陳侖 鄒金廷 陳曉燕 張悅
摘? 要:近年來(lái),國(guó)內(nèi)外超聲檢測(cè)的技術(shù)發(fā)展很快,新方法、新設(shè)備、新工藝不斷涌現(xiàn),缺陷檢出率、缺陷定位定量能力以及檢測(cè)效率等方面越來(lái)越顯出其優(yōu)越性。在特種設(shè)備領(lǐng)域,超聲檢測(cè)具有其自身特點(diǎn),同時(shí)國(guó)家于2015年頒布實(shí)施了NB/T 47013《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》以代替原標(biāo)準(zhǔn)JB/T 4730,該標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容和要求方面已發(fā)生了較大變化。為與當(dāng)前超聲檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用和發(fā)展相接軌,對(duì)承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)方法也做出了相應(yīng)的修改。該文針對(duì)NB/T 47013中的要求,論述了超聲斜探頭的調(diào)試方法。
關(guān)鍵詞:NB/T 47013新標(biāo)準(zhǔn)? 超聲檢測(cè)? 斜探頭? 調(diào)試方法
中圖分類(lèi)號(hào):TG441 ? ?文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A 文章編號(hào):1672-3791(2019)11(b)-0066-02
該文以友聯(lián)PXUT-330全數(shù)字智能超聲波探傷儀為例,其斜探頭型號(hào)為2.5MHz13*13K2-63.4°,試塊為CSK-IA、CSK-IIA-2標(biāo)準(zhǔn)試塊,簡(jiǎn)單論述了超聲檢測(cè)中斜探頭的調(diào)試方法。
1? 基本步驟
1.1 準(zhǔn)備工作
輕按開(kāi)機(jī)鍵開(kāi)機(jī),待儀器自檢完成后按確定鍵進(jìn)入儀器探傷主界面,單擊通道鍵,再按+鍵或-鍵選擇一個(gè)探傷通道,然后按最右側(cè)快捷鍵進(jìn)入初始化菜單,選擇“1”當(dāng)前通道初始化完成。
1.2 探頭參數(shù)設(shè)置
雙擊通道鍵進(jìn)入探頭參數(shù)設(shè)置菜單,設(shè)置探頭的類(lèi)型、頻率、晶片尺寸以及所采用的探傷標(biāo)準(zhǔn),按確定鍵設(shè)置生效。
1.3 調(diào)試
1.3.1 測(cè)零點(diǎn)
按兩次零點(diǎn)鍵,一次聲程輸入“100”,二次聲程輸入“0”,按確定鍵開(kāi)始測(cè)試。如圖1所示,將斜探頭放在CSK-ⅠA標(biāo)準(zhǔn)試塊上移動(dòng),尋找R100的最高回波,按確定鍵,用鋼尺量出探頭最前端至100mm弧頂?shù)木嚯xL,輸入所測(cè)定數(shù)值并按確定鍵。
1.3.2 測(cè)K值
按兩次角度鍵,輸入探頭的標(biāo)稱(chēng)K值,按確定鍵開(kāi)始測(cè)試。如圖2所示,將斜探頭放在CSK-ⅠA標(biāo)準(zhǔn)試塊上移動(dòng),尋找Ф50孔的最高回波,按確定鍵。
1.3.3 做DAC曲線
按DAC鍵,按確定鍵開(kāi)始測(cè)試。如圖3所示,將斜探頭放在CSK-IIA-2標(biāo)準(zhǔn)試塊上,尋找5mm深孔的最高回波,按自動(dòng)增益鍵使回波調(diào)整到80%,按+鍵使光標(biāo)鎖定在10mm深孔的最高回波上,按確定鍵完成第一點(diǎn)制作;然后把探頭往后拉動(dòng)按上述步驟依次采定測(cè)試點(diǎn)(25mm,65mm),各點(diǎn)采集完成后按確定鍵,輸入表面補(bǔ)償4dB及所測(cè)焊縫板材厚度,按確定鍵,此時(shí)屏幕上按照NB/T47013標(biāo)準(zhǔn)曲線自動(dòng)生成3根曲線,如圖4所示。
2? 結(jié)語(yǔ)
超聲檢測(cè)是產(chǎn)品制造中實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制、節(jié)約原材料、改進(jìn)工藝、提高勞動(dòng)生產(chǎn)率的重要手段,也是設(shè)備維護(hù)中不可或缺的手段之一。因而檢測(cè)過(guò)程中的每一個(gè)環(huán)節(jié)都必須嚴(yán)格按照國(guó)家最新標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行,做到與當(dāng)前超聲檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用和發(fā)展相接軌。
參考文獻(xiàn)
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[2] 全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì).NB/T 47013.3-2015《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》第三部分:超聲檢測(cè)[S].北京:新華出版社,2015.