翻轉(zhuǎn)課堂和社交網(wǎng)絡(luò)為STEM 教育領(lǐng)域的學(xué)子提供嶄新的學(xué)習(xí)方式和更廣泛的學(xué)習(xí)機會

據(jù)IEEE發(fā)表的消息稱，將科技融入到科學(xué)、技術(shù)、工程與數(shù)學(xué)（合稱STEM）教育中，將有利于提高課堂的創(chuàng)新力與創(chuàng)造力.

“與以往相比，目前我們可以即時獲取更多的信息、工具和技術(shù).這使得我們能夠以數(shù)年前無法想象的形式進行創(chuàng)新.因此，學(xué)生可以更自主地按照他們的興趣和熱情來規(guī)劃他們的學(xué)習(xí)，”IEEE會 員、IBM 院 士John Cohn說：“STEM 領(lǐng) 域 的 教授和學(xué)生將從這種快速獲得信息的能力中獲益良多，作為一名工程師，看到我們協(xié)助創(chuàng)造的技術(shù)正在幫助社會培育更優(yōu)秀的未來工程師，我覺得非常欣慰.”

翻轉(zhuǎn)課堂

創(chuàng)客運動（The Maker Movement）、網(wǎng)絡(luò)視頻、大規(guī)模的網(wǎng)絡(luò)開放課程以及其他類似的技術(shù)資源正在改變課堂教學(xué)的結(jié)構(gòu).由于工程學(xué)內(nèi)容的固定性，科技進步使得學(xué)生能夠利用課余時間自主學(xué)習(xí)STEM 領(lǐng)域的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，把課堂時間留給創(chuàng)造性應(yīng)用的討論.

“對于電路中有多少電流量這種問題，只能夠有一個正確的答案，”IEEE會員、薩里大學(xué)客座教授William Webb如是說，“對于工程學(xué)或其他的STEM 教學(xué)領(lǐng)域而言，使用網(wǎng)絡(luò)課程或遠程教學(xué)來解答這些具體問題的效果是非常理想的，因此，教師們可以在寶貴的課堂時間進行協(xié)同創(chuàng)新，提高學(xué)生的創(chuàng)造力與創(chuàng)新能力.

將社交網(wǎng)絡(luò)融入STEM 教育

科技進步同樣為工程學(xué)學(xué)生提供了與教授和同輩交流及合作的新平臺.社交網(wǎng)絡(luò)的這種以討論為中心的特質(zhì)很能吸引STEM 的學(xué)生，并有助于激發(fā)他們的新想法.免費并且普及度很高的社交網(wǎng)絡(luò)平臺，例如twitter，能夠幫助學(xué)生直接聯(lián)系他們平常極少機會接觸到的專家.進取的教育工作者也會利用網(wǎng)絡(luò)教育資源去突破單調(diào)的傳統(tǒng)講授式課程，包括模擬經(jīng)典的課程體驗，把課程視頻上傳到Y(jié)ouTube，開放給想觀看的人的同時，為小部分學(xué)生提供專業(yè)視角的解讀.

就分享和傳播知識而言，網(wǎng)絡(luò)論壇使學(xué)生在學(xué)習(xí)的過程中可以提出問題并各抒己見.IEEE 會員，索爾福德大學(xué)在讀博士Antonio Espingardeiro說：“最終，學(xué)生們必然能夠更容易地參與到課程中，學(xué)習(xí)并回答他們或其他同學(xué)提出的問題.這些STEM 中的討論如果能被良好地引導(dǎo)，將帶來驚人的效果并大大有助于世界難題的破解.”

對傳統(tǒng)教育的影響

當(dāng)課外信息和教育資源變得觸手可得時，人們也許會認為如今大學(xué)學(xué)位的價值會有改變，甚至?xí)惶蕴?然而，教育和工程學(xué)的專家們堅信雇主們依然看重傳統(tǒng)的大學(xué)學(xué)位.對畢業(yè)生來講，擁有一張標(biāo)準(zhǔn)認證的傳統(tǒng)學(xué)位證書依然非常必要.而依托于科技進步，各種各樣的網(wǎng)絡(luò)課堂成為現(xiàn)實，在課堂上學(xué)到的額外知識將會成為簡歷上的亮點，它們會給未來的工程師們提供廣泛的知識基礎(chǔ)，幫助他們在工作中不斷創(chuàng)新.

“招聘人員往往不會否認看重應(yīng)聘者的學(xué)歷和工作經(jīng)驗，”IEEE 高級會員，阿爾斯特大學(xué)計算和工程學(xué)院教授Kevin Curran認為：“技術(shù)課程和虛擬教室并沒有對傳統(tǒng)的學(xué)院教育構(gòu)成威脅，而是很好地平衡了與人交流和電子課堂的關(guān)系.它可以為特定的領(lǐng)域提供相關(guān)的專項培訓(xùn)，對想要學(xué)習(xí)課堂之外的知識的學(xué)生來講，它將是一個很好的選擇.”

（摘編自IEEE新聞）