隨鉆多探測深度陣列中子俘獲截面測井技術(shù)新進展

2013年SPWLA年會議斯倫貝謝公司推出一種新的隨鉆熱中子俘獲截面用于鹽水環(huán)境中含水飽和度評價的測量技術(shù)。熱中子俘獲截面測井不依賴于m、n等阿爾奇經(jīng)驗指數(shù)和電阻率含水飽和度，結(jié)合電阻率值可估算出原生水礦化度。隨鉆多探測深度陣列中子俘獲截面測井儀器可提供近井眼淺地層的有鹽水濾液侵入的高孔隙度、含烴地層，包括2個伽馬探測器和1個熱中子探測器，具有多種探測深度和垂直分辨率。

多探測器為熱中子俘獲截面測井帶來2個方面進展，①利用探測器的明顯響應(yīng)可進行典型的淺隨鉆侵入深度下的泥漿濾液的侵入評價;②利用高垂直分辨率熱中子探測器可進行薄層測量和評價。多種探測深度的分析結(jié)果也為原狀地層熱中子俘獲截面、侵入地層熱中子俘獲截面和侵入半徑反演提供了大量信息。與用水基泥漿和油基泥漿所鉆的碳酸鹽巖和碎屑巖儲層中電纜熱中子俘獲截面測量相比較，多種探測深度地層熱中子俘獲截面測量在識別困難環(huán)境下的滲透地層，解決常規(guī)單個熱中子俘獲截面測量是否代表了原狀地層特征具有非常重要的作用。對蒙特卡羅模擬和刻度井數(shù)據(jù)進行分析，對擴散、井下儀器與井壁間隙、井筒流體和井眼尺寸等環(huán)境影響進行評價，計算了典型隨鉆鉆井條件下寬范圍地層的徑向侵入剖面。

該儀器探測器的不同敏感性對薄層和侵入探測具有特殊意義，且敏感性受不同程度的環(huán)境影響。近中子探測器具有很好的垂直分辨率且受環(huán)境影響很大，而長源距伽馬探測器受環(huán)境影響很小，它更多地受到統(tǒng)計噪音的影響。在有明顯沖刷情況下，井筒影響可能很重要。在侵入較淺的情況下，隨鉆熱中子俘獲測量技術(shù)在診斷侵入情況方面比隨鉆電阻率測量技術(shù)更有優(yōu)勢，而隨鉆電阻率更適合于探測超過14 in(非法定計量單位，1 in=25.4 mm)的侵入情況。

(信息來源:［1］Edwin Ortega，Carlos Torres-Verdín，William E Preeg，etal.Multi-detector LWD Sigma Logging Principles，Petrophysical Applications，and Environmental Effects［C］∥ Transaction of the SPWLA 54th Annual Logging Symposium，Paper NNN，2013.［2］Marie-Laure Mauborgne，F(xiàn)rancoise Allioli，Chanh Cao Minh，etal.Advances in LWDMultiple Depth of Investigation Array Sigma Measurements［C］∥ Transaction of the SPWLA 54th Annual Logging Symposium，Paper III，2013. 唐宇 編譯 王小寧 審校)