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      測(cè)試點(diǎn)的優(yōu)化選擇

      2012-08-07 07:52:52
      電子測(cè)試 2012年2期
      關(guān)鍵詞:單行測(cè)試點(diǎn)增益

      蒯 偉

      (海軍駐南京地區(qū)通信軍事代表室 江蘇南京 210002)

      0 引言

      科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,特別是計(jì)算機(jī)技術(shù)和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用,在改善和提高系統(tǒng)、武器裝備性能的同時(shí),也大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性。測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)[1]、故障診斷困難和使用保障費(fèi)用高等問(wèn)題,從而引起了人們的高度重視。為了提高武器戰(zhàn)斗力,保證其可靠的運(yùn)行和良好的作戰(zhàn)狀態(tài),必須對(duì)其進(jìn)行高效快速的測(cè)試診斷。

      測(cè)試點(diǎn)的優(yōu)化選擇是系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容,可以及時(shí)、快速地檢測(cè)與隔離故障,提高執(zhí)行任務(wù)的可靠性與安全性[2],縮短故障檢測(cè)與隔離時(shí)間,進(jìn)而減少維修時(shí)間,提高系統(tǒng)可用性,降低系統(tǒng)使用保障費(fèi)用。

      1 測(cè)試點(diǎn)優(yōu)選的步驟

      對(duì)電子武器裝備的多信號(hào)模型的測(cè)試點(diǎn)的優(yōu)選方法是利用搜索算法得到最優(yōu)的故障診斷樹(shù)[3],其步驟如下:

      1) 初選測(cè)試點(diǎn):分析組成單元的測(cè)試信號(hào)特點(diǎn)、測(cè)試內(nèi)容和測(cè)試方法等,在被測(cè)單元各組成[4]單元端設(shè)置故障測(cè)試點(diǎn),將初選的測(cè)試點(diǎn)添加到多信號(hào)模型。

      2) 搜索算法的測(cè)試序列優(yōu)選,對(duì)建立的多信號(hào)模型[5]進(jìn)行計(jì)算,得到被測(cè)單元最優(yōu)序列和診斷方案。

      3) 測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化:根據(jù)得到的最優(yōu)測(cè)試序列,確定故障檢測(cè)、隔離用的測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試順序[6],在初選測(cè)試點(diǎn)基礎(chǔ)上除去冗余的測(cè)試點(diǎn),根據(jù)實(shí)際要求減少對(duì)測(cè)試性指標(biāo)貢獻(xiàn)較小的測(cè)試點(diǎn)。

      電子武器裝備測(cè)試點(diǎn)的優(yōu)化選擇是極為重要的,其設(shè)置適當(dāng)與否直接關(guān)系到該武器裝備[7]的被測(cè)單元的測(cè)試性水平、診斷測(cè)試時(shí)間和費(fèi)用。該系統(tǒng)的主系統(tǒng)、分系統(tǒng)、內(nèi)部模塊和電路板都要進(jìn)行優(yōu)選測(cè)試點(diǎn),選出自己的檢測(cè)測(cè)試點(diǎn)和隔離測(cè)試點(diǎn),不僅能去除許多冗余測(cè)試點(diǎn),還能迅速地隔離或定位故障,依次從上到下,從主系統(tǒng)中查出分系統(tǒng)故障,從分系統(tǒng)中再查出內(nèi)部模塊和電路板故障,確保在較低的測(cè)試費(fèi)用下,以盡可能少的測(cè)試步驟快速查找該武器裝備故障[8]的位置,可及時(shí)的替換或修改,迅速提高該武器裝備的使用效能和保障費(fèi)用。

      2 測(cè)試點(diǎn)優(yōu)選的步驟

      比如對(duì)某型有故障的武器裝備進(jìn)行了測(cè)試,從上到下都優(yōu)選了測(cè)試點(diǎn),從主系統(tǒng)中查出某分系統(tǒng)有故障,從該分系統(tǒng)中查出了該武器裝備的增益控制有故障,其性能的主要參數(shù)為增益、線(xiàn)性度、截止頻率、轉(zhuǎn)換速率、失調(diào)電流等初選了21個(gè)測(cè)試點(diǎn),如圖1所示。

      圖1 增益控制多信號(hào)模型圖

      ① 建立相關(guān)性矩陣

      合并矩陣中(見(jiàn)表1)相同的列為T(mén)P1和TP3、TP10和 TP13、TP16和 TP17、TP15和 TP18、TP2和TP4,測(cè)試點(diǎn)3、4、13、17和18是多余的,可以去掉。

      ② 選擇檢測(cè)測(cè)試點(diǎn)和隔離測(cè)試點(diǎn)

      首先選用WFD值最大的測(cè)試點(diǎn)TP21為第一個(gè)檢測(cè)測(cè)試點(diǎn),分割矩陣后, D10為C3、R7、R8和R9,再用TP14測(cè)試點(diǎn)為第一個(gè)隔離測(cè)試點(diǎn),可分割為R8、R9和C3、R7,再用TP19和TP15就可分割為單行。D11為C1、C2、R1、R2、DA、DB、D2、V1、R3、R4、R5 和R6,用TP12為第二個(gè)隔離測(cè)試點(diǎn),d21為C1、C2、DA、DB、D2、V1、R3和R4,用TP9為第三個(gè)隔離測(cè)試點(diǎn);d20為R1、R2、R5和R6,再用TP11為第四個(gè)隔離測(cè)試點(diǎn)。d31為C1、C2、DA、DB和D2,再用TP7后可分割為C1、DA、D2和C2、DB,用TP8可把C2、DB分割到各單行,而C1、DA、D2用TP6后可分割為C1、DA和D2,再用TP11就可分割為單行,d30為V1、R3和R4,再用TP14后,可分割為R4和R3、V1,再用TP19,就可分割為單行。d41為R1、R2和R5,再用TP5和TP8,就可檢測(cè)到各單行,d40=R6,只有一行了。表1為增益控制多信號(hào)相關(guān)矩陣。

      表1 增益控制多信號(hào)相關(guān)矩陣

      圖2 增益控制故障診斷樹(shù)

      ③ 診斷樹(shù)

      根據(jù)表1所列矩陣和測(cè)試點(diǎn)優(yōu)選結(jié)果分析,優(yōu)選了12個(gè)測(cè)試點(diǎn),分別別為T(mén)P5、TP6、TP7、TP8、TP9、TP11、TP12、TP14、YP15、TP19、TP20和 TP21,首 先 測(cè) TP21,當(dāng)TP21為不正常時(shí),故障發(fā)生在C1、C2、R1、R2、DA、DB、D2、V1、R3、R4、R5和R6之中,用TP12測(cè)試,如果結(jié)果不正常,故 障 發(fā) 生 在 C1、C2、DA、DB、D2、V1、R3和R4之中,再用TP9測(cè)試,如果正常,則故障發(fā)生在V1、R3和R4之中,再用TP14測(cè)試,如果結(jié)果不正常,則結(jié)果在R3和V1之間,再用TP19測(cè)試,如結(jié)果為正常,故障在V1,如結(jié)果不正常,故障發(fā)生在R3。圖2為增益控制故障診斷樹(shù)。(圖中“0”表示為正常,“1”表示為不正常)

      ④ 結(jié)果分析

      最后優(yōu)選了12個(gè)測(cè)試點(diǎn),比初選測(cè)試點(diǎn)少了9個(gè)測(cè)試點(diǎn),運(yùn)用TEAMS軟件建模與評(píng)估。圖3為該系統(tǒng)增益控制優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)的多信號(hào)圖,圖4為增益控制優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)的指標(biāo)。

      圖3 增益控制UUT多信號(hào)圖

      圖4 增益控制優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)指標(biāo)

      以單增益控制器為指標(biāo),優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)后,能使故障檢測(cè)率和故障隔離率都能達(dá)到100%,模糊組為1.00。

      以最少的測(cè)試點(diǎn)在較短的時(shí)間內(nèi)可檢測(cè)隔離故障,而且對(duì)故障率高的部件可優(yōu)先得到檢測(cè)和定位,可迅速發(fā)現(xiàn)該故障的位置。

      3 結(jié)論

      本文分析了系統(tǒng)的相關(guān)性矩陣,將測(cè)試性度量和故障概率統(tǒng)一考慮,推導(dǎo)出測(cè)試點(diǎn)的故障診斷信息量計(jì)算公式,然后根據(jù)信息量的大小依次選擇測(cè)試點(diǎn),并確定出優(yōu)化的故障診斷策略。優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)可補(bǔ)上已遺漏的測(cè)試點(diǎn),去掉冗余測(cè)試點(diǎn),可運(yùn)用TEAMS軟件對(duì)以上測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估,并可得到優(yōu)化的性能評(píng)估,總以最少的測(cè)試點(diǎn)在較短的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)隔離故障,可迅速的發(fā)現(xiàn)電子武器裝備故障的位置,可及時(shí)的修改、替換,節(jié)省維修時(shí)間和費(fèi)用,迅速提高該系統(tǒng)的使用效能。

      [1]李巖.武器裝備的測(cè)試性[J].現(xiàn)代防御技術(shù),1994(1):26-31.

      [2]陳光俞.現(xiàn)代電子測(cè)試技術(shù)[M].北京:國(guó)防工業(yè)出版社,2001.

      [3]孫志學(xué).武器裝備可靠性與維修性指標(biāo)體系[J].四川兵工學(xué)報(bào),1994,4(15):182-184.

      [4]張向榮.電子系統(tǒng)維修性、測(cè)試性分析與設(shè)計(jì)方法討論[J].航天控制,2004,22(5):81-83.

      [5]赫赤,趙克定,曹健.軍用測(cè)試系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)[J].測(cè)控技術(shù),2005,8(24):55-60.

      [6]張超,宋東,許家棟.智能機(jī)內(nèi)測(cè)試研究終述[J].計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制,2007,15(2):141-145.

      [7]龔凱旋,黃考利.基于多信號(hào)流圖的飛控系統(tǒng)實(shí)時(shí)故障診斷[J].電光與控制,2006,13(6):89-92.

      [8]王醒華,田仲.確定測(cè)試性設(shè)計(jì)要求的方法[J].測(cè)控技術(shù),1995,14(6):9-12.

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