投影儀期間核查方法

文丨常宗英

依據(jù)CNAS-CL01《檢測和校準實驗室能力認可準則》（IDT ISO/IEC 17025）和《檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認定評審準則》，通過規(guī)定核查對象、核查標準、測量參數(shù)和測量方法、核查量值點和核查頻次、判定依據(jù)及不合格控制、核查記錄形式、信息和保存等方面，闡述實驗室如何開展投影儀期間核查。

關于期間核查

期間核查是指“根據(jù)規(guī)定程序，為了確定計量標準、標準物質(zhì)或其他測量儀器是否保持其原有狀態(tài)而進行的操作”。期間核查的目的是在兩次校準(或檢定)之間的時間間隔期內(nèi)保持測量儀器校準狀態(tài)的可信度。期間核查的對象是測量儀器,包括計量基準、計量標準、輔助或配套的測量設備等。

校準狀態(tài)是指示值誤差、修正值或修正因子等校準結(jié)果的狀態(tài)。利用期間核查以保持設備校準狀態(tài)的可信度，指利用期間核查的方法提供證據(jù)，可以證明示值誤差、修正值或修正因子保持在穩(wěn)定狀態(tài)，可以有足夠的信心認為它們對校準值的偏離在現(xiàn)在和規(guī)定的周期內(nèi)可以保持在允許范圍內(nèi)。這個允許范圍就是測量儀器示值的最大允許誤差或擴展不確定度或準確度等別/級別。因此，期間核查是指：為保持測量儀器校準狀態(tài)的可信度,而對測量儀器示值（或其修正值或修正因子）在規(guī)定的時間間隔內(nèi)是否保持其在規(guī)定的最大允許誤差或擴展不確定度或準確度等級內(nèi)的一種核查。也就是說，期間核查實質(zhì)上是核查系統(tǒng)效應對測量儀器示值的影響是否有大的變化。

核查對象

低倍投影儀絕緣電阻測試儀：型號規(guī)格DTTA，出廠編號OAE36，測量范圍橫向0-25mm，縱向0-13mm，分辨力0.01mm。

核查標準

本機所配玻璃線紋尺：測量范圍0-50mm，分辨力1mm。

測量的參數(shù)和測量方法

在投影儀工作條件下，用其測量核查標準20mm處的長度值。

一是接通電源，擰開透射照明光源，并調(diào)整至適當亮度。

二是調(diào)整照明燈座中心圓把手，做上下左右移動來推動燈座，前后移動，以調(diào)節(jié)燈源，使投影屏亮度最亮，照度均勻。

三是將核查標準置于工作臺上，選擇10倍的倍率。

四是轉(zhuǎn)動工作臺升降手輪，調(diào)焦至核查標準影像最清晰。

表1 期間檢查記錄

五是用測微鼓輪縱向或橫向移動核查標準，依投影屏上十字線進行綜向和橫向測量，并記錄微鼓輪上的讀數(shù)。

六是分別測量十次，核查對象所顯示數(shù)值的平均值作為本次的核查結(jié)果，兩次核查的差值為該裝置在這段時間內(nèi)的穩(wěn)定性。

七是測量完畢，取下核查標準，關閉電源。

核查的量值點及核查頻次

核查的量值點：投影儀綜向和橫向20mm刻度點。

核查頻次：核查對象首次檢定后進行第一次核查，每年至少核查一次，核查時間一般定在兩次檢定間隔之間。

判定依據(jù)及不合格控制

兩次核查的差值絕對值不超過（4+20/25）μm=4.8μm，則核查對象穩(wěn)定性合格，校準狀態(tài)可信。

若穩(wěn)定性超過4.8μm，應申請對核查對象進行校準，并用校準后修正值對測量結(jié)果進行修正。

核查記錄形式、信息和保存

核查時核查人員實時填寫核查記錄表，真實記錄核查信息及數(shù)據(jù)。核查記錄表采用表1格式，記錄保存執(zhí)行文件控制程序。

判定依據(jù)：一是相鄰兩次核查差值的絕對值不超過核查對象的核查參數(shù)最大允差絕對值或擴展不確定度，則穩(wěn)定性合格，核查對象校準狀態(tài)可信。二是依據(jù)控制圖對異常判斷的各項準則，對控制圖中各測量點的分布狀況進行判斷，若測量點的分布狀況沒有任何違背判斷準則的情況，即表明測量過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。