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      退化試驗(yàn)下數(shù)控系統(tǒng)可靠性快速貝葉斯評定方法研究

      2013-08-26 02:47:14劉學(xué)江
      機(jī)械與電子 2013年9期
      關(guān)鍵詞:后驗(yàn)數(shù)控系統(tǒng)可靠性

      李 彬,劉學(xué)江

      (天津職業(yè)技術(shù)師范大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,天津 300222)

      0 引言

      目前,國產(chǎn)數(shù)控系統(tǒng)市場占有率低的重要原因之一是其可靠度相對偏低[1-3]。數(shù)控系統(tǒng)可靠性評估是一項(xiàng)耗財(cái)、耗時的工作。要實(shí)現(xiàn)數(shù)控系統(tǒng)可靠性快速評估,可從以下幾方面展開:一是研究快速獲取樣本失效數(shù)據(jù)的試驗(yàn)方法;二是研究由較少的樣本失效數(shù)據(jù)完成可靠性評估的方法;三是研究如何充分利用試驗(yàn)過程中包含的可靠性信息。

      在可靠性評估工作中對試驗(yàn)信息的利用,可只利用一維信息,即時間;也可利用二維信息,即時間、失效模式或退化量[4-7]。

      數(shù)控系統(tǒng)可能存在多種失效模式,即數(shù)控系統(tǒng)失效是多種失效模式競爭的結(jié)果。已有相關(guān)學(xué)者建立了競爭失效場合ALT的競爭失效模型和極大似然估計(jì)(MLE)方法。但基于MLE的統(tǒng)計(jì)方法,需要較大的樣本量才能獲得優(yōu)良的估計(jì)性質(zhì)。Bunea[8],張志華[9]等研 究 了 競 爭 失 效場合 ALT 的Bayes估計(jì)方法。潭源源采用Dirichlet分布作為先驗(yàn)分布,研究了指數(shù)分布下競爭失效場合恒定單應(yīng)力ALT的非完整數(shù)據(jù)的Bayes分析方法[10]。

      數(shù)控系統(tǒng)主要是由元器件、印刷電路板、電連接器、液晶屏和絕緣材料等組成的,而這些組件在工作過程中存在性能退化、性能退化存在加速性的現(xiàn)象已經(jīng)得到了研究者的證實(shí)[11-13]。因此,將通過設(shè)計(jì)退化試驗(yàn)方案,研究數(shù)控系統(tǒng)的可靠性快速評估方法。

      1 數(shù)控系統(tǒng)雙應(yīng)力步加退化試驗(yàn)

      現(xiàn)場跟蹤試驗(yàn)故障數(shù)據(jù)來源于生產(chǎn)一線,其優(yōu)點(diǎn)是在理想情況下能真實(shí)反映數(shù)控系統(tǒng)實(shí)際的工作狀態(tài)或使用情況,缺點(diǎn)是時間較長、故障記錄與分析受制于操作者水平。需要說明的是:可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定功能的概率。試驗(yàn)方法的不同雖然會引起可靠性指標(biāo)的細(xì)微差別,但可靠性評估的方法和原理是相同的。因此,有必要在失效機(jī)理不變的前提下,開展溫-濕雙應(yīng)力步加退化試驗(yàn),縮短試驗(yàn)周期,降低試驗(yàn)費(fèi)用。溫-濕雙應(yīng)力步加退化試驗(yàn)下,數(shù)控系統(tǒng)快速貝葉斯評估方案如圖1所示。

      圖1 數(shù)控系統(tǒng)快速貝葉斯評估方案

      基于前期的FMECA分析可知,溫度和濕度是影響數(shù)控系統(tǒng)可靠性的主要環(huán)境因素。因此,擬采用溫-濕雙應(yīng)力對數(shù)控系統(tǒng)進(jìn)行雙應(yīng)力步加退化試驗(yàn)。

      對進(jìn)行溫-濕雙應(yīng)力步加退化試驗(yàn)的數(shù)控系統(tǒng)來講,其故障往往是由于系統(tǒng)中某個部件或組件出現(xiàn)故障導(dǎo)致的,且這種故障通常是可修復(fù)的。數(shù)控系統(tǒng)發(fā)生故障后經(jīng)過修復(fù)又重新投入工作,因此,可以用隨機(jī)點(diǎn)過程來描述其故障數(shù)據(jù)。一般認(rèn)為數(shù)控系統(tǒng)經(jīng)過維修后,其可靠性又回到最初的水平,即故障間隔時間獨(dú)立同分布,一般用齊次泊松過程描述;若認(rèn)為數(shù)控系統(tǒng)經(jīng)維修后,其可靠度等于故障前瞬間的可靠度,可用非齊次泊松過程描述。

      對于可修復(fù)的數(shù)控系統(tǒng),考慮到成本高,維修時并非完全維修,引入帶位置參數(shù)的Weibull過程,強(qiáng)度函數(shù)可寫為:

      溫-濕雙應(yīng)力步加試驗(yàn)下的加速方程采用Peck模型:

      將隨機(jī)過程與加速模型結(jié)合起來,則式(1)可變形為:

      由于位置參數(shù)反映數(shù)控系統(tǒng)的初始狀態(tài),即使使用條件不同,其值也都是相等的。因此,位置參數(shù)不隨應(yīng)力條件的變化而變化。

      對溫-濕雙應(yīng)力聯(lián)合作用下的完整數(shù)據(jù)、截尾數(shù)據(jù)混合的情況,采用多元混合數(shù)據(jù)回歸分析方法。針對三參數(shù)Weibull分布情況,通過對數(shù)變換轉(zhuǎn)化為極值分布,再進(jìn)行多元混合數(shù)據(jù)回歸分析的處理。

      設(shè)y為服從極值分布的隨機(jī)變量,其分布函數(shù)為:

      μ(x)為位置參數(shù);σ為尺度參數(shù)。若μ(x)與x=(x1,x2,…,xr)T之間存在線性關(guān)系,則回歸方程可表示為:

      2 基于競爭失效模型的可靠性評估

      針對數(shù)控系統(tǒng)失效模式并不單一的問題,建立競爭失效模型。針對競爭失效場合加速退化試驗(yàn)數(shù)據(jù)可能存在的完整數(shù)據(jù)、截尾數(shù)據(jù)和失效模式未確定數(shù)據(jù)這幾種類型,Bayes分析的基本思路是:首先選擇先驗(yàn)分布形式,確定先驗(yàn)分布表達(dá)式,對完整數(shù)據(jù)和截尾數(shù)據(jù)進(jìn)行Bayes分析,得到后驗(yàn)分布表達(dá)式;然后以最近一次得到的后驗(yàn)分布作為先驗(yàn)分布,逐一對失效模式未確定數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行Bayes估計(jì),得到后驗(yàn)分布及其表達(dá)式;最后,通過加速模型外推正常應(yīng)力水平下的參數(shù)評估值。

      針對聯(lián)合后驗(yàn)分布很難采用數(shù)值積分得到后驗(yàn)統(tǒng)計(jì)的問題,采用Gibbs抽樣方法計(jì)算后驗(yàn)統(tǒng)計(jì),進(jìn)而求出參數(shù)的估計(jì)值。其基本思想是從滿條件分布中的迭代進(jìn)行抽樣,當(dāng)?shù)螖?shù)足夠大時,就可得到來自聯(lián)合后驗(yàn)分布的樣本,進(jìn)而也得到了來自邊緣分布的樣本。Gibbs抽樣的關(guān)鍵在于如何從各個滿條件分布抽樣,當(dāng)滿條件分布不是標(biāo)準(zhǔn)分布函數(shù)時,對其抽樣存在一定的困難,可采用標(biāo)準(zhǔn)取舍抽樣得到滿條件分布抽樣值。

      在溫-濕雙應(yīng)力步加退化試驗(yàn)過程中,既存在突發(fā)性失效,也存在退化失效。對突發(fā)性失效采用上面提到的加速試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析方法即可。對于退化失效,基于隨機(jī)過程和溫-濕雙應(yīng)力加速模型建立加速退化模型,確定失效閾值,則數(shù)控系統(tǒng)的失效時間為性能退化量首次到達(dá)失效閾值的時間T,即將退化量分布模型轉(zhuǎn)化為T的分布,再與突發(fā)性失效數(shù)據(jù)組合建立競爭失效模型。

      3 建立加速退化模型

      B-S分布是概率物理分析中一個重要的疲勞失效模型,目前對該模型的加速應(yīng)力分析主要基于壽命數(shù)據(jù),此處用加速退化數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)控系統(tǒng)可靠性統(tǒng)計(jì)推斷。數(shù)控系統(tǒng)在周期負(fù)載作用下特征量逐漸退化,一個負(fù)載周期可認(rèn)為是一個時間單位,第i個負(fù)載周期內(nèi)引起的特征量退化微小增量di是一個隨機(jī)變量,其分布受負(fù)載影響。假設(shè)該隨機(jī)變量值均為μd,方差為,則經(jīng)n個負(fù)載周期后,數(shù)控系統(tǒng)的積累退化量xn=di。根據(jù)中心極限定理,當(dāng)n很大時,有隨機(jī)變量(di-nμd/)的分布收斂于標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布,則到t時刻,退化量x(t)的均值函數(shù)為:

      當(dāng)退化失效閾值為l時,數(shù)控系統(tǒng)t時刻的失效概率為:

      由以上分析可知,高應(yīng)力水平在單位時間內(nèi)引起的退化增量要大,即受應(yīng)力影響,當(dāng)加速應(yīng)力為溫 -濕雙應(yīng)力時,有μd=a(H)-me,B-S分布的加速退化方程為:

      在溫-濕雙應(yīng)力步加試驗(yàn)下,數(shù)控系統(tǒng)既存在突發(fā)失效也存在退化失效,則需考慮突發(fā)失效與退化過程相關(guān)時的競爭失效問題。不失一般性,設(shè)數(shù)控系統(tǒng)性能隨著時間的增加而逐漸退化,性能退化量記為x(t),它是時間連續(xù)的隨機(jī)變量,退化失效閾值為l,即當(dāng)x(t)≥l時產(chǎn)品發(fā)生退化失效;另外,數(shù)控系統(tǒng)還具有多個突發(fā)失效模式,突發(fā)失效可能受產(chǎn)品退化量的影響,一般情況下,某一時刻退化量越大,突發(fā)失效出現(xiàn)的可能性也越大。

      顯然,t時刻退化量x的大小是一個隨機(jī)變量,設(shè)其分布函數(shù)為G(x,t),相應(yīng)的密度函數(shù)為g(x,t)。數(shù)控系統(tǒng)發(fā)生退化失效的時間記為Td,根據(jù)退化型失效的失效判據(jù),僅考慮退化時其在t時刻的失效概率為:

      {G(x,t);t>0}是一個帶有時變參數(shù)的分布族,設(shè)其未知時變參數(shù)的分布族為:

      設(shè)突發(fā)失效時間為Tt,突發(fā)失效在某一時刻出現(xiàn)的概率受退化量x的影響,因此,突發(fā)失效時間Tt的危險(xiǎn)函數(shù)可表示為λt(t|x)。

      則其條件生存函數(shù)及條件失效分布函數(shù)分別為:

      數(shù)控系統(tǒng)失效為突發(fā)失效與退化失效的結(jié)果,根據(jù)以上各式,t時刻其可靠度為:

      4 結(jié)束語

      經(jīng)過Jeffreys,Robbins,Savage等學(xué)者的努力,Bayes方法在理論和方法上得到不斷完善。在國外,Bayes學(xué)派已發(fā)展為一個非常有影響的統(tǒng)計(jì)學(xué)派。Bayes方法在美國國防科技領(lǐng)域以及Bayes方法在我國武器系統(tǒng)的成功應(yīng)用,說明在可靠性研究中應(yīng)用Bayes方法具有成功的范例,并且也適宜向數(shù)控系統(tǒng)可靠性快速評估領(lǐng)域進(jìn)行推廣。

      [1]遇立基.關(guān)于數(shù)控系統(tǒng)產(chǎn)業(yè)化發(fā)展和市場培育的建議[J].世界制造與裝備市場,2006,(4):37-39.

      [2]李本忍,李家霽.對我國數(shù)控系統(tǒng)可靠性的一些看法[J].中國機(jī)械工程,1998,9(5):11-13.

      [3]賈亞洲.數(shù)控系統(tǒng)可靠性國內(nèi)外現(xiàn)狀及對策[J].中國制造業(yè)信息化,2006,(6):51-53.

      [4]Chen Z H,Zheng H R.Lifetime distribution based degradation analysis[J].IEEE Transactions on Reliability,2005,54(1):3-10.

      [5]峁詩松,湯銀才,王玲玲.加速壽命試驗(yàn)[M].北京:高等教育出版社,2008.

      [6]姚增起.系統(tǒng)退化和系統(tǒng)可靠性研究[D].北京:中國科學(xué)院自動化研究所,1988.

      [7]潘 駿,劉紅杰,陳文華,等.基于步進(jìn)加速退化試驗(yàn)的航天電連接器接觸可靠性評估[J].中國機(jī)械工程,2011,22(10):1197-1120.

      [8]Bunea C,Mazzuchi T A.Bayesian accelerated life testing under competing failure modes[C].Proceeding of Annual Reliability and Maintainability Symposium,2005.152-157.

      [9]張志華,峁詩松.指數(shù)分布場合下競爭失效產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)的Bayes估計(jì)[J].應(yīng)用概率統(tǒng)計(jì),1998,14(1):2073-2100.

      [10]潭源源,張春華,陳 循.基于Dirichlet先驗(yàn)分布的的加速壽命實(shí)驗(yàn)的Bayes分析[J].宇航學(xué)報(bào),2010,31(6):1678-1684.

      [11]吳 軍,邵新宇,鄧 超,等.基于性能劣化的可靠性預(yù)測與系統(tǒng)開發(fā)[J].計(jì)算機(jī)集成制造系統(tǒng),2011,17(1):191-197.

      [12]鄒心遙,姚若河.小樣本統(tǒng)計(jì)理論及IC可靠性評估[J].控制與決策,2008,23(3):241-245,250.

      [13]賈占強(qiáng),蔡金燕,梁玉英,等.基于綜合環(huán)境加速壽命試驗(yàn)的電子裝備故障預(yù)測研究[J].電子學(xué)報(bào),2009,36(6):1277-1282.

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