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      能量色散X射線熒光光譜法測定首飾鈀合金中鈀含量

      2013-09-07 01:57:18黃國芳李晨光上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院
      上海計(jì)量測試 2013年4期
      關(guān)鍵詞:標(biāo)樣光譜法首飾

      金 俊 黃國芳 李晨光 許 雅 / 上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院

      0 引言

      鈀(Pd),鉑系金屬之一。由于鈀的特殊物化性能,可用來制作各種美觀、時(shí)尚的飾品。鈀首飾呈銀色,與鉑、銀首飾外觀相似,價(jià)格居于昂貴的鉑首飾與低廉的銀首飾之間,正好滿足了廣大普通消費(fèi)者的購買需求。鈀首飾已經(jīng)成為首飾中的新興組成部分,并逐漸成為首飾的一種潮流,市場前景良好。GB 11887-2008《首飾 貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》是首飾行業(yè)的一個(gè)重要基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了首飾鈀及其合金的純度分別為Pd 500、Pd 950、Pd 990(足鈀,足鈀金)、Pd 999(千足鈀,千足鈀金)。因此用能量色散X射線熒光光譜分析法(EDXRF)對鈀首飾進(jìn)行快速無損分析是非常緊迫且有必要的。

      1 基本原理

      X射線熒光光譜分析技術(shù)基本原理為:當(dāng)樣品被激發(fā)源X射線管的初級射線所激發(fā),它就會(huì)發(fā)射出樣品中所含有的各種元素的特征X射線熒光光譜線。每種元素的特征X射線熒光光譜線都具有特定的能量。探測這些特征譜線,識別其能量,就可以識別出該樣品含有哪些元素,這就是定性分析;每條特征譜線的強(qiáng)度反映出發(fā)射譜線的元素含量,與被測樣品中能發(fā)射該能量的熒光X射線的元素含量多少有直接聯(lián)系。測量這些元素譜線的強(qiáng)度,使用工作標(biāo)樣作出的校正曲線進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理和計(jì)算,就可以得出被測樣品中各種元素的含量,這就是定量分析。

      2 實(shí)驗(yàn)方法

      2.1 實(shí)驗(yàn)條件

      實(shí)驗(yàn)儀器為中國北京博力唯智科技有限公司研制的X射線熒光光譜儀(X-3000型)。

      溫度:(20±5)℃;濕度:≤70 %RH;電源電壓:(220±20)V;X射線管電壓:45 kV;X射線管電流:0.3 mA。

      2.2 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

      研制一套有不同鈀、銀、銅、鎳、鋅含量的工作標(biāo)樣,用原子吸收光譜法對工作標(biāo)樣進(jìn)行定值。建立合適的數(shù)學(xué)模型,將鈀純度分為三個(gè)區(qū)間,依次為Pd 40.0%~70.0%、Pd 70.0%~90.0%和Pd>90.0%。 建立無損檢測分析程序,用X射線熒光光譜儀對鈀含量在45.0%~99.9%之間的首飾鈀合金進(jìn)行鈀含量分析檢測,然后進(jìn)行樣品測試和精密度的計(jì)算以及樣品的測試比對。

      2.3 儀器工作參數(shù)

      管壓:40.230 kV;管流:0.137 mA;增益:40 kV;X射線管靶材:W;Be窗:0.20 mm;X射線管出射角:23.00°;樣品入射角:45.00°;樣品出射角:135.00°;樣品到探測器距離:1.50 cm。

      儀器預(yù)熱后,依次將工作標(biāo)樣和樣品放入儀器樣品室,把樣品的最平整面緊貼樣品窗中心區(qū)處的薄膜,用X射線熒光光譜儀進(jìn)行測試,測試時(shí)間為120 s,連續(xù)測試10次,記錄各次的數(shù)據(jù)。

      3 結(jié)果和討論

      3.1 定值

      選擇均勻性好的樣品作為工作標(biāo)樣,對工作標(biāo)樣進(jìn)行定值。用原子吸收光譜法進(jìn)行了分析(見表 1)。

      表1 標(biāo)樣定值

      3.2 Rh峰干擾的排除

      X射線熒光光譜儀一般使用低功率Rh靶端窗X射線管作X射線激發(fā)源,Rh靶的激發(fā)X射線與被測鈀合金飾品中的鈀、銀等元素的特征X射線互相疊加,形成很大的干擾,影響檢測。因此選擇W靶為X射線管靶材,Be窗厚度0.20 mm,有效排除19~ 29 keV能量范圍內(nèi)的Rh峰干擾。

      3.3 樣品測試和精密度的計(jì)算

      用能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行鈀含量的測試,每一樣品連續(xù)測十次,得到鈀含量的十次測量值,經(jīng)計(jì)算得出十次測量平均值和十次測量相對標(biāo)準(zhǔn)偏差見表2。方法的重復(fù)性比較好,相對標(biāo)準(zhǔn)偏差優(yōu)于0.3%。

      3.4 樣品的測試比對

      對樣品用能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行分析測試,并與上海聯(lián)科理化應(yīng)用技術(shù)研究所的原子吸收光譜法進(jìn)行比對,結(jié)果見表3。

      表2 鈀含量的測量值、平均值和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差

      表3 樣品的測試比對

      由表3可見,能量色散X射線熒光光譜法與原子吸收光譜法對樣品的分析結(jié)果相對偏差不大于0.1%。

      4 結(jié)語

      應(yīng)用能量色散X射線熒光光譜法對鈀首飾合金中鈀含量進(jìn)行測定,該方法無損耗、快速,精密度、準(zhǔn)確度都較高。

      [1]Eugene P Bertin.Principles and Practices of X-Ray Spectrometric Analysis(Second edition)[M]. La Crosse :Platinum Press,1984.

      [2]全國首飾標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì).GB 11887-2008[S]. 北京:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社,2008.

      [3]全國首飾標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì). GB/T 18043-2008[S]. 北京:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社,2008.

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