任祥忠,易先文,章 勇,劉 艷,張培新,劉劍洪
深圳大學(xué)化學(xué)與化工學(xué)院,深圳市新型鋰離子電池與介孔正極材料重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,深圳518060
以鈣長(zhǎng)石為主晶相的微晶玻璃因具有低熱膨脹系數(shù)、低介電常數(shù)、良好的力學(xué)性能及優(yōu)良的耐化學(xué)腐蝕性,受到學(xué)者們的青睞[1-13]. 在微晶玻璃研究中,TiO2作為晶核劑的機(jī)理一直是研究的熱點(diǎn)[14-16]. Rezvani 等[14]認(rèn)為T(mén)iO2不影響SiO2-Al2O3-CaO-MgO(R2O)微晶玻璃的析晶機(jī)理,但能通過(guò)降低黏度減小析晶活化能. Ebadzadeh 等[15]認(rèn)為T(mén)iO2在莫來(lái)石型微晶玻璃中是非常有效的晶核劑. Sava等[16]用順磁共振方法研究ZnO-TiO2-B2O3微晶玻璃中Ti4+價(jià)態(tài)的變化,認(rèn)為T(mén)i4+可以被還原成Ti3+而產(chǎn)生順磁共振信號(hào). 但是,所有對(duì)TiO2作為晶核劑的研究都局限于其對(duì)微晶玻璃機(jī)理及微觀(guān)形貌的影響,并沒(méi)有跟材料的力學(xué)性能相關(guān)聯(lián),以致微觀(guān)結(jié)構(gòu)與力學(xué)性能之間的聯(lián)系得不到解決,不能給實(shí)際應(yīng)用提供切實(shí)可行的理論指導(dǎo). 本研究制備了以鈣長(zhǎng)石為主晶相的TiO2添加量不同的CaO-Al2O3-SiO2系(CAS)微晶玻璃,對(duì)熱處理后的微晶玻璃進(jìn)行表征,探討TiO2加入后對(duì)CaO-Al2O3-SiO2系微晶玻璃的微觀(guān)結(jié)構(gòu)與力學(xué)性能的影響,為提高礦渣微晶玻璃的力學(xué)性能提供理論指導(dǎo).
以CaO、Al2O3和SiO2為主要原料,根據(jù)CaOAl2O3-SiO2三元相圖,選定鈣長(zhǎng)石為主晶相,設(shè)計(jì)基礎(chǔ)玻璃組分為m (CaO)∶m (Al2O3)∶m (SiO2)=28∶27∶45. 為研究TiO2對(duì)該體系的影響,分別添加質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0、2%、4%、6%、8% 和10% 的TiO2,所有試劑均為分析純. 按照設(shè)計(jì)比例配制混合料,于球磨罐中研磨7 h,混合均勻,再放入200 mL 高純氧化鋁坩堝中,置于高溫硅鉬棒電爐中以5~10 ℃/min 的速率升至1 550 ℃后保溫4 ~5 h. 待其熔融后將此玻璃液澆鑄在預(yù)先加熱到500 ℃的鋼制磨具上成型(規(guī)格大約為70 mm ×55 mm ×10 mm),隨后迅速將已經(jīng)成型的玻璃塊放入700 ℃的退火爐中保溫2 h,然后自然降溫. 將退火的玻璃切割成需要測(cè)試的規(guī)格后,放入馬弗爐中進(jìn)行熱處理. 熱處理?xiàng)l件為核化溫度750 ℃,核化時(shí)間2 h,晶化溫度950 ℃,晶化時(shí)間2 h,制得微晶玻璃.
將退火的基礎(chǔ)玻璃磨成粉末,過(guò)200 目篩,利用同步熱分析儀(STA409PC,德國(guó))確定玻璃的核化和晶化溫度,參比樣品為Al2O3,升溫速率為10 ℃/min. 將樣品用體積分?jǐn)?shù)為10%的HF 溶液浸泡60 s 后,用清水洗凈,采用掃描電鏡(S -570,日本)觀(guān)察樣品的形貌. 采用X 射線(xiàn)衍射儀(D8 ADVANCE,德國(guó))測(cè)定微晶玻璃的晶相,Cu 靶Kα 射線(xiàn),測(cè)試電壓為40 kV,測(cè)試電流為40 mA,掃描速率為2° /min. 將微晶玻璃切成10 mm ×10 mm×2 mm 的小方塊,在Vickers 硬度儀 (HXD-1000,中國(guó))上測(cè)定顯微硬度. 將微晶玻璃試樣制成5 mm ×5 mm×50 mm 的矩形條在萬(wàn)能電子拉力機(jī)(CMT4304,中國(guó))上測(cè)定抗彎強(qiáng)度. 將熱處理后的樣品磨成粉末,過(guò)200 目篩,在電子順磁共振譜儀(ER-200D SRC-10/12,德國(guó))上測(cè)試電子順磁共振譜,測(cè)試微波頻率為9055.649 MHz,微波功率為0.998 mW,調(diào)制頻率為100 kHz,掃場(chǎng)寬度為200 mT. 將微晶玻璃切成10 mm×10 mm×1 mm 的薄片,在快-快符合型正電子壽命譜儀(美國(guó))上測(cè)試正電子壽命譜,以Kapton 膜為襯體的正電子源為22Na,道寬K =12.641 8 ps/ch,分辨率FWHM=192 ps;源成分τs=380 ps,湮沒(méi)相對(duì)強(qiáng)度Is=8.0%.
圖1 為不同TiO2添加量的CAS 基礎(chǔ)玻璃的差熱分析(differential thermal analysis,DTA)圖. 從圖1 可見(jiàn),隨著TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加,樣品的析晶峰逐漸降低,析晶峰溫度從997 ℃降到922 ℃,析晶溫度的降低在熱處理過(guò)程中有利于離子的移動(dòng),從而促進(jìn)析晶[14].
圖1 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 基礎(chǔ)玻璃的DTA 曲線(xiàn)Fig.1 DTA curves of CAS base glass with different TiO2 content (a)0,(b)2%,(c)4%,(d)6%,(e)8%,(f)10%
圖2 為不同TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃樣品的X 射線(xiàn)衍射(X-ray diffraction,XRD)圖譜.從圖2 可見(jiàn),所有樣品中的主晶相都為鈣長(zhǎng)石(Ca2Si2Al2O8),且隨著TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的升高,衍射峰的強(qiáng)度逐漸增大,表明TiO2的加入有利于玻璃的析晶. 同時(shí),在TiO2添加質(zhì)量分?jǐn)?shù)為8%和10%的衍射圖上還出現(xiàn)了鈣鈦礦(CaTiO3)的小峰,而且質(zhì)量分?jǐn)?shù)10%的衍射圖上鈣鈦礦的強(qiáng)度要比質(zhì)量分?jǐn)?shù)8%上面的強(qiáng),說(shuō)明在TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)為10%時(shí)析出的鈣鈦礦會(huì)更多. 這是因?yàn)椋? 種晶體的形成對(duì)微晶玻璃的力學(xué)性能會(huì)有影響,不同晶體及晶體與殘余玻璃相間的熱膨脹系數(shù)不同,在高溫核化晶化的過(guò)程中,體積膨脹不一樣,導(dǎo)致在冷卻收縮過(guò)程中會(huì)在兩者界面間出現(xiàn)間隙而產(chǎn)生應(yīng)力,這種應(yīng)力的存在對(duì)微晶玻璃的力學(xué)性能非常不利.這說(shuō)明,TiO2的摻雜存在一個(gè)最佳用量,超過(guò)最佳用量就不只是起晶核劑的作用,而會(huì)作為主要原料形成新的晶體.
圖2 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃樣品XRD 圖譜Fig.2 XRD curve of the CAS glass-ceramics with different TiO2 content (a)0,(b)2%,(c)4%,(d)6%,(e)8%,(f)10%
圖3 為不同TiO2添加量的CAS 微晶玻璃的掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)圖. 從圖3 可見(jiàn),TiO2的添加對(duì)析晶有明顯影響.未添加TiO2時(shí),玻璃析晶很少,隨著TiO2的增加,晶體的數(shù)量增加,玻璃相區(qū)域減少,析出的晶體都為球狀顆粒. 當(dāng)TiO2添加質(zhì)量分?jǐn)?shù)為6%時(shí),析晶非常均勻且顆粒微小,未出現(xiàn)明顯裂紋. 到TiO2添加質(zhì)量分?jǐn)?shù)超過(guò)8%時(shí),由于有2 種晶相形成,應(yīng)力增加,出現(xiàn)明顯裂紋,晶體間出現(xiàn)明顯團(tuán)聚,對(duì)微晶玻璃的力學(xué)性能產(chǎn)生不利影響.
圖4 為不同TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃顯微硬度曲線(xiàn). 從圖4 可見(jiàn),TiO2的加入能明顯增大其顯微硬度值. 因?yàn)槲⒕РAе械闹Щ蚯驙罹嗫梢允沽鸭y尖端彎曲和鈍化,增加破裂功,減緩并阻止裂紋穿過(guò)晶相和玻璃相的界面[17]. 顯微硬度值是反映物體表面對(duì)抗另一硬物體壓入的能力. 所以析出的晶相越多越致密,對(duì)提高顯微硬度越有利.
圖3 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)熱處理后CAS 微晶玻璃的SEM 圖Fig.3 SEM images of heat-treated glass with different TiO2 content
圖4 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃的顯微硬度曲線(xiàn)Fig.4 Microhardness curves of the CAS glass-ceramics with different TiO2 content
圖5 為不同TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃的順磁共振 (electron paramagnetic resonance,EPR)吸收譜. 從圖5 可見(jiàn),樣品都有吸收峰,隨著TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增多,微晶玻璃的順磁信號(hào)變強(qiáng),g 因子先增大后減小,在TiO2的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為4%時(shí)達(dá)到最大值. 由于鈦的最外層電子排布為4s23d2,Ti4+為3s23p6,無(wú)順磁性,所以此處吸收歸因于Ti3+(3d1)的存在. 在TiO2摻雜的體系中存在如式(1)的變化,在微晶玻璃高溫熔融及熱處理時(shí)Ti4+會(huì)被還原成Ti3+,同時(shí)產(chǎn)生氧空位. 此處的g 因子都比自由電子的g 因子(ge= 2.002 3)大,表明Ti3+與氧空位缺陷存在自旋耦合作用. 隨TiO2的增加,平衡右移,產(chǎn)生的Ti3+和氧空位增多,順磁信號(hào)變強(qiáng),氧空位的出現(xiàn)必然導(dǎo)致Ti3+—O—Ti3+的自旋角關(guān)聯(lián)的變化,使得Ti3+周?chē)木w配位場(chǎng)發(fā)生畸變,軸對(duì)稱(chēng)性被破壞. 當(dāng)TiO2的質(zhì)量分?jǐn)?shù)超過(guò)4%時(shí),晶體析出量大大增加,可能導(dǎo)致部分的氧空位合并,空位對(duì)Ti3+—O—Ti3+的影響減弱,所以g 因子降低.
圖5 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃的EPR 吸收譜Fig.5 The ESR absorption spectrum of the CAS glass-ceramics with different TiO2 content (a)0,(b)2%,(c)4%,(d)6%,(e)8%,(f)10%
圖6 為不同TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃g因子與抗彎強(qiáng)度的關(guān)系圖. 抗彎強(qiáng)度是材料抵抗彎曲不斷裂的能力. 從圖6 可見(jiàn),g 因子變化曲線(xiàn)與抗折強(qiáng)度有相似的變化趨勢(shì),隨著TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增大,微晶玻璃的順磁信號(hào)變強(qiáng),g 因子變大,從而影響玻璃內(nèi)析晶與晶體的生長(zhǎng)方式及晶體含量的變化. 當(dāng)TiO2的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為6%時(shí),微晶玻璃的機(jī)械性能得到最佳值. 這是因?yàn)樵赥iO2的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為6%之前,隨著TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加,析出的晶體細(xì)小均勻,當(dāng)外力作用于樣品時(shí),同樣的壓力能夠被細(xì)小晶粒分散,不至于過(guò)分集中,松弛裂紋尖端應(yīng)力;同時(shí)晶相能阻止裂紋過(guò)界擴(kuò)展并松弛裂紋尖端應(yīng)力場(chǎng). 當(dāng)TiO2的質(zhì)量分?jǐn)?shù)超過(guò)6%時(shí),抗彎強(qiáng)度下降,雖然析出的晶體更多,但析出的是2種晶體,導(dǎo)致應(yīng)力的存在,使抗彎強(qiáng)度值迅速降低. 同時(shí),從EPR 的分析可知,Ti3+—O—Ti3+同氧空位缺陷之間的自旋角關(guān)聯(lián)作用的強(qiáng)弱直接影響抗彎強(qiáng)度的大小.
圖6 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃g 因子與抗彎強(qiáng)度的關(guān)系Fig.6 Relationship between g factor and bending strength of the CAS glass-ceramics with different TiO2 content
圖7 不同TiO2 質(zhì)量分?jǐn)?shù)的CAS 微晶玻璃正電子壽命與抗彎強(qiáng)度的關(guān)系Fig.7 The relationship between positron annihilation life and bending strength of the CAS glass-ceramics with different TiO2 content
圖7 為不同TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)微晶玻璃正電子壽命與抗彎強(qiáng)度的關(guān)系圖. 正電子湮沒(méi)是利用正電子在凝聚物質(zhì)中的湮沒(méi)輻射帶出物質(zhì)內(nèi)部的微觀(guān)結(jié)構(gòu)、電子動(dòng)量分布及缺陷狀態(tài)等信息,是一種非破壞性的研究手段,對(duì)研究納米晶體材料中的缺陷結(jié)構(gòu)和相變有很大的幫助. τ1表示短壽命,τ2表示長(zhǎng)壽命,其數(shù)值與湮沒(méi)附近的電子密度成反比,即與缺陷的尺寸成正比,其值越大,說(shuō)明該處缺陷尺寸越大,電子密度越小;I1和I2分別表示短壽命和長(zhǎng)壽命的強(qiáng)度,其值與缺陷的濃度成正比.
從表1 和圖7 可見(jiàn),τ1和τ2隨TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加,其值逐漸增大,在6%時(shí)達(dá)最大值. 這是由于TiO2的摻雜使鈣長(zhǎng)石納米晶體中產(chǎn)生了間隙Ti4+,在它的擠壓作用下晶格發(fā)生膨脹畸形,晶格常數(shù)變大,同時(shí)產(chǎn)生大量陽(yáng)離子(可能是Al 和Si)空位. τ2的增加,說(shuō)明隨TiO2的增加,空位尺寸變大. 當(dāng)TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)超過(guò)6%時(shí),式(1)中的平衡向右移,氧空位周?chē)碾娮用芏仍龃?,使?減小,同時(shí)Ti4+占據(jù)了部分陽(yáng)離子空位,造成空位型缺陷減小,而且隨著析出晶體的增多,有些自由體積發(fā)生分裂,造成尺寸減小,使τ2減小. 由圖7 可知,正電子壽命及抗彎強(qiáng)度隨著TiO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加有著相同的變化趨勢(shì). 間隙Ti4+的形成,造成缺陷和Al、Si 空位的存在,會(huì)使材料的物理化學(xué)性能發(fā)生改變. 間隙Ti4+的存在,雖然造成缺陷和空位的存在,但Ti4+與O2-之間通過(guò)靜電作用,使得原來(lái)相互獨(dú)立的氧離子成為一體,鍵強(qiáng)增大,所以抗彎強(qiáng)度增大. 但當(dāng)TiO2的質(zhì)量分?jǐn)?shù)超過(guò)6%時(shí),部分Ti4+取代Si4+,而Ti—O 鍵比Si—O 鍵鍵強(qiáng)小,因而導(dǎo)致抗彎強(qiáng)度減小,表現(xiàn)在正電子壽命的變化和強(qiáng)度的變化呈正相關(guān)曲線(xiàn).
表1 歸一后的正電子湮沒(méi)壽命Table1 Positron annihilation lifetime after normalized
綜上研究可知:①在以鈣長(zhǎng)石為主晶相的CaO-Al2O3-SiO2微晶玻璃體系中,TiO2能降低黏度,促進(jìn)析晶,其最佳添加量 (質(zhì)量分?jǐn)?shù))為6%,在核化溫度為750 ℃,核化時(shí)間為2 h,晶化溫度為950 ℃,晶化時(shí)間為2 h 時(shí),其抗彎強(qiáng)度最大達(dá)314 MPa,顯微硬度為830 MPa;②在CaOAl2O3-SiO2體系中,有部分Ti4+被還原成Ti3+,產(chǎn)生順磁共振吸收,導(dǎo)致Ti3+—O—Ti3+與氧空位缺陷間自旋角關(guān)聯(lián)作用的變化,引起抗彎強(qiáng)度變化;TiO2的加入,因其進(jìn)入晶格或取代Si4+或產(chǎn)生空位,引起內(nèi)部缺陷的變化,導(dǎo)致τ1和τ2的變化,因而引起抗彎強(qiáng)度的變化;③g 因子、正電子壽命及抗彎強(qiáng)度三者之間的變化呈正相關(guān).
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