前驅(qū)粉粒徑對(duì)(Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6壓電陶瓷結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能的影響

劉云云, 連漢麗, 陳曉明*

(1 陜西師范大學(xué) 物理學(xué)與信息技術(shù)學(xué)院, 陜西 西安 710119; 2 西安郵電大學(xué) 理學(xué)院, 陜西 西安 710121)

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前驅(qū)粉粒徑對(duì)(Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6壓電陶瓷結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能的影響

劉云云1, 連漢麗2, 陳曉明1*

(1 陜西師范大學(xué) 物理學(xué)與信息技術(shù)學(xué)院, 陜西 西安 710119; 2 西安郵電大學(xué) 理學(xué)院, 陜西 西安 710121)

摘要：在固相法制備陶瓷試樣的過程中分別采用高能振動(dòng)球磨法(I類試樣)和普通行星式球磨法(II類試樣)制備得到具有不同平均粒徑的前驅(qū)粉體，研究了前驅(qū)粉體粒度對(duì)該陶瓷的預(yù)燒性能、燒結(jié)性能、相結(jié)構(gòu)、顯微結(jié)構(gòu)、介電和壓電性能的影響。高能振動(dòng)球磨法獲得的前驅(qū)粉體在725 ℃預(yù)燒即可得到純?nèi)较?，而采用普通行星式球磨法獲得的前驅(qū)粉體在900 ℃預(yù)燒才能得到純?nèi)较唷＂耦愒嚇荧@得純正交鐵電相的燒結(jié)溫度為1 170～1 185 ℃，而Ⅱ類試樣獲得純正交鐵電相的燒結(jié)溫度為1 180～1 190 ℃。Ⅰ類試樣的晶粒各向異性顯著降低。兩類陶瓷的介電性能差異并不顯著，在室溫至400 ℃溫度范圍內(nèi)陶瓷的介電常數(shù)均沒有明顯改變。在1 180 ℃燒結(jié)的Ⅱ類陶瓷試樣具有較大的壓電常數(shù)(d33=87 pC/N)，而Ⅰ類陶瓷試樣的壓電常數(shù)略低。

關(guān)鍵詞:偏鈮酸鉛； 壓電陶瓷； 前驅(qū)粉體粒徑； 電學(xué)性能

偏鈮酸鉛(PbNb2O6，PN)基材料是一種典型的高溫壓電陶瓷材料，因其具有優(yōu)異的壓電性能而得到廣泛關(guān)注[1]。PN基材料屬于鎢青銅結(jié)構(gòu)，具有三種物相：低溫下為穩(wěn)定的三方相結(jié)構(gòu)；高溫下為穩(wěn)定的四方相結(jié)構(gòu)；在淬火降溫過程中，四方相結(jié)構(gòu)在居里溫度點(diǎn)轉(zhuǎn)化為亞穩(wěn)態(tài)的正交相結(jié)構(gòu)[2]。在三種物相中，只有正交相具有鐵電和壓電性能。常規(guī)燒結(jié)法難以制備具有純正交鐵電相的PN陶瓷[3]。另外，PN陶瓷中往往存在第二相、裂紋、孔洞及異常生長的晶粒，這些因素嚴(yán)重降低了陶瓷的密度，惡化了陶瓷的性能[4]。

研究者采用離子摻雜及改變工藝條件等手段對(duì)PN基陶瓷的結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能進(jìn)行調(diào)控[5-6]。本課題組前期工作廣泛研究了離子摻雜對(duì)PN基陶瓷的結(jié)構(gòu)和性能調(diào)控，諸如La3+[7,12], Nb5+[8], Zr4+[9], Ti4+[7,8,10,11], Ba2+[10,11]，Sr2+[13]和B3+[14]等離子摻雜均能改善PN基陶瓷的結(jié)構(gòu)和介電、壓電性能。此外，我們發(fā)現(xiàn)燒結(jié)氣氛(氧氣、氮?dú)?對(duì)Bi3+、La3+和Ti4+共摻的(Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6陶瓷的電學(xué)性能產(chǎn)生顯著影響[15]；同時(shí)也研究了退火對(duì)Pb0.925Ba0.075Nb2O6-0.5wt%TiO2壓電陶瓷結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能的影響[16]。陶瓷的結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能與前驅(qū)粉體密切相關(guān)。譬如，采用三方相前驅(qū)粉體制備的PN基陶瓷與采用正交相前驅(qū)粉體制備的PN基陶瓷，二者電學(xué)性能差異甚大[11]。為進(jìn)一步探索前驅(qū)粉體對(duì)PN基陶瓷結(jié)構(gòu)和性能的影響，本研究采用高能振動(dòng)球磨和普通行星式球磨兩種方法分別制備了具有不同平均粒徑的前驅(qū)粉體，重點(diǎn)研究了前驅(qū)粉體粒徑對(duì)(Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6陶瓷的預(yù)燒性能、燒結(jié)性能、相結(jié)構(gòu)、顯微結(jié)構(gòu)、介電和壓電性能的影響。

1 實(shí)驗(yàn)方法

1.1 試樣制備

原料為PbO(質(zhì)量分?jǐn)?shù)99%), Nb2O5(質(zhì)量分?jǐn)?shù)99.5%), La2O3(質(zhì)量分?jǐn)?shù)99.9%),TiO2(質(zhì)量分?jǐn)?shù)99.99%)和Bi2O3(質(zhì)量分?jǐn)?shù)99.9%)。按摩爾比精準(zhǔn)稱量，進(jìn)行配料，并加入2%過量的PbO補(bǔ)充燒結(jié)過程中PbO的揮發(fā)。采用高能振動(dòng)球磨法(標(biāo)記為Ⅰ類試樣)和普通行星式球磨法(標(biāo)記為Ⅱ類試樣)分別制備具有不同平均粒徑的(Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6陶瓷前驅(qū)粉體。首先，采用普通行星式球磨機(jī)(型號(hào)QM-3SP2)對(duì)原料球磨24 h，球磨罐材質(zhì)為尼龍，行星式球磨機(jī)轉(zhuǎn)速為325 r/min；之后從球磨料中取出一半混合料，裝入高能振動(dòng)球磨機(jī)(型號(hào)QM-3B)進(jìn)行球磨1 h，球磨罐材質(zhì)為鉻鐵合金，高能振動(dòng)球磨機(jī)擺振頻率為1 200 r/min。兩類試樣的球磨料烘干后分別在空氣氣氛中600～900 ℃預(yù)燒4 h。對(duì)兩類試樣的預(yù)燒粉均采用普通行星式球磨法進(jìn)行二次球磨12 h。之后對(duì)二次球磨料添加5%的粘合劑進(jìn)行造粒，在200 MPa壓強(qiáng)下壓制成直徑11.5 mm,高1.5 mm的生坯。坯體試樣經(jīng)500 ℃排膠2 h后，分別在空氣氣氛中進(jìn)行燒結(jié)，燒結(jié)溫度為1 160～1 190℃，燒結(jié)時(shí)間為3.5 h，升降溫速率均為3 ℃/min。1.2 表征方法

采用激光粒度分析儀(BI-90Plus)分析粉體粒徑分布；采用阿基米德原理測(cè)量陶瓷的體密度(ρb)；采用X射線衍射儀(XRD，Rigaku D/Max 2550 V/PC，CuKα射線)檢測(cè)試樣的相結(jié)構(gòu)；采用掃描電鏡(SEM，TM-3000)觀察試樣的顯微結(jié)構(gòu)。為表征陶瓷的電學(xué)性能，將其打磨、拋光、被銀電極后，在650 ℃下保溫30 min。介電性能的測(cè)試采用計(jì)算機(jī)控制的Agilent E4980A型精密LCR儀和高溫電阻爐所組成的介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)完成，測(cè)試溫度范圍為室溫至650 ℃，頻率選取1 kHz、10 kHz、100 kHz和1 MHz，升溫速率為3 ℃/min。將試樣浸在160～180 ℃的硅油中，施加直流電壓5.6 kV極化20 min。極化樣品放置24 h后用ZJ-3A型準(zhǔn)靜態(tài)d33測(cè)量儀測(cè)量壓電常數(shù)。采用諧振-反諧振法計(jì)算得到平面機(jī)電耦合系數(shù)kp和機(jī)械品質(zhì)因數(shù)Qm。

2 結(jié)果與討論

2.1 預(yù)燒溫度及預(yù)燒粉粒徑

圖1給出高能振動(dòng)球磨粉體(Ⅰ類試樣)在600～800 ℃預(yù)燒的粉體XRD圖。與三方相PDF標(biāo)準(zhǔn)卡片(JSPDS No. 74-2221)進(jìn)行對(duì)比，發(fā)現(xiàn)在725 ℃和800 ℃預(yù)燒的粉體具有純?nèi)较啵欢诘陀?25 ℃預(yù)燒溫度下預(yù)燒所得粉體中存在雜相。圖2給出普通行星式球磨粉體(Ⅱ類試樣) 在700～900 ℃預(yù)燒的粉體XRD圖，發(fā)現(xiàn)在900 ℃預(yù)燒能得到純?nèi)较啵欢诘陀?00 ℃預(yù)燒溫度下預(yù)燒所得粉體中存在雜相。和采用普通行星式球磨法制備前驅(qū)粉體相比，采用高能振動(dòng)球磨方法制備前驅(qū)粉體能有效降低獲得純?nèi)较囝A(yù)燒粉體的預(yù)燒溫度，預(yù)燒溫度降低約175 ℃。

Ⅰ類試樣在725 ℃預(yù)燒所得粉體和II類試樣在900 ℃預(yù)燒所得粉體的粒度分布如圖3所示。由圖發(fā)現(xiàn)，Ⅰ類試樣預(yù)燒粉的粒度分布范圍較窄，主要集中在100～300 nm之間，平均粒徑為176 nm；Ⅱ類試樣預(yù)燒粉的粒度分布范圍較寬，在300～1 600 nm范圍內(nèi)，平均粒徑為692 nm。結(jié)果表明，在獲得的預(yù)燒粉體具有純?nèi)较嗟那疤嵯?，采用高能振?dòng)球磨法能有效降低預(yù)燒溫度，從而大大降低了預(yù)燒粉體的粒徑。較小粒徑的預(yù)燒粉有助于提高陶瓷的致密度，改善其顯微結(jié)構(gòu)。

2.2 燒結(jié)溫度

用Ⅰ類試樣在725 ℃預(yù)燒所得粉體和Ⅱ類試樣在900 ℃預(yù)燒所得粉體分別制備陶瓷試樣，兩類陶瓷試樣的燒結(jié)溫度均選擇為1 165、1 170、1 175、1 180、1 185和1 190 ℃。兩類試樣在不同溫度下燒結(jié)的陶瓷XRD圖譜分別如圖4和圖5所示。與正交相PDF標(biāo)準(zhǔn)卡片(JSPDS No. 70-1388)進(jìn)行對(duì)比，發(fā)現(xiàn)Ⅰ類試樣在大于1 170 ℃溫度下燒結(jié)均能得到純正交鐵電相；Ⅱ類試樣獲得純正交鐵電相的燒結(jié)溫度為大于1 180 ℃。PN基陶瓷的物相對(duì)燒結(jié)溫度非常敏感，本結(jié)果發(fā)現(xiàn)采用高能振動(dòng)球磨法獲得前驅(qū)粉體能將燒結(jié)溫度降低10 ℃。

2.3 陶瓷的顯微結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能

2.3.1顯微結(jié)構(gòu)圖6給出在不同溫度下燒結(jié)的具有純正交鐵電相的兩類陶瓷試樣的體密度值。Ⅰ類試樣陶瓷的體密度隨燒結(jié)溫度先增大，后減小，在1 180 ℃燒結(jié)具有最大值(6.23 g/cm3)。Ⅱ試樣陶瓷的體密度隨燒結(jié)溫度增大而降低，在1 180 ℃時(shí)具有最大值(6.29 g/cm3)，需要指出Ⅱ類試樣在低于1 180 ℃下燒結(jié)不能得到純正交鐵電相，故沒有給出體密度值。結(jié)果表明，盡管Ⅰ類試樣的預(yù)燒粉體具有較窄的粒徑分布和較小的平均粒徑(如圖7所示)，用其制備的陶瓷的體密度仍然低于Ⅱ試樣陶瓷的體密度。Ⅱ類試樣陶瓷的體密度略高，這可能與其具有兩種不同平均尺寸的晶粒相關(guān)(如圖8所示)。

圖7a—d給出Ⅰ類試樣在不同溫度下燒結(jié)的陶瓷表面掃描電鏡照片，插圖給出其晶粒尺寸分布。各燒結(jié)溫度下陶瓷的晶粒尺寸較均勻，晶粒形貌沒有表現(xiàn)出明顯的各向異性，但各陶瓷試樣表面存在微裂紋。當(dāng)燒結(jié)溫度為1 170、1 175、1 180和1 185 ℃時(shí)，其平均粒徑均為17～18 μm。隨燒結(jié)溫度增大，晶粒尺寸沒有發(fā)生明顯增大。各陶瓷試樣的斷面掃描電鏡照片如圖7e—h所示，在陶瓷內(nèi)部觀察到氣孔存在。陶瓷中存在氣孔及微裂紋會(huì)降低陶瓷的致密性，從而不利于提高其電學(xué)性能。

圖8a1—c1給出Ⅱ類試樣在不同溫度下燒結(jié)的陶瓷表面掃描電鏡照片，插圖給出其晶粒尺寸分布。和Ⅰ類試樣陶瓷的晶粒形貌相比，Ⅱ試樣陶瓷中存在兩種不同類型的晶粒，一種為尺寸較均勻的小尺寸晶粒，平均粒徑約為6 μm；另一種為長棒狀晶粒，長棒狀晶粒表現(xiàn)出晶粒生長的各向異性，平均長度約為30 μm，徑向尺寸平均為5～6 μm。各陶瓷試樣表面仍然存在微裂紋。各陶瓷試樣的斷面掃描電鏡照片如圖8a2—c2所示，在陶瓷內(nèi)部仍然觀察到氣孔存在，在1 180 ℃燒結(jié)陶瓷的氣孔率最小，這與其具有較高的體密度一致。比較兩類陶瓷試樣，采用高能振動(dòng)球磨法制備的前驅(qū)粉體能有效降低陶瓷晶粒的各向異性，晶粒較均勻；而采用普通行星式球磨法制備的陶瓷中存在兩種類型的晶粒。此外，高能振動(dòng)球磨法制備的陶瓷結(jié)構(gòu)也表明前驅(qū)粉體粒度的降低可有效改善陶瓷晶粒的各向異性。然而，采用高能振動(dòng)球磨法制備試樣，不可避免地在陶瓷中引入來自球磨介質(zhì)(球磨罐及磨球)的雜質(zhì)。在Ⅰ類試樣的陶瓷表面，觀察到少許黑色物相；而在Ⅱ類試樣的陶瓷表面沒有觀察到類似的物相。為確定該黑色物相是否來源于球磨介質(zhì)，我們對(duì)Ⅰ類試樣表面進(jìn)行能譜分析，結(jié)果如圖9所示。能譜結(jié)果表明，Ⅰ類試樣的陶瓷表面黑色物相中含有Fe、Cr元素，說明其來源于鉻鐵球磨介質(zhì)，這些雜相的引入會(huì)引起陶瓷電學(xué)性能的惡化。

圖11為不同燒結(jié)溫度下制備的Ⅱ類陶瓷試樣的介電溫譜曲線。和Ⅰ類試樣結(jié)果類似，對(duì)給定的Ⅱ類試樣而言，在介溫譜上出現(xiàn)居里峰，對(duì)應(yīng)鐵電相向順電相的轉(zhuǎn)變；居里溫度不隨測(cè)試頻率的改變而改變。當(dāng)燒結(jié)溫度為1 180、1 185和1 190 ℃時(shí)，陶瓷的居里溫度分別為499、496和544 ℃；陶瓷的最大介電常數(shù)分別為8 630、8 431和8 447 (1 kHz頻率下)。從室溫到約400 ℃的溫度范圍內(nèi)，所有陶瓷的介電常數(shù)和介電損耗值均未發(fā)生明顯的變化。

圖12比較了在1 180 ℃燒結(jié)的Ⅰ類陶瓷和Ⅱ類陶瓷試樣的介電常數(shù)(1 kHz)隨溫度的變化曲線。我們發(fā)現(xiàn)，在相同的燒結(jié)溫度下，Ⅰ類陶瓷具有更高的居里溫度(537 ℃)；而Ⅱ類陶瓷的居里溫度較低(499 ℃)。兩類陶瓷的最大介電常數(shù)值相差不大，表明前驅(qū)粉體粒度對(duì)陶瓷(在給定的燒結(jié)溫度下)的介電常數(shù)值影響不明顯。兩類陶瓷試樣的介電性能如表1所示。值得注意的是，各陶瓷試樣的居里溫度均有所差異，尤其是1 190 ℃燒結(jié)的陶瓷具有最高的居里溫度。對(duì)于PN基陶瓷材料而言，居里溫度與陶瓷的內(nèi)應(yīng)力密切相關(guān)[17-19]。陶瓷中存在的氣孔，可釋放部分內(nèi)應(yīng)力；一般而言，高氣孔率陶瓷的居里溫度大于低氣孔率陶瓷的居里溫度，即較致密的陶瓷具有較小的居里溫度[17]。和1 180、1 185 ℃燒結(jié)陶瓷相比，1 190 ℃燒結(jié)陶瓷的致密性較差，從而有利于提高其居里溫度。此外，在氣孔較少、具有較大晶界面積的陶瓷中，內(nèi)應(yīng)力主要通過晶界滑移釋放[17]。因?yàn)榫Ы缑娣e和晶粒尺寸密切相關(guān)，所以晶粒尺寸也會(huì)影響居里溫度的變化。

2.3.3壓電性能表1給出兩類陶瓷試樣在不同燒結(jié)溫度下的介電及壓電性能。Ⅰ類試樣在1 170、1 175、1 180和1 185 ℃燒結(jié)時(shí)的壓電常數(shù)d33分別為65、70、75和57 pC/N。隨燒結(jié)溫度的增大，壓電常數(shù)先增大后減小，在1 180 ℃燒結(jié)時(shí)具有最大值。Ⅱ類試樣在1 180、1 185和1 190 ℃燒結(jié)時(shí)的壓電常數(shù)d33分別為87、80和76 pC/N。壓電常數(shù)隨燒結(jié)溫度增大而減小，在1 180 ℃燒結(jié)時(shí)具有最大值。Ⅰ類試樣的壓電常數(shù)普遍比Ⅱ類試樣的壓電常數(shù)低，這可能主要由于其具有較低的致密性所致。一般而言，陶瓷的壓電常數(shù)與其顯微結(jié)構(gòu)密切相關(guān)[21]。在晶界處和氣孔表面往往會(huì)產(chǎn)生退極化場(chǎng)，從而會(huì)影響極化過程中疇壁的運(yùn)動(dòng)；晶粒尺寸減小、氣孔率增大，均會(huì)引起壓電常數(shù)的減弱。比較兩類陶瓷，Ⅰ類陶瓷的致密性較差，晶粒尺寸比Ⅱ類陶瓷的晶粒尺寸小，且Ⅱ類陶瓷晶粒的各向異性較Ⅰ類陶瓷晶粒的各向異性更為明顯。已有報(bào)道指出陶瓷中晶粒的各向異性有助于提高陶瓷的壓電性能[8,11,13]。此外，Ⅰ類陶瓷中存在由于球磨介質(zhì)引入的雜質(zhì)(如圖9所示)，也會(huì)影響其壓電性能。上述諸多因素使得Ⅰ類陶瓷的壓電常數(shù)較Ⅱ類陶瓷的壓電常數(shù)降低。此外，兩類陶瓷的平面機(jī)電耦合系數(shù)(kp)、機(jī)械品質(zhì)因數(shù)(Qm)差異不大。從獲得kp和Qm的測(cè)試方法而言，kp和Qm值由陶瓷試樣的諧振、反諧振頻率及相應(yīng)的阻抗值決定；這些值又和材料的尺寸、泊松系數(shù)、密度、楊氏模量、電導(dǎo)等相關(guān)。所以，凡是能影響上述參量的因素，諸如陶瓷的燒結(jié)溫度、顯微結(jié)構(gòu)、氧空位及陽離子空位等點(diǎn)缺陷都應(yīng)該影響陶瓷的kp和Qm值。然而，在本工作中，盡管兩類陶瓷試樣的燒結(jié)溫度、顯微結(jié)構(gòu)等存在一定的差異，但各試樣的kp、Qm值的差異卻很小，表明PN基陶瓷的kp和Qm值對(duì)這些因素并非十分敏感。在我們前期關(guān)于PN基材料的研究結(jié)果中均有觀察到類似的現(xiàn)象[10]，其內(nèi)在機(jī)制有待更為深入的探究。

3結(jié)論

本文研究了不同平均粒徑的前驅(qū)粉體對(duì)(Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6壓電陶瓷結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能的影響。Ⅰ類試樣(采用高能振動(dòng)球磨法)的預(yù)燒溫度較Ⅱ類試樣(采用普通行星式球磨法)的預(yù)燒溫度降低175 ℃。Ⅰ類試樣獲得純正交鐵電相的燒結(jié)溫度為1 170～1 185 ℃，而Ⅱ類試樣獲得純正交鐵電相的燒結(jié)溫度為1180～1 190 ℃。Ⅰ類試樣的陶瓷晶粒尺寸較均勻，Ⅱ試樣的陶瓷中存在兩類晶粒。前驅(qū)粉體粒徑對(duì)介電性能的影響并不顯著，所有陶瓷在室溫至400 ℃溫度范圍內(nèi)的介電常數(shù)變化不明顯。Ⅱ類試樣的壓電常數(shù)略高于Ⅰ類試樣的壓電常數(shù)。

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〔責(zé)任編輯 李博〕

Effect of particle size of precursor powders on structure and electrical properties of (Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6piezoelectric ceramics

LIU Yunyun1, LIAN Hanli2, CHEN Xiaoming1*

(1 School of Physics and Information Technology, Shaanxi Normal University,Xi′an 710119, Shaanxi, China;2 School of Science, Xi′an University of Posts and Telecommunications,Xi′an 710121, Shaanxi, China)

Abstract:In order to study the influence of the particle size of precursor powders on the dielectric and piezoelectric properties of the (Pb0.945Bi0.027La0.01)(Nb0.95Ti0.0625)2O6piezoelectric ceramics, precursor powders with different average particle size were obtained by means of high-energy vibration milling (sample Ⅰ) and normal planetary milling (sample Ⅱ). Effects of the particle size of precursor powders on calcination, sintering, phase structure, microstructure, dielectric and piezoelectric properties of the ceramics were studied in detail. The precursor powders prepared via the high-energy vibration milling show the pure rhombohedral phase after calcining at 725 ℃, while the calcination temperature increases to 900 ℃ to obtain the pure rhombohedral phase for the precursor powders prepared via the normal planetary milling. Sample I sintered at temperatures from 1 170 to 1 185 ℃ have the single orthorhombic phase, while the sintering temperatures increase to 1 180～1 190 ℃ to obtain the single orthorhombic phase for sample Ⅱ. The anisotropy of the grains in sample I was weakened obviously. The dielectric properties of the both samples were similar. The values of dielectric constant remain almost unchanged at temperatures between room temperature and about 400 ℃. Sample Ⅱ sintered at 1 180 ℃ shows improved piezoelectric charge constant(d33=87 pC/N), while sample Ⅰ shows a lowerd33. Keywords: lead metaniobate; piezoelectric ceramic; particle size of precursor powders; electrical properties PACS: 77.84.Cg; 77.90.+k; 77.22.-s

文章編號(hào)：1672-4291(2016)03-0049-08

doi:10.15983/j.cnki.jsnu.2016.03.234

收稿日期：2015-12-03

基金項(xiàng)目：國家自然科學(xué)基金(51372147)； 中央高?；究蒲袠I(yè)務(wù)費(fèi)專項(xiàng)資金(GK201502005, GK201401003)

*通信作者:陳曉明，男，副教授，博士。E-mail:xmchen@snnu.edu.cn

中圖分類號(hào):O487

文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A