宋西俊
首發(fā)精神分裂癥患者不同誘發(fā)模式感覺門控P50的臨床研究
宋西俊
目的 研究分析首發(fā)精神分裂癥患者不同誘發(fā)模式感覺門控P50的異常特點(diǎn)。方法 選取首發(fā)精神分裂癥患者30例, 設(shè)置為觀察組, 選取患者一級(jí)健康家屬30名做為對(duì)照組, 另隨機(jī)抽取30名社會(huì)正常人員作為正常參照組。所有人員均進(jìn)行感覺門控P50進(jìn)行檢測(cè), 并對(duì)比分析各組間差異。結(jié)果 觀察組與對(duì)照組P50波幅期均高于正常參照組, 差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。當(dāng)采用高頻刺激后各種P50波幅比較, 差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。結(jié)論 在P50檢測(cè)中患者與一級(jí)親屬均有一定程度的感覺門控異常, 表明P50可用作與精神分裂癥遺傳因素檢測(cè)指標(biāo)參考。
首發(fā)精神分裂癥;誘發(fā)電位;感覺門控P50;臨床研究
精神分裂癥屬于極為嚴(yán)重的精神疾病, 該病癥會(huì)導(dǎo)致患者社會(huì)認(rèn)知能力出現(xiàn)障礙。感覺門控則是大腦抑制能力的一種反應(yīng), 感覺門控P50則是利用相關(guān)感覺誘發(fā)電位檢測(cè), 通過電生理學(xué)反應(yīng)腦抑制功能[1]。作者通過研究條件-測(cè)試刺激模式與刺激序列兩種檢測(cè)模式法一致性, 分析首發(fā)精神分裂癥患者不同誘發(fā)模式感覺門控P50的電生理指標(biāo)對(duì)于輔助診斷精神分裂癥的效果, 現(xiàn)報(bào)告如下。
1.1 一般資料 選取本院2013年8月~2014年8月收治的首發(fā)精神分裂癥患者30例, 設(shè)置為觀察組, 年齡21~49歲,平均年齡(27.8±4.3)歲, 男17例, 女13例, 全部患者均符合中國精神障礙DSM-5評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)并明確診斷, 病程1~18個(gè)月, 平均病程(7.6±2.5)個(gè)月, 均為首次發(fā)病, 以排除聽力功能障礙或神經(jīng)系統(tǒng)相關(guān)疾病者, 無藥物濫用史, 無嚴(yán)重性身體疾病。隨機(jī)選取30例患者一級(jí)健康家屬做為對(duì)照組, 另隨機(jī)抽取30例社會(huì)正常人員作為正常參照組。三組人員年齡、性別、文化程度等一般資料比較差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05),具有可比性。
1.2 方法 所有人員均進(jìn)行條件-測(cè)試刺激模式與刺激序列模式兩種檢測(cè)感覺門控P50進(jìn)行檢測(cè)。感覺門控檢測(cè)方法:利用16導(dǎo)聯(lián)全功能計(jì)算機(jī)數(shù)字化系統(tǒng)記錄, 應(yīng)用氯化銀盤狀電極(直徑8 mm)、Ag盤狀電極, 根據(jù)國際10/20系統(tǒng)記錄電極中央頂部Cz點(diǎn), 參考電極位于左或右側(cè)乳突(A1或A2點(diǎn)), 前額(Fpz點(diǎn))接地。①條件-測(cè)試刺激模式:由信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生成對(duì)clicks信號(hào), 刺激聲聲強(qiáng)90分貝,持續(xù)0.1 ms, 刺激間隔500 ms, 每對(duì)刺激間隔10 s, 腦誘發(fā)電位儀靈敏度設(shè)為5 μV, 0.1~300 Hz, 被試者誘發(fā)電位疊加32次。分析窗口為刺激給出后100 ms內(nèi)的成分, P50波是刺激后40~80 ms時(shí)間窗口內(nèi)最大的正相波, 由條件刺激S1誘發(fā)出的P50波稱為條件刺激波, 由測(cè)試刺激S2誘發(fā)出的P50波稱為測(cè)試刺激波。波幅測(cè)量取P50波峰與其前一負(fù)向波谷的絕對(duì)值差, 潛伏期是從刺激開始到P50最大波幅的時(shí)間。單次測(cè)試值超過50 μV按照偽跡處理, 由腦誘發(fā)電位儀自動(dòng)排除。②刺激序列模式:次模式的腦誘發(fā)電位的刺激頻率有0.9、5.1、9.9 Hz三種, 每種頻率由信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生click聲,不同頻率的發(fā)生以隨機(jī)化為原則, 刺激聲聲強(qiáng)90分貝, 持續(xù)0.1 ms, 每種頻率腦誘發(fā)電位疊加160次, 輪間休息2 min。分析窗口為刺激給出后100 ms內(nèi)的成分, P50波是刺激后40~80 ms時(shí)間窗口內(nèi)最大的正相波。波幅測(cè)量取P50波峰與其前一負(fù)向波谷的絕對(duì)值差, 潛伏期是從刺激開始到P50最大波幅的時(shí)間。單次測(cè)試值超過50 μV視為偽跡, 由腦誘發(fā)電位儀自動(dòng)排除。對(duì)比分析各組間P50波幅與潛伏期差異。
1.3 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法 采用SPSS19.0統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。計(jì)量資料以均數(shù)± 標(biāo)準(zhǔn)差表示, 采用t檢驗(yàn);計(jì)數(shù)資料以率(%)表示, 采用χ2檢驗(yàn)。P<0.05表示差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。
2.1 三組人員在條件-測(cè)試刺激模式中P50指標(biāo)對(duì)比結(jié)果三組間P50潛伏期進(jìn)行比較, 結(jié)果表明各組差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05), 但是三組間P50波幅期進(jìn)行比較發(fā)現(xiàn), 觀察組與對(duì)照組P50波幅均高于正常參照組, 差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。見表1。
2.2 三組人員在刺激序列模式中P50指標(biāo)對(duì)比結(jié)果 在低頻刺激中三組P50潛伏期比較, 差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05);當(dāng)采用高頻刺激后各組P50波幅比較, 差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。見表2。
表1 三組人員在條件-測(cè)試刺激模式中P50指標(biāo)對(duì)比
表1 三組人員在條件-測(cè)試刺激模式中P50指標(biāo)對(duì)比
注:三組潛伏期比較, P>0.05;波幅期比較, P<0.05
1.78±0.87 1.57±0.58 0.81±0.34 19.39 0.0000組別例數(shù)潛伏期(ms)波幅期(μ V) C-P50T-P50 C-P50T-P50觀察組對(duì)照組正常參照組30 30 30 tP 58.21±11.27 54.15±12.81 56.38±10.98 0.90 0.4088 57.68±10.87 53.15±11.46 55.46±10.71 1.27 0.2866 1.89±0.78 2.13±0.97 2.21±1.13 0.88 0.4171
表2 三組人員在刺激序列模式中P50指標(biāo)對(duì)比
表2 三組人員在刺激序列模式中P50指標(biāo)對(duì)比
注:三組潛伏期比較, P>0.05;波幅期比較, P<0.05
1.48±0.58 1.13±0.51 0.72±0.43 16.67 0.0000組別例數(shù)潛伏期(ms)波幅期(μV)低頻刺激高頻刺激低頻刺激高頻刺激觀察組對(duì)照組正常參照組30 30 30 tP 55.12±11.45 54.89±10.87 57.51±10.43 0.53 0.5910 56.84±6.24 56.12±6.78 57.23±6.55 0.22 0.8003 1.79±0.73 1.81±0.84 1.84±1.13 0.02 0.9776
當(dāng)前感覺門控P50檢測(cè)方式作為大腦感覺控制的常用操作手段, 在給予適當(dāng)?shù)拇碳? 可通過P50的波幅指標(biāo)反映大腦去除無關(guān)刺激的一種自動(dòng)的注意力驅(qū)抑制作用[2]。本組研究中采用刺激序列與條件測(cè)試刺激兩種模式同時(shí)給予感覺門控P50檢測(cè)患者腦部誘發(fā)電位, 結(jié)果表明精神分裂癥患者與正常健康人相比較, 兩種誘發(fā)電位檢測(cè)模式均存在程度不一的感覺門控異常。本研究結(jié)果表明感覺門控P50檢測(cè)中出現(xiàn)部分缺損時(shí)可作為精神分裂癥患者中穩(wěn)定遺傳性質(zhì)的生物學(xué)標(biāo)注, 但是具體反映病情的進(jìn)展或詳細(xì)的感覺缺損程度尚需進(jìn)一步研究。
[1] 萬曉娜, 蔣廷云, 江麗云, 等.首發(fā)精神分裂癥患者及其一級(jí)親屬感覺門控P50研究.中國神經(jīng)精神疾病雜志, 2007, 33(9): 544-547.
[2] 王紅星, 張明島, 陳興時(shí), 等.精神分裂癥首次發(fā)病患者和健康成年人聽覺感覺門控電位P50的研究.中華精神科雜志, 2006, 39(2):65-68.
10.14163/j.cnki.11-5547/r.2015.24.204
2015-03-11]
529000 廣東省江門市第三人民醫(yī)院司法鑒定科