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      基于遞推矩陣算法的儀器電磁摒閉研究?

      2018-09-28 02:30:08尹曉春
      關(guān)鍵詞:電磁波適應(yīng)度屏蔽

      尹曉春

      (云南省有色地質(zhì)局地質(zhì)研究所 昆明 650051)

      1 引言

      電磁對(duì)電子設(shè)備的干擾在生活中很常見(jiàn),在醫(yī)療、軍用、勘測(cè)等領(lǐng)域都有出現(xiàn),也給電子設(shè)備的正常運(yùn)行帶來(lái)干擾[1~3],如何降低電磁的干擾,屏蔽電磁的入射變得日益重要,也成為了研究的熱點(diǎn)。由于單一材料對(duì)干擾具有局限性,在研究發(fā)現(xiàn)中多層復(fù)合材料對(duì)于電磁波的干擾有更加突出的優(yōu)勢(shì),且復(fù)合材料易導(dǎo)電,導(dǎo)磁以及高損耗媒介等多功能[4],所以復(fù)合材料也是本文的研究重點(diǎn)。每一種材料的電導(dǎo)率不同,復(fù)合材料的電導(dǎo)率更為復(fù)雜,設(shè)計(jì)出符合要求的屏蔽體需要合理的計(jì)算,而且不同的層數(shù),不同入射角度的電磁波也會(huì)導(dǎo)致屏蔽體的屏蔽效果不同,這使得研究難度加大[5]。

      本文首先提出多層復(fù)合材料的平板屏蔽體模型,給出9種不同材料的相對(duì)電導(dǎo)率和相對(duì)磁導(dǎo)率,復(fù)合材料的性質(zhì)與復(fù)合的材料相關(guān)[6],復(fù)合后的電導(dǎo)率有懲罰函數(shù)給出,本文依據(jù)給定要求的屏蔽能力設(shè)計(jì)出符合要求的模型,并利用遞推矩陣算法,在規(guī)定范圍內(nèi)迭代出最優(yōu)值,并且通過(guò)仿真證明了算法的有效性,最后和粒子群算法在相同情況進(jìn)行比較[7],實(shí)驗(yàn)證明,本文算法更有效果。

      2 屏蔽體構(gòu)建模型

      2.1 屏蔽模型

      儀器中的屏蔽體模型一般為多層復(fù)合材料合成的屏蔽體如圖1[8],由圖可知,屏蔽體的層數(shù)為n,圖中的θ是電磁波入射時(shí)和最外面的屏蔽體形成的夾角,假定入射的電磁波是均勻垂直的入射波稱(chēng)為T(mén)E波,入射波經(jīng)過(guò)平面反射以及折射后依然是均勻平面的 TE 波。 Ei、Hi(i=0 , 1 ,…,n+1)代表每層平板的電磁場(chǎng)的強(qiáng)度,Γi、Zi代表每層的平板電磁波的傳遞系數(shù)和媒質(zhì)自身的阻抗。這里的,式中εi均為每層媒質(zhì)各自的電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率以及介電系數(shù),而是地磁波在真空的介電系數(shù)。Li是沒(méi)層平板的厚度。

      圖1 屏蔽體模型

      由電磁波在多層復(fù)合材料的屏蔽體中傳播原則[9],可以知道TE波在多層屏蔽體中的屏蔽能力是

      這里的

      我們將式(3)、式(4)中 Z0利用 Za來(lái)替換,即得 Za=Z0/cosθ ,和 ZL=Zn+1=Za,Z(Ln)=Zn+1,Z(Li-1)=Zin(Li),式中Zin(Li)是等效的入射阻抗,形式為

      通過(guò)式(1)~(5)可以有效獲得已知材料的多層屏蔽體自身的屏蔽能力,這里的屏蔽模型在很多文獻(xiàn)中也有例證,證明了屏蔽模型的可行性。所以可以通過(guò)已有的材料設(shè)計(jì)可行的屏蔽模型。而本文的研究問(wèn)題是依據(jù)特定屏蔽能力的規(guī)范下給出合理的每個(gè)屏蔽層的材料以及厚度,所以利用矩陣遞推算法去解決該問(wèn)題。

      2.2 矩陣遞推算法在屏蔽體的實(shí)現(xiàn)

      研究屏蔽體設(shè)計(jì),必須確定每層媒質(zhì)各自的電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率以及厚度[10]。這里利用9種金屬材料,每種材料的電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率如表1。

      表1 田屏蔽材辯的電磁一性

      模型每層的材料通過(guò)表1以及分和材料理論求得復(fù)合材料媒質(zhì)的電導(dǎo)率和厚度。每一層的電導(dǎo)率(采用二進(jìn)制編碼)依據(jù)屏蔽體的層數(shù)得到[11],每層有相應(yīng)的11位編碼,編碼的前四位是這一層的電導(dǎo)率大小,依據(jù)由大到小依次排序,顯然1111是最大電導(dǎo)率。而0000是最小電導(dǎo)率,其中編碼最后七位代表該層厚度,可依據(jù)下式轉(zhuǎn)變?yōu)槭M(jìn)制

      上式的 fup可以確定屏蔽能力的上限頻率;fdown是確定屏蔽能力的下限頻率;SEup是上限頻率時(shí)的屏蔽效能;SEdown代表下限頻率的屏蔽效能。上限時(shí)的屏蔽體的罰函數(shù):

      上式的罰函數(shù)是上限頻率的屏蔽能力,按式(8)不能算出特定范圍內(nèi)的屏蔽能力。在迭代算法中,更新式(7)的值,再?gòu)男〉酱蟮倪M(jìn)行排序、篩選,篩選的方法有適應(yīng)度比例篩選法、分層篩選法和競(jìng)爭(zhēng)篩選法等。這里采用比例篩選法,方法為留存樣本的一半,適應(yīng)度值大的一半優(yōu)先剔除;下一步替換,即在剩下的50%中隨機(jī)替換。

      之后兩兩替換,替換點(diǎn)是隨機(jī)生成的,替換后的集合數(shù)和原來(lái)等同;最后,對(duì)全部集合的個(gè)別位采取更新。反復(fù)地迭代后,直到迭代到誤差范圍時(shí),就可以獲得規(guī)定參數(shù),再依據(jù)參數(shù)進(jìn)行模型設(shè)計(jì)。

      遞推矩陣算法流程:

      Step 1:生成初始集合值,確定已有的范圍,確定出屏蔽體層數(shù),入射角度以及特定的頻帶和規(guī)定的屏蔽能力;

      Step 2:算出每層的電導(dǎo)率以及各層的厚度。由電導(dǎo)率值得出磁導(dǎo)率的值,把數(shù)據(jù)代入式(7),算出每層的適應(yīng)度;

      Step 3:將適應(yīng)度從小到大排序,將適應(yīng)度最大的50%剔除;

      Step 4:判斷是否收斂;

      Step 5:若收斂,按照迭代的參數(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì);

      Step 6:若不收斂,讓剩下的50%進(jìn)行替換,替換點(diǎn)和替換的個(gè)體是隨機(jī)篩選的;

      Step 7:隨機(jī)篩選個(gè)體替換的的位置也是隨機(jī)選擇的;

      Step 8:返回第二步,當(dāng)適應(yīng)度收斂,算法結(jié)束。

      3 算法實(shí)現(xiàn)及比較

      3.1 算法實(shí)現(xiàn)

      這里算法設(shè)計(jì)的屏蔽模型有兩種,分別是由3層材料和4層材料設(shè)計(jì)的屏蔽體模型。屏蔽體由表1的9種材料設(shè)計(jì)組成,所以設(shè)計(jì)的模型較為復(fù)雜,除了本文中的遞歸矩陣算法,還依據(jù)傳統(tǒng)的粒子群算法進(jìn)行比較,分別討論電磁波入射角度是0°、30°和60°的情況。

      算法實(shí)現(xiàn)是在 fdown=1 kHz下屏蔽能力是SE=75dB時(shí)的仿真結(jié)果。圖2是四層材料合成平板屏蔽體的仿真結(jié)果,是下限頻率時(shí)的仿真數(shù)據(jù),從圖3中得出,當(dāng)電磁波以任意角度入射,遞推矩陣算法設(shè)計(jì)的屏蔽體可以在上、下限頻率做到規(guī)定的屏蔽效能,誤差范圍在5 dB左右。因?yàn)橐?guī)定另外上限頻率的屏蔽能力,發(fā)現(xiàn)與圖3比較,圖4更加合理。而且,這種設(shè)計(jì)的屏蔽體的每層厚度都有降低,使得材料和費(fèi)用都有節(jié)省。另外,因?yàn)楸疚闹性O(shè)計(jì)的是以圓柱為中心形狀的屏蔽體,由外層到屏蔽體中心仍有一些距離,在這個(gè)距離范圍內(nèi),電磁波在傳播過(guò)程中會(huì)得到衰減,所以我們?cè)O(shè)計(jì)的模型計(jì)算屏蔽能力是在電磁波剛剛穿過(guò)屏蔽體處的能力。另外,在相同的上限頻率時(shí)得出的屏蔽能力也是剛剛穿透時(shí)的情況。發(fā)現(xiàn)圖2中要比圖3中的大。因此在這個(gè)設(shè)計(jì)參數(shù)下四層的屏蔽能力更好,也可以達(dá)到省材料,降低費(fèi)用的效果。

      圖2 四層平板屏蔽體仿真結(jié)果

      圖3 三層平板屏蔽體仿真結(jié)果

      由于屏蔽體設(shè)計(jì)使用的每種材料中,都有高磁導(dǎo)率的材料,也只有這樣,才會(huì)有在屏蔽體厚度降低到足夠小的情況下,獲得在規(guī)定頻帶下所要求的屏蔽效果,所以,在屏蔽體中夾雜高磁導(dǎo)率材料是合理且必要的。

      3.2 算法比較

      本文和粒子群優(yōu)化算法進(jìn)行比較[12],粒子群優(yōu)化算法在屏蔽體設(shè)計(jì)中也是常用的方法,這里在同樣的材料和厚度的情況下,以同樣的角度用入射波進(jìn)入屏蔽體進(jìn)行仿真模擬,分別是三層和四層做模擬,粒子群優(yōu)化算法如下:

      Step 1:在d維空間中初始化一個(gè)擁有n個(gè)粒子的集合,其中每一個(gè)粒子都有隨機(jī)的位置和速度;

      Step 2:計(jì)算每一個(gè)粒子對(duì)應(yīng)的適應(yīng)度;

      Step 3:比較每個(gè)粒子現(xiàn)在的適應(yīng)值以及 pbest值。若現(xiàn)在的 pbest值比之前的好,則令替換之前pbest值,且令為當(dāng)前粒子的位置;否則,儲(chǔ)存 pbest的大小;

      Step 4:對(duì)全部粒子現(xiàn)在的適應(yīng)度,篩選最好的和之前的gbest值對(duì)比。若比現(xiàn)在gbest值好,則替換之前的gbest值,設(shè)置成現(xiàn)在的gbest位置;否則,保存前gbest值;

      Step 5:若達(dá)到退出迭代的要求,則退出循環(huán);否則返回Step2。

      圖4 四層平板屏蔽體算法對(duì)比

      圖5 三層平板屏蔽體算法對(duì)比

      可以發(fā)現(xiàn),遞推矩陣算法用的時(shí)間均比粒子群算法都少。在屏蔽效果上本文的算法,不管是三層,還是四層的屏蔽體模型效果都要優(yōu)于粒子群算法。

      4 結(jié)語(yǔ)

      本文將遞推矩陣算法與多層平板復(fù)合材料設(shè)計(jì)出屏蔽體的模型結(jié)合,同時(shí)給出了在給定的材料下計(jì)算出符合材料的電導(dǎo)率,以及通過(guò)電導(dǎo)率得出屏蔽效果的懲罰函數(shù)。依據(jù)給出的方法可以設(shè)計(jì)出規(guī)定的屏蔽能力的屏蔽模型,同時(shí)也給出在不同角度下,電磁波入射后的屏蔽能力,在屏蔽能力的要求下,設(shè)計(jì)出更為合理的,即材料合理和厚度降低減少費(fèi)用的效果,最后和粒子群優(yōu)化算法在同等條件下比較三層和四層的屏蔽能力,比較結(jié)果顯示,本文的算法更有優(yōu)勢(shì),設(shè)計(jì)更為合理。

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