韓 波,楊平華,郝軍君
(北京航空材料研究院,北京 100095)
隨著對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量要求的提高,水浸超聲檢測(cè)的應(yīng)用越來越多。水浸法超聲檢測(cè)可縮小檢測(cè)盲區(qū),便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè),減少影響檢測(cè)可靠性的人為因素,還為實(shí)現(xiàn)聚焦聲束檢測(cè),滿足高靈敏度、高分辨率檢測(cè)需求提供了條件。聚焦探頭由于其檢測(cè)靈敏度高、對(duì)缺陷方向不敏感等優(yōu)點(diǎn),在一些重要零件的檢測(cè)中應(yīng)用得越來越多。筆者通過采用不同聲場(chǎng)參數(shù)的水浸探頭對(duì)同一零件的檢測(cè)和評(píng)定結(jié)果的對(duì)比,分析和討論了水浸探頭聲場(chǎng)對(duì)缺陷檢測(cè)和評(píng)定的影響,為日后檢測(cè)參數(shù)的選擇和缺陷評(píng)定提供一些參考。
水浸檢測(cè)分為普通非聚焦探頭和聚焦探頭兩種。如圖1所示,其中,D為晶片直徑,R為聚集透鏡半徑,F(xiàn)為焦距,L為焦程長(zhǎng)度。在普通非聚焦探頭的聲場(chǎng)中,聲束寬度約為換能器直徑,且隨著距離的增大逐漸加寬。由于聲束穿過的多晶結(jié)構(gòu)基體材料體積較大,聲波遇到的散射體數(shù)量較多,相應(yīng)引起散射噪聲也較大,對(duì)于反射幅度較低的小缺陷,就會(huì)造成信噪比不足。而帶有聚焦透鏡的探頭,由于透鏡的聚焦作用,使焦點(diǎn)附近能量高度集中,因此,在焦區(qū)內(nèi)可使小缺陷檢測(cè)靈敏度提高,同時(shí),由于聲束變窄也使聲場(chǎng)內(nèi)組織散射信號(hào)減少,從而提高了檢測(cè)信噪比。但是,聚焦探頭高靈敏度范圍有限,在聚焦區(qū)之外靈敏度和信噪比仍會(huì)變得很低。
圖1 聚焦探頭與非聚焦探頭檢測(cè)波形效果示意
聚焦探頭能量較集中的聚焦聲場(chǎng)主要由焦柱長(zhǎng)度L和焦點(diǎn)直徑φ兩個(gè)參數(shù)決定,分別如式(1)和(2)表示:
式中:λ為超聲波波長(zhǎng)。
由上述兩式可以看出,若要增大焦柱長(zhǎng)度,則需增大焦距,減小晶片直徑,但同時(shí)聲束直徑會(huì)增大。根據(jù)理論研究結(jié)果,聚焦探頭焦點(diǎn)能量集中的效果在N/F值較大時(shí)為好。增加焦距減少晶片直徑,就會(huì)使N/F減小,聚焦探頭提高信噪比的能力減弱[1]。
通常由于聚焦探頭焦柱直徑遠(yuǎn)小于壓電晶片直徑,利用焦柱區(qū)可準(zhǔn)確測(cè)定缺陷尺寸。在缺陷的尺寸評(píng)定中,如果測(cè)出的尺寸不大于焦柱截面積,則測(cè)出的是焦柱區(qū)尺寸;如果測(cè)出的尺寸遠(yuǎn)大于焦柱尺寸,則測(cè)出的是缺陷尺寸。因此焦點(diǎn)尺寸越小缺陷的尺寸測(cè)量越準(zhǔn),但焦點(diǎn)尺寸越小檢測(cè)效率越低,因此需要結(jié)合檢測(cè)要求確定檢測(cè)用探頭參數(shù)[2]。
選取了日常檢測(cè)中常用的3 種類型探頭:5 MHz水浸平探頭,5 MHz 水浸聚焦探頭和10 MHz水浸聚焦探頭,依據(jù)美國材料學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)ASTME 1065[3]對(duì)各探頭進(jìn)行了聲場(chǎng)參數(shù)的測(cè)試,測(cè)試結(jié)果見表1和圖2。采用上述探頭分別對(duì)有缺陷的某一零件進(jìn)行了水浸C 掃描檢測(cè),檢測(cè)時(shí)靈敏度均為φ0.8mm 當(dāng)量平底孔。
表1 水浸探頭的聲場(chǎng)參數(shù)測(cè)試結(jié)果 mm
試驗(yàn)中聚焦探頭檢測(cè)時(shí)焦距落在零件表面上,水浸平探頭的水距則選取近場(chǎng)N 點(diǎn)落在零件表面上進(jìn)行掃查。各探頭的檢測(cè)C掃描圖見圖3。
對(duì)各探頭檢測(cè)出的缺陷尺寸和當(dāng)量進(jìn)行了評(píng)定,結(jié)果見圖4,5。為了對(duì)結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn),改變檢測(cè)水距,使焦點(diǎn)或N點(diǎn)落在F1處再次進(jìn)行了評(píng)定。評(píng)定結(jié)果圖見圖6,7,其中Ⅰ為5 MHz平探頭,Ⅱ?yàn)?MHz聚焦探頭,Ⅲ為10MHz聚焦探頭。
(1)從試驗(yàn)結(jié)果可以看出,不同探頭檢測(cè)的結(jié)果相差較大,得出的結(jié)論也不相同。按照0.8 mm當(dāng)量平底孔驗(yàn)收的話,5 MHz平探頭的檢測(cè)結(jié)果不合格,而其他兩個(gè)探頭的檢測(cè)結(jié)果均合格。
(2)從缺陷的評(píng)定結(jié)果看,水浸平探頭評(píng)定缺陷的當(dāng)量和尺寸遠(yuǎn)大于聚焦探頭的評(píng)定結(jié)果,分析原因可能是因?yàn)镕1和F2是面積型缺陷,平探頭晶片尺寸和聲束寬度大(見表1),缺陷反射能量高,因此評(píng)定的當(dāng)量和尺寸較大;聚焦探頭檢測(cè)中,5 MHz聚焦探頭的評(píng)定結(jié)果大于10 MHz聚焦探頭的評(píng)定結(jié)果,這是因?yàn)? MHz探頭聲束寬度大于10 MHz聚焦探頭(見表1),兩個(gè)聚焦探頭對(duì)F1和F2的評(píng)定結(jié)果均相差11.5dB。
(3)將焦點(diǎn)(或N點(diǎn))落在F1深度處再次進(jìn)行檢測(cè)的結(jié)果顯示,各探頭評(píng)定F1尺寸相近(見圖6F1的長(zhǎng)度尺寸評(píng)定結(jié)果),F(xiàn)1寬度方向的差距也減少;當(dāng)量評(píng)定的差距也減少。比較探頭的聲束寬度發(fā)現(xiàn),此時(shí)的聲束寬度差異也最小。因此說明,在缺陷的尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于探頭聲束直徑時(shí),評(píng)定結(jié)果相差不大(見圖4 中F1的長(zhǎng)度尺寸評(píng)定結(jié)果);而在缺陷的尺寸接近或小于探頭聲束直徑時(shí)(寬度方向),不同聲束直徑的探頭評(píng)定結(jié)果相差較大(見圖4 中F1的寬度尺寸評(píng)定結(jié)果),聲束直徑越小,評(píng)定缺陷的尺寸越準(zhǔn)。因此,檢測(cè)和結(jié)果評(píng)定時(shí)應(yīng)考慮到探頭聲場(chǎng)參數(shù)對(duì)結(jié)果評(píng)定的影響,盡量選取聲場(chǎng)參數(shù)適合的探頭進(jìn)行檢測(cè)和結(jié)果評(píng)定。
水浸探頭的聲場(chǎng)參數(shù)對(duì)零件檢測(cè)和缺陷評(píng)定有較大的影響,因此了解探頭聲場(chǎng)參數(shù)對(duì)缺陷的檢測(cè)和評(píng)定至關(guān)重要。在產(chǎn)品的檢測(cè)中應(yīng)了解探頭的相關(guān)參數(shù),適當(dāng)選用,才能夠滿足檢測(cè)和正確評(píng)定的要求。
[1] 史亦韋.超聲檢測(cè)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2005,36-37.
[2] 莫潤(rùn)陽.超聲聚焦探頭缺陷檢測(cè)能力探討[J].無損檢測(cè),2000,22(2):62-63.
[3] ASTM E1065Evaluating Characteristics of Ultrasonicsearch Units[S].