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      FP標(biāo)準(zhǔn)具的溫漂及光學(xué)材料光程溫度系數(shù)的精確測量

      2014-09-11 02:19:52朱精敏朱旻翔
      物理實(shí)驗(yàn) 2014年5期
      關(guān)鍵詞:光程折射率平板

      朱精敏, 朱旻翔

      (1.浙江大學(xué) 物理系,浙江 杭州 310027; 2.杭州精誠光電子有限公司,浙江 杭州 310000)

      1 引 言

      光學(xué)玻璃、光學(xué)晶體、光纖材料等實(shí)際光學(xué)材料的有效光程nd的溫度系數(shù)在某些應(yīng)用中是重要的參量. 它與光的波長有關(guān),也與所處的基礎(chǔ)溫度有關(guān),不同廠家不同批號(hào)的材料該參量也會(huì)有所差別,一些大公司會(huì)給出其產(chǎn)品的熱膨脹系數(shù)αT和在某波長的折射率溫度系數(shù)dn/dT,但比較粗略,而有些公司的產(chǎn)品則沒有這些參量. 在實(shí)際應(yīng)用中,若需該參量的精確值,還得自行具體測試. 采用多光束干涉的FP標(biāo)準(zhǔn)具法來進(jìn)行這類測量比起傳統(tǒng)的用馬赫-曾特爾(Mach-Zehnder)干涉儀[1]法能明顯提高測量精度,后者受限于條紋讀數(shù)誤差較大,同時(shí)樣品的加熱系統(tǒng)對(duì)干涉儀干涉臂長的干擾也會(huì)導(dǎo)致增大測量誤差.

      一般來說,希望FP標(biāo)準(zhǔn)具的溫漂率小,以便有更高的熱穩(wěn)定性[2-3],但適當(dāng)?shù)臏仄蔡峁┝艘环N有用的調(diào)節(jié)手段,例如在激光腔內(nèi)選模中,可用適當(dāng)?shù)臏乜谾P標(biāo)準(zhǔn)具取代調(diào)節(jié)FP標(biāo)準(zhǔn)具的傾角,來達(dá)到模式的匹配,前者具有更小的損耗和更高的穩(wěn)定性. 了解溫漂率對(duì)選用標(biāo)準(zhǔn)具和設(shè)計(jì)溫控系統(tǒng)有參考價(jià)值.

      2 實(shí)驗(yàn)原理

      平行平板的干涉公式[4]為

      mλ=2ndcosα,

      其中,λ為光波長,d為平板厚度,n為平板折射率,α為光束入射角. 當(dāng)干涉級(jí)次m為正整數(shù)時(shí),為干涉極大. 為了簡化分析,取垂直入射,α=0,則有

      mλ=2nd

      .

      (1)

      當(dāng)nd因溫度變化ΔT而改變?chǔ)?2時(shí),m改變1,即改變1個(gè)干涉級(jí)次,即可求得

      (2)

      若需進(jìn)一步求得單獨(dú)折射率的溫度系數(shù)dn/dT,展開(2)式左邊

      其中αT是材料的線膨脹系數(shù),可得

      (3)

      為了提高測量精度可以增大ΔT,使光程nd改變多個(gè)λ/2,以減少ΔT的相對(duì)誤差. (1)式中,若用光頻ν代替波長,有

      因溫度變化ΔT時(shí),n和d都有相應(yīng)的變化,其m級(jí)干涉極大ν的變化為

      (4)

      (4)式說明,平行平板或FP標(biāo)準(zhǔn)具因溫度引起的干涉極大的頻漂與平板的厚度d無關(guān),只與平板材料特性和光頻有關(guān). 這種頻漂對(duì)固體FP標(biāo)準(zhǔn)具在用作激光腔內(nèi)選模[5]時(shí)尤為重要. 從(4)式中還可以看到,如果要求FP標(biāo)準(zhǔn)具能有更小的溫度頻漂Δν,即熱穩(wěn)定性更好,就應(yīng)選擇熱膨脹系數(shù)αT小,以及折射率溫度系數(shù)dn/dT小的材料. 空氣隙標(biāo)準(zhǔn)具的dn/dT要小得多,一般情況下可忽略. 如有更高要求還可以置于真空室內(nèi),使dn/dT為零,同時(shí)采用石英玻璃或超低熱膨脹玻璃作為間隔器材料.

      3 實(shí)驗(yàn)方法和結(jié)果

      對(duì)平行平板兩表面鍍上高反射膜,就構(gòu)成固體FP標(biāo)準(zhǔn)具SFP. 圖1是實(shí)驗(yàn)裝置示意圖,實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)物如圖2所示. 當(dāng)溫度逐漸變化時(shí),探測到的透射光強(qiáng)如圖3所示.

      圖1 固體FP標(biāo)準(zhǔn)具SFP

      圖2 實(shí)驗(yàn)裝置照片

      圖3 透射光強(qiáng)隨溫度變化曲線

      根據(jù)相鄰?fù)干浞宓臏囟炔瞀,從(1)式即可得到樣品光程的溫度系數(shù),若已知材料的熱膨脹系數(shù)αT,從(2)式可得材料折射率的溫度系數(shù). 測定較大αT,現(xiàn)成儀器已很多,文獻(xiàn)[6]介紹置于真空室的空氣隙FP標(biāo)準(zhǔn)具測定熱膨脹系數(shù)很小的材料的αT,把待測材料做成空氣隙FP標(biāo)準(zhǔn)具的間隔圈,這相當(dāng)于(3)式左邊為0,可直接求得αT.

      采用He-Ne激光進(jìn)行測量,波長為λ=632.8 nm,查得用于制作固體FP標(biāo)準(zhǔn)具的上海新滬玻璃廠的JGS1石英玻璃在標(biāo)準(zhǔn)狀況該波長的折射率為n=1.457 2,采用的固體標(biāo)準(zhǔn)具的厚度為d=10.008 mm,其自由光譜范圍為:FSR=c/2nd=10.278 GHz.

      按(2)式即可算得

      誤差主要來自溫度測量的誤差. 各種手冊(cè)列出的石英玻璃的線膨脹系數(shù)αT有所不一,所標(biāo)相對(duì)誤差范圍也較大,取粗略值αT=5×10-7℃-1(如有必要,可按文獻(xiàn)[6]類似方法精確測定所用材料在實(shí)際溫度的αT值,以確保更高精度.)可按(3)式算得

      這與康寧公司給出的數(shù)值dn/dT=(10±1)×10-6℃-1接近,但有更高的精度和更確切的測試條件. 從以上結(jié)果可以看出,對(duì)于石英玻璃來說,光程nd的熱變化主要來自折射率n的熱變化.

      把αT和dn/dT代入(4)式,取ΔT=1 ℃,可得溫度每變化1 ℃時(shí),任意厚度的該材料制成的平行平板或固體FP標(biāo)準(zhǔn)具極大峰的頻漂率為

      Δν=-7.184×10-6ν℃-1,

      對(duì)于He-Ne激光,ν=4.738×1014Hz,其每度頻漂率為:Δν=3.403 GHz/℃.

      當(dāng)利用FP標(biāo)準(zhǔn)具作為激光腔內(nèi)選模器件時(shí),此頻漂率的大小對(duì)于設(shè)計(jì)溫控器的精度和溫度范圍來說是重要的參量.

      4 討 論

      1)實(shí)驗(yàn)?zāi)軌虮容^精確地測定光學(xué)材料光程nd的溫度系數(shù),配合精確測定線膨脹系數(shù)的設(shè)備,可精確測定材料的折射率溫度系數(shù)dn/dT.

      2)本實(shí)驗(yàn)給出了石英固體FP標(biāo)準(zhǔn)具的溫漂率,對(duì)于固體FP標(biāo)準(zhǔn)具的溫度掃描和溫控要求可給出有價(jià)值的參考數(shù)據(jù).

      3)本實(shí)驗(yàn)實(shí)際上是FP標(biāo)準(zhǔn)具在微小長度測量的一種變型應(yīng)用. 本文雖未涉及材料線膨脹系數(shù)的測量,但從上也可以看出,采用FP標(biāo)準(zhǔn)具原理也是這類測量的一種分辨率和精確度特別高的方法.

      4)本實(shí)驗(yàn)裝置簡單,但樣品制作要求精度較高,平行度需達(dá)1.5″以下.

      5)為得到較高精度,采用分辨率和準(zhǔn)確度較高的溫度計(jì)是重要的. 同時(shí)溫度變化過程應(yīng)非常緩慢,應(yīng)是準(zhǔn)熱平衡過程.

      參考文獻(xiàn):

      [1] 母國光,戰(zhàn)元齡. 光學(xué)[M]. 北京:人民教育出版社,1978:248-250.

      [2] 朱精敏. 塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)中F-P標(biāo)準(zhǔn)具的選擇和使用[J]. 物理實(shí)驗(yàn),2001,21(特刊):62-64.

      [3] 朱精敏,陳星,周小風(fēng). 塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)評(píng)述[J]. 物理實(shí)驗(yàn),2004,24(12):3-6.

      [4] 玻恩M,沃爾夫E. 光學(xué)原理(上冊(cè))[M]. 北京:科學(xué)出版社,1978:421-445.

      [6] Plummer W A,Hagy H E. Precison thermal expansion measurements on low expansion optical materials [J]. Applied Optics,1968,7(5):825-831.

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