指印紋線形態(tài)分析中細(xì)小位移與差異點(diǎn)解釋

福州市公安局鼓樓分局刑事科學(xué)技術(shù)室 陳文立 謝杰玲 吳章雄

由于我們看指紋的特征點(diǎn)基本都是看線性特征，比如起點(diǎn)、終點(diǎn)、小點(diǎn)、小眼等特征，而對紋線的本身形態(tài)特征基本沒有進(jìn)行分析。本文主要通過指印紋線細(xì)小形態(tài)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)觀察并總結(jié)形態(tài)規(guī)律，發(fā)現(xiàn)在差異點(diǎn)的解釋上可以運(yùn)用這些規(guī)律進(jìn)行解釋排除。

指印的遺留過程很像是用印章蓋印的過程（圖1）。由此可以很直觀看出：印章在蓋印時和紙張之間移位越少，則反映印章本身紋理的條件越好。所謂現(xiàn)場好的指印就是能如實(shí)地反映手指紋路（圖2），而手指和承痕體之間位移越小，則反映手指自身紋線的特征點(diǎn)越好。假特征則為指印中有而在形成指印的手指紋線中并不存在的特征點(diǎn)。

圖1

圖2 顯微鏡下指紋

本文以汗液指印的提取產(chǎn)生過程為例。大體可以有以下幾個過程：手指和承痕體接觸，汗液留在承痕體上，用相應(yīng)的顯現(xiàn)方法將汗液指印顯現(xiàn)出來，然后拍照或者用其他方式提取。對現(xiàn)場指印形成的影響大體可以從以下幾個方面來看：（1）手指和承痕體接觸過程中的動作對指印的影響；（2）承痕體本身材質(zhì)的影響；（3）提取方法對指印的影響。本文研究的重點(diǎn)是放在手指和承痕體接觸過程中的動作對指印形成的影響。

通過實(shí)驗(yàn)，我們用一種極端方式來進(jìn)行比較研究。

實(shí)驗(yàn)一：手指在玻璃面上擦劃而過，用磁性粉刷顯后，膠帶粘取貼于襯紙上，指印見圖3。

圖3

觀察后的結(jié)論是：（1）可以看到很明顯的擦劃痕跡；（2）擦劃痕跡的方向和手的動作方向一致，這和工具痕跡的形成規(guī)律一致；（3）這么大的動作導(dǎo)致指印的線性特征基本被破壞。

實(shí)驗(yàn)二：手指垂直輕輕按壓玻璃面，用磁性粉刷顯后，膠帶粘取貼于襯紙上，指印見圖4。

圖4

可見指印在肉眼下紋線條件非常好，但在顯微鏡下觀察，我們卻發(fā)現(xiàn)：（1）非常好的紋線其實(shí)并不是非常好，在圖5b、圖6b上可以看到幾處很明顯小范圍的位移形成的擦劃痕跡，如果按實(shí)驗(yàn)一的結(jié)論，擦劃方向和動作方向一致的話，人手與承痕體接觸過程中，并不是垂直接觸、垂直分開，而是在接觸平面上有細(xì)小的相對位移；（2）擦劃痕跡不是單獨(dú)孤立地出現(xiàn)，而是范圍性地出現(xiàn)（見圖5b、圖6b紅線內(nèi)區(qū)域）。通常成年人乳突線寬度為0.2～0.3毫米、高度為0.1～0.4毫米，密度每平方厘米 20～30條[1]，即在紋線與紋線間距極其小的情況下，移動時，則在小區(qū)域內(nèi)自然會有一致性的移動；（3）在擦劃線的方向和長度上呈現(xiàn)小范圍的相似性（見圖5b、圖6b內(nèi)藍(lán)線標(biāo)識）。

以上規(guī)律的發(fā)現(xiàn)對現(xiàn)場指印的鑒定有什么意義呢？

我們以一枚指印鑒定實(shí)務(wù)為例：這是一起盜竊案件中的指印，同起案件共提取兩枚指印，在與犯罪嫌疑人龔某某捺印十指印的鑒定中，在相同位置的特征基本相同，但其中有一枚現(xiàn)場指印卻和捺印指印有一處差異點(diǎn)（見圖7a中藍(lán)色數(shù)字1位置標(biāo)識分歧點(diǎn)，而在圖7b相應(yīng)位置未發(fā)現(xiàn)該分歧點(diǎn)）。

在對檢材樣本進(jìn)行觀察分析可以發(fā)現(xiàn)：在相同點(diǎn)上進(jìn)行分析，不論是線性特征、流向還是特征間位置關(guān)系都一致；而在對差異點(diǎn)1進(jìn)行分析時，將指印放于體式顯微鏡下觀察發(fā)現(xiàn)：藍(lán)色線標(biāo)識區(qū)的區(qū)域位置可見為同方向的擦劃痕跡，而紅色線標(biāo)識區(qū)的位置可見有同方向的擦劃痕跡（圖7c）。而在差異點(diǎn)產(chǎn)生的位置可見形成“分歧”特征的相鄰的兩條線（圖7c中綠色線）位置形態(tài)中擦劃方向差別很大，那么可以說事實(shí)上兩線形態(tài)形成的動作方向不一致，不符合相鄰指紋在指印形成過程中擦劃痕跡相一致的實(shí)驗(yàn)觀察，即該特征的形成不是由相鄰的兩條紋線形成的分歧，為假特征。

從以上實(shí)驗(yàn)及指印鑒定實(shí)務(wù)的分析，以手指為例，我們可以得出一個結(jié)論：（1）手指與承痕體接觸時的動作會直接反映在指印紋線的細(xì)小形態(tài)上；（2）通過分析紋線細(xì)小形態(tài)中的擦劃痕跡可以反映形成該區(qū)域的手指部分與承痕體位置的位移方向；（3）擦劃痕跡越短則代表位移越小，而擦劃痕跡越長則代表位移越大；（4）在一次位移中，相鄰的紋線形成的位移距離比較接近；（5）如果發(fā)現(xiàn)組成線性特征的紋線形態(tài)中出現(xiàn)不同方向的擦劃痕跡，則表示該處線性特征是由兩個位移動作形成，不符合我們在正常指印中觀察到的相鄰指紋紋線形成的指印形態(tài)具有擦劃方向一致性的規(guī)律，即很可能為假特征。

需要指出的是，在實(shí)驗(yàn)中我們曾用型號為“EPSON PERFECTION V350”掃描儀進(jìn)行高像素掃面，可將掃描的文件放在電腦中放大后卻無法看到細(xì)小的擦劃痕跡。筆者用的是品牌為“ZSISS”、型號為“Stemi DV4”的體式顯微鏡進(jìn)行觀察。故對這種細(xì)小擦劃痕跡的檢驗(yàn)還是應(yīng)該放在顯微鏡下進(jìn)行觀察分析。

[1]趙向欣.中華指紋學(xué)[M].北京：群眾出版社，1997.