宋 健,張清旭
(化學(xué)與物理電源重點實驗室,天津 300384)
MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition,金屬有機物化學(xué)氣相沉積)是生長高質(zhì)量半導(dǎo)體薄膜材料的技術(shù)。它是1968 年由美國洛克威爾公司的H.M.Manasevit 提出來的一種制備化合物半導(dǎo)體薄層單晶的方法。20 世紀(jì)80 年代以來,得到了迅速的發(fā)展。MOCVD 設(shè)備在太陽能電池、發(fā)光二極管(LED)、場效應(yīng)晶體管(FET)、探測器、半導(dǎo)體激光器等多個領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。MOCVD 技術(shù)涉及流體力學(xué)、反應(yīng)動力學(xué)、傳熱學(xué)、光學(xué)、控制工程等領(lǐng)域,屬于一門綜合運用各個學(xué)科技術(shù)的高科技設(shè)備,具有較高的學(xué)術(shù)研究價值。
目前全球市場上MOCVD 設(shè)備以美國Veeco、德國Aixtron 為主。近年來,國產(chǎn)MOCVD 設(shè)備的研發(fā)也有了長足的進(jìn)步,中微、中晟兩家公司研發(fā)的國產(chǎn)MOCVD 設(shè)備,市場份額正在逐年擴(kuò)大。雖然各家公司的設(shè)備結(jié)構(gòu)有所不同,但MOCVD 設(shè)備的運行原理并沒有本質(zhì)上的差別。本研究基于砷化鎵太陽能電池研究領(lǐng)域,該MOCVD 系統(tǒng)使用的原材料為易燃、易爆、劇毒的氣體氫化物及液態(tài)金屬有機化合物(MO 源),載氣為超高純的氫氣、氮氣混合氣體。
目前,氦質(zhì)譜檢漏儀法是世界公認(rèn)的最靈敏、能定位和定量測量漏孔漏率的一種優(yōu)選方法。因此在各行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用。如何正確的反映MOCVD 系統(tǒng)工作時的漏率值,并盡可能的降低漏率值,仍然是廣大工藝人員和維護(hù)人員所關(guān)心的問題。另外,基于安全和設(shè)備本身的限制,氦質(zhì)譜檢漏儀法并不是萬能的,MOCVD 系統(tǒng)部分分支機構(gòu)需要結(jié)合靜態(tài)升壓法、靜態(tài)降壓法、氫氣儀檢漏法、氣泡檢漏法等方法進(jìn)行檢漏,只有當(dāng)設(shè)備所有的分系統(tǒng)漏率都處于可接受的范圍,才能保證設(shè)備安全、穩(wěn)定的運行,才能保證生產(chǎn)出質(zhì)量合格的產(chǎn)品。
MOCVD 就是以金屬有機物(如TMGa,TMAl,TMIn,TEGa等)和烷類(如AsH3,PH3,NH3,SiH4等)為原料進(jìn)行化學(xué)氣相沉積,生長單晶薄膜的一種技術(shù),以熱分解反應(yīng)方式在襯底上進(jìn)行氣相外延。金屬有機化合物大多是具有高蒸氣壓的液體,通過氫氣、氮氣或者其他惰性氣體作為載氣,將其攜帶出與烷類混合,再共同進(jìn)入反應(yīng)室高溫下發(fā)生反應(yīng)。其技術(shù)基礎(chǔ)是在一定溫度下,金屬有機物和烷類發(fā)生熱分解,再在一定晶向的襯底表面上吸附、化合、成核、生長。
因為MOCVD 生長使用的源是易燃、易爆、毒性很大的物質(zhì),并且要生長多組分、大面積、薄層和超薄層異質(zhì)材料,因此在MOCVD 系統(tǒng)中,通常要考慮系統(tǒng)密封性要好,在滿足安全的前提下,盡量降低系統(tǒng)的漏率,避免引入外部雜質(zhì)。除了系統(tǒng)的外部漏率需要滿足要求外,氣動閥門還須具有較低的內(nèi)部漏率。一般來說,MOCVD 系統(tǒng)是由氣體輸運系統(tǒng)、反應(yīng)室和加熱系統(tǒng)、尾氣處理系統(tǒng)和控制系統(tǒng)等組成。
本論文的核心工作是對氣體的輸運系統(tǒng)、反應(yīng)室和尾氣排放系統(tǒng)進(jìn)行高等級的漏率檢測。氣體輸運系統(tǒng)的作用為向反應(yīng)室輸送各種反應(yīng)氣體。該系統(tǒng)要能夠精確的控制反應(yīng)氣體的濃度、流量、流速以及不同氣體送入的時間和前后順序,從而按設(shè)計好的方案生長特定組分和結(jié)構(gòu)的外延層。氣體輸運系統(tǒng)包括氫氣和氮氣純化供給系統(tǒng)、金屬有機化合物供給系統(tǒng)、烷類供給系統(tǒng)以及多路閥門組。反應(yīng)室包括雙膠圈密封系統(tǒng)、噴淋系統(tǒng)、循環(huán)水系統(tǒng)。尾氣排放系統(tǒng)包括主排氣管路、安全旁路、尾氣收集管路。
MOCVD 系統(tǒng)檢漏主要是采用氦質(zhì)譜檢漏儀完成的。對于不能夠使用氦質(zhì)譜檢漏儀的部件,則采用氫氣探測儀、真空規(guī)壓力計等儀器間接測量漏率。氦質(zhì)譜檢漏儀采用ULVAC 公司的UL1000 Fab 檢漏儀,該型號檢漏儀靈敏度高,在最佳工作狀態(tài)下,最小可檢漏率Qmin<1.0×10-13Pa·m3/s,在具體檢漏工作狀態(tài)下(不一定最佳),有效最小可檢漏率Qe<1.0×10-10Pa·m3/s。氫氣探測儀選用德爾格公司的X-AM5000 型號的檢測儀,該型號的探測儀對氫氣分子的探測能達(dá)到PPM 量級。
MOCVD 技術(shù)涉及多種學(xué)科專業(yè)知識,對設(shè)備部件的控制精度要求很高,因此其構(gòu)成非常復(fù)雜。MOCVD 系統(tǒng)主要包括反應(yīng)室系統(tǒng),加熱系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)、氣體輸運及尾氣處理系統(tǒng)和控制系統(tǒng)等部分。檢漏工作主要是針對反應(yīng)室系統(tǒng)、冷卻水系統(tǒng)、氣體輸運系統(tǒng)、尾氣排放系統(tǒng)來進(jìn)行的。
MOCVD 設(shè)備核心反應(yīng)室一般在(0.003~0.08)MPa 的低真空范圍運行,工藝氣體多數(shù)為劇毒的氫化物,比如AsH3氣體的半數(shù)致死濃度LC-50 為(5~50)×10-6,PH3氣體的半數(shù)致死濃度LC-50 為(11~50)×10-6,這就意味著即使該氣體輕微泄漏,一旦被人吸入即可致命;另外,進(jìn)入反應(yīng)室的氣體一般為99.9999%超高純氣體,設(shè)備微漏會導(dǎo)致空氣中的氧分子進(jìn)入反應(yīng)室,氧原子一旦并入晶格形成深能級雜質(zhì),便會產(chǎn)生與氧相關(guān)的缺陷,嚴(yán)重影響產(chǎn)品的性能,所以MOCVD 工藝對設(shè)備的整體漏率要求非常高,一般要求漏率至少高于5.0×10-8Pa·m3/s。氦質(zhì)譜檢漏儀法需要MOCVD 設(shè)備真空腔體及管路處于高真空狀態(tài),由于設(shè)備的主泵選用的是機械式密封干泵,極限真空約為5.3 Pa,故先設(shè)定系統(tǒng)真空度到0 MPa,然后使用高純度、小氣量氦氣對設(shè)備各部分進(jìn)行檢漏。對于MOCVD 設(shè)備的檢漏主要是按照系統(tǒng)功能分為主排氣管路、反應(yīng)室部分、氣體輸運部分、氣體分配柜雙層套管和手套箱等部分。
MOCVD 主排氣管路位于反應(yīng)室下部至主泵進(jìn)氣端口之間,這段管路直接影響MOCVD 設(shè)備運行的穩(wěn)定性、安全性,其中距離反應(yīng)室下端最近的Y 形管路還直接影響生長工藝的穩(wěn)定性,由此對主管路各部件的漏率檢測為重中之重。將設(shè)備反應(yīng)室及管路置于高真空狀態(tài)下,然后使用小氣量的氦氣槍,對主排氣管路逐段進(jìn)行檢漏,尤其對管路靜密封的卡套連接處及動密封的球閥開關(guān)點位進(jìn)行檢漏。這些點位由于受主泵的振動及頻繁的開關(guān),很容易造成連接松動及密封膠圈老化、變形,導(dǎo)致密封失效。雖然正常生長時,管路處于低壓狀態(tài),有毒氣體能夠全部排放至尾氣處理裝置中,但是由漏孔進(jìn)入管道的少量水、氧分子可能會擴(kuò)散到反應(yīng)室,與原材料進(jìn)行反應(yīng),影響產(chǎn)品性能。此外,一旦管路長期未更換,管路內(nèi)壁沉積過多雜質(zhì),導(dǎo)致堵塞,便會導(dǎo)致有毒氣體泄漏,造成安全事故。
MOCVD 系統(tǒng)的反應(yīng)室是工藝的核心部件,無論從工藝上講,還是從安全的角度看,反應(yīng)室的漏率要求都會比較高。首先,對于反應(yīng)室的氣體噴淋系統(tǒng)和吹掃凈化系統(tǒng),由于這些部件與真空腔室相通,所以可以先將噴淋氣體總閥門和吹掃凈化氣體總閥門關(guān)閉,將真空腔室抽成真空,然后使用氦質(zhì)譜檢漏儀法進(jìn)行檢漏。
MOCVD 系統(tǒng)反應(yīng)室主法蘭、加熱線圈、噴淋頭、主軸磁流體等包含多路獨立的循環(huán)冷卻水,當(dāng)設(shè)備的使用年限變長時,將面臨局部水管腐蝕,輕微滲水,在高溫下水汽揮發(fā),影響產(chǎn)品性能。對于冷卻水管的檢漏,首先是將部分的水管前級閥門關(guān)閉,然后使用干燥的氮氣對管路進(jìn)行吹掃,實驗中,選用99.999%的N2,壓力設(shè)定在0.3 MPa,使用1/8 英寸管路對循環(huán)水管路吹掃24 h 以上,然后將反應(yīng)室置于真空狀態(tài),并向干燥的循環(huán)水管路內(nèi)注入氦氣,觀察氦質(zhì)譜檢漏儀的數(shù)值變化。
為了保證MOCVD 設(shè)備安全運行,反應(yīng)室采用雙膠圈密封,內(nèi)外兩個密封膠圈之間留出空隙。平時生長時,使用小型干泵將空隙抽成低真空,一旦內(nèi)部膠圈泄漏,泄漏氣體便由空隙排出,外部膠圈起到保護(hù)作用。對于雙膠圈密封部分的檢漏,一般選用靜態(tài)升壓法。將雙密封圈之間的空隙抽成真空后,關(guān)閉真空閥門,使空隙與真空干泵隔離,然后觀察測量空隙的真空計壓力變化,從而可以算出總漏率。由于真空計能夠指示出壓力微小變化,所以這種方法可做到很靈敏。由于雙密封圈間空隙很小,所以容器放氣可以忽略,其容積為V(L),在時間間隔Δt(s)內(nèi)所測到的壓力上升為Δp(Pa),那么總漏率Q(Pa·L/s)為。
在計算漏率時,一般應(yīng)在壓力隨時間線性上升段取數(shù)據(jù)。
MOCVD 是一種氣相外延生長技術(shù),所以通向反應(yīng)室的高純氣體輸運管路是要盡可能高等級密封的,氣體輸送管路一般選用316 L 不銹鋼管,內(nèi)壁拋光處理,管路連接一般使用世偉洛克的VCR 金屬墊片面接頭,密封件一般使用鍍銀的鎳墊片,管路漏率能達(dá)到1.0×10-9Pa·m3/s,這部分連接如果沒有外力扭動,一般不會泄漏。輸運管路連同管路上的流量計、壓力計及氣動閥門均可以使用氦質(zhì)譜檢漏儀法進(jìn)行檢漏。需要指出的是,對于氣動閥門,隨著閥門的使用時間變長,閥芯老化,可能存在氣動氮氣經(jīng)由閥芯進(jìn)入輸運管道的隱患,對于該故障的檢漏方法,一般是將輸運管路總閥門打開,連同真空腔室抽成真空,然后使用外接的(0.2~0.4)MPa 氦氣作為驅(qū)動氣體,驅(qū)動氣動閥門開啟,然后觀察氦質(zhì)譜檢漏儀的示數(shù)變化,由此判定是否有氣動氣體進(jìn)入反應(yīng)室。
MOCVD 系統(tǒng)極其復(fù)雜,各式功能的管路眾多,對于真空泵不能夠抽真空的管路,往往在管路上安裝有壓力表。設(shè)備反應(yīng)室一般處于正壓氮氣密閉操作箱中,操作箱的壓力由深入箱體中的壓力計測量控制。對于這些部件,往往使用靜態(tài)降壓法進(jìn)行漏率測算。
靜態(tài)降壓法的計算公式和靜態(tài)升壓法的公式相同,唯一的區(qū)別是在測量初期,需要向管路或箱體中施加幾倍于大氣壓的氣體,然后統(tǒng)計若干時間后的壓降,總漏率代入公式計算得出。
定期對MOCVD 設(shè)備進(jìn)行檢漏,一旦發(fā)現(xiàn)漏率上升,要及時實施改善措施。要持續(xù)的改進(jìn)設(shè)備,盡可能的降低漏率。對于氟橡膠密封系統(tǒng),發(fā)現(xiàn)膠圈有破損、永久壓縮變形、化學(xué)腐蝕、熱腐蝕、壓力爆破、氣體析出材料損失、污染等現(xiàn)象,嚴(yán)禁使用。對于真空泄漏的部件,在成本許可的前提下,盡量更換新的部件。然后就是定期的對設(shè)備進(jìn)行漏率檢測,發(fā)現(xiàn)有漏率上升的趨勢,及時的對設(shè)備整體進(jìn)行檢漏。設(shè)備整機漏率是一個系統(tǒng)各部分漏率的綜合體現(xiàn),只有把單個部分的漏率降下來,才能將整體的漏率改善。分清主次,搞清整體和局部的關(guān)系,才能一步步把設(shè)備的整體性能提高。
MOCVD 系統(tǒng)極其復(fù)雜,各分系統(tǒng)功能多樣,各部分之間又相互牽制影響,對設(shè)備檢漏前必須要仔細(xì)分析各子系統(tǒng)之間的關(guān)系,做好整體的檢漏方案,鑒于設(shè)備的安全性,要對所有的可能漏點逐一排查。根據(jù)設(shè)備的具體使用情況,綜合運用各種檢漏技術(shù),不斷實踐,總結(jié)經(jīng)驗和規(guī)律。在保證MOCVD 系統(tǒng)安全運行的同時,也就保證了操作人員的安全,進(jìn)而提高了設(shè)備的生產(chǎn)質(zhì)量,增加了設(shè)備的產(chǎn)品附加值。