劉治虎, 劉冰野, 張巧鳳
(西安航空計(jì)算技術(shù)研究所,西安710068)
隨著機(jī)載電子設(shè)備研制的要求越來(lái)越趨向小型化、集成化,并且成本的控制也越來(lái)越嚴(yán)格,相同硬件配置的電子設(shè)備將會(huì)實(shí)現(xiàn)越來(lái)越多的功能,并裝備在飛機(jī)的不同位置。在飛機(jī)上各個(gè)不同分區(qū)位置的環(huán)境振動(dòng)條件往往是不同的,那么設(shè)備就要能夠適應(yīng)在不同環(huán)境條件下的振動(dòng)量值,以確保產(chǎn)品硬件能夠在不同的振動(dòng)量值下正常工作。由于不同產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的差異性,其對(duì)于相同的振動(dòng)條件的響應(yīng)是不同的,所以本文以仿真方法來(lái)討論如何從不同的振動(dòng)條件對(duì)產(chǎn)品的影響中得出較合理的振動(dòng)條件,以指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和試驗(yàn)。
對(duì)于機(jī)載電子設(shè)備而言,其受到飛機(jī)傳遞的振動(dòng)激勵(lì)類型基本上是隨機(jī)振動(dòng)。通常做法是通過(guò)比較均方根RMS的大小來(lái)評(píng)價(jià)振動(dòng)條件的惡劣程度,但這是很片面的,因?yàn)椴煌S機(jī)振動(dòng)條件在各頻率段的能量分布是不同的,而且相同的硬件設(shè)備對(duì)于不同的振動(dòng)條件的響應(yīng)也是有差別的,例如圖1中的3種振動(dòng)圖譜對(duì)于同一電子設(shè)備而言就會(huì)產(chǎn)生不同響應(yīng)。還可以通過(guò)將不同的振動(dòng)試驗(yàn)條件進(jìn)行對(duì)比并找出相同頻率點(diǎn)位置功率譜密度的最大值后,對(duì)其進(jìn)行包絡(luò)來(lái)得到一個(gè)振動(dòng)試驗(yàn)曲線。但是這樣得出的最終振動(dòng)曲線包絡(luò)的面積會(huì)非常大,而在實(shí)際中是不會(huì)存在該類振動(dòng)條件的,因此如果按照這個(gè)條件進(jìn)行試驗(yàn)會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的偏差。
可以看出以上各種用來(lái)評(píng)價(jià)不同振動(dòng)條件的方法都存在一定的片面性,其都僅僅是從振動(dòng)圖譜的角度來(lái)對(duì)其評(píng)價(jià)。實(shí)際上對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō),由于其結(jié)構(gòu)本身的固有屬性(固有頻率、振型、阻尼)等是不會(huì)改變的,而不同隨機(jī)振動(dòng)圖譜在頻率范圍內(nèi)的功率譜密度分布是不同的,那么電子設(shè)備其對(duì)于不同的隨機(jī)振動(dòng)圖譜來(lái)說(shuō)響應(yīng)也是不相同的,因此不能簡(jiǎn)單地通過(guò)振動(dòng)圖譜來(lái)分析其對(duì)于設(shè)備影響的程度。
圖1 三種隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)圖譜
對(duì)于隨機(jī)振動(dòng)來(lái)說(shuō),要計(jì)算出實(shí)際疲勞循環(huán)數(shù)是較為困難的,因?yàn)樵趲挿秶鷥?nèi)的所有受激勵(lì)的頻率在全部時(shí)間內(nèi)都存在,而疲勞循環(huán)數(shù)必然與會(huì)引起最大損傷的那些頻率有關(guān)。這些頻率是有最高傳輸率而阻尼較小的頻率。在平均意義上,這些頻率將影響位移跨過(guò)有正斜率零軸的次數(shù)[1],它稱之為正零交越數(shù)N+0,單位為 Hz。其計(jì)算公式為
式中:Ωi為隨機(jī)振動(dòng)頻帶內(nèi)某點(diǎn)角頻率;Pi為某頻點(diǎn)的激勵(lì)功率譜密度;△fi為某頻點(diǎn)的頻帶寬度;Qi為某頻點(diǎn)的傳輸率。
元器件的疲勞壽命分析同結(jié)構(gòu)件類似,可根據(jù)材料的S-N曲線和米勒損傷累積理論計(jì)算器件的累積損傷比,文獻(xiàn)[2]表明:許多不同類型的電子元件的疲勞壽命與支撐這些器件的PCB所經(jīng)受的動(dòng)態(tài)位移有關(guān)。當(dāng)在周邊支撐的PCB中心的動(dòng)態(tài)單幅值位移受到Z(mm)的限制時(shí),可以預(yù)期器件能在隨機(jī)振動(dòng)環(huán)境中達(dá)到2×107次應(yīng)力交變的疲勞壽命。
式中:B為平行于器件的PCB邊長(zhǎng),mm;L為器件長(zhǎng)度,mm;h為PCB厚度,mm;C為不同類型器件的常數(shù);r為器件在PCB上的相對(duì)位置因子。
對(duì)于線性系統(tǒng),應(yīng)力S正比于位移Z,因此S-N曲線疲勞方程可寫(xiě)為位移Z和循環(huán)數(shù)N的表達(dá)式:式中:Z1為參考點(diǎn)位移,根據(jù)式(2)計(jì)算;N1為參考點(diǎn)循環(huán)數(shù),2×107;Z2為實(shí)際振動(dòng)位移,根據(jù)仿真分析得到;N2為實(shí)際振動(dòng)位移對(duì)應(yīng)的循環(huán)數(shù);b采用經(jīng)驗(yàn)值6.4[2]。
根據(jù)式(1)、式(2)、式(3)可以計(jì)算出器件在隨機(jī)振動(dòng)條件下的許用壽命和累積損傷比。由于器件在印制板法向振動(dòng)時(shí)位移最大,其他兩個(gè)方向的位移可以忽略,因此器件的累積損傷比只考慮印制板法向振動(dòng)時(shí)的情況。設(shè)備正常使用時(shí),其NiZib值應(yīng)在疲勞曲線的下方,其值越大則說(shuō)明設(shè)備的損傷越大。這里通過(guò)有限元仿真的方法求得在不同隨機(jī)振動(dòng)環(huán)境下的最大位移Zmax和正零交越數(shù)N+,進(jìn)而比較N+0Zbmax值的大小來(lái)確定最大振動(dòng)條件。
本節(jié)通過(guò)有限元方法來(lái)對(duì)某機(jī)載電子設(shè)備進(jìn)行分析,通過(guò)對(duì)其施加3種不同的隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)譜(如圖1所示其加速度量值分別為:RMSPSD1=7.6g、RMSPSD2=12g、RMSPSD2=8.1g)來(lái)分析其對(duì)于機(jī)箱和印制板的影響,從而判斷那種激勵(lì)譜對(duì)設(shè)備的影響最大。該三維模型的有限元模型如圖2所示。
在有限元模型的安裝部位施加的Z方向(垂直于印制板方向)3種不同的隨機(jī)振動(dòng)圖譜并進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)響應(yīng)分析[3]。設(shè)備在3種不同隨機(jī)振動(dòng)圖譜下設(shè)備內(nèi)部印制板上加速度分析結(jié)果如圖3所示,可以看出印制板上的最大加速度響應(yīng)量值RMS分別為24.1g、18g、20g。對(duì)于機(jī)載電子設(shè)備而言隨機(jī)振動(dòng)頻帶很寬,電子設(shè)備無(wú)法避開(kāi)共振區(qū)域,共振是肯定存在的,通過(guò)分析可以看出當(dāng)印制板的固有頻率位于隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)譜的高功率譜密度頻帶范圍內(nèi)的話,那么印制板上的加速度響應(yīng)會(huì)更加劇烈。當(dāng)印制板的固有頻率位于低功率譜密度頻帶范圍內(nèi)的時(shí)候,印制板上的共振響應(yīng)將有效降低。
根據(jù)以上的理論可以看出設(shè)備的疲勞壽命不僅和受到的應(yīng)力有關(guān),而且還和引起最大損傷的那些頻率有關(guān)。這里通過(guò)仿真可以近似得到印制板的正零交越數(shù)值,通過(guò)計(jì)算可以得到在外部激勵(lì)下印制板上器件的疲勞壽命。因此基于該理論可以來(lái)比較基礎(chǔ)激勵(lì)對(duì)產(chǎn)品的影響程度。
通過(guò)對(duì)印制板進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)分析可以得到如圖4所示印制板在3種不同隨機(jī)激勵(lì)下的位移響應(yīng)。其相對(duì)變形位移分別 ZPSD1=7 μm、ZPSD2=5 μm 和 ZPSD2=6 μm,對(duì)應(yīng)的正零交越數(shù)N+0和N+0Z6.4max數(shù)見(jiàn)表1。
圖2 有限元網(wǎng)格模型
圖3 隨機(jī)振動(dòng)加速度分析結(jié)果
表1 正零交越數(shù)仿真分析結(jié)果
通過(guò)表1可以看出當(dāng)設(shè)備受到激勵(lì)編號(hào)PSD_1時(shí)其對(duì)于印制板上器件的疲勞壽命影響最大,PSD_2的影響最小。因此可以判定PSD_1振動(dòng)圖譜對(duì)產(chǎn)品的影響最惡劣,但可以看出PSD_1的加速度量級(jí)卻在這3種激勵(lì)中最小。因此加速度均方根值是功率譜密度在整個(gè)頻率范圍內(nèi)面積的平方根,它不包含任何頻率信息,僅用功率譜密度峰值或均方根值判斷振動(dòng)譜的嚴(yán)酷度是片面的。
對(duì)于機(jī)載電子設(shè)備而言,其受到機(jī)體傳遞過(guò)來(lái)的激勵(lì)形式為隨機(jī)振動(dòng),常規(guī)通過(guò)計(jì)算激勵(lì)的加速度量級(jí)水平的大小來(lái)判斷其對(duì)于設(shè)備的影響是非常片面的[4],本文通過(guò)有限元仿真為手段,并以疲勞壽命理論來(lái)判定基礎(chǔ)激勵(lì)的嚴(yán)酷度的方法能有效地指導(dǎo)機(jī)載電子設(shè)備的試驗(yàn)工作。同時(shí)該方法也可以有效地用來(lái)指導(dǎo)機(jī)載電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),以提高設(shè)備的可靠性。
圖4 隨機(jī)振動(dòng)位移分析結(jié)果
[1] 楊龍,趙剛,醋強(qiáng)一.相同設(shè)備在不同試驗(yàn)條件下試驗(yàn)圖譜選擇方法[J].航空計(jì)算技術(shù),2014(5):118-128.
[2] Steinberg D S.電子設(shè)備振動(dòng)分析[M].3版.王建剛,譯.北京:航空工業(yè)出版社,2012.
[3] 劉治虎,郭建平,楊龍.某機(jī)載電子設(shè)備結(jié)構(gòu)隨機(jī)振動(dòng)分析[J].航空計(jì)算技術(shù),2011(4):91-93.
[4] GJB 150.16A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分:振動(dòng)試驗(yàn)[S].