金玲+李鵬飛+劉曉麗+王妍
摘 要:禾本科植物的抗病基因主要通過出生—死亡的過程進化,進化過程中會受到不等交換、轉(zhuǎn)座等因素的影響。在這一理論基礎(chǔ)上,建立了描述抗病基因數(shù)量變化趨勢的隨機數(shù)學模型,重構(gòu)抗病基因家族的演化歷史,以總結(jié)演化規(guī)律。
關(guān)鍵詞:禾本科植物;抗病基因;出生—死亡進化;隨機數(shù)學模型
中圖分類號:S432.2+3 文獻標識碼:A DOI:10.15913/j.cnki.kjycx.2015.21.024
抗病基因是在植物抗病反應過程中抵抗病菌侵染及擴展的相關(guān)基因,在染色體上總是成簇存在??共』虼刂械幕蛑g很容易發(fā)生不等交換和DNA重組,從而產(chǎn)生大量的串聯(lián)重復基因。另外,由于轉(zhuǎn)座子的作用,在轉(zhuǎn)座的過程中,被剪切的一段基因可能并不會成功地轉(zhuǎn)移到其他位置。祖先基因重復產(chǎn)生的新基因可能積累、突變成新基因,也可能成為失去功能的假基因。假基因的移除可以通過突然發(fā)生的序列缺失或某個位點上的累積、突變完成,且移除的機制快速、有效,從而維持了抗病基因現(xiàn)有的數(shù)量。在目前對抗病基因研究的相關(guān)文獻中,Meyers等人在1999年曾提出NBS-LRR類型的抗病基因主要是通過協(xié)同進化和出生—死亡過程進化;2003年,Baumgarten等人在基因組水平上研究擬南芥中抗病基因的進化時,提出了NBS-LRR基因在基因組水平的兩種主要進化機制。
1 問題描述
抗病基因簇中的基因很容易發(fā)生不等交換,產(chǎn)生大量的串聯(lián)重復基因,即基因的出生;產(chǎn)生的新基因可能成為假基因或由于轉(zhuǎn)座子的作用造成基因丟失,即基因的死亡,這樣的過程將引起抗病基因數(shù)量的變化。本文將建立描述抗病基因數(shù)量變化的數(shù)學模型。由于確定性模型不允許有任何隨機波動,假定種群數(shù)量足夠大且決定出生率與死亡率的因素不變,這樣對隨機波動的效果可以忽略不計。然而,對于物種中的抗病基因而言,抗病基因的數(shù)量相對較少且數(shù)量經(jīng)常變化,因此本文將建立禾本科抗病基因家族增長的隨機模型。
2 符號說明及問題假設(shè)
r,d分別表示每個抗病基因的重復率和死亡率;N(t)表示t時刻抗病基因的數(shù)量{ N(t);t≥0}是一個隨機過程;Pn(t)=P[N(t)=n]表示t時刻抗病基因數(shù)量為n的概率,其中,n=0,1,2…;u,s分別表示不等交換和轉(zhuǎn)座的發(fā)生率;f(u,s)為影響因子,表示不等交換和轉(zhuǎn)座對抗病基因數(shù)量的影響與u和s有關(guān),與抗病基因的數(shù)量無關(guān)。假設(shè)在t時刻存活n個基因,在(t,t+△t)時間區(qū)間內(nèi)再生一個基因的概率為rn△t+o(△t),死亡一個基因的概率為dn△t+o(△t)。在較短的時間間隔△t內(nèi)發(fā)生兩次以上事件(重復或死亡)的概率可忽略不計。
3 模型的建立與求解
根據(jù)前面的假設(shè),如果在t+△t時抗病基因的數(shù)量大小為n,那么在t時的抗病基因數(shù)量為n-1,n或n+1,則有:
得到關(guān)于Pn的線性微分方程:
式(3)中:n0為初始時刻t=t0時的抗病基因數(shù)量。
下面由得到的方程確定t時刻抗病基因數(shù)量的均值和方差。首先
確定t時刻抗病基因數(shù)量的均值,即E[N(t)]= ,則有:
解得:
因此有:
則:
現(xiàn)在假設(shè)重復率等于死亡率,即λ=0,并且對所有的t,E
則在t時刻,抗病基因數(shù)量的均值和方差為:
4 結(jié)論
本課題建立了禾本科植物抗病基因家族增長的數(shù)學模型,并用該數(shù)學模型描述了各種因素對抗病基因數(shù)量變化的影響,這對進一步了解禾本科抗病基因家族的進化具有重要意義。
參考文獻
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〔編輯:劉曉芳〕