超低盲區(qū)時(shí)域反射以太網(wǎng)電纜測(cè)試儀設(shè)計(jì)

陳 玉， 劉永泰， 馮紅銀萍

(1. 山西大學(xué) 商務(wù)學(xué)院信息中心， 太原 030031； 2. 山西大學(xué) 數(shù)學(xué)科學(xué)學(xué)院， 太原 030006)

0 引 言

在網(wǎng)絡(luò)維護(hù)中，網(wǎng)線測(cè)試是其中重要一環(huán)，簡(jiǎn)易網(wǎng)線測(cè)試儀在復(fù)雜布線環(huán)境檢測(cè)中效率低下、不夠直觀和準(zhǔn)確；而時(shí)域反射(Time Domain reflection, TDR)網(wǎng)線測(cè)試儀能夠及時(shí)、準(zhǔn)確地定位故障點(diǎn)；工程中常用商業(yè)化高分辨率網(wǎng)線測(cè)試儀由于價(jià)格高等因素，致使其使用普及率相對(duì)較低，為此開發(fā)較低成本的高分辨率網(wǎng)線測(cè)試儀就顯得較為重要；近年，國(guó)內(nèi)外在高分辨率網(wǎng)線測(cè)試儀研究方面很少有公開、完整、有實(shí)用價(jià)值的參考資料，而一些可參考的文獻(xiàn)技術(shù)資料[1-2]又存在研究相對(duì)不完善的地方；面對(duì)上述問題，從測(cè)試完整性、高分辨率和低成本需求出發(fā)，在實(shí)驗(yàn)改進(jìn)的基礎(chǔ)上開發(fā)設(shè)計(jì)了超低盲區(qū)TDR網(wǎng)線測(cè)試儀，該測(cè)試儀可對(duì)網(wǎng)線的開路和短路故障進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量判斷，其分辨率與國(guó)外品牌高分辨率網(wǎng)線測(cè)線儀相當(dāng)。

1 理論依據(jù)

1.1 電纜TDR測(cè)量法

電纜TDR測(cè)量法主要有脈沖法和階躍法2種技術(shù)方案。

1.1.1脈沖法

脈沖法是在被測(cè)電纜始端發(fā)射一定幅度和寬度的脈沖，通過單獨(dú)判斷發(fā)射脈沖和反射脈沖的時(shí)間差來確定被測(cè)電纜的長(zhǎng)度[3]：

L=0.5v×Δt

(1)

式中：L為被測(cè)電纜長(zhǎng)度；v為脈沖信號(hào)在電纜中的傳播速度，由于脈沖信號(hào)傳播時(shí)受傳輸介質(zhì)影響，所以脈沖信號(hào)一般在銅纜中的傳播速度約為0.66～0.85倍光速；Δt為發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間差。

受脈沖寬度的影響，被測(cè)電纜較短時(shí)，會(huì)產(chǎn)生發(fā)射脈沖和反射脈沖的重疊，不能單獨(dú)區(qū)分發(fā)射、反射脈沖，從而形成測(cè)量盲區(qū)，脈沖越寬盲區(qū)越大。

結(jié)合實(shí)際測(cè)試，假如網(wǎng)線測(cè)試儀要求最小測(cè)量0.1 m長(zhǎng)網(wǎng)線，那么測(cè)試脈沖寬度必須保證在1 ns以下，如此窄的脈沖在實(shí)際中不僅難以實(shí)現(xiàn)，而且會(huì)帶來很多其他難題，比如器件成本和電路設(shè)計(jì)難度的提升，即使最終實(shí)現(xiàn)了1 ns的脈沖，由于1 ns脈沖攜帶相當(dāng)高的頻率成分，在測(cè)試較長(zhǎng)網(wǎng)線時(shí)又會(huì)引起脈沖的嚴(yán)重畸變，測(cè)試精度最后還是大打折扣，上述各種問題說明脈沖法并不適合低成本網(wǎng)線測(cè)試儀的設(shè)計(jì)要求。

1.1.2階躍法

階躍法的提出是為了解決脈沖法的不足，階躍法主要是通過判斷發(fā)射信號(hào)和反射信號(hào)疊加后二者信號(hào)電壓特點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的，與脈沖法相比階躍法有如下優(yōu)點(diǎn)[4]：① 由于通過依次比較測(cè)量疊加后發(fā)射、反射信號(hào)來確定被測(cè)電纜長(zhǎng)度，所以理論上不存在測(cè)量盲區(qū)；② 階躍信號(hào)持續(xù)性特點(diǎn)使得反射信號(hào)相對(duì)畸變要小得多，而且階躍信號(hào)具有良好的平坦度。階躍法缺點(diǎn)是功耗大，不便于多次測(cè)量。

1.2 網(wǎng)線測(cè)試儀設(shè)計(jì)原理

綜合階躍法和脈沖法各自特點(diǎn)，網(wǎng)線測(cè)試儀使用階躍脈沖法進(jìn)行設(shè)計(jì)，有文獻(xiàn)也稱之為寬脈沖法，即向被測(cè)網(wǎng)線注入一定寬度階躍脈沖進(jìn)行測(cè)試，由于設(shè)計(jì)網(wǎng)線測(cè)試儀所測(cè)網(wǎng)線最大長(zhǎng)度為150 m，據(jù)式(1)階躍脈沖大于1.5 μs即可，但是為了反射脈沖相對(duì)陡峭的上升沿和平坦度，設(shè)計(jì)中使用了15 μs的階躍脈沖。下面主要針對(duì)網(wǎng)線測(cè)試儀開路和短路測(cè)試設(shè)計(jì)原理進(jìn)行說明。

1.2.1寬脈沖法開路測(cè)試設(shè)計(jì)原理

測(cè)量中將網(wǎng)線中的每一對(duì)雙絞線近似看作均勻無(wú)損傳輸線，那么其特性阻抗就可看作實(shí)數(shù)阻抗，據(jù)此，已知阻抗等于網(wǎng)線阻抗(100 Ω)的信號(hào)源向被測(cè)網(wǎng)線注入一定寬度(15 μs)和幅度(3.3 V)的階躍脈沖，具體電路如圖1所示。網(wǎng)線終端開路時(shí)測(cè)試?yán)硐氩ㄐ稳鐖D2所示，圖2中縱坐標(biāo)值Us表示信號(hào)源不接負(fù)責(zé)時(shí)的脈沖幅度(圖3、圖5同此)，根據(jù)TDR原理，圖中發(fā)射、反射脈沖互相疊加，相應(yīng)測(cè)試電路(圖1)中分別用參考電壓Ur1及Ur2比較發(fā)射脈沖和反射脈沖的前沿[5]，即發(fā)射、反射脈沖分別送入圖1中的高速比較器C1和C2，最后通過計(jì)算兩路高速比較器輸出時(shí)間差Δt并依據(jù)式(1)即可確定開路距離。圖2中由于器件本身的物理延遲，所以發(fā)射脈沖起始時(shí)間點(diǎn)t1不可能為零。

圖1 開路測(cè)試高速比較單元電路圖

圖2 開路測(cè)試發(fā)射和反射脈沖疊加圖

圖1中固定電壓的取值需要根據(jù)具體測(cè)試條件做一定的微調(diào)，從而保證測(cè)試結(jié)果精度上的“勻稱”性，高速比較器C1、C2使用3.5～7 ns范圍內(nèi)的軌到軌比較器即可，如常用的AD8561、TLV3501等型號(hào)。

1.2.2寬脈沖法短路測(cè)試設(shè)計(jì)原理

同開路測(cè)試設(shè)計(jì)原理，已知阻抗等于網(wǎng)線阻抗(100 Ω)的信號(hào)源向被測(cè)網(wǎng)線注入一定寬度(15 μs)和幅度(3.3 V)的階躍脈沖，當(dāng)網(wǎng)線終端短路時(shí)波形如圖3所示，依據(jù)TDR原理，圖中發(fā)射、反射脈沖疊加后由于極性相反，重疊部分相互抵消(理想狀態(tài)下)，最后只剩部分發(fā)射脈沖和反射脈沖，這時(shí)直接用開路測(cè)試中的電壓比較法顯然不行，主因是圖3中沒出現(xiàn)反射脈沖前沿(即圖3中參考電壓-Ur1所對(duì)應(yīng)的虛線部分)。

為此設(shè)計(jì)中利用運(yùn)算放大器差分放大特性，對(duì)反射脈沖作差分提取，原理電路如圖4，分別將疊加脈沖和發(fā)射脈沖輸入到差分放大電路，差分電路對(duì)兩路脈沖作單位增益差分運(yùn)算[6]，最后輸出圖5即單一反射脈沖,運(yùn)算式為：

(2)

式中：uso為還原反射脈沖，us2為發(fā)射脈沖，us1為疊加脈沖；最后計(jì)算分離的發(fā)射、反射脈沖時(shí)間差Δt即可確定短路距離。

圖3 短路測(cè)試發(fā)射和反射脈沖疊加圖

圖4 差分運(yùn)算放大單元電路圖

圖5 短路測(cè)試反射脈沖還原示意圖

圖4中的運(yùn)算放大器選用共模抑制比為80 dB以上，-3 dB帶寬在100 MHz以上軌到軌普通運(yùn)放即可，如運(yùn)放AD8091等。圖4發(fā)射脈沖在輸入到運(yùn)算放大器時(shí)需做一定的阻抗匹配處理，由于網(wǎng)線的阻抗近似為100 Ω實(shí)阻抗，所以阻抗匹配電路可用純電阻網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)。

承接上述原理性知識(shí)介紹，下面對(duì)網(wǎng)線測(cè)試儀的具體實(shí)現(xiàn)環(huán)節(jié)作進(jìn)一步說明。

2 網(wǎng)線測(cè)試儀軟硬件結(jié)構(gòu)單元

網(wǎng)線測(cè)試儀組成主要包括微控制器(Microcontroller Unit，MCU)、時(shí)間-數(shù)字變換器(Time-to-Digit Conversion，TDC)時(shí)間計(jì)數(shù)、鏈路脈沖檢測(cè)單元、網(wǎng)線開路和短路測(cè)試單元及12路模擬開關(guān)單元，各單元分述如下：

2.1 MCU(單片機(jī))處理單元

單片機(jī)主要依靠其內(nèi)部程序控制外圍單元電路完成網(wǎng)線鏈路脈沖、開路和短路測(cè)試，測(cè)試儀所用單片機(jī)為ATmega128A，當(dāng)然也可選用性能相當(dāng)?shù)钠渌吞?hào)單片機(jī)，ATmega128A是一款高性能低功耗的8位單片機(jī)，單片機(jī)工作于16 MHz時(shí)性能高達(dá)16 MIPS，同時(shí)ATmega128A自帶128 K Byte可編程flash和SPI串行通信接口，單片機(jī)的SPI接口正好和TDC-GP22的SPI接口直接對(duì)接；ATmega128A[7]在時(shí)鐘選擇上使用了16 MHz外接晶振，按照ATmega128A器件手冊(cè)在3.3 V供電情況下外接晶振最大取12 MHz，不過為了提高程序指令的執(zhí)行速度，在設(shè)計(jì)中選用了16MHz晶振，這樣TDC-GP22芯片就可以將測(cè)量上限提高到150 m，經(jīng)過實(shí)際電路驗(yàn)證，16 MHz晶振完全可以長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定測(cè)量。

2.2 脈沖間隔時(shí)間測(cè)量單元TDC

時(shí)間數(shù)字測(cè)量方案常見的有單片機(jī)和FPGA等，采用單片機(jī)進(jìn)行測(cè)量，時(shí)間跨度多在μs級(jí)，同時(shí)誤差較大，而采用FPGA進(jìn)行測(cè)量雖可精確到ns級(jí)，但是FPGA需要復(fù)雜編程來實(shí)現(xiàn)時(shí)間數(shù)字測(cè)量功能，同時(shí)FPGA功耗大成本高，引腳數(shù)量巨大，這些方案都不適合低成本及手持儀器設(shè)計(jì)要求[8]。TDC-GP22是一款高精度可編程TDC芯片，該芯片靜態(tài)功耗在微安級(jí)，引腳數(shù)少等優(yōu)勢(shì)，TDC-GP22只需通過單片機(jī)讀寫其中寄存器就可以精確測(cè)量間隔脈沖的時(shí)間跨度，其測(cè)量精度可達(dá)45 ps。

設(shè)計(jì)中通過開啟TDC-GP22噪聲位，將測(cè)量范圍1擴(kuò)展到了0～2.4 μs[9]；由于階躍脈沖在網(wǎng)線中的傳播速度約為200 m/μs，2.4 μs上限最遠(yuǎn)可以測(cè)240 m長(zhǎng)的網(wǎng)線，完全滿足網(wǎng)線測(cè)試儀150 m最大測(cè)量范圍要求；TDC-GP22具有SPI接口， ATmega128A可通過SPI方式對(duì)TDC-GP22的各類寄存器進(jìn)行讀寫來完成時(shí)間測(cè)量，TDC-GP22中7個(gè)配置寄存器配置程序代碼如下：

gp22_wr_config_reg(0x80, 0x00242000);

//時(shí)鐘4分頻

gp22_wr_config_reg(0x81, 0x19490000);

//測(cè)量模式1，每通道一個(gè)采樣

gp22_wr_config_reg( 0x82, 0xE0000000);

//通過Timeout給出中斷

gp22_wr_config_reg( 0x83, 0x00000000);

gp22_wr_config_reg( 0x84, 0x20000000);

gp22_wr_config_reg( 0x85, 0x10000000);

//開啟噪聲單元

gp22_wr_config_reg( 0x86, 0x00000000);

TDC-GP22能否正確測(cè)試，關(guān)鍵在于其配置寄存器的精確配置，TDC-GP22程序每次測(cè)試前必須進(jìn)行初始化操作以清空上次測(cè)量數(shù)據(jù)，同時(shí)單片機(jī)和TDC-GP22的數(shù)據(jù)通信必須嚴(yán)格符合SPI通信協(xié)議，否則單片機(jī)就不能正確讀寫TDC-GP22的寄存器。

圖6 測(cè)量流程圖

2.3 鏈路脈沖檢測(cè)單元

以太網(wǎng)鏈路脈沖分為普通鏈路脈沖(Normal Link Pulse, NLP)和快速鏈路脈沖(Fast Link Pulse, FLP)，二者的周期約為16 ms；鏈路脈沖是以差分方式傳輸?shù)?，設(shè)計(jì)中使用差分電路來獲取鏈路脈沖信號(hào)；由于網(wǎng)線測(cè)試儀只需判斷鏈路脈沖的有無(wú)，所以只使用傳統(tǒng)的單運(yùn)放四電阻電路來對(duì)鏈路脈沖信號(hào)做單位增益放大[1]，電路如圖7所示。

圖7運(yùn)放OP2為AD8091，該運(yùn)放為可單雙電源供電軌到軌高速放大器，其共模抑制比典型值為88 dB；因運(yùn)放輸出鏈路脈沖寬度較窄，不易被ATmega128A單片機(jī)捕獲，所以加入峰值保持電路，通過調(diào)整C31與R*的值可以改變峰值信號(hào)的幅度與寬度，圖中二極管D31選用普通1N4148系列二極管即可。

圖7 鏈路脈沖檢測(cè)單元電路圖

2.4 開路測(cè)試單元

通過ATmega128A編程輸出寬度15 μs的脈沖，再經(jīng)74LVC1G17高速斯密特緩沖器對(duì)脈沖整形和阻抗變換后送至被測(cè)網(wǎng)線；送入被測(cè)網(wǎng)線后的脈沖同時(shí)也送至圖1中比較器C1，隨后的反射脈沖送入比較器C2。

在圖1中C1和C2為TLV3501比較器，其中比較器C1輸出至TDC-GP22的stop1，比較器C2輸出至TDC-GP22的stop2，最后計(jì)算stop2-stop1值即可確定開路長(zhǎng)度。圖8所示為80 m 5類網(wǎng)線開路狀態(tài)實(shí)測(cè)波形，圖中反射脈沖疊加在發(fā)射脈沖上，反射脈沖幅度平坦，兩路脈沖前沿區(qū)分明顯；受測(cè)試電纜損耗影響，反射脈沖幅度有所降低[10]，反射脈沖前沿較發(fā)射脈沖前沿變緩，不過對(duì)比前面圖2的理想波形圖和實(shí)際測(cè)試結(jié)果證明，圖8完全可以滿足測(cè)試要求。

圖8 80 m網(wǎng)線開路實(shí)測(cè)波形圖

2.5 短路測(cè)試單元

同開路測(cè)試，15 μs脈沖經(jīng)過整形和阻抗變換后分別送入被測(cè)網(wǎng)線和TDC-GP22的stop1；網(wǎng)線上發(fā)射和反射脈沖的疊加信號(hào)送入差分放大電路(圖4)反相輸入端，同時(shí)發(fā)射脈沖送入差分放大電路的同相輸入端，兩路信號(hào)進(jìn)行差分運(yùn)算后輸出至比較器TLV3501，比較器對(duì)差分信號(hào)幅度提升后送TDC-GP22的stop2，最后計(jì)算stop2-stop1的值即可確定短路長(zhǎng)度。

圖9為80 m 5類網(wǎng)線短路實(shí)測(cè)波形，圖中發(fā)射和反射脈沖疊加部分幅度應(yīng)為零，但由于被測(cè)網(wǎng)線和模擬開關(guān)直流電阻的影響而產(chǎn)生了圖9中小幅度的正反射脈沖；實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，在150 m測(cè)量范圍內(nèi)的部分正反射脈沖并不會(huì)影響反射脈沖的提取[11-12]。

圖9 80 m網(wǎng)線短路實(shí)測(cè)波形圖

圖10為差分電路所提取反射脈沖，其中殘留了部分發(fā)射脈沖，這是因?yàn)閰⑴c差分運(yùn)算的發(fā)射脈沖比反射脈沖具有更陡的前沿所致，殘留脈沖可通過小電容去耦降低幅度。

本次教學(xué)改革所使用的簡(jiǎn)易腹腔鏡訓(xùn)練器，同樣能夠達(dá)到規(guī)范腹腔鏡下基本操作、提高手術(shù)技能的目的，且利于基層醫(yī)院推廣。但最重要的是重視基本功的訓(xùn)練，不盲目追求手術(shù)操作。有效的腹腔鏡手術(shù)培訓(xùn)，對(duì)于提高手術(shù)質(zhì)量、降低手術(shù)風(fēng)險(xiǎn)具有積極作用，真正做到磨刀不誤砍柴工。

圖10 反射脈沖還原實(shí)測(cè)波形圖

2.6 12路模擬開關(guān)單元

網(wǎng)線多為4對(duì)雙絞線組成，測(cè)量時(shí)需4對(duì)雙絞線輪流測(cè)試，網(wǎng)線測(cè)試儀主要測(cè)試鏈路脈沖、開路和短路3種狀態(tài)，每種狀態(tài)測(cè)試4次，3種狀態(tài)共需測(cè)12次，為此需要進(jìn)行12次切換；考慮到功耗和切換速度因素，網(wǎng)線測(cè)試儀沒有使用繼電器，代之以12路模擬開關(guān)ADG621來進(jìn)行測(cè)試切換，ADG621在±3.3 V供電下的單路直流導(dǎo)通電阻約為5 Ω，開關(guān)單次切換速度小于200 ns。

一對(duì)雙絞線需ADG621的兩個(gè)通道，這樣加載到被測(cè)雙絞線的直流電阻為10Ω，100 m 正規(guī)5類雙絞線回路直流電阻約為18.5 Ω，總回路電阻約為28.5 Ω，短路測(cè)試由于回路電阻的影響[13]，在發(fā)射、反射脈沖疊加處會(huì)產(chǎn)生正反射，正反射見圖9，這樣差分運(yùn)算提取的反射脈沖幅度會(huì)降低，為此用比較器TLV3501對(duì)反射脈沖幅度進(jìn)行提升，以便TDC-GP22識(shí)別。

3 網(wǎng)線測(cè)試儀電路組裝和調(diào)試

3.1 電路板設(shè)計(jì)和整機(jī)組裝

網(wǎng)線測(cè)試儀的主電路板為雙面設(shè)計(jì)，電路板設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)脈沖電路部分進(jìn)行了接地包圍處理，同時(shí)電路板背面整體覆銅并使覆銅面接地，各單元電路走線接地點(diǎn)通過過孔連接覆銅面以減少脈沖信號(hào)的干擾。電路采用手工分塊焊接，同時(shí)輔以軟件程序來實(shí)時(shí)檢測(cè)芯片的焊接效果，網(wǎng)線測(cè)試儀完成焊接組裝后如圖11所示。

3.2 長(zhǎng)度區(qū)間校準(zhǔn)系數(shù)

受雙絞線中分布電容和分布電感的影響，網(wǎng)線測(cè)試儀中發(fā)射脈沖和反射脈沖在測(cè)量不同長(zhǎng)度的網(wǎng)線時(shí)其前沿的上升時(shí)間會(huì)相應(yīng)的變化，網(wǎng)線越長(zhǎng)脈沖前沿上升越緩；脈沖前沿變化勢(shì)必會(huì)影響到網(wǎng)線測(cè)量長(zhǎng)度的準(zhǔn)確性[14-15]，為此，網(wǎng)線測(cè)試儀先對(duì)不同長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)線進(jìn)行測(cè)試分析，對(duì)不同長(zhǎng)度區(qū)間定義不同的校準(zhǔn)系數(shù)，并重新定義式(1)為：

L=0.5V·Δt·λ

(3)

式中：λ為長(zhǎng)度區(qū)間校準(zhǔn)系數(shù)。

4 實(shí)驗(yàn)測(cè)試數(shù)據(jù)

4.1 實(shí)驗(yàn)前提條件

實(shí)驗(yàn)所用網(wǎng)線為5類非屏蔽雙絞線，為方便測(cè)試，不同長(zhǎng)度被測(cè)網(wǎng)線兩端按568B規(guī)則加接水晶頭，對(duì)短路測(cè)試，用5類模塊按568B規(guī)則壓接模擬短路故障點(diǎn)。

為模擬真實(shí)測(cè)試環(huán)境，實(shí)驗(yàn)使用了1臺(tái)H3C-S1024千兆交換機(jī)、1臺(tái)非管理24口百兆TEH2400交換機(jī)、1臺(tái)TR-932D百兆光纖收發(fā)器及多臺(tái)千兆網(wǎng)卡的PC機(jī)。實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)上述網(wǎng)絡(luò)設(shè)備鏈路脈沖的幅度和周期都存在一定差別，不能一概而論。測(cè)量前用1 m、10 m和50 m的標(biāo)準(zhǔn)電纜對(duì)網(wǎng)線測(cè)試儀和FLUKE CableIQ網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀進(jìn)行3點(diǎn)測(cè)量校準(zhǔn)。

4.2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)結(jié)果

4.2.1網(wǎng)線測(cè)試結(jié)果

從表1測(cè)試結(jié)果可以看出，網(wǎng)線測(cè)試儀和FLUKE CableIQ在0.1～110 m的范圍內(nèi)，二者在鏈路脈沖測(cè)試、開路和短路測(cè)試精度上基本接近；表1中的測(cè)試結(jié)果顯示網(wǎng)線測(cè)試儀誤差范圍在±10%以內(nèi)，誤差與FLUKE CableIQ相當(dāng)。

4.2.2網(wǎng)線測(cè)試儀整機(jī)功耗

由于網(wǎng)線測(cè)試儀多在手持狀態(tài)下使用，故設(shè)計(jì)上要盡可能降低整機(jī)功耗，為此設(shè)計(jì)上多選用低功耗方案和器件，最后實(shí)測(cè)網(wǎng)線測(cè)試儀最大測(cè)試電流為57 mA，遠(yuǎn)低于FLUKE CableIQ的150 mA測(cè)試電流。

5 結(jié) 語(yǔ)

網(wǎng)線測(cè)試儀通過硬件電路和軟件程序的有機(jī)組合，以較低成本實(shí)現(xiàn)了高分辨率測(cè)量；TDC芯片的使用不僅簡(jiǎn)化了網(wǎng)線測(cè)試儀的軟硬件設(shè)計(jì)，而且也提高了系統(tǒng)整體穩(wěn)定性；再有，網(wǎng)線測(cè)試儀后期經(jīng)過多人多次試用和改進(jìn)，其對(duì)鏈路脈沖、開路和短路故障完全可以進(jìn)行快速準(zhǔn)確地判斷。實(shí)際網(wǎng)線故障種類繁多，測(cè)試手段也各有不同，而網(wǎng)線測(cè)試儀主要是針對(duì)網(wǎng)線關(guān)鍵的開路和短路故障進(jìn)行測(cè)試，為此，網(wǎng)線測(cè)試儀還有很多擴(kuò)展開發(fā)余地，如增加線序測(cè)試和電纜阻抗測(cè)試功能等。