信號(hào)完整性量測(cè)技術(shù)簡(jiǎn)介

劉向紅，張時(shí)光

(鴻富錦精密電子 天津300462)

信號(hào)完整性量測(cè)技術(shù)簡(jiǎn)介

劉向紅，張時(shí)光

(鴻富錦精密電子 天津300462)

在產(chǎn)品開發(fā)的模型階段，需要通過信號(hào)完整性量測(cè)來確定產(chǎn)品高速信號(hào)傳輸品質(zhì)。因此從事數(shù)據(jù)處理和數(shù)據(jù)傳輸設(shè)計(jì)任務(wù)的工程師，必須了解信號(hào)完整性基礎(chǔ)知識(shí)，掌握必要的信號(hào)量測(cè)技能。以主板QPI和DMI信號(hào)完整性量測(cè)為實(shí)例，介紹了如何進(jìn)行相關(guān)技術(shù)量測(cè)。

高速信號(hào) 信號(hào)完整性 數(shù)據(jù)傳輸

0 引 言

信號(hào)完整性是指信號(hào)按照設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，完整到達(dá)接收端并被接收。研究信號(hào)完整性的目的就是要確保傳輸?shù)男盘?hào)被準(zhǔn)確接收，避免信號(hào)在傳輸中被吸收降解，同時(shí)確保信號(hào)不損壞任何設(shè)備以及不污染電磁頻譜。

1 信號(hào)完整性概述

1.1 高速信號(hào)傳輸線效應(yīng)

信號(hào)在低速傳輸時(shí)，如果傳輸介質(zhì)不是特別長(zhǎng)，一般來說頻率響應(yīng)對(duì)信號(hào)的影響很小。然而，隨著速度的增加，高頻效應(yīng)也隨之增加，較短的傳輸線路也可以發(fā)生如振鈴、串?dāng)_、反射和地彈等問題，嚴(yán)重阻礙了信號(hào)的完整性效果。

因此，傳統(tǒng)意義的數(shù)字電路設(shè)計(jì)不會(huì)受到傳輸線效應(yīng)的影響，因?yàn)樵谳^低頻率的傳輸線路中，信號(hào)傳輸能夠達(dá)到所期望的數(shù)據(jù)特征。但是，隨著系統(tǒng)速度的提升，較高的數(shù)據(jù)傳輸頻率就意味著信號(hào)不僅具有數(shù)字屬性，還會(huì)產(chǎn)生系統(tǒng)內(nèi)的模擬效應(yīng)等問題。典型情況如：為了提高I/O接口和存儲(chǔ)器接口的數(shù)據(jù)傳輸速率，特別是被嵌入到FPGA中的高速收發(fā)器，就會(huì)發(fā)生此類傳輸效應(yīng)。

1.2 如何解決信號(hào)傳輸線效應(yīng)

傳輸線效應(yīng)在發(fā)送數(shù)據(jù)時(shí)表現(xiàn)得非常顯著，但可以通過遵循良好的設(shè)計(jì)技巧和簡(jiǎn)單的布局指南來克服這類信號(hào)傳輸問題。

傳輸線可以被定義為一個(gè)在發(fā)送機(jī)和接收器之間載有信號(hào)的導(dǎo)體。傳統(tǒng)意義上，傳輸線也可以被看作是基于電信電纜的長(zhǎng)距離操作。但是，伴隨高速數(shù)字信號(hào)的傳輸，即便最短的被動(dòng)式印刷電路板(PCB)的走線也會(huì)受到傳輸線效應(yīng)的影響。低頻率的傳輸線或PCB走線是無電阻、電容或電感的理想電路，但在高頻率下，受交流電路特性支配，引發(fā)阻抗、電感和電容效應(yīng)的情況非常普遍。通過電路模型可以計(jì)算這類效應(yīng)(見圖1)，也可以用于確定傳輸線或PCB走線的特性阻抗。這個(gè)導(dǎo)線阻抗是非常重要的，因?yàn)槿魏蝹鬏斅窂絻?nèi)的不匹配都將導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量的降低。

圖1 傳輸線電路示意圖Fig.1 Schematic of the circuit of transmission line

1.3 阻抗失配和信號(hào)完整性

輸出源(ZS)、線(ZO)和接收器或負(fù)載(ZL)的不相等阻抗，導(dǎo)致信號(hào)傳輸線路阻抗失配。這意味著發(fā)送的信號(hào)沒有完全被接收器所吸收，多余的能量被反射回發(fā)射機(jī)。這個(gè)過程繼續(xù)往復(fù)多次，直至所有的能量被吸收。高速率數(shù)據(jù)傳輸過程能引起信號(hào)上沖、下沖、振鈴和階梯波形，從而產(chǎn)生信號(hào)誤差。阻抗失配可以通過為收發(fā)緩沖器選擇適宜且匹配的傳輸介質(zhì)來克服。如果是印刷電路板，可以通過仔細(xì)選擇在介質(zhì)材料和通過使用終端方案來消除這種阻抗的失配性。用于克服阻抗失配的終端方案取決于實(shí)際應(yīng)用情況。該方案包括簡(jiǎn)單的并行終端(見圖2)和更復(fù)雜的RC終端電路，終端在一個(gè)電阻電容網(wǎng)絡(luò)提供了一個(gè)低通濾波器，以消除低頻率的影響。

圖2 簡(jiǎn)易并行終端Fig.2 A simple parallel terminal

雖然簡(jiǎn)單的外部組件并行端有助于解決阻抗不匹配，但這依賴于電路板的穩(wěn)定性。此外，如果缺少線路補(bǔ)償，可能會(huì)導(dǎo)致進(jìn)一步的訊號(hào)反射。Altera?高速I/O解決方案提供了集成于設(shè)備上的可編程控制終端，用于減少對(duì)外部組件的依賴。Stratix? II、Stratix和Stratix GX設(shè)備則可提供集成于設(shè)備一體化的終端技術(shù)解決方案。這一技術(shù)可為接收器和發(fā)射器提供串聯(lián)、并聯(lián)和差分I/O高速的驅(qū)動(dòng)阻抗匹配。在高速收發(fā)器電路內(nèi)部，Stratix GX器件收發(fā)模塊還提供一個(gè)可編程控制終端方案，以支持最高速I/O標(biāo)準(zhǔn)。

1.4 訊號(hào)衰減與信號(hào)完整性

高頻訊號(hào)傳輸線的損耗使接收機(jī)難以準(zhǔn)確地解釋信息。從傳輸介質(zhì)方面考慮，以下兩種原因會(huì)引起傳輸線損耗。

1.4.1 介電吸收

高頻訊號(hào)激發(fā)絕緣體內(nèi)的絕緣分子，使絕緣子吸收訊號(hào)能量，從而降低了信號(hào)強(qiáng)度。介電吸收與印刷電路板材料有關(guān)，通過選擇材料可以減少信號(hào)的能量損失。

1.4.2 皮層效應(yīng)

因交流和高頻訊號(hào)產(chǎn)生的各種電流波形會(huì)在導(dǎo)體的表面?zhèn)鲗?dǎo)引發(fā)材料的自感，產(chǎn)生新的高頻率電感電抗，迫使電子運(yùn)動(dòng)到材料的表面，這可以有效減少導(dǎo)電面積，但會(huì)額外增加電阻，致使訊號(hào)衰減。雖然增加導(dǎo)線寬度可以減少皮層效應(yīng)，但并不適用于所有的情況。圖3展示了一個(gè)印刷電路的橫截面視圖Board(PCB)板。

圖3 皮層效應(yīng)示意圖Fig.3 Schematic of skin effect

選擇合適的絕緣材料和進(jìn)行合理的線路布局可以有效降低信號(hào)的衰減。此外，以下特性也會(huì)降低信號(hào)衰減：

①可編程差分輸出電壓(VOD)：通過VOD編程設(shè)置，確保阻抗和線路長(zhǎng)度產(chǎn)生的驅(qū)動(dòng)力相等。通過增加差分驅(qū)動(dòng)電壓，提高接收機(jī)的信號(hào)強(qiáng)度。②預(yù)強(qiáng)調(diào)：為減少高頻信號(hào)的衰減，只通過提高信號(hào)強(qiáng)度是不夠的，因?yàn)樵肼暫投秳?dòng)也會(huì)得到加強(qiáng)。預(yù)強(qiáng)調(diào)的目的是只提高高頻信號(hào)分量，通過增加第1個(gè)發(fā)送符號(hào)的強(qiáng)度水平，后續(xù)的符號(hào)強(qiáng)度水平是不變的。例如，如果信號(hào)傳輸一個(gè)高層次上的3個(gè)符號(hào)，只有第1個(gè)符號(hào)會(huì)得到加強(qiáng)，接下來的兩個(gè)符號(hào)則在通常的水平上傳輸。圖4說明了預(yù)強(qiáng)調(diào)的原理。如果單個(gè)符號(hào)在高電平狀態(tài)傳輸，則這個(gè)符號(hào)也會(huì)得到加強(qiáng)。預(yù)強(qiáng)調(diào)也是克服相關(guān)抖動(dòng)造成的振幅損失、時(shí)間位移和圓形信號(hào)邊緣等影響的關(guān)鍵模式。③接收機(jī)均衡：用于補(bǔ)償線路損耗導(dǎo)致的低頻分量信號(hào)的衰減。

圖4 預(yù)強(qiáng)調(diào)示意圖Fig.4 Schematic of Pre-emphasis

1.5 串?dāng)_和信號(hào)完整性

當(dāng)信號(hào)沿著線路傳輸，導(dǎo)線周圍就會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)。如果兩個(gè)導(dǎo)線相鄰，則兩個(gè)磁場(chǎng)就有可能相互作用，造成信號(hào)之間的交叉耦合，這種現(xiàn)象稱為串?dāng)_?；ジ泻突ト輧煞N類型的能量耦合是產(chǎn)生串?dāng)_的主要原因。

1.6 減少串?dāng)_的技術(shù)

以下的電路板(PCB)設(shè)計(jì)技術(shù)可以顯著減少細(xì)微帶線路或帶狀線布局的串?dāng)_：①在布局允許的條件下，擴(kuò)大信號(hào)線間的距離；②設(shè)計(jì)輸電線路時(shí)，使導(dǎo)線盡可能接近地層，有助于從相鄰的信號(hào)中去除耦合；③如果布局條件允許，盡可能使用差分技術(shù)，關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)尤為如此；④如果不同層信號(hào)有顯著的耦合，則可能讓線路在不同層正交；⑤減少信號(hào)并行長(zhǎng)度，縮短路由平行段的長(zhǎng)度，并盡量減少網(wǎng)絡(luò)間的長(zhǎng)耦合區(qū)段。

1.7 同步開關(guān)輸出(SSO)對(duì)信號(hào)完整性的影響

隨著數(shù)字電路速度的提升，輸出開關(guān)的次數(shù)逐漸減少，導(dǎo)致內(nèi)部輸出時(shí)負(fù)載電容放電產(chǎn)生更高的瞬態(tài)電流。如果多個(gè)輸出開關(guān)同時(shí)從高邏輯到低邏輯，會(huì)導(dǎo)致存儲(chǔ)在I/O負(fù)載電容的電荷流入裝置充電，形成一個(gè)電壓，這種低電壓信號(hào)被稱為地面反彈。相對(duì)于設(shè)備工作狀態(tài)中的高電位，反彈效應(yīng)會(huì)引發(fā)低輸出。接地反彈效應(yīng)可通過一系列的PCB設(shè)計(jì)進(jìn)行降低，如Altera公司發(fā)布的《AN 224：高速電路板布局準(zhǔn)則》中提出的解決方案是針擺率控制，從而減少地面反彈。

2 信號(hào)完整性量測(cè)過程

2.1 選擇判定標(biāo)準(zhǔn)

表1為各類接口界面的功能信號(hào)，均有業(yè)界定義的傳輸標(biāo)準(zhǔn)。用戶可根據(jù)所要量測(cè)的信號(hào)頻率，選擇適合帶寬的示波器。

表1 接口界面功能信號(hào)分類Tab.1 Categorization of functional signals at interface

2.2 選擇適合的量測(cè)方法(見圖5)

圖5 信號(hào)測(cè)試方法示意圖Fig.5 Schematic of signal measuring methods

3 信號(hào)品質(zhì)分析

3.1 電壓參數(shù)

通過電壓波形的波幅，上升下降和高低點(diǎn)、均值或均方根等參數(shù)指標(biāo)來判斷電壓是否存在超出、不足或回彈，發(fā)生過于接近邊界值、波紋或脈沖干擾，發(fā)生波形下垂及異常壓降等情形，如圖6所示。

圖6 電壓波形示意圖Fig.6 Schematic of voltage waveforms

3.2 時(shí)序參數(shù)

通過上升下降時(shí)序、高低時(shí)序、周期和頻率，或設(shè)定時(shí)間、保持時(shí)間、占空比、延遲、偏離、抖動(dòng)及轉(zhuǎn)換、瞬變等來判定信號(hào)品質(zhì)，如圖7所示。

圖7 時(shí)序信號(hào)示意圖Fig.7 Schematic of sequence signals

3.3 眼圖分析

3.3.1 眼圖定義

為了衡量基帶傳輸系統(tǒng)的性能優(yōu)劣，在實(shí)驗(yàn)室中，通常用示波器觀察接收信號(hào)波形的方法來分析碼間串?dāng)_和噪聲對(duì)系統(tǒng)性能的影響，這就是眼圖分析法。如圖8所示，如果將輸入波形輸入示波器的Y軸，當(dāng)示波器的水平掃描周期和碼元定時(shí)同步時(shí)，適當(dāng)調(diào)整相位，使波形的中心對(duì)準(zhǔn)取樣時(shí)刻，在示波器上顯示的圖形很像人的眼睛，因此被稱為眼圖(Eye Map)。

圖8 眼圖示意圖Fig.8 Schematic of Eye Map

3.3.2 眼圖分析

通過眼圖的高度和寬度、上升下降時(shí)間、差分電壓、去加重、單位間隔、共模電壓、比特率等參數(shù)，分析信號(hào)質(zhì)量。二進(jìn)制信號(hào)傳輸時(shí)的眼圖只有一只“眼睛”，當(dāng)傳輸三元碼時(shí)，會(huì)顯示兩只“眼睛”。眼圖是由各段碼元波形疊加而成的，眼圖中央的垂直線表示最佳抽樣時(shí)刻，位于兩峰值中間的水平線是判決門限電平。在無碼間串?dāng)_和噪聲的理想情況下，波形無失真，每個(gè)碼元將重疊在一起，最終在示波器上看到的是跡線又細(xì)又清晰的“眼睛”，“眼”開啟得最大。當(dāng)有碼間串?dāng)_時(shí)，波形失真，碼元不完全重合，眼圖的跡線就會(huì)不清晰，引起“眼”部分閉合。若再加上噪聲的影響，則使眼圖的線條變得模糊，“眼”開啟得小。因此，“眼”張開的大小表示了失真的程度，反映了碼間串?dāng)_的強(qiáng)弱。由此可知，眼圖能直觀地表明碼間串?dāng)_和噪聲的影響，可評(píng)價(jià)一個(gè)基帶傳輸系統(tǒng)性能的優(yōu)劣。此外，也可以用此圖形對(duì)接收濾波器的特性加以調(diào)整，以減小碼間串?dāng)_和改善系統(tǒng)的傳輸性能。

通過眼圖可以看出：①眼圖張開的寬度決定了接收波形可以不受串?dāng)_影響而抽樣再生的時(shí)間間隔。顯然，最佳抽樣時(shí)刻應(yīng)選在眼睛張開最大的時(shí)刻。②眼圖斜邊的斜率，表示系統(tǒng)對(duì)定時(shí)抖動(dòng)(或誤差)的靈敏度，斜率越大，系統(tǒng)對(duì)定時(shí)抖動(dòng)越敏感。③眼圖左(右)角陰影部分的水平寬度表示信號(hào)零點(diǎn)的變化范圍，稱為零點(diǎn)失真量，在許多接收設(shè)備中，定時(shí)信息是由信號(hào)零點(diǎn)位置來提取的，對(duì)于這種設(shè)備零點(diǎn)失真量很重要。④在抽樣時(shí)刻，陰影區(qū)的垂直寬度表示最大信號(hào)失真量。⑤在抽樣時(shí)刻，上、下兩陰影區(qū)間隔的一半是最小噪聲容限，噪聲瞬時(shí)值超過它就有可能發(fā)生錯(cuò)誤判決。⑥橫軸對(duì)應(yīng)判決門限電平。

4 測(cè)試結(jié)果及改進(jìn)設(shè)計(jì)案例

4.1 Clock slew rate fail

如圖9所示，通過信號(hào)完整性測(cè)試結(jié)果發(fā)現(xiàn)，HAD_BCLK比特率低于標(biāo)準(zhǔn)值1～3,V/ns，需要工程師分析原因。如果是因?yàn)檩斎胄盘?hào)線路阻值不匹配，則可以通過調(diào)整輸入阻值來改進(jìn)設(shè)計(jì)，使信號(hào)下降過程的比特率符合標(biāo)準(zhǔn)。這樣就能確保產(chǎn)品通訊功能的正常。

圖9 比特率示意圖Fig.9 Schematic of bit rate

4.2 PCIe signal fail

如圖10所示，當(dāng)量測(cè)到PCIe內(nèi)部傳輸速率最大值略低于規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)值399.88,ps時(shí)，則通過調(diào)整晶振14.326,MHz到14.318,MHz，同時(shí)調(diào)整晶振配對(duì)的電容值到10,pf，再次測(cè)試后結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn)。

圖10 PCIe測(cè)試及改進(jìn)Fig.10 PCIe test and improvement

4.3 SATA signal fail

如圖11所示，SATA信號(hào)測(cè)試時(shí)，發(fā)現(xiàn)眼圖開度太大，裕量超出規(guī)格值，則首先檢查示波器帶寬和探頭的選擇是否合適。通過調(diào)整電路的誤碼率，即減少碼間串?dāng)_和噪音，得到理想眼圖，即高品質(zhì)數(shù)字信號(hào)。

圖11 眼圖示意圖Fig.11 Schematic of Eye Map

5 結(jié) 論

高速信號(hào)的設(shè)計(jì)工作需要面對(duì)額外的挑戰(zhàn)，以確保信號(hào)的完整性。設(shè)計(jì)人員需遵循一些簡(jiǎn)單的模擬設(shè)計(jì)規(guī)則并應(yīng)用印刷電路板布局技術(shù)。Altera公司的高速可編程邏輯設(shè)備支持高速設(shè)計(jì)。在Stratix GX的帶寬范圍內(nèi)，可編程轉(zhuǎn)換速率范圍控制技術(shù)和設(shè)備終端技術(shù)在標(biāo)準(zhǔn)高速I/O起到增強(qiáng)功能，如可編程驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度、預(yù)強(qiáng)調(diào)、高速和接收器均衡收發(fā)器接口等，這些功能可以為設(shè)計(jì)師的工作提供便利。

［1］ AN 75：High Speed Board Design [EB/OL]. www. altera. com/literature/an/an075. pdf.

［2］ AN 224：High-Speed Board Design Guidelines Using Stratix Devices[EB/OL]. www.altera.com/literature/an/ an224. pdf.

［3］ Dally W J，Poulton J W. Digital Systems Engineering[M]. Cambridge：Cambridge University Press，1998.

［4］ Johnson H，Graham M. High-Speed Board Design[M]. Upper Saddle River：Prentice Hall，Inc.，1993.

［5］ 眼圖的定義與測(cè)量方法[EB/OL]. http：//wenku.baidu. com/link?url＝epMz751XsB-zBeUCoT0LpNDDxSQT7 aowiqZ5h_Fo03jqm4pDjV1gyU6bDv4l5wLlJlGWko1cS rm4eOidoSnB5q2f-kkz2GxB1tHWaeOJCDi.

A Review of Signal Integrity Measurement Technology

LIU Xianghong，ZHANG Shiguang
(HongFuJin Electronic Precision，Tianjin 300462，China)

To ensure the transmission quality of high-speed signal，electronic engineers need to carry out signal-integritymeasurement to determine the high-speed transmission quality in the model stage of product development.Therefore，engineers specializing in data processing and data transmission need to understand the basis of signal integrity and grasp necessary signal measurement skills.This paper takes main board QPI and DMI signal integrity measurement as an example to briefly introduce how to carry out relevant measurements.

high speed signal；signal integrity；Eye Map

U228.2

：A

：1006-8945(2016)09-0077-05

2016-08-08