馬志康,高 原,蔡航偉,王成磊,袁 琳,張 焱,吳煒欽
(桂林電子科技大學(xué) 材料科學(xué)與工程學(xué)院,桂林541004)
TiN薄膜和CrN薄膜不僅具有漂亮的外觀,較高的硬度,還同時具有較好的抗腐蝕性能[1-3]。本工作采用弧光離子鍍設(shè)備,在201奧氏體不銹鋼表面沉積TiN和CrN薄膜,通過X射線衍射儀、掃描電鏡、能譜儀以及硬度計分析檢測TiN薄膜和CrN薄膜物相結(jié)構(gòu)、截面形貌、表面成分和硬度,并進行電化學(xué)腐蝕性能對比測試,分析了其腐蝕機理。
試驗材料是201不銹鋼面板,主要化學(xué)成分(質(zhì)量分數(shù)/%)為:C≤0.15,Si≤0.75,Mn 5.5~7.50,Cr 16.0~18.0,N≤0.25,Ni 3.50~5.50,P≤0.06,S≤0.03,余量為鐵;表面粗糙度Ra<0.5μm。
將不銹鋼切成10mm×10mm的試樣,用丙酮清洗后置于TSU-650磁控濺射及離子鍍沉積設(shè)備中。本底真空度至2×10-3Pa,通入氬氣至5Pa,用-800V的氬離子清洗201不銹鋼30 min。靶材為純鈦(99.9%)和純鉻(99.8%),基體溫度都為200℃。鍍膜前,先沉積一層純鈦或純鉻金屬膜作為過渡層,增加膜基結(jié)合力,然后分別沉積TiN和CrN薄膜。預(yù)鍍和沉積所用的電弧電流、電弧電壓、沉積偏壓是一致的,具體工藝參數(shù)見表1。
表1 弧光離子鍍TiN和CrN薄膜的工藝參數(shù)
采用Bruker-axs-D8型X射線衍射儀(XRD)進行表面物相分析;采用HV-1000型上海長方顯微硬度計測試薄膜的顯微硬度,載荷為25g,加載時間10s,檢測5點取平均值。采用Jeol/JSM-5610LV型掃描電鏡(SEM)觀察橫截面形貌,放大1 000倍測量薄膜厚度;用其附帶的能譜分析儀(EDS)分析表面的化學(xué)成分;用恒電位法和PS-268A型電化學(xué)測量儀進行電化學(xué)腐蝕試驗,試樣工作面積為1cm2,以飽和甘汞電極(SCE)作為參比電極,鉑電極作為輔助電極,試樣為研究電極。文中電位若無特指,均相對于SCE。參比電極和研究電極之間用鹽橋連接,魯金毛細管距研究電極1~2mm,掃描速率為60mV·min-1,電位掃描范圍是-1 500~1 500mV[4-6]。對未處理的201不銹鋼試樣,TiN試樣和CrN試樣在質(zhì)量分數(shù)為3.5%試樣NaCl溶液、摩爾濃度為1mol·L-1NaOH溶液和1mol·L-1H2SO4溶液中進行耐腐蝕性能試驗,Tafle直線外推法測定自腐蝕電流密度。
圖1(a)為TiN薄膜的SEM截面形貌。由圖1可見,因為試樣前期經(jīng)過滲氮處理,滲氮層厚度約20μm,外表面是TiN薄膜,約為1.2μm,兩強化層結(jié)合緊密,氮化層對TiN薄膜起到較好的支撐作用[7]。圖1(b)是CrN薄膜的截面形貌,最外層薄膜同樣均勻致密,因CrN薄膜比TiN薄膜具有更好的機械性能,所以比TiN薄膜略厚,約為3μm。
TiN薄膜表面化學(xué)成分(質(zhì)量分數(shù)/%)為:Ti 76.81,N 23.19;鈦與氮的原子比約為1∶1。經(jīng)過復(fù)合處理后試樣的硬度為1 360HV0.025。這是由于薄膜厚度僅有1.2μm,載荷壓頭前端的變形區(qū)擴展到氮化區(qū),所測得的硬度實際是TiN薄膜層與氮化層的綜合硬度。CrN薄膜表面化學(xué)成分(質(zhì)量分數(shù)/%)為:Cr 86.55,N 12.78;鉻與氮的原子比約為2∶1。表面硬度為1 868HV0.025。這可能是由于CrN薄膜比TiN薄膜厚,載荷壓頭并沒有擊穿薄膜層,基本可以表征薄膜硬度。
圖1 兩種薄膜的SEM截面形貌
圖2 所示為兩種薄膜的X射線衍射分析圖譜。由圖2(a)可見,強化層物相主要為TiN,鈦和因前期經(jīng)過離子氮化形成的Fe3N。其中TiN衍射峰在(111)處較強,有擇優(yōu)生長的趨勢。由圖2(b)可見,表面強化層的物相有CrN,Cr2N和鉻,以CrN為主,擇優(yōu)取向為(200)和(110),含有部分的Cr2N(110),和少量因靶源放電時產(chǎn)生的純鉻相微小液滴。
圖2 兩種薄膜的XRD圖
2.4.1 在NaCl溶液中的腐蝕
圖3為201不銹鋼試樣、TiN試樣和CrN試樣在質(zhì)量濃度為3.5%NaCl溶液中測得的極化曲線。其電化學(xué)參數(shù)擬合結(jié)果見表2??梢钥闯?,當(dāng)201不銹鋼試樣的自腐蝕電位Ecorr=-342mV時進入陽極極化;而TiN試樣的自腐蝕電位Ecorr=-464mV,低于201不銹鋼試樣;CrN試樣的自腐蝕電位接近TiN試樣,但是極化曲線和201不銹鋼試樣的極化曲線幾乎相似,在電位Ecorr=78mV之前,CrN試樣的電流密度都小于TiN試樣。綜合三者的自腐蝕電位Ecorr和自腐蝕電流密度Jcorr可知,CrN試樣和TiN試樣在NaCl溶液中的耐腐蝕性能并沒有明顯提高,且均未出現(xiàn)明顯鈍化現(xiàn)象。
圖3 3種試樣在3.5%的NaCl溶液中的極化曲線
表2 試樣在3.5%的NaCl溶液中的腐蝕結(jié)果
2.4.2 在NaOH溶液中的腐蝕
圖4為201不銹鋼試樣、TiN試樣和CrN試樣在1mol·L-1NaOH溶液中測得的極化曲線。其電化學(xué)參數(shù)擬合結(jié)果見表3。由表3可見,201不銹鋼試樣在自腐蝕電位Ecorr=-754mV時進入陽極極化,并且在電位為122mV時有一個短暫的鈍化過程;TiN試樣的自腐蝕電位雖然低于201不銹鋼試樣,但是其致鈍、維鈍電流密度以及自腐蝕電流密度都要比201不銹鋼試樣小很多;CrN試樣的自腐蝕電位Ecorr=-461mV,明顯高于201不銹鋼和TiN試樣,雖然沒有明顯的致鈍過程,但是維鈍電流密度始終維持在一個較低的值Jp=0.028 2mA·cm-2。根據(jù)由自腐蝕電流密度Jcorr得出的相對腐蝕速率,201不銹鋼的相對腐蝕速率略快于TiN試樣,并且TiN試樣的相對腐蝕速率是CrN試樣的12倍。
圖4 3種試樣在1mol·L-1的NaOH溶液中的極化曲線
表3 在1mol·L-1的H2SO4溶液中的腐蝕結(jié)果
2.4.3 在H2SO4溶液中的腐蝕
圖5為201不銹鋼試樣、TiN試樣和CrN試樣在1mol·L-1H2SO4溶液中測得的極化曲線。其電化學(xué)參數(shù)擬合結(jié)果見表4。可以看出,TiN試樣的自腐蝕電位略高于201不銹鋼試樣,其致鈍、維鈍電流密度以及自腐蝕電流密度也明顯小于201不銹鋼試樣。CrN試樣自腐蝕電位Ecorr=-338mV,高于TiN試樣,致鈍、維鈍電流密度略大于TiN試樣,但是自腐蝕電流密小于TiN試樣。根據(jù)由自腐蝕電流密度Jcorr得出的相對腐蝕速率,TiN試樣的相對腐蝕速率和CrN試樣相近,分別是201不銹鋼試樣的1/20和1/26。
圖5 3種試樣在1mol·L-1的H2SO4溶液中的極化曲線
表4 在1mol·L-1的H2SO4溶液中的腐蝕結(jié)果
(1)通過弧光離子鍍技術(shù)在201不銹鋼表面分別形成了厚度為1.2μm的致密TiN薄膜和厚度為3μm的致密CrN薄膜。
(2)201不銹鋼、TiN薄膜和CrN薄膜,三者在3.5%的NaCl溶液中耐蝕性相當(dāng)。
(3)在1mol·L-1的 NaOH 溶液中,TiN薄膜的耐蝕性約是201不銹鋼的2倍,CrN薄膜的耐蝕性相比于201不銹鋼提高了24倍,是TiN薄膜的12倍。
(4)在1mol·L-1的 H2SO4溶液中,TiN薄膜和CrN薄膜的耐蝕性相比于201不銹鋼分別提高20倍和26倍,CrN薄膜的耐蝕性是TiN薄膜的1.34倍。
[1]鐘彬,徐小連,陳義慶,等.Cr/CrN多層膜的結(jié)構(gòu)及腐蝕性能研究[J].真空,2009,46(5):22-25.
[2]史新偉,李杏瑞,邱萬起,等.電弧離子鍍TiN及其復(fù)合膜的腐蝕機理探討[J].真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報,2006,26(4):330-334.
[3]姜雪峰,劉清才,王海波.多弧離子鍍技術(shù)及其應(yīng)用[J].重慶大學(xué)學(xué)報:自然科學(xué)版,2006,29(10):55-57.
[4]Carrasco C,Segers L,Benavente B.The relationship between residual stress and process parameters in TiN coatings on copper alloy substrates[J].Materials Characterization,2002,48(1):81-88.
[5]王成龍,范多旺,劉紅忠,等.AZ91C鎂合金表面Ti-TiN復(fù)合鍍層的陰極多弧離子鍍法制備與表征[J].腐蝕與防護,2008,29(4):182-184.
[6]Zheng C C,Chen K M,Zhang X N,et al.Effect of arc current on microstructure and mechanical properties of CrN coatings deposited by arc ion plating[J].Journal of Aeronautical Materials,2011,31(4):51-55.
[7]袁琳,高原,張維,等.201不銹鋼離子滲氮和離子鍍TiN復(fù)合強化層的耐蝕性[J].材料熱處理學(xué)報,2011,32(1):144-147.