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      LLM-105晶體形貌分子動(dòng)力學(xué)模擬

      2018-07-02 01:33:58程年壽馮長根
      火炸藥學(xué)報(bào) 2018年3期
      關(guān)鍵詞:晶體生長晶面擴(kuò)散系數(shù)

      李 蓉,甘 強(qiáng),于 謙,程年壽,馮長根

      (1.北京理工大學(xué)爆炸科學(xué)與技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京100081;2.中國工程物理研究院化工材料研究所,四川 綿陽 621999)

      引 言

      1-氧-2,6-二氨基-3,5-二硝基吡嗪(LLM-105)是一種高能鈍感含能材料,爆速高于TATB且易起爆[1]。在降感劑、傳爆藥、超高溫石油射孔等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景[2]。LLM-105分子間與分子內(nèi)存在大量的氫鍵[3],DMSO是其重結(jié)晶過程最優(yōu)的溶劑。但合成的LLM-105多存在“X”狀孿晶或呈針狀,安全性差、感度高,嚴(yán)重影響裝藥密度及成型性能。在實(shí)際結(jié)晶過程中,成核級(jí)數(shù)越大,越易爆發(fā)式成核,導(dǎo)致晶體缺陷。因此,控制LLM-105結(jié)晶過程、提高晶體品質(zhì)對(duì)其應(yīng)用具有重要意義。

      目前LLM-105形貌調(diào)控的主要方法是溶劑/非溶劑法。李海波等[4]采用DMSO/水體系制備出長徑比較大的六棱柱狀和小團(tuán)粒狀晶體;Zhang等[5]用噴霧結(jié)晶法在DMSO溶劑中得到球狀LLM-105晶體;莊小博等[6]用DMSO溶劑誘導(dǎo)實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),LLM-105在氫鍵作用下定向形成矩形棒狀晶體,且晶體可能沿著(1 0 0)方向擇優(yōu)生長;徐容等[7]用DMSO和65%HNO3水溶液反相滴加重結(jié)晶得到顆粒狀LLM-105,在DMSO溶劑中得到棒狀晶體;李媛等[8]分別用DMSO、N-甲基吡咯烷酮和H2SO4為溶劑進(jìn)行重結(jié)晶,發(fā)現(xiàn)LLM-105在DMSO中的溶解度較大,得到平均粒徑5μm的棒狀晶體。當(dāng)前研究主要集中于LLM-105晶體粒徑調(diào)控,而溶劑對(duì)LLM-105晶體形貌的影響規(guī)律報(bào)道較少。

      近年來,量子力學(xué)和分子動(dòng)力學(xué)方法已應(yīng)用于含能材料模擬研究,平衡形態(tài)法、晶體生長法等已成功預(yù)測(cè)HMX、RDX、ANPyO等的晶體形貌[9]。1878年Gibbs[10]從熱力學(xué)出發(fā)提出晶體生長最小表面能原理。平衡形態(tài)法基于該原理提出比表面能是晶體平行于該晶面脫附時(shí)所斷裂的鍵能總和。晶體生長法[11]認(rèn)為晶體的生長形態(tài)受到外部條件以及晶體內(nèi)部結(jié)構(gòu)特別是原子間鍵能的影響,是一非平衡過程。本研究采用分子動(dòng)力學(xué)方法,通過平衡形態(tài)法和晶體生長法預(yù)測(cè)真空條件下LLM-105主要生長晶面。通過修正附著能分析DMSO環(huán)境下LLM-105主要控制晶面及其生長速率,通過徑向分布函數(shù)和晶面結(jié)構(gòu)分析不同晶面與DMSO之間的相互作用,考察溶劑DMSO在晶面上的擴(kuò)散系數(shù)以分析LLM-105粒子成核能壘,以期為LLM-105晶體形貌控制提供理論參考。

      1 分子動(dòng)力學(xué)模擬

      采用Materials Studio程序Visualizer模塊,根據(jù)LLM-105單晶數(shù)據(jù)[12]構(gòu)建晶胞模型。構(gòu)建LLM-105超晶胞(4×3×4)并置于周期性邊界條件的周期箱中,含192個(gè)LLM-105分子。采用COMPASS力場(chǎng)對(duì)LLM-105超晶胞進(jìn)行能量最小化,優(yōu)化晶胞參數(shù)。用Morphology模塊計(jì)算LLM-105的晶體形態(tài)和晶體的主要生長晶面,對(duì)不同晶面分別構(gòu)建3D周期結(jié)構(gòu),周期箱在c方向添加10nm的真空層。

      根據(jù)文獻(xiàn)[13],采用分層建模方法構(gòu)建DMSO/LLM-105“雙層結(jié)構(gòu)”初始模型。用Amorphous Cell模塊建立溶劑層,選擇900個(gè)溶劑分子,溶劑密度為1.507g/cm3。采用同樣的方法進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化,根據(jù)不同晶面的大小確定溶劑層面積。構(gòu)建DMSO/LLM-105“雙層結(jié)構(gòu)”初始模型,其中上層為DMSO溶劑分子,下層分別為LLM-105(0 2 0)、(0 1 1)、(1 1 0)、(1 0 -1)晶面。雙層結(jié)構(gòu)模型經(jīng)優(yōu)化后,選取NPT系綜進(jìn)行分子動(dòng)力學(xué)模擬,溫度設(shè)為295K,模擬時(shí)間步長為1fs,總模擬步數(shù)100萬步,共保存1000幀軌跡。模擬平衡以溫度和能量為參照,通常溫度和能量的值均須達(dá)到穩(wěn)定體系才算平衡,一般在5%~10%以內(nèi)的波動(dòng)即認(rèn)為體系已經(jīng)達(dá)到平衡[14]??梢缘玫皆榆壽E結(jié)構(gòu)圖和平衡結(jié)構(gòu)圖,對(duì)原子軌跡圖前300ps用于熱力學(xué)平衡,后700ps用于計(jì)算分析。溫度控制采用Anderson方法,壓力控制用Parrinello積分法,模擬過程中庫侖力和范德華長程非鍵作用力分別采用Ewald和Atom based方法計(jì)算,截?cái)喟霃綖?.95nm。

      2 結(jié)果與討論

      2.1 LLM-105晶體形貌預(yù)測(cè)

      (1)平衡形態(tài)法

      晶體在恒溫和恒容的條件下,基于表面能分析晶體形貌即為平衡形態(tài)法,已成功運(yùn)用于真空條件下含能材料晶體形貌的預(yù)測(cè)[15-16]。某一晶面的線性生長速率與其表面能成比例,定義為Gibbs-Wulff 晶體生長定律,如式(1)[17]所示。

      (1)

      式中:ri為平衡形態(tài)的晶體中心引向第i個(gè)晶面的距離;σi為第i個(gè)晶面的比表面自由能。

      所預(yù)測(cè)LLM-105的晶體形貌如圖1所示,主要生長晶面參數(shù)如表1所示。如果某一晶面的表面能小,則其形成臨界晶核的能壘低,具有相對(duì)較高的成核速率。

      從圖1可見,LLM-105晶體類似于形狀不規(guī)則的金字塔,長徑比為1.766,體積為21317.920×10-3nm3,表面積為4216.635×10-2nm2,相對(duì)表面積為1.134,相似球形度為0.882。平衡形態(tài)法預(yù)測(cè)LLM-105晶體主要生長晶面為(0 2 0)、(0 1 1)、(1 1 0)及(1 0 -1)晶面。從表1可見,各晶面表面能按照由大到小的順序?yàn)?1 1 0)>(1 0 -1)>(0 1 1)>(0 2 0),其中(0 2 0)晶面表面能最低,生長最慢。

      表1 平衡形態(tài)法預(yù)測(cè)得到的LLM-105主要生長晶面的參數(shù)Table 1 Parameters of the main crystal faces of LLM-105 obtained by equilibrium morphology

      注:n為晶面多重度

      根據(jù)Bravais法則[18],實(shí)際晶面往往平行于面網(wǎng)密度大的晶面,對(duì)生長質(zhì)點(diǎn)吸引力小,生長速度慢,晶面的法線方向生長速率R與晶面間距dhkl成反比,即R∝1/dhkl。用平衡形態(tài)法計(jì)算晶面能的同時(shí),還得到了真空條件下LLM-105不同晶面面積比例及晶面間距dhkl。從表1可見,LLM-105各晶面間距dhkl按照從大到小排列為(0 2 0)>(0 1 1)>(1 1 0)>(1 0 -1),其中(0 2 0)生長較慢,與表面能分析結(jié)果一致。

      (2)晶體生長法

      在真空條件下晶面的線性生長速度R與其附著能Eatt成正比,即R∝Eatt。其中附著能是范德華力與靜電相互作用能之和。晶體生長法預(yù)測(cè)得到LLM-105在真空中的晶型如圖2所示。表2分別給出了(0 2 0)、(0 1 1)、(1 1 0)及(1 0 -1)4個(gè)主要生長晶面的參數(shù)。

      從圖2可見,與平衡形態(tài)法相比,晶體生長法預(yù)測(cè)的晶體形貌更趨于長柱狀,長徑比為2.094。從表2可見,晶面附著能絕對(duì)值按照由大到小排序?yàn)?1 1 0)>(1 0 -1)>(0 2 0)>(0 1 1),其中(0 1 1)晶面占總晶面面積最大,與中心的距離最小,附著能最小,因此(0 1 1)晶面生長速率最小,是生長最慢的晶面。這一結(jié)果與平衡形態(tài)法預(yù)測(cè)結(jié)果有差異。兩種方法分別從表面能和附著能進(jìn)行研究,但是平衡形態(tài)法忽略了分子與基團(tuán)間的鍵極性及生長條件的影響,僅能粗略預(yù)測(cè)晶體形貌,晶體生長法結(jié)果更為準(zhǔn)確??紤]溶劑效應(yīng)的影響,對(duì)已得到的附著能進(jìn)行修正,得到修正附著能模型(AE模型)。溶劑層與晶面的相互作用能Eb如式(2)[16]所示

      Eb=Etot-Esurf-Esolv

      (2)

      式中:Etot為整體結(jié)構(gòu)能量;Esurf為晶面層的能量;Esolv為溶劑層的能量。

      表2 晶體生長法預(yù)測(cè)得到LLM-105主要生長晶面的參數(shù)Table 2 Parameters of the main crystal faces of LLM-105 obtained by growth morphology method

      注:S為單個(gè)晶面面積占總晶面表面積的百分比。

      (3)

      (4)

      式中:Aacc為晶體單元胞晶面溶劑可達(dá)面積;Amodel為雙層結(jié)構(gòu)模型總晶面面積。

      分子動(dòng)力學(xué)模擬得到295K時(shí)DMSO/LLM-105雙層模型能量最低的平衡結(jié)構(gòu),如圖3所示。表3為LLM-105晶面的修正附著能。經(jīng)過溶劑DMSO作用后預(yù)測(cè)的晶體形貌如圖4所示。

      表3 溶劑中DMSO/LLM-105晶面的修正附著能Table 3 Modified attachment energies of LLM-105 crystal faces in solvent

      注:R′為溶劑作用之后的生長速率。

      對(duì)比真空條件與溶劑條件下LLM-105附著能(表2和表3),可見溶劑中4個(gè)晶面的附著能遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于真空條件下,這是由于LLM-105分子內(nèi)部有強(qiáng)相互作用,在真空條件下生長速率很快,極難控制晶體形貌,容易爆發(fā)式成核。加入溶劑DMSO后晶面附著能顯著減小,有助于LLM-105晶體形貌控制。

      2.2 晶面結(jié)構(gòu)分析

      采用徑向分布函數(shù)(RDF)分析DMSO與LLM-105之間的相互作用,截?cái)喟霃饺?.6nm,每個(gè)計(jì)算都包括分子內(nèi)和分子外作用。對(duì)4種晶面雙層模型分別選取4對(duì)可能形成較強(qiáng)作用的原子對(duì),分別是LLM-105中的N原子與DMSO中的H、O、S原子,以及LLM-105中的O原子與DMSO中的S原子。設(shè)置最大氫與受體距離為0.25nm,在供體、氫與受體之間鍵角最小為90°,RDF結(jié)果如圖5所示。圖6為LLM-105各個(gè)晶面與DMSO溶劑界面結(jié)構(gòu),紅色虛線表示在0.0891nm原子間距離范圍內(nèi)的原子,藍(lán)色虛線表示氫鍵相互作用原子。

      分子間相互作用隨距離變化通常分為氫鍵(0.26~0.31nm)和范德華力作用(0.31~0.50nm),大于0.50nm范德華作用微弱。從圖5可見,DMSO與LLM-105中4對(duì)原子徑向分布函數(shù)中,LLM-105各個(gè)晶面上S—O和S—N原子對(duì),在距離0.50nm之內(nèi)沒有峰值出現(xiàn),說明沒有強(qiáng)氫鍵或范德華力作用。對(duì)于H—N原子對(duì)僅觀察到LLM-105(0 1 1)晶面中峰值明顯,具有強(qiáng)氫鍵作用和范德華力相互作用。(1 0 -1)晶面上O—N原子對(duì)在距離0.3nm左右有一個(gè)峰值,但概率密度并不大,表明有較弱的氫鍵作用。

      晶面上垂直顯露的硝基有利于與周圍溶劑分子形成氫鍵[19]。由圖6可見,(0 2 0)晶面顯露的是氫原子,其他晶面都有強(qiáng)極性的硝基基團(tuán)。其中(0 1 1)晶面顯露完整的硝基,(1 1 0)晶面主要顯露的是N—O基團(tuán),(1 0 -1)晶面顯露原子排列整齊但不完整。按晶面極性來劃分,(0 1 1)屬于極性晶面,(1 1 0)與(1 0 -1)極性較弱,(0 2 0)晶面屬于非極性晶面。上述分析可見,(0 1 1)晶面上的硝基與DMSO形成氫鍵,使溶劑脫附變得困難,阻礙了LLM-105分子在晶面上沉積,晶體生長速率變緩,因而在LLM-105晶體形態(tài)學(xué)上是重要晶面,與晶體生長法預(yù)測(cè)結(jié)果一致。上述4個(gè)晶面均有大量活潑的O原子和H原子,因此可以選擇合適的表面活性劑,通過氫鍵吸附降低晶體表面能,調(diào)節(jié)LLM-105的晶體形貌。

      2.3 擴(kuò)散系數(shù)分析

      研究溶劑分子在含能材料中的擴(kuò)散快慢有助于分析含能材料晶體的生長過程。根據(jù)Einstein方程[20]計(jì)算位移的時(shí)間平均獲得擴(kuò)散系數(shù),計(jì)算式[21]如下:

      (5)

      MSD=〈r(t)-r(0)〉2

      (6)

      式中:D為擴(kuò)散系數(shù);d為空間維度;t為擴(kuò)散時(shí)間;r(0)和r(t)分別為起始坐標(biāo)和t時(shí)刻的分子坐標(biāo)。

      在分子動(dòng)力學(xué)模擬中三維立體晶胞模型d=3。在Discover模塊中求解所有原子的運(yùn)動(dòng)學(xué)方程,再進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分布得到均方差位移MSD。溶劑DMSO分子在LLM-105中的擴(kuò)散系數(shù)結(jié)果見表4。結(jié)合表3得到的修正附著能數(shù)據(jù),得出了擴(kuò)散系數(shù)與附著能的關(guān)系如圖7所示。

      表4 溶劑DMSO在LLM-105中的擴(kuò)散系數(shù)Table 4 Diffusion coefficient of solvent DMSO in LLM-105

      注:(MSD/t)為斜率

      由表4可見,(0 1 1)晶面擴(kuò)散系數(shù)最大,說明該晶面上溶劑最容易擴(kuò)散,成核能壘高不易聚集成核。結(jié)合表3中(0 1 1)晶面修正附著能最小,說明與DMSO溶劑分子相容性較好,在LLM-105間隙中發(fā)生空間位移。從圖7可見,修正附著能隨著溶劑擴(kuò)散系數(shù)的增大而減小,推測(cè)溶劑DMSO在不同晶面上擴(kuò)散系數(shù)不同導(dǎo)致不同晶面修正附著能不同。(1 0 -1)晶面修正附著能大、成核能壘低,使LLM-105晶體容易團(tuán)聚成核,導(dǎo)致分子擴(kuò)散系數(shù)小。

      LLM-105在DMSO中溶解度較大,表面能快速減小,當(dāng)表面能減小到一定程度時(shí),LLM-105顆粒會(huì)快速聚集在一起,溶劑誘導(dǎo)作用增強(qiáng)[22]。且DMSO屬于極性溶劑,更加促進(jìn)了誘導(dǎo)擴(kuò)散,這一過程與含能材料在增塑劑中的擴(kuò)散過程相似[23]。

      3 結(jié) 論

      (1)考察了真空和溶劑DMSO條件下LLM-105主要生長晶面情況,結(jié)果表明,真空條件下采用平衡形態(tài)法和晶體生長法,分別預(yù)測(cè)得到(0 2 0)和(0 1 1)晶面為LLM-105晶體生長控制晶面。分析溶劑DMSO作用后的修正附著能表明,(0 1 1)晶面為生長控制晶面,生長速率最小。

      (2)溶劑中4個(gè)晶面附著能遠(yuǎn)小于真空條件下,說明選擇合適的極性溶劑有利于LLM-105晶體形貌調(diào)控。

      (3)徑向分布函數(shù)和晶面結(jié)構(gòu)分析表明,DMSO中的H原子與(0 1 1)晶面LLM-105中的N原子對(duì)之間具有較強(qiáng)氫鍵和范德華力相互作用,極性晶面(0 1 1)顯露完整的硝基,有利于形成分子間相互作用。

      (4)DMSO在不同晶面上擴(kuò)散系數(shù)考察表明,修正附著能隨著溶劑擴(kuò)散系數(shù)的增大而減小,溶劑DMSO在(0 1 1)晶面上擴(kuò)散系數(shù)最大,因此成核能壘高,不容易聚集成核。

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