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      鍵合互連對PIN 開關性能的影響

      2015-04-20 00:44:32趙世巍張麗敏
      制導與引信 2015年3期
      關鍵詞:雙管微帶線隔離度

      徐 晟, 趙世巍, 張麗敏

      (上海無線電設備研究所,上海200090)

      0 引言

      在微波設備中,由PIN 二極管搭建的微波開關電路,速度快、損耗小、頻帶寬,具有比較理想的開關特性,是微波開關電路的首選器件。通過改變直流偏置的極性和大小,控制PIN 二極管阻抗[1],使其處于截止狀態(tài)或短路狀態(tài),達到關斷或導通目的。經(jīng)常用隔離度和插損指標衡量開關的電性能。

      隨著微波電路工作頻率的提升,為減少PIN二極管封裝的引線電感、管殼電容等參數(shù)對開關電路性能的影響,在微波PIN 開關電路中往往選用無封裝的PIN 二極管與微帶線結構形式,兩者之間采用金絲鍵合線互連,結構緊湊,減少了寄生參量的引入,改善了微波開關電路的電性能。

      文獻[2]表明金絲鍵合線的金絲長度、拱高和跨距等參數(shù)均對微波傳輸具有較大影響。為探討金絲鍵合線對微波開關電路電性能的影響,本文引入金絲鍵合線等效模型,建立微波PIN 開關電路的二端口網(wǎng)絡模型,通過ABCD 矩陣計算隔離度和插損指標,將計算結果與不考慮鍵合線參數(shù)而應用矩陣相乘方法計算值進行比較,兩者吻合較好,表明金絲鍵合線對微波PIN 開關電路影響有限。

      1 金絲鍵合線等效電路模型

      1.1 等效電路模型

      微帶傳輸線之間金絲鍵合線互連示意圖,如圖1所示[2-3]。

      圖1 金絲鍵合互連結構示意圖

      一般情況下,金絲鍵合線的等效電路模型由與兩邊微帶傳輸線的并聯(lián)電容Ce、串聯(lián)電感Lb、串聯(lián)電阻Rb等組成,如圖2所示。

      圖2 金絲鍵合線等效電路模型

      1.2 模型參數(shù)計算

      對自由空間中長度為l,直徑為d 的圓形鍵合金絲,其電感L0可表示為

      式中:μ0為真空磁導率(μ0=4π×10-7H/m);μr為鍵合線的相對磁導率(對于金絲,μr=1);δ 為鍵合線的趨膚深度。

      趨膚深度δ的表達式為

      式中:σ 為鍵合線的電導率,對金絲鍵合線,σ =4.098×107s/m;f 為鍵合線傳輸信號的頻率。

      如果鍵合線離地面的平均高度為h0,應采用鏡像法考慮地面的影響,鍵合線的電感值應該修正為

      其中:

      串聯(lián)電阻Rb的計算式為

      式中:ρ為金絲鍵合線的電阻率。

      并聯(lián)電容Ce表示為

      其中:

      式中:h 為微帶線基片厚度;W 為微帶線導帶的寬度;εr為基片的相對介電常數(shù)。

      2 微波PIN 開關電路性能計算

      2.1 單管PIN 開關等效電路模型

      在單管PIN 開關電路中,PIN 二極管并聯(lián)在電路中,其正極通過鍵合線與左右兩側的微帶線相連,負極接地,考慮鍵合線參數(shù)的等效電路模型如圖3所示。

      圖3 單管PIN 開關等效電路模型

      圖3中級聯(lián)網(wǎng)絡的ABCD 矩陣為

      其中:

      式中:YP=GP+j BP為PIN 二極管的等效并聯(lián) 導納;Zb=Rb+jωLb為鍵合線的等效串聯(lián)阻抗;Ye=jωCe為鍵合線的等效并聯(lián)導納。在采用歸一化特性阻抗Z0和特性導納Y0的情況下,歸一化矩陣為

      其中:

      式中:zb=Zb/Z0,yP=YP/Y0,ye=Ye/Y0。

      該級聯(lián)網(wǎng)絡的插入衰減可表示為

      以SKYWORKS 公司的 PIN 二極管CLA4601-000為例,其結電容Cj=0.12pF,串聯(lián)電阻Rs=2.5Ω。當工作頻率f =20GHz時,根據(jù)單管PIN 開關插損典型計算式(14)和隔離度典型計算式(15),可以算得該PIN 開關的插損L1=0.577dB,隔離度I1=20.8dB。

      如果考慮鍵合線影響,同樣以CLA4601-000二極管為例,圓形鍵合金絲長度l=300μm、直徑d=25μm,微帶線基片厚度h=0.254mm、相對介電常數(shù)εr=2.2,特性阻抗Z0=50Ω。工作頻率為20GHz,當計算插損時,YP=jωCj;當計算隔離度時,YP=1/Rs。將上述參數(shù)代入式(12)和式(13),算得實際考慮鍵合線影響的單管PIN 開關插損為0.654dB,隔離度為21.4dB。

      對于等效電路模型和典型公式算得的單管PIN 開關的插損和隔離度做比較,可以看出,等效電路模型算出的插損和隔離度都偏大,這是因為模型引入的鍵合線有一定電阻值和電感值,微波信號通過時有一定損耗。

      2.2 雙管PIN 開關等效電路模型

      在實際應用中,根據(jù)電路隔離度的要求,開關電路通常由多個PIN 二極管并聯(lián)組成,比較常用的是雙管PIN 開關和三管PIN 開關。

      考慮鍵合線參數(shù)的雙管PIN 開關等效電路模型如圖4所示。圖中YA表示單管PIN 開關等效電路模型;l1表示兩個PIN 二極管之間的微帶線長度;l2表示兩個PIN 二極管之間的管間距,管間距的電長度表示為θ=2πl(wèi)2/λg,管間距l(xiāng)2等于微帶線長度l1加上PIN 二極管寬度。電長度將影響PIN 開關的性能。

      圖4 雙管PIN 開關等效電路模型

      圖4中級聯(lián)網(wǎng)絡的ABCD 矩陣為

      對 式(16)歸 一 化 后 代 入 式(13),仍 以CLA4601-000二極管為例,其寬度為0.35mm,考慮鍵合線影響,其他條件與2.1節(jié)中相同,可求得雙管PIN開關插損與電長度關系,如圖5中實線所示。隔離度與電長度關系如圖6中實線所示。

      圖5 雙管PIN 開關插損與電長度關系

      圖6 雙管PIN 開關隔離度與電長度關系

      不考慮鍵合線參數(shù),應用矩陣相乘方法可導出雙管PIN 開關插損計算式(17)和隔離度計算式(18),可求得雙管PIN 開關的插損與電長度關系如圖5 中虛線所示,隔離度與電長度關系如圖6中虛線所示。

      其中:

      其中:

      比較圖5中兩條曲線,式(17)求得的插損值和考慮鍵合線影響后的插損值均在電長度為70°時達到最小。但是不考慮鍵合線影響的插損接近0,不符合實際情況,實際插損值為0.7dB。

      比較圖6中兩條曲線,不考慮鍵合線影響時最大隔離度對應的電長度為90°,而考慮鍵合線影響后最大隔離度對應的電長度為85°,顯然,引入鍵合線參數(shù)后,對隔離度的影響不大。

      2.3 三管PIN 開關等效電路模型

      考慮鍵合線參數(shù)的三管PIN 開關等效電路模型如圖7所示。圖中YA表示單管PIN 開關等效電路模型;l3表示兩個PIN 二極管之間的微帶線長度;l4表示兩個PIN 二極管之間的管間距,管間距的電長度表示為θ=2πl(wèi)4/λg。通常,三個二極管之間的兩段管間距相同。

      圖7 三管PIN 開關等效電路模型

      圖7中級聯(lián)網(wǎng)絡的ABCD 矩陣為

      對式(19)歸一化后代入式(13),以CLA4601-000二極管為例,考慮鍵合線影響。參數(shù)設置與2.2節(jié)中相同,求得三管PIN 開關插損與電長度關系如圖8中實線所示,隔離度與電長度關系如圖9中實線所示。

      圖8 三管PIN 開關插損與電長度關系

      圖9 三管PIN 開關隔離度與電長度關系

      不考慮鍵合線參數(shù),應用矩陣相乘方法可導出三管PIN 開關插損計算式(20)和隔離度計算式(21),求得三管PIN 開關插損與電長度關系如圖8中虛線所示,隔離度與電長度關系如圖9中虛線所示。

      其中:

      其中:

      比較圖8 中兩條曲線,均在電長度為40°和100°時達到最小值,與雙管PIN 開關相似,不考慮鍵合線影響時的插損接近0,不符合實際情況,實際上電長度為40°時插損值為1.2dB,電長度為100°時插損值為1dB。

      比較圖9中兩條曲線,不考慮鍵合線最大隔離度的電長度為90°,而考慮鍵合線影響后最大隔離度的電長度為80°,顯然,引入鍵合線參數(shù)后,對隔離度的影響不大。

      3 結論

      本文分析了微波PIN 開關電路中,連接PIN二極管和微帶線的金絲鍵合互連線對PIN 開關插損和隔離度的影響,并與應用矩陣相乘方法計算值進行比較。分析表明:在設計雙管PIN 開關或三管PIN 開關時,引入鍵合線后,可以更準確地計算開關的插損;而對于隔離度的計算,引入鍵合線后的計算結果與應用矩陣相乘方法計算值基本一致。

      [1] 清華大學《微帶電路》編寫組.微帶電路[M].北京:人民郵電出版社,1976:243-260.

      [2] 嚴偉,符鵬,洪偉.LTCC微波多芯片組件中鍵合互連的微波特性[J].微波學報,2003,19(3):30-34.

      [3] 李成國,牟善祥,張忠傳,等.基于LTCC 技術的毫米波鍵合金絲的分析與優(yōu)化設計[J].電子器件,2007,30(6):2192-2196.

      [4] 曾耿華,唐高弟.微波多芯片組件中鍵合線的參數(shù)提取和優(yōu)化[J].信息與電子工程,2007,5(1):40-43.

      [5] 王紅欣,楊瑞霞,李書科.管芯S參數(shù)的提取技術[J].電子器件,2004,27(1):180-183.

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