測物的測定條件中,分光晶體:鈉鎂選擇PX 1、硅鋁選擇PE 002,其余都選擇LiF 200;探測器:硅鋁鈣鎂鉀鈉鈦錳選擇Flow,其余都選擇Scint;過濾片:硅鋁鈣鎂鉀鈉鈦錳硫不使用過濾片,錫選擇Brass(400μm),Br和鉬選擇Al(750μm),其余都選擇Al(200μm)。如表2所示,在選擇好譜線參數(shù)后,利用儀器自帶監(jiān)控樣Ausmon對(duì)各元素通道進(jìn)行2θ角度掃描,可校正待測元素譜線對(duì)應(yīng)角度;背景點(diǎn)設(shè)置在不含譜線區(qū)域或低豐度元素譜線處;譜線重疊的情況可以大致指出待測物的光譜干擾項(xiàng):W的干擾元素有Cu、Ni、Sn,而As和Pb對(duì)Sn有干擾,Nb會(huì)受到Y(jié)的干擾,W、Nb對(duì)Ta又形成干擾。另外硅鈣鋁鐵鈦?zhàn)鳛樵嚇又饕煞旨盎w、Rh作為康普頓散射線內(nèi)標(biāo)元素,需一并測量。根據(jù)所選的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的推薦值,在表2中列出了各分析目標(biāo)物的標(biāo)樣含量范圍。

      表2 分析物測試條件、標(biāo)樣含量范圍及檢出限

      2 結(jié)果與討論

      2.1 樣品制備階段的條件

      經(jīng)過一定試驗(yàn)表明,本文采用的混合熔劑適用于大部分硅酸鹽巖礦樣品,僅發(fā)現(xiàn)在熔融高純度硅石時(shí)容易出現(xiàn)極小部分樣品無法完全溶解,容易開裂;而其它類型樣品均無明顯異常情況。采用1:10的樣品熔劑比,可以制得高質(zhì)量的熔片,相比低稀釋比熔片有基體更簡單、升溫熔融過程中樣品飛濺機(jī)率更小、自吸收效應(yīng)小等優(yōu)點(diǎn),更容易獲得較寬測量范圍的工作曲線。

      樣品從400℃開始升溫樣品與溶劑逐漸熔化,升溫過程保持2min~3min左右可助于樣品的氧化和分解;熔融過程保持不超1050℃以減少熔劑和樣品的損失;碳質(zhì)或硫化物等還原性物質(zhì)含量較高的樣品必須經(jīng)過灼燒氧化處理,才能進(jìn)行熔片操作,否則會(huì)對(duì)鉑黃金坩堝造成損傷;樣品與熔劑的熔體在機(jī)械轉(zhuǎn)擺過程中能較快達(dá)到均勻。對(duì)于中、酸性硅酸鹽,考慮到樣品的礦化程度,熔融態(tài)總時(shí)長控制在8min左右。

      脫模劑LiBr的適量加入將有助于熔片冷卻后從模具剝離,并避免澆注過程中樣品熔體在坩堝上附著殘留,減少坩堝的清洗次數(shù)、縮短間隙時(shí)間,提高樣品前處理效率。LiBr在樣品熔融過程中的揮發(fā)性隨樣品和熔劑的組成而變,更與熔樣溫度有關(guān)。熔樣結(jié)束后,殘留的LiBr中一部分均勻分布在熔片中,另一部分則在熔片表面以一層薄膜形式存在,這層膜的作用就如對(duì)X射線加了一個(gè)有效但不利于樣品測定的濾光片[9]。而氧化劑NH4NO3雖然全部分解溢出,但會(huì)加劇脫模劑的分解和損失。本文的熔片環(huán)節(jié)在固定熔樣程序條件的同時(shí),通過將LiBr與NH4NO3水溶液以移液槍定量加入的方式,精確控制了脫模劑和氧化劑的用量,有效地將脫模劑在熔片中的殘留控制在一定范圍內(nèi),最終測得標(biāo)樣和樣品中溴元素的X熒光計(jì)數(shù)率在290kcps~330kcps。

      2.2 工作曲線

      將各標(biāo)準(zhǔn)樣片在真空條件下進(jìn)行測定,運(yùn)用理論α系數(shù)和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)相結(jié)合,校正相應(yīng)譜線重疊干擾和基體效應(yīng),并使用Rh-KAC散射線內(nèi)標(biāo)法進(jìn)一步校正后,獲得了線性較好的初始工作曲線,再對(duì)各曲線中低濃度處密集點(diǎn)進(jìn)行手動(dòng)篩選,剔除與背景強(qiáng)度接近的標(biāo)樣點(diǎn),重新回歸計(jì)算,得到銣鈮鉭鎢錫校準(zhǔn)工作曲線。各工作曲線方程式及相關(guān)參數(shù)如表3所示,均方根偏差和品質(zhì)因子均小于0.01%,說明校準(zhǔn)曲線離散度較小、線性良好,校正結(jié)果較佳。

      表3 校準(zhǔn)參數(shù)

      2.3 檢出限

      2.4 精密度和準(zhǔn)確度

      以G B W 0 7 1 5 5+G B W 0 7 2 4 1+G B W 0 7 2 8 4+G BW07379(3:1.5:0.5:1)的混合標(biāo)樣HB-14為例,將平行熔片的第二份B28所測定值與混標(biāo)樣計(jì)算值對(duì)比;取某礦區(qū)試樣TTS18-749平行制得熔片S01、S02,取TTS18-138和TTS18-162制得熔片S03和S04,與標(biāo)準(zhǔn)方法結(jié)果做比對(duì)。

      另取某礦石19-748與純石英粉按2:4和1:5比例分別制得熔片S05、S06。測得結(jié)果換算后與對(duì)比值如表4所示,從中可以看出,B28測定值與理論計(jì)算結(jié)果吻合,S01與S02平行雙份結(jié)果良好,S03、S04除WO3外與標(biāo)準(zhǔn)方法結(jié)果吻合,S05與S06結(jié)果呈2:1比列關(guān)系。所以無論是標(biāo)樣反測、平行樣對(duì)比,還是方法對(duì)比、樣品稀釋,均能證明本方法滿足一定類型樣品的測試需求。

      表4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)比

      3 結(jié)語

      X射線熒光光譜法非常依賴標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和工作曲線,本文選擇中、酸性巖作為分析對(duì)象,充分利用與樣品巖性接近的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),樣品采用熔融制樣的方法,通過控制脫模劑和氧化劑用量,依靠儀器強(qiáng)大的SuperQ軟件校準(zhǔn)工作曲線,快速完成了方法的建立;鎢礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GBW07241、GBW07284和鉭礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GBW07155的引入,拓寬了待測物的測定范圍。

      對(duì)于含量超出工作曲線范圍的同類樣品,可嘗試?yán)眉兪⒎墼龃笙♂尡葋頊y定加以驗(yàn)證。而超基性巖、硫化礦樣品或其它基體明顯的樣品,則不適用于本方法。

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