IR推出堅(jiān)固耐用的600V IR25750 SOT-23電流檢測(cè)IC提升整體系統(tǒng)效率并大幅節(jié)省空間

IR推出堅(jiān)固耐用的600V IR25750 SOT-23電流檢測(cè)IC提升整體系統(tǒng)效率并大幅節(jié)省空間

全球功率半導(dǎo)體和管理方案領(lǐng)導(dǎo)廠商—國際整流器公司 (International Rectifier，簡稱IR) 推出堅(jiān)固耐用的IR25750通用電流檢測(cè)IC，配有極纖巧的SOT23-5L封裝，為大電流應(yīng)用提升整體系統(tǒng)效率并且大幅節(jié)省空間。

測(cè)量通過功率MOSFET或IGBT的大電流 (10到100 A) 往往需要大的電阻器，因此會(huì)產(chǎn)生過量的功率損耗 (10到30 W)。IR25750可在開關(guān)導(dǎo)通時(shí)從功率MOSFET的內(nèi)部導(dǎo)通電阻或IGBT的VCE(on) 提取電壓，無需大型外部電流檢測(cè)電阻器和散熱片，還能避免過量的功率損耗。

IR25750的柵極驅(qū)動(dòng)輸入為IC提供VCC電源電壓，并把導(dǎo)通電阻或VCE(on) 檢測(cè)電路和MOSFET或IGBT的開關(guān)時(shí)間進(jìn)行同步。新器件采用IR的專利高壓技術(shù)，具有在開關(guān)關(guān)斷時(shí)阻斷高VDS或VCE電壓所需的600V阻斷能力。其它主要功能包括低柵極輸入電容、導(dǎo)通時(shí)的內(nèi)部濾波延遲 (一般為200納秒) 以及GATE和CS引腳上的內(nèi)部20.8V齊納箝位 (Zener clamp)。

IR25750在所有輸入和輸出上均具有集成式防靜電能力和卓越的閂鎖免疫力，實(shí)現(xiàn)無堅(jiān)不摧的單芯片保護(hù)。該器件符合工業(yè)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)和第一級(jí)潮濕敏感度 (MSL1) 標(biāo)準(zhǔn)。

咨詢編號(hào)：2014071007