高精度波束形成的相控陣超聲系統(tǒng)研究*

李杏華,江尚良,劉全利,王 雪,蘇智琨

(1.天津大學(xué)精密測(cè)試技術(shù)及儀器國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津 300072;2.中國(guó)石油天然氣管道科學(xué)研究院,河北 廊坊 065000)

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高精度波束形成的相控陣超聲系統(tǒng)研究*

李杏華1*,江尚良1,劉全利2,王 雪2,蘇智琨1

(1.天津大學(xué)精密測(cè)試技術(shù)及儀器國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津 300072;2.中國(guó)石油天然氣管道科學(xué)研究院,河北 廊坊 065000)

為深入研究管道環(huán)焊縫缺陷特性,需要相控陣檢測(cè)系統(tǒng)提供完全控制激勵(lì)信號(hào)參數(shù)和獲得接收回波信號(hào)的特性,針對(duì)該問題設(shè)計(jì)了32個(gè)模擬通道,可接入128個(gè)陣元,數(shù)字化頻率達(dá)到125 Msample/s的相控陣超聲檢測(cè)系統(tǒng)。采用流水線式延時(shí)實(shí)現(xiàn)小數(shù)倍延時(shí),脈沖發(fā)射延時(shí)精度為2.5 ns;使用Master-Slave結(jié)構(gòu)的管理方式,在硬件上合理分配資源,對(duì)回波數(shù)據(jù)進(jìn)行線性插值,同時(shí)根據(jù)脈沖的延時(shí)方案對(duì)各通道的插值數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ),實(shí)現(xiàn)高精度數(shù)字波束形成。使用Hilbert變換提取形成波束在FIR濾波器濾波前后的包絡(luò),得到濾波后信噪比提高了9.4 dB。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行缺陷檢測(cè)實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)表明在深度上缺陷定位的相對(duì)誤差為1.7%,相對(duì)于現(xiàn)有系統(tǒng)檢測(cè)精度提高了接近2倍。

相控陣;波束形成;延時(shí);FPGA

隨著相控陣檢測(cè)技術(shù)的進(jìn)步,包括集成電路、波束合成技術(shù)、換能器等,相控陣系統(tǒng)應(yīng)用范圍越來越廣[1]。相控陣超聲系統(tǒng)的研究主要包括硬件器件的選擇、換能器的設(shè)計(jì)和開發(fā)、陣列信號(hào)處理和波束形成等[2-4]。

國(guó)外研發(fā)的相控陣探傷儀已經(jīng)商業(yè)化,如Olympus生產(chǎn)的TomoScan系列和OmniScan系列。但是商業(yè)設(shè)備不能提供完全控制激勵(lì)信號(hào)參數(shù)和獲得接收回波信號(hào)的特性,而且價(jià)格昂貴,因此急需開發(fā)一套開放的相控陣檢測(cè)系統(tǒng)。Jensen J A等為了減少系統(tǒng)的復(fù)雜度,達(dá)到較高的空間分辨率,提出了合成孔徑的方法,但是這種方法損失了對(duì)比度分辨率[5];Diarra B等將模擬退火算法結(jié)合隨機(jī)稀疏陣列,有效地減少激活陣元數(shù),同時(shí)最小化旁瓣效應(yīng)[6];Hasegawa H等使用發(fā)散發(fā)射波束和并行接收波束形成,達(dá)到超過300 Hz的高幀率,圖像分辨率比稀疏掃描好[7];Rasmussen M F等對(duì)相控陣合成孔徑和并行波束形成進(jìn)行對(duì)比,提出了每種方法的優(yōu)缺點(diǎn)[8]。與國(guó)外相比國(guó)內(nèi)的起步較晚,主要是高校和研究機(jī)構(gòu)在做這方面的工作。南京信息工程大學(xué)的孫亞杰等采用直方圖匹配、模糊集的方法增強(qiáng)相控陣檢測(cè)圖像,從而提高圖像的可識(shí)別度[9-10];天津大學(xué)的李建等結(jié)合小波包和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),對(duì)碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料的不同缺陷的識(shí)別率達(dá)到95.7%[11];北京大學(xué)的高鵬等利用非線性超聲相控陣檢測(cè),具有空間分辨率高、缺陷分辨率強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)[12];天津大學(xué)的焦志海等利用數(shù)字正交解調(diào)技術(shù),實(shí)現(xiàn)數(shù)字波束合成信號(hào)包絡(luò)幅值的提取,橫向分辨率提高25%,信噪比提高了3.7 dB[13]。在這些研究中,具有同樣的目的就是提高檢測(cè)分辨率,但是為了減少系統(tǒng)復(fù)雜性及系統(tǒng)成本,會(huì)減少激活陣元數(shù),這樣即使運(yùn)用了一些方法,由于受到硬件基礎(chǔ)的限制,檢測(cè)效果還是不理想。

綜合考慮國(guó)外商業(yè)設(shè)備的限制及目前國(guó)內(nèi)研發(fā)的系統(tǒng)具有規(guī)模小、通道數(shù)少、處理能力低的局限,本文開發(fā)了一套能夠提供完全控制激勵(lì)信號(hào)參數(shù)和獲得接收回波信號(hào)的特性的相控陣檢測(cè)系統(tǒng),其具有32個(gè)獨(dú)立通道,可接入128個(gè)晶片,數(shù)字化頻率達(dá)到125 Msample/s。該系統(tǒng)使用分布式硬件結(jié)構(gòu),采用Master-Slave結(jié)構(gòu)的管理方式,利用流水線式延時(shí)技術(shù)實(shí)現(xiàn)脈沖發(fā)射的小數(shù)倍延時(shí),通過對(duì)回波數(shù)據(jù)進(jìn)行線性插值,采用對(duì)RAM尋址的方式,獲得數(shù)字合成波束。在對(duì)比實(shí)驗(yàn)中,本文設(shè)計(jì)的系統(tǒng)和M2M Pocket 16×64超聲相控陣檢測(cè)系統(tǒng)分別對(duì)同一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊中的同一缺陷進(jìn)行檢測(cè),實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明本系統(tǒng)對(duì)缺陷的檢測(cè)精度提高了接近2倍。

1 相控陣檢測(cè)原理

相控陣檢測(cè)的基本原理是通過控制每個(gè)聲波從各自聲源發(fā)出的時(shí)間不同,使得聲波在相交處產(chǎn)生聲能增強(qiáng)或削弱的相位效果,實(shí)現(xiàn)聲束的偏轉(zhuǎn)和聚焦。工業(yè)中常用的相控陣探頭通常與楔塊組合一起使用,晶片向楔塊發(fā)射聲波[14]。如圖1所示是相控陣換能器聲束偏轉(zhuǎn)聚焦的示意圖,x軸表示楔塊與被測(cè)材料的分界面,z軸穿過陣列中心(x0,z0)[15]。根據(jù)幾何關(guān)系及snell定理可得第n個(gè)陣元的延時(shí)值為:

(1)

式中:τ0是一個(gè)足夠大的常數(shù),以避免τn出現(xiàn)負(fù)的延遲時(shí)間。

圖1 相控陣換能器聲束偏轉(zhuǎn)聚焦的示意圖

聲波遇到被測(cè)物體底面或缺陷時(shí)會(huì)發(fā)生反射,反射回來的信號(hào)叫做回波信號(hào)?；夭ㄐ盘?hào)最基本的表現(xiàn)形式是A掃描,即波形顯示。對(duì)于A掃信號(hào),通過計(jì)算缺陷回波的聲程來定位缺陷。當(dāng)移動(dòng)探頭時(shí),同一個(gè)缺陷會(huì)出現(xiàn)在多個(gè)A掃信號(hào)中。當(dāng)聲束聚焦到缺陷邊緣時(shí),A掃信號(hào)會(huì)出現(xiàn)小峰值,隨著聲束聚焦點(diǎn)靠近缺陷中心位置時(shí),A掃信號(hào)的小峰值會(huì)越來越大,當(dāng)聲束聚焦點(diǎn)遠(yuǎn)離缺陷中心時(shí),A掃信號(hào)的小峰值越來越小,直到小峰值消失。當(dāng)A掃信號(hào)出現(xiàn)最大值時(shí),根據(jù)此A掃信號(hào)就可以計(jì)算出缺陷的中心位置。

圖2 相控陣超聲系統(tǒng)的原理框圖

2 相控陣檢測(cè)系統(tǒng)

如圖2所示為用于管道缺陷檢測(cè)的相控陣超聲系統(tǒng)的原理框圖。系統(tǒng)可以接入128個(gè)陣元、具有32個(gè)模擬通道。接入128個(gè)陣元意味著最多可以同時(shí)發(fā)射128個(gè)激勵(lì)脈沖,這樣可以提高脈沖發(fā)射功率,提高系統(tǒng)信噪比。32個(gè)模擬通道可以同時(shí)采集32個(gè)回波信號(hào),保證系統(tǒng)具有較高的空間分辨率。系統(tǒng)的通道數(shù)多,數(shù)字化頻率高達(dá)125 Msample/s,使得數(shù)據(jù)量大,而且考慮到FPGA資源分配的問題,采用主從模式來實(shí)現(xiàn)大數(shù)據(jù)量的處理。系統(tǒng)是自主開發(fā)的,底層硬件對(duì)使用者完全開放,可以根據(jù)要求設(shè)置高壓脈沖的參數(shù)產(chǎn)生相應(yīng)的脈沖信號(hào),獲得所有通道的回波數(shù)據(jù)。

系統(tǒng)工作過程是Slave FPGA接收到發(fā)射聚焦參數(shù),包括脈沖極性、高壓幅值、發(fā)射孔徑、各陣元的延時(shí)等,生成高壓脈沖控制信號(hào),發(fā)送到高壓脈沖發(fā)射電路中,其中每個(gè)高壓脈沖需要兩個(gè)控制信號(hào)實(shí)現(xiàn)4種狀態(tài),分別為發(fā)射建立、發(fā)射正高壓、發(fā)射負(fù)高壓、接收回波。Master FPGA控制模擬前端的工作模式,包括通道選擇、增益調(diào)節(jié)、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換率、數(shù)據(jù)位數(shù)、差分阻抗匹配,其中最多能從128中選擇32通道,采用兩級(jí)增益,最大增益為96 dB,數(shù)據(jù)位數(shù)12 bit。接著兩個(gè)FPGA通過高速串行總線LVDS分別采集16路模擬信號(hào),分別進(jìn)行波束形成,然后Slave FPGA將形成后的數(shù)據(jù)通過LVDS發(fā)送到Master FPGA中實(shí)現(xiàn)最終波束形成,并且將形成波束發(fā)送到上位機(jī)中。

3 主從波束形成設(shè)計(jì)

3.1 脈沖信號(hào)的產(chǎn)生

Slave FPGA產(chǎn)生脈沖控制信號(hào),從而產(chǎn)生脈沖信號(hào)。為了實(shí)現(xiàn)聲束聚焦,由式(1)計(jì)算得出每個(gè)通道的脈沖信號(hào)延時(shí)。延時(shí)是由系統(tǒng)工作頻率倒數(shù)Ts的整數(shù)倍和小數(shù)倍之和形成,可表示為:

τn=pTs+qTa

(2)

式中:p、q為整數(shù),Ta為延時(shí)精度。整數(shù)倍的延時(shí),通過對(duì)工作頻率計(jì)數(shù)即可實(shí)現(xiàn)。小數(shù)倍的延時(shí)決定了系統(tǒng)的延時(shí)精度,采用流水線式延時(shí)實(shí)現(xiàn)小數(shù)倍延時(shí)。這種方式中,需要使用多個(gè)不同相位的時(shí)鐘,根據(jù)不同的延時(shí)值使用相應(yīng)的工作時(shí)鐘。

圖3 流水線式延時(shí)時(shí)鐘關(guān)系

如圖3所示為時(shí)鐘的相位關(guān)系,每個(gè)時(shí)鐘的頻率為100 MHz,相鄰時(shí)鐘延時(shí)差為2.5 ns。以T0為基準(zhǔn),T1偏轉(zhuǎn)90°,T2偏轉(zhuǎn)180°,T3偏轉(zhuǎn)270°,延時(shí)值分別為2.5 ns、5 ns、7.5 ns。通過這種流水線式延時(shí),可以實(shí)現(xiàn)脈沖發(fā)射延時(shí)精度為2.5 ns。提高時(shí)鐘頻率就可以提高延時(shí)精度,但是時(shí)鐘頻率高的話本身的抖動(dòng)較大會(huì)影響延時(shí)精度,同時(shí)會(huì)增大時(shí)序約束的難度。綜合考慮,本設(shè)計(jì)中采用100 MHz時(shí)鐘,延時(shí)精度達(dá)到2.5 ns。

根據(jù)不同的延時(shí)值,通過時(shí)鐘選擇器從4個(gè)不同相位的時(shí)鐘選擇其中一個(gè)作為對(duì)應(yīng)通道產(chǎn)生脈沖控制信號(hào)的工作時(shí)鐘。如圖4所示為產(chǎn)生脈沖的框圖,Master FPGA根據(jù)一定的頻率向Slave FPGA發(fā)送通道延時(shí)值,完成發(fā)送延時(shí)值的下一個(gè)周期發(fā)送計(jì)數(shù)觸發(fā)信號(hào)。Slave FPGA收到計(jì)數(shù)觸發(fā)信號(hào)后,各個(gè)通道選擇相應(yīng)的時(shí)鐘開始計(jì)數(shù),計(jì)數(shù)到相應(yīng)的延時(shí)值后,產(chǎn)生脈沖觸發(fā)信號(hào)。此信號(hào)觸發(fā)脈沖產(chǎn)生模塊輸出脈沖芯片的控制信號(hào),從而為各個(gè)通道產(chǎn)生具有一定延時(shí)并且延時(shí)精度為2.5 ns的脈沖信號(hào)。為了保證延時(shí)精度達(dá)到設(shè)計(jì)要求,對(duì)整體設(shè)計(jì)添加時(shí)序約束,從而使得設(shè)計(jì)滿足建立保持關(guān)系的要求。

圖4 產(chǎn)生脈沖的框圖

3.2 接收波束形成及數(shù)據(jù)處理

本文采用的主從接收模式是針對(duì)整體規(guī)模大的系統(tǒng)設(shè)計(jì)的,如圖5所示為主從波束形成的結(jié)構(gòu)。全部通道分兩組,先進(jìn)行組內(nèi)的波束形成,然后再進(jìn)行組間波束形成。各通道插值后的信號(hào)經(jīng)過延時(shí)、求和形成次級(jí)波束,接著Slave FPGA將波束發(fā)送到Master FPGA中,形成最終波束,主從波束形成可表示為:

(3)

式中:i=1,2,分別代表主從;j=1,2,…,16,表示主從中的通道;τij表示主或從的第j通道的延時(shí),由式(1)計(jì)算得出;y(n)為最終形成波束。

圖5 主從波束形成的結(jié)構(gòu)

為了使各通道的回波數(shù)據(jù)同相相加,需要為每個(gè)通道的回波數(shù)據(jù)進(jìn)行延時(shí),實(shí)現(xiàn)時(shí)間補(bǔ)償。由于采樣率相對(duì)于回波信號(hào)的最高頻率大較多倍,數(shù)字回波信號(hào)很好地記錄了模擬信號(hào)的信息,因此本文采用4X線性插值的方法,使得接收聚焦的延時(shí)精度達(dá)到2.5 ns?；夭ㄐ盘?hào)的采樣周期為10 ns,需要在兩個(gè)采樣點(diǎn)之間插入3個(gè)數(shù)據(jù)。假設(shè)相鄰的兩個(gè)采樣點(diǎn)分別為x(n)、x(n+1),插值點(diǎn)分別為x1、x2、x3,采用式(4)～式(6)可以僅使用一個(gè)周期計(jì)算出插值數(shù)據(jù),提高了FPGA的工作效率。

(4)

(5)

(6)

本設(shè)計(jì)通過對(duì)RAM尋址實(shí)現(xiàn)延時(shí),尋址方式如圖6所示,箭頭指向的單元為每個(gè)通道存儲(chǔ)的首地址。延時(shí)是將第1個(gè)數(shù)據(jù)根據(jù)相應(yīng)的延時(shí)值寫到對(duì)應(yīng)地址的單元中,然后依次將插值數(shù)據(jù)寫入到RAM中。根據(jù)延時(shí)值計(jì)算出插值數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的首地址是延時(shí)的關(guān)鍵。插值完成后相鄰數(shù)據(jù)點(diǎn)的時(shí)間間隔為2.5 ns,因此在RAM中相鄰單元的延時(shí)為2.5 ns。根據(jù)式(2)可以得出存儲(chǔ)器的首地址FA為:

(7)

本設(shè)計(jì)中Ts為10 ns,Ta為2.5 ns,因此假設(shè)延時(shí)值為32.5 ns,可得p=3,q=1,可得FA為13。在插值并且數(shù)據(jù)存放完成后,同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了延時(shí)。此時(shí)各通道對(duì)應(yīng)的RAM的相同地址的數(shù)據(jù)的相位一致,因此對(duì)各通道進(jìn)行求和時(shí)只需要將不同RAM中相同地址的數(shù)據(jù)求和,實(shí)現(xiàn)數(shù)字波束形成。

圖6 RAM尋址方式

圖7 濾波前后的形成波束包絡(luò)

為了定量分析合成波束的信號(hào)質(zhì)量,提取濾波前后信號(hào)的包絡(luò),求其信噪比。圖7所示為采用Hilbert變換提取形成波束在FIR濾波器濾波前后的包絡(luò)。從圖7可以計(jì)算出合成波束濾波前的信噪比為19.6 dB,濾波后的信噪比為29 dB,信噪比提高了9.4 dB。

4 相控陣檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析

為了檢驗(yàn)相控陣系統(tǒng)的缺陷檢測(cè)能力,設(shè)計(jì)如下的缺陷檢測(cè)實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)的目的是檢測(cè)坡口焊縫中熱焊區(qū)的缺陷,實(shí)驗(yàn)中使用的是標(biāo)準(zhǔn)試塊,缺陷位于熱焊區(qū)中心,坡口形狀及參數(shù)如圖8所示,實(shí)驗(yàn)中使用的換能器參數(shù)如表1所示,采樣率為100 MHz。

圖8 坡口形狀及參數(shù)(單位:mm)

參數(shù)名稱參數(shù)值中心頻率/MHz5陣元數(shù)量/個(gè)64陣元間距/mm0．6激活孔徑/mm38．4高度/mm10

實(shí)驗(yàn)中首先將換能器移動(dòng)到使聲束聚焦到熱焊區(qū)的位置,然后再以2 mm的步進(jìn)沿著管道周向移動(dòng)探頭,每移動(dòng)一次記錄一組A掃信號(hào)。從檢測(cè)到缺陷到移出缺陷,可以獲得多組A掃信號(hào),如圖9所示,(a)～(g)分別代表聲束聚焦到缺陷邊緣到缺陷中心到離開缺陷過程的A掃信號(hào),圖中的波形是延時(shí)45.9 μs開始截取,波束在楔塊中的延時(shí)為34 μs。當(dāng)出現(xiàn)最大波時(shí),意味著聲束打在熱焊區(qū)缺陷的中心位置,從時(shí)間軸上看,最大波出現(xiàn)的位置為7.65 μs。波束在鋼中的傳播路徑如圖8虛線所示,根據(jù)幾何關(guān)系及傳播延時(shí),可得出檢測(cè)到熱焊區(qū)中心的深度為14.47 mm。與實(shí)際深度相比,誤差為0.25 mm,相對(duì)誤差為1.7%。采用這種最原始的方法定位缺陷,在深度上達(dá)到1.7%的相對(duì)誤差是比較小的。可見設(shè)計(jì)的32通道相控陣檢測(cè)系統(tǒng)具有較高定位精度。

圖9 (a-g)分別是聲束聚焦到缺陷邊緣到缺陷中心到離開缺陷過程的A掃信號(hào)

圖10 M2M Pocket 16×64聲束聚焦到缺陷中心的A掃信號(hào)

為了進(jìn)一步說明系統(tǒng)的高精度特性,本文使用M2M Pocket 16×64超聲相控陣檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)圖8所示的坡口焊縫中熱焊區(qū)的缺陷。此系統(tǒng)具有16個(gè)獨(dú)立通道,可接入64個(gè)晶片。實(shí)驗(yàn)中使用的換能器參數(shù)如表1所示,與本文設(shè)計(jì)的系統(tǒng)使用相同電機(jī)。在電機(jī)移動(dòng)過程中,出現(xiàn)的最大波如圖10所示,此波形同樣延時(shí)45.9 μs開始截取,波束在楔塊中的延時(shí)為34 μs。此波形為聲束打在熱焊區(qū)缺陷的中心位置時(shí)的回波,從時(shí)間軸上看,最大波出現(xiàn)的位置為7.85 μs。使用同樣的方法可計(jì)算出檢測(cè)到熱焊區(qū)中心的深度為14.25 mm。與實(shí)際深度相比,誤差為0.47 mm,相對(duì)誤差為3.2%。

以上兩個(gè)實(shí)驗(yàn)中,檢測(cè)相同缺陷、使用相同電機(jī)及換能器的情況下,分別使用兩套系統(tǒng),本文設(shè)計(jì)的系統(tǒng)具有32個(gè)獨(dú)立通道,M2M Pocket 16×64超聲相控陣檢測(cè)系統(tǒng)是16個(gè)獨(dú)立通道。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明本文設(shè)計(jì)的系統(tǒng)相對(duì)于現(xiàn)有的設(shè)備具有較高的精度,檢測(cè)精度提高了接近2倍,同時(shí)也表明了通道數(shù)多的系統(tǒng)的優(yōu)越。

5 結(jié)論

設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)通道數(shù)多、數(shù)字化頻率高的相控陣超聲檢測(cè)系統(tǒng),采用流水線式延時(shí)技術(shù)實(shí)現(xiàn)脈沖發(fā)射的小數(shù)倍延時(shí),采用Master-Slave結(jié)構(gòu),對(duì)回波數(shù)據(jù)進(jìn)行插值以及使用對(duì)RAM尋址的方式實(shí)現(xiàn)高精度波束形成。通過Hilbert變換實(shí)現(xiàn)對(duì)形成波束包絡(luò)的提取,比較FIR濾波器濾波前后的信噪比,濾波后信噪比提高了9.4 dB。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行缺陷檢測(cè)實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)表明系統(tǒng)能夠有效定位缺陷,深度上的相對(duì)誤差為1.7%,相對(duì)于現(xiàn)有設(shè)備檢測(cè)精度提高了接近2倍。結(jié)合開放的接收發(fā)射單元,系統(tǒng)能夠滿足深入研究管道環(huán)焊縫缺陷特性的要求,同時(shí)需要相對(duì)較低的設(shè)備成本。

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李杏華(1976-),男,江西南昌人,博士,天津大學(xué)副教授,碩士生導(dǎo)師,主要從事圖像跟蹤、硬件處理、海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與傳輸技術(shù)、超聲檢測(cè)技術(shù)的研究,li.xinghua@126.com;

江尚良(1991-),男,福建龍巖人,在讀碩士研究生,主要從事硬件處理、超聲檢測(cè)技術(shù)的研究,jiangshangliang@tju.edu.cn。

Research on Phased Array Ultrasonic System with High-Precision Beamforming*

LIXinghua1*,JIANGShangliang1,LIUQuanli2,WANGXue2,SUZhikun1

(1.State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments,Tianjin University,Tianjin 300072,China;2.China Petroleum Natural Gas Pipeline Scientific Research Academy,Langfang Heibei 065000,China)

In order to deepen the study on features of girth weld defects of pipeline,full control of excitation signal parameters and access to the received echo-signals should be provided. A phased array ultrasonic testing system was designed with 32 analog channels,which can connect 128 elements and run at the condition of 125 Msample/s(Million Samples per Second)digitalization frequency. Pipelined delay was adopted,which can realize fractional delay. The impulse transmission delay accuracy is 2.5 ns. Master-Slave management mode was used. Thus,the device can allocate resources reasonably,and high-precision digital beamforming can be realized by doing linear interpolation for echo data and saving the data after interpolating according to the delay scheme of pulse. Hilbert transform is adopted to extract envelopes of synthetic ultrasonic signal. After comparing signal to noise ratios(SNR)before and after filtering by FIR filter,it can be found that SNR after filtering is 9.4 dB higher. Moreover,a defect detection experiment was made toward the standard test block. The result shows that the defect position relative error in depth is 1.7%,which is nearly twice as high as that of the existing system.

phased array;beamforming;delay;FPGA

項(xiàng)目來源:國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(51375338)

2016-08-15 修改日期:2016-11-30

TP274+.2

A

1004-1699(2017)03-0471-06

C:7220

10.3969/j.issn.1004-1699.2017.03.023