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    淺談X—射線熒光光譜測定合金鑄鐵中各組分

    2015-04-30 21:39:49賈麗娜
    中國高新技術(shù)企業(yè) 2015年16期
    關(guān)鍵詞:標(biāo)樣鑄鐵光譜法

    摘要:文章探討了用XRF法測定合金鑄鐵中Si、Mn、P、Ni、Cr、Cu、Mo等元素的分析方法,研究了分析條件及實(shí)驗(yàn)方法,并對該方法的精密度和準(zhǔn)確度進(jìn)行了試驗(yàn),將樣品測定結(jié)果與濕法測定結(jié)果進(jìn)行了比對,結(jié)果令人滿意。

    關(guān)鍵詞:合金鑄鐵;X-射線熒光光譜法;合金元素;特殊性能鑄鐵;元素分析 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A

    中圖分類號:O657 文章編號:1009-2374(2015)16-0064-02 DOI:10.13535/j.cnki.11-4406/n.2015.16.031

    合金鑄鐵又稱“特殊性能鑄鐵”,是指在普通的鑄鐵中加入合金元素而使其具有一定的特殊性能。通常情況下,加入的合金元素有鉻、鎳、鉬、釩、銅、鈦等。合金鑄鐵根據(jù)合金元素的加入量又可以分為低合金鑄鐵、中合金鑄鐵和高合金鑄鐵三種。由于合金元素的加入,使得鑄鐵的基體組織發(fā)生改變,使得鑄鐵具有耐熱、耐磨、耐腐蝕等特殊性能,因此被廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造、冶金等行業(yè)之中。

    由于合金鑄鐵化學(xué)成分復(fù)雜,需要分析的元素很多,采用經(jīng)典的化學(xué)分析方法分析周期長,并且成本較高。而X射線熒光光譜法分析速度快、再現(xiàn)性好、分析準(zhǔn)確度高,并且樣品前處理簡單、污染小,因此得到很廣泛的應(yīng)用。本文探討了用X射線熒光光譜法測定合金鑄鐵中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、V、Cu等元素的分析方法,研究了儀器的最佳測量條件,并將測定結(jié)果與ICP-AES及化學(xué)分析方法測定結(jié)果進(jìn)行比對,結(jié)果令人滿意。該方法簡便快速、準(zhǔn)確度高,在實(shí)際生產(chǎn)中具有很高的應(yīng)用價值。

    1 試驗(yàn)部分

    1.1 試樣制備

    對于合金鑄鐵來說,要提高元素分析的精密度和準(zhǔn)確度,要求試樣表面具有很高的光潔度。本文采用試樣端面先用砂輪磨平,再用360# Al2O3金相砂紙拋光(若測定鋁,需采用其他磨料)的方法。

    光譜標(biāo)樣和試樣的炮制方法一致。

    1.2 標(biāo)準(zhǔn)樣品

    選取鋼鐵研究總院分析測試中心研制的合金鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)7個,標(biāo)準(zhǔn)編號為GBW01138到GBW01144,用于制作標(biāo)準(zhǔn)工作曲線。這一套標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)元素種類齊全,幾乎涵蓋了合金鑄鐵中所有常見組分,如Cr、Ni、Mo、V、Ti、Sn、Al、Mg等元素。各組分含量由低到高,保證了待分析樣品的組分落入該套標(biāo)準(zhǔn)樣品元素含量范圍之內(nèi),因此應(yīng)用廣泛。

    1.3 儀器與測量條件

    1.3.1 儀器。

    島津XRF-1800型順序式X射線熒光光譜儀:4kW銠靶X射線管

    上海金相機(jī)械設(shè)備有限公司YM-2A金相試樣預(yù)磨機(jī)

    上海金相機(jī)械設(shè)備有限公司PG-2D金相試樣拋光機(jī)

    PRODIGY XP型ICP等離子體發(fā)射光譜儀

    1.3.2 儀器工作條件。X射線熒光光譜儀工作參數(shù)條件見表1,面罩直徑20mm。分析線采用Ka,衰減器關(guān)。

    2 試驗(yàn)結(jié)果與討論

    2.1 基體效應(yīng)及其處理

    按表1中儀器工作參數(shù)條件逐一登記每一標(biāo)樣中各元素強(qiáng)度,將計算所得基體元素Fe設(shè)定為“定量”。一般P、Si元素含量較低,基體效應(yīng)不明顯,并且由于試驗(yàn)選用標(biāo)樣為合金鑄鐵套標(biāo),組分含量范圍寬、線性良好,經(jīng)過試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),除Cr、Ti外,對于Si、Mn、P等元素不做任何基體校正即可獲得滿意的結(jié)果,因此本文只對Cr、Ti兩元素進(jìn)行了基體校正,部分元素工作曲線及Cr、Ti校正前后工作曲線如圖1所示:

    2.2 測量結(jié)果

    2.2.1 精密度試驗(yàn)。為了考察方法的精密度,本文用標(biāo)樣GBWO1142在重復(fù)測量程序下連續(xù)測量6次,由計算機(jī)自動進(jìn)行統(tǒng)計運(yùn)算,求出各元素的σ和RSD%,結(jié)果見表2。該過程屬于標(biāo)準(zhǔn)樣品的自測過程,一方面可以考察方法的精密度,另一方面與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,也可以知道元素基體效應(yīng)校正是否正確。由表2可見,本法分析的精密度滿足合金鑄鐵分析的要求。

    2.2.2 準(zhǔn)確度試驗(yàn)。為了考核工作曲線的可靠性,我們用不在工作曲線上的鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)YSBC11032與HLBS11001a-2009YSBC13825來測定對照,比對結(jié)果見表3:

    由表3可見除Mg外,11001a標(biāo)樣的Cu、V元素分析結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值一致,其他元素測量結(jié)果絕對誤差均在國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量誤差之內(nèi)。

    2.2.3 合金鑄鐵樣品中各組分含量的測定。隨機(jī)抽取兩個日常檢測中的含Cr、Mo合金鑄鐵樣品,用X-射線熒光光譜法對各組分含量進(jìn)行分析,同時與ICP-AES及化學(xué)分析方法測定結(jié)果進(jìn)行比對,其中Si、Mn、Cr、Mo采用ICP-AES法進(jìn)行比對,P采用比色分析方法進(jìn)行比對。XRF光譜法與比對測定結(jié)果對照如表4所示:

    由表4可以看出,熒光分析方法與濕法分析結(jié)果吻合,分析誤差均在合金鑄鐵化學(xué)分析允許差之內(nèi)。

    2.3 結(jié)論

    合金鑄鐵化學(xué)成分復(fù)雜,濕法分析過程冗長,程序繁瑣,而一般儀器分析的局限性又導(dǎo)致了部分元素不能同時分析測定。并且在濕法分析過程中,人員操作、計量器具等帶來的誤差不可避免,因此對專業(yè)人員具有更高的要求。而通過對X射線熒光光譜法的精密度和準(zhǔn)確度的分析以及對實(shí)際生產(chǎn)樣品測定結(jié)果與ICP-AES測定結(jié)果的比對可以看出,X射線熒光光譜法的分析結(jié)果與濕法分析結(jié)果吻合,標(biāo)樣結(jié)果同樣驗(yàn)證了其結(jié)果的可靠性,分析測定結(jié)果令人滿意。由此可見,X射線熒光光譜操作簡便快速,僅需要簡單的樣品磨樣過程,操作簡單,準(zhǔn)確度高,且免去了濕法分析樣品前處理的繁瑣程序,成本較低,污染小,有很高的實(shí)用價值。

    2.4 討論

    (1)考慮到譜線的重疊干擾,依據(jù)經(jīng)驗(yàn)計算將Mo對P的重疊系數(shù)設(shè)為0.0049;(2)由于實(shí)際合金鑄鐵樣品中不含有Al,因此該實(shí)驗(yàn)未對Al做特殊研究。在實(shí)際應(yīng)用中,若測定Al,應(yīng)選用不含鋁磨料重新對標(biāo)樣及試樣打磨處理;(3)由于待測標(biāo)準(zhǔn)樣品中的鎂元素含量較低,導(dǎo)致了鎂的強(qiáng)度值過低,因此X射線熒光光譜法測定低含量Mg時誤差較大,因此該法不適于鑄鐵中低含量Mg的測定。

    參考文獻(xiàn)

    [1] 梁鈺.X射線熒光光譜分析基礎(chǔ)[M].北京:科學(xué)出版社,2007.

    [2] 張煥新.X射線熒光光譜法分析合金鑄鐵中硅錳磷硫銅鎳鉻鈦鋁碳的含量[J].理化檢驗(yàn)化學(xué)分冊,2005,(41).

    [3] 譚秉和,龔武,孫偉瑩.X射線熒光光譜分析中基體效應(yīng)的數(shù)學(xué)校正方法新探[J].光譜學(xué)與光譜分析,1998,(3).

    [4] 王效瑞,沈禮軒,汪厚基.X射線熒光分析單標(biāo)樣基本參數(shù)法的應(yīng)用及其探討[J].分析化學(xué),1983,(3).

    作者簡介:賈麗娜(1982-),女,沈陽有色金屬研究院工程師,碩士,研究方向:化學(xué)分析。

    (責(zé)任編輯:秦遜玉)

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