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      高速PCB通孔非功能性焊盤對信號的影響分析

      2016-12-07 06:45:43朱泳名葛鷹
      廣東科技 2016年13期
      關鍵詞:插入損耗通孔導體

      文/朱泳名 葛鷹

      高速PCB通孔非功能性焊盤對信號的影響分析

      文/朱泳名葛鷹

      高速信號一直是通信行業(yè)無法回避的一個話題,隨著傳輸信號信息量的加大和傳輸速率的加快,高速信號的重要性愈加凸顯。高速印制電路板(Printed CircuitBoard,以下簡稱PCB)作為高速信號的載板,其材料選擇、加工工藝及線路設計都會對信號質(zhì)量產(chǎn)生影響,其中非功能性焊盤(No-FunctionPad,以下簡稱NFP)是高速PCB加工的一項技術手段,而插入損耗是表征信號質(zhì)量的最重要的參數(shù)之一。本文從PCB加工流程出發(fā),嚴格控制加工過程中的各類影響因素,從而來確定NFP對高速信號插入損耗帶來的影響。

      1 NFP簡介

      NFP是指在通孔經(jīng)歷的每一層上所保留的非功能性焊盤,它不會用作于任何的電信號傳輸,但可以增強通孔孔壁沉銅的附著力。具體如圖1所示。

      圖1 NFP示意圖

      因為增加NFP等于在沉銅之前為其提供了金屬附著點,所以在高多層PCB的制作過程中很多廠家都會增加NFP以保證更好的沉銅效果。

      2 實驗設計

      此次考察選取相同覆銅板材料,設計為20層,在第3層和第18層布線,通過對比增加NFP(方案1)和不增加NFP(方案2)的線路插入損耗,來確認NFP是否會對信號質(zhì)量產(chǎn)生影響。由于在PCB加工過程中存在很多不確定因素,所以在考察信號插入損耗的同時也對幾大主要參數(shù)進行考察,以確保沒有因加工引入其它影響因素。

      3 影響因素考察

      3.1阻抗一致性考察

      在信號損耗的測試過程中,因為阻抗不連續(xù)會使信號產(chǎn)生反射最終影響插入損耗的測試結(jié)果,所以阻抗一致性控制的好壞會直接影響損耗測試的準確性。分別按方案1和方案2進行特征阻抗測試,得到的特征阻抗值見表1。

      表1 特征阻抗測試結(jié)果

      從表1可知,兩種方案的阻抗差異在5%以內(nèi),可以排除它對損耗測試的影響。

      3.2插入損耗影響因素考察

      插入損耗由介質(zhì)損耗和導體損耗構(gòu)成,由于此次對比考察的兩種方案使用了相同的材料及光繪圖形,所以造成介質(zhì)損耗和導體損耗的原因只會出現(xiàn)在PCB的加工上,下面對這兩項分別進行分析,以確保PCB的加工不會對考察造成影響。

      3.2.1介質(zhì)損耗考察

      高多層壓合時所使用的粘結(jié)片會產(chǎn)生一定的流膠,而流膠量的不同會帶來介質(zhì)損耗的差異。鑒于粘結(jié)片流膠的不確定性,在壓合完成之后對其進行切片分析,以徹底排除流膠量不同帶來的影響。切片測量見圖2。

      圖2 信號線上下層介質(zhì)厚度測量

      從圖2可知,此次兩種考察方案的線路上下層芯板厚度分別為139.8μm及135.2μm,而層壓后粘結(jié)片厚度分別為257.4μm和251.9μm,上下介質(zhì)厚度差異最大值在6μm以內(nèi),厚度控制符合公差要求,不會因介質(zhì)本身損耗而影響到插入損耗。

      3.2.2導體損耗考察

      導體損耗則與測試線路的線長、線寬、表面粗糙度乃至PCB加工時的側(cè)蝕等因素有關系。在此次考察的兩種方案中,線路設計是一樣的,可排除線長的影響。而加工時的棕化效果、蝕刻液濃度、水壓等因素會對線寬、線路表面粗糙度產(chǎn)生影響。為排除這些復雜的因素,此次考察直接從最終結(jié)果來判斷線路加工的一致性,具體見圖3。

      圖3 傳輸線電鏡測量圖片

      如圖3所示,在電鏡下對方案1與方案2的傳輸線進行測量得出線寬分別為168μm和166μm,傳輸線高度分別為18.3μm和18.9μm,表面粗糙度都在2.5μm的水平,這說明在傳輸線的PCB加工上導體損耗基本一致,繼而排除導體損耗對插入損耗的影響。

      4 NFP影響分析

      結(jié)合插入損耗的產(chǎn)生機理,從介質(zhì)損耗和導體損耗的產(chǎn)生源頭出發(fā),通過對PCB加工一致性的一系列考察,以確保此次考察的兩種方案只存在NFP這一個變量。依照 IPC-TM650-2.5.5.12標準中 FD (FrequencyDomain,頻域)方法對方案1和方案2進行測試,結(jié)果如圖4所示。

      圖410 GHz下兩種方案的插入損耗比較

      鑒于只存在NFP這一個變量,所以可以大致判定NFP對信號插入損耗的影響。方案1為未增加NFP,所以不管是第03層還是第18層,其插入損耗測試結(jié)果都小于增加了NFP的方案2,這說明引入NFP會增大信號的插入損耗。

      從此次考察結(jié)果來看,兩種方案之間損耗差異在9%的水平,圖5是某著名通信終端對材料等級進行了初步的劃分。

      圖5 插入損耗對材料等級的劃分

      參照圖5可知各等級材料之間的插入損耗差異其實是比較小的,如果此次考察NFP所引入的插入損耗差異剛好落在劃分界限的臨界范圍內(nèi),那么NFP可能會使材料等級降低一個等級,這對材料生產(chǎn)商到終端這一整條生產(chǎn)鏈來說都會有很大的影響。

      5 結(jié)語

      對于高速PCB來說,高多層是必然的發(fā)展趨勢,而通孔的制作是它的一大難題。NFP對PCB孔壁加工過程中的沉銅效果有較大的改善,在防止孔銅脫落、孔壁裂紋等質(zhì)量問題上有著其難得的功效。本文排除了其它影響因素,考察了NFP對信號插入損耗帶來的影響,以供材料生產(chǎn)商、PCB廠家以及終端制造廠家作為高速PCB設計的參考。

      朱泳名(1988-),男,工程師,本科,任職于廣東生益科技股份有限公司,從事高頻高速電路基材測試及研究工作;葛鷹(1983-),男,工程師,碩士研究生,任職于廣東生益科技股份有限公司,從事高頻高速電路基材測試及研究工作。

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