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      水熱法合成PZT粉體的研究

      2015-11-30 06:49:20韓曉春任玉龍許晶晶
      材料科學與工藝 2015年1期
      關鍵詞:粉體礦化反應時間

      劉 軍,田 沃,韓曉春,王 超,任玉龍,林 麗,許晶晶

      (江蘇大學材料科學與工程學院,江蘇 鎮(zhèn)江 212013)

      壓電材料是實現(xiàn)機械能與電能相互轉換的功能材料,在電、磁、聲、光等功能轉換器件中發(fā)揮著重要的作用,具有廣闊的應用前景[1].在對 PZT陶瓷的研究和應用中,人們將它制成多種形態(tài),如粉體、薄膜、柱狀、晶須[2]、復合材料[3-5]等.其中制備PZT粉體的方法較多,例如水熱合成法[6-9]、共沉淀法[10]和傳統(tǒng)的固相燒結法[11]等.但是通常的水熱法需要較高的溫度和較高的礦化劑濃度,因此對水熱法改進具有重要的研究意義.

      近年來,水熱法已在幾類功能無機化合物的合成獲得成功,這些無機物包括固體快離子導體,化學傳感材料,復合氧化物電子材料,鐵氧體磁性材料,非線性光學材料等,此外,水熱合成又是特種凝聚態(tài)材料如微孔材料,納米材料,溶膠與凝膠,非晶態(tài),無機膜和單晶的重要合成途徑.由于水熱法制備的粉體結晶度好、團聚少、燒結活性高,在制備高純、均一、超細的多組分粉體方面顯示了令人振奮的前景,正得到越來越多的重視[12].本文采用水熱法合成PZT粉體,得出了合成PZT粉體的最佳條件,并研究了以聚乙烯醇為軟模板[13-15]時對粉體形貌的影響.

      1 實驗

      1.1 實驗原料與設備

      實驗原料:硝酸鉛(Pb(NO3)2,AR)、氧氯化鋯(ZrOCl2·8H20,AR)、鈦酸四丁酯(Ti(OC4H9)4,CP)、氫氧化鉀(KOH,AR)、聚乙烯醇(-[CH2CH(OH)]n-)、乙醇(CH3CH2OH).

      合成產物使用XRD物相分析于日本理學公司制造的D/max2500PC型X射線衍射儀上進行,衍射條件為銅靶,接受狹縫0.3 mm,常規(guī)掃描速度8°/min,使用JSM-7001F型場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM,加速電壓為25 kV)觀察粉體的形貌.

      1.2 實驗過程

      按照 Pb(Zr0.52Ti0.48)O3化學計量比分別量取適量的鈦酸四丁酯液體和氧氯化鋯、硝酸鉛粉體,粉體中加少量的水使之完全溶解.在磁力攪拌的條件下,往硝酸鉛水溶液中加入氧氯化鋯的水溶液,攪拌約10 min混合均勻,然后在劇烈攪拌條件下逐滴加入鈦酸四丁酯,攪拌約10 min使之混合均勻.加入適量氫氧化鉀使其濃度為2~6 mol/L,磁力攪拌分散30 min,將前驅物漿料放入反應釜于140~200℃烘箱中進行水熱反應.將反應后的懸浮液離心,分別用去離子水和無水乙醇洗滌.濾餅在80℃水浴干燥,封袋并置于干燥器中保存.

      2 結果與討論

      2.1 反應溫度對產物物相的影響

      圖1是在反應時間為12 h的條件下,不同的反應溫度下得到的粉體的X射線衍射圖,其中圖1(a)為KOH濃度是4 mol/L時不同的反應溫度下得到的粉體的X射線衍射圖,圖1(b)為KOH濃度是2 mol/L時不同的反應溫度下得到的粉體的X射線衍射圖.從圖1(a)中可以看出120℃時沒有生成鋯鈦礦結構,反應溫度為140℃時,生成了鈣鈦礦結構的PZT粉體.隨著反應溫度的升高,X射線衍射峰的強度有所增強,同時衍射峰變得更加尖銳,說明了在此條件下反應溫度升高,晶體的結晶性越好,當反應溫度為180℃時晶體的結晶性最好.但是溫度對X射線衍射峰的強度影響并不是太強烈.從圖1(b)可以看出140~200℃時的XRD圖譜與四方相Pb(Zr0.52Ti0.48)O3的標準卡(JCPDS CARD No.70-4060)一致,當溫度為140℃時,得到的XRD圖譜衍射峰對(比如(002)和(200))的位置分開的比較明顯,溫度升高兩個峰分裂的程度變得不明顯;隨著溫度的升高,X射線衍射峰的強度變化沒有一定規(guī)律,在溫度為200℃時,衍射峰強度明顯變小,但180℃仍是晶體結晶的最佳溫度.說明了不同礦化劑濃度下,雖然得到的X射線衍射峰隨溫度的變化規(guī)律是不一樣的,但是180℃都是晶體結晶的最佳溫度.

      圖1 不同KOH濃度時不同反應溫度下制備的PZT粉體的XRD圖譜

      圖2是在KOH濃度為4 mol/L反應12 h的條件下,不同反應溫度時所制備的PZT粉體的掃描電鏡圖片.從圖2(a)中可以看出反應溫度為120℃時,得到不規(guī)則粉體.從圖2(b)中可以看出反應溫度為140℃時,PZT粉體的粒徑(本文中粒徑均指一次顆粒粒徑)很不均勻,晶體發(fā)育不是太完整,粉體顆粒呈現(xiàn)四方結構的堆積形貌,平均尺寸小于1 μm.從圖2(c)中可以看出反應溫度為180℃時,PZT粉體的顆粒表面棱角分明,粒徑均勻,晶體發(fā)育完整,粉體顆粒呈現(xiàn)規(guī)則的四方結構形貌,粒徑在1 μm左右.從圖2(d)中可以看出反應溫度為180℃時,PZT粉體的粒徑變化不大,顆粒之間粘連在一起.說明了適當升高溫度,可以使得晶體發(fā)育更加完整,粒徑更均勻,180℃為晶體完整發(fā)育的最佳溫度.

      圖2 不同反應溫度下制備的PZT粉體的SEM形貌

      2.2 反應時間對產物物相的影響

      圖3是在KOH濃度為4 mol/L,反應溫度為180℃的條件下,不同的反應時間時得到的粉體的X射線衍射圖.從圖中可以看出,反應時間為3 h時的XRD 圖譜與四方相 Pb(Zr0.52Ti0.48)O3的標準卡(JCPDS CARD No.70-4060)一致,說明反應時間為3 h時,已經生成了鈣鈦礦結構的PZT.隨著反應時間的延長,(001)晶面的衍射強度先增大后減小;而(111)晶面的衍射強度卻隨著反應時間的延長而變強.這說明了延長反應時間會有利于某一晶面的發(fā)育.

      圖4是在KOH濃度為4 mol/L,反應溫度為180℃的條件下,不同反應時間時所制備的PZT粉體的掃描電鏡圖片.

      圖3 不同反應時間下制備的PZT粉體的XRD譜圖

      圖4 不同反應時間下制備的PZT粉體的SEM形貌

      從圖4可以看出PZT粉體的顆粒形貌為立方狀,反應時間為3 h時得到的PZT粉體的粒徑很不均勻,粒徑小的小于0.5 μm,粒徑大的大于1 μm,反應時間大于6h時得到的PZT粉體的粒徑約為1 μm,當反應時間為6 h時,晶體表面棱角不分明、有缺陷.反應時間為12 h時得到的PZT粉體的發(fā)運比較完整,反應時間為18 h時,PZT粉體的形貌變化不大.說明了隨著反應時間的延長,PZT粉體的粒徑均勻性有很大改善,但在一定程度上延長時間不利于晶粒細化,并得出最佳的反應時間為12 h.

      2.3 礦化劑濃度對產物物相的影響

      圖5是在反應時間為12 h的條件下,不同的反應溫度時得到的不同礦化劑濃度的粉體的X射線衍射圖,其中圖5(a)為160℃時不同礦化劑濃度下得到的粉體的X射線衍射圖譜,圖5(b)為180℃時不同礦化劑濃度下得到的粉體的X射線衍射圖,圖5(c)為200℃時不同礦化劑濃度下得到的粉體的X射線衍射圖.從三幅圖可以看出不加KOH時均沒有生成鈣鈦礦結構的PZT粉體.從圖5(a)看出KOH濃度為2 mol/L時得到的XRD 圖譜與四方相 Pb(Zr0.52Ti0.48)O3的標 準卡(JCPDS CARD No.70-4060)一致,當?shù)V化劑濃度升高后,衍射峰的位置發(fā)生了很大的變化,對照PZT的PDF卡片,發(fā)現(xiàn)PZT中鋯鈦比的含量偏離最初的0.52/0.48,這可能是因為鉛、鋯、鈦相應的水合物 Pb(OH)2、Zr(OH)4和Ti(OH)4的溶解度會隨著堿度的不同而發(fā)生了一定的變化.另外X射線衍射峰的強度隨著KOH濃度增加而變弱,所以選擇KOH濃度為2 mol/L較為合適.從圖5(b)可以看出反應溫度為180℃時,X射線衍射峰隨礦化劑濃度的變化與圖5(a)有著相似的變化規(guī)律.從圖5(c)可以看出反應溫度為200℃時,衍射峰的位置變化不明顯,這可能是因為鉛、鋯、鈦相應的水合物Pb(OH)2、Zr(OH)4和Ti(OH)4的溶解度在溫度為200℃時不隨堿度而變化.

      圖5 不同反應溫度時不同KOH濃度下制備的PZT粉體的XRD圖譜

      圖6是在反應溫度為180℃,反應時間為12 h的條件下,不同礦化劑濃度時所制備的PZT粉體的掃描電鏡圖片.從圖6(a)可以看出,PZT粉體的顆粒形貌為立方狀,礦化劑濃度為2 mol/L時得到的PZT粉體的粒徑相對均勻,晶體發(fā)育完整,粒徑約為1 μm.從圖6(b)可以看出礦化劑濃度為4 mol/L時得到的PZT粉體的形貌變化不大.從圖6(c)可以看出礦化劑濃度為6 mol/L時得到的PZT粉體的粒徑顆粒形貌不規(guī)則、粒徑不均勻.說明了2 mol/L是晶體完整發(fā)育的最佳礦化劑濃度,這與XRD的分析結果一致.

      圖6 不同KOH濃度下制備的PZT粉體的SEM形貌

      2.4 引入表面活性劑PVA對產物物相的影響

      圖7是在KOH濃度為6 mol/L,在200℃反應12 h的反應條件下,加入表面活性劑PVA和不加入PVA時得到的粉體的X射線衍射圖.加入PVA后粉體仍保持單一的四方鈣鈦礦結構,但當晶面指數(shù) h=l時,加入 PVA的XRD圖譜中(001)晶面衍射強度明顯高于(h00)晶面衍射強度,與標準卡(JCPDS CARD No.70-4060)中的標準數(shù)據(jù)正好相反,這意味PVA的加入對PZT的晶體取向存在著一定影響.

      圖8是加入表面活性劑PVA(PVA與PZT比值為1∶1)時所制備的PZT粉體的掃描電鏡圖片.從圖4可以看出加入表面活性劑后,晶體的形貌發(fā)生了很大的變化.由之前的規(guī)則的四方結構變成了現(xiàn)在的棒狀纖維結構.從圖中可以看出纖維縱向長度約6 μm,纖維徑向尺寸約為100 nm,長徑比能達到60,很多棒狀纖維排列在一起呈簇狀.棒狀纖維的徑向尺寸約為100 nm,這與不加PVA時的1 μm相比,顆粒尺寸明顯變小,這說明水熱反應時加入PVA有利于產物生長成棒狀晶體,同時也有細化晶粒的作用.

      PVA是直鏈高分子聚合物,由于高分子內或者高分子間羥基的氫鍵作用,水溶液中的分子鏈扭曲纏繞在一起,但是在強堿的水溶液中會發(fā)生醇解,分子內的氫鍵打開,直鏈高分子伸展開來.水熱反應過程中,單根分子鏈的作用類似一個微型反應器,通過在晶體在特定面上的吸附降低晶體表面能,因而增大了晶體不同晶面間的表面能差異,從而使晶體沿低能量方向即一維方向生長.這樣能量高的面最小,體系能量最低.同時,由于高分子鏈之間也存在氫鍵,多條分子鏈通過氫鍵結合在一起,導致單個棒狀晶體按一定規(guī)律排列在一起形成聚集體.

      圖7 不同PVA濃度時制備的PZT粉體的XRD圖譜

      圖8 加入PVA時制備的PZT粉體的SEM形貌

      3 結 論

      1)在反應12 h、KOH濃度為4 mol/L的條件下,反應溫度為140~200℃時,均能生成鈣鈦礦結構的PZT,隨著水熱反應溫度的升高,晶體發(fā)育更加完整,粒徑更均勻,但是溫度升高不利于細化晶粒.但在不同礦化劑濃度下,得到的X射線衍射峰隨溫度的變化規(guī)律是不一樣的.

      2)在一定的反應條件下,延長反應時間會有利于某一晶面的發(fā)育,PZT粉體的粒徑均勻性也有很大改善,但在一定程度上延長時間不利于晶粒細化.

      3)在一定的反應條件下,當?shù)V化劑濃度升高后,PZT中鋯鈦比的含量偏離最初的0.52/0.48,還很大程度上影響了粉體的形貌

      4)在前驅體反應液中加入表面活性劑PVA后對PZT晶體的生長產生很大的影響,PVA的加入使得棒狀纖維晶體的形成.

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