張珂 蔣慶磊
摘 ?要:在進行微米級測量時,納米三坐標機常用的接觸式探頭會損傷軟的或脆的待測品。該文研制了一種用藍光DVD讀取頭作為傳感器的非接觸式觸發(fā)探頭。該探頭的測量原理是當待測樣品位于探頭聚焦面時,聚焦誤差信號返回值為零。將該探頭安裝于三維納米平臺上實驗,結果顯示觸發(fā)分辨率達1nm,標準差約12nm。
關鍵詞:藍光DVD讀取頭 ?非接觸式觸發(fā)探頭 ?納米三坐標
中圖分類號:TH721 ? 文獻標識碼:A ? ? ? ? ? ?文章編號:1672-3791(2019)05(a)-0069-02
隨著產(chǎn)品微型化的發(fā)展,對產(chǎn)品質量的要求隨著制造工藝的發(fā)展而提高。由于待測表面和坐標測量技術并不真正適用于微結構的測量,因此產(chǎn)生了嚴重的測量問題。在過去的十幾年中,一些具有納米分辨率的中、微尺度零件的微米或納米坐標測量機已經(jīng)被開發(fā)出來,它們采用的是接觸式探頭。接觸探頭雖然具有環(huán)境影響小、測量角度大等優(yōu)點,但也存在著難以克服的缺點,如工件損壞、探頭磨損、接觸力大、無法測量小空腔等問題。
針對微米/納米三坐標機,也有很多非接觸式探頭系統(tǒng)被研發(fā)出來了,比如基于聚焦傳感器的、共焦、光纖探測器陣列等。然而,基于聚焦的探頭通常采用紅光激光二極管,難以提高測量精度;基于電容傳感器的探頭僅適用于電子試樣;基于光纖陣列的探頭無法達到納米級精度。該文提出了一種基于藍光DVD讀取頭的微米/納米坐標測量機非接觸式觸發(fā)探頭,并介紹其設計原理、結構和實驗數(shù)據(jù)分析。實驗結果顯示了該探頭非接觸觸發(fā)測量的能力。
1 ?探頭結構
該非接觸式觸發(fā)探頭由聚焦傳感器和用于保持和調整傳感器的機械結構組成。
1.1 聚焦傳感器
該探頭的探測系統(tǒng)采用的聚焦傳感器由拆除三洋(BD410)DVD讀取頭的音圈馬達改裝的(見圖1)。激光二極管發(fā)出的激光通過光柵衍射后,通過分光鏡和1/4波片、準直透鏡和聚焦透鏡,最后聚焦到光盤表面。反射光束再經(jīng)過準直透鏡、1/4玻片和分光鏡后,通過柱面透鏡投射到四象限探測器上。如果被測表面離焦點較近或較遠,則光敏二極管上的光束圖像在不同方向上會變成橢圓形狀。當被測表面處于焦點時,圖像變?yōu)閳A形,根據(jù)4個象限的光斑分布,可以獲得聚焦誤差信號(FES)。經(jīng)過校正后,F(xiàn)ES曲線可以描述出光盤表面輪廓。
1.2 探頭結構
為了減少非接觸式觸發(fā)探頭的尺寸,用直角棱鏡使激光光束轉90°用細長管固定聚焦透鏡。圖2是安裝在納米三坐標機上的非接觸式觸發(fā)探頭機械結構示意圖。該非接觸式觸發(fā)探頭可由柔性機構內(nèi)的4顆螺釘調節(jié)從而使聚焦透鏡光軸垂直于反射面。
2 ?實驗設備和結果
實驗裝置包括運動平臺、探頭和試驗件組成。由Physik生產(chǎn)的重復性為2nm的納米平臺被用作運動平臺和位移傳感器,鏡子作為試驗件。FES曲線信號由D/A轉換器(NI DAQ卡)傳遞到個人計算機。實驗重復進行了6次,其聚焦誤差信號(FES)曲線如圖3所示。從圖3可以看出FES曲線在1~3μm之間的位置線性度高,相應的電壓差是8V,擬合直線的斜率為0.25nm/mV。我們收集了該探頭的聚焦誤差信號(FES)在2h內(nèi)噪聲數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn),2h內(nèi),噪聲小于4mV。因此,我們可以估計該非接觸式觸發(fā)探頭的分辨率小于1nm。若將FES為零時的位置設為探頭觸發(fā)點,由表1列出的6次觸發(fā)數(shù)據(jù)我們能得到:探頭的觸發(fā)標準偏差小于12nm,該數(shù)據(jù)驗證了該探頭的高重復性。
3 ?結語
該文研究了一種基于商用藍光DVD讀取頭的非接觸觸發(fā)探頭,并設計制造了其聚焦傳感器和機械結構。藍光激光具有比紅光更短的FES距離,從而能獲得更好的分辨率。實驗結果表明,該非接觸式觸發(fā)探頭的分辨率為1nm,標準偏差為12nm。該非接觸式觸發(fā)探頭可用于微/納米三坐標測量儀上,用來測量硬、軟材料。此外,這種零觸發(fā)式傳感器可以測量任何由MEMS工藝制成的材料或復合材料。
參考文獻
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