張廣智 王琳琳 趙偉華 張偉光 李全熙
摘 要:該文通過對IGBT組成的H橋在大功率高速開關(guān)條件下進(jìn)行大量實驗,列舉了IGBT發(fā)生擊穿故障的多種原因,結(jié)合IGBT器件的結(jié)構(gòu)分析其擊穿過程及擊穿表現(xiàn),并通過計算提出了一種輸出波形穩(wěn)定的IGBT驅(qū)動電路以及相應(yīng)的保護(hù)電路。
關(guān)鍵詞:擊穿 驅(qū)動 保護(hù)
中圖分類號:O 453 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A 文章編號:1674-098X(2012)12(b)-00-02
目前,大功率電源技術(shù)的發(fā)展向著小型、高頻方向邁進(jìn),其功率開關(guān)部分多采用IGBT來實現(xiàn),但是由于功率的增大、開關(guān)頻率的增高及設(shè)備體積的減小,使得IGBT發(fā)生擊穿甚至炸管的故障率顯著增加,該文通過使IGBT工作在500 V/10 KHz條件下進(jìn)行的各項試驗,對不同原因?qū)е碌膿舸┈F(xiàn)象進(jìn)行分析總結(jié),論述了不同情況下?lián)舸┑母驹蚣氨憩F(xiàn)形式,提出了一種IGBT驅(qū)動保護(hù)電路,經(jīng)實際驗證,此電路運行穩(wěn)定,保護(hù)動作快速有效。
IGBT是由BJT(雙極型三極管)和MOS(絕緣柵型場效應(yīng)管)組成的復(fù)合全控型電壓驅(qū)動式功率半導(dǎo)體器件,具有載流密度大,開關(guān)速率快,驅(qū)動功率小而飽和壓降低的優(yōu)點。非常適合應(yīng)用于直流電壓為600 V及以上的大功率逆變系統(tǒng),在工業(yè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。
1 擊穿原因分析
由于該器件經(jīng)常應(yīng)用于大功率及開關(guān)速率快的場合,因此發(fā)生擊穿甚至炸管的幾率非常高,究其根本擊穿原因有以下三點:過壓擊穿、過流擊穿、過溫?fù)舸?/p>
1.1 過壓擊穿
引起過壓擊穿的原因有很多,比如負(fù)載、線路、元器件的分布電感的存在,導(dǎo)致IGBT在由導(dǎo)通狀態(tài)關(guān)斷時,電流Ic突然變小,將在IGBT的c、e兩端產(chǎn)生很高的浪涌尖峰電壓Uce=L×dic/dt,此電壓若大于IGBT的耐壓值,則會擊穿IGBT;另外,靜電、負(fù)載變化、電網(wǎng)的波動、驅(qū)動電路失效開路以及外部電磁干擾都可能引起電壓擊穿。
過壓擊穿分為兩個步驟:(1)IGBT的雪崩擊穿;(2)IGBT短路。
第一步:雪崩擊穿,當(dāng)IGBT的柵極電壓為零或負(fù)時,處于正向阻斷狀態(tài),此時若IGBT承受外部阻斷電壓較高,耗盡層的電場強(qiáng)度隨電壓升高而升高,就會在耗盡層產(chǎn)生大量的電子和空穴,當(dāng)電場強(qiáng)度超過臨界值時,外部阻斷電壓會使中性區(qū)邊界漂移進(jìn)來的載流子加速獲得很高的動能,這些高能載流子在空間電荷區(qū)與點陣原子碰撞時使之電離,產(chǎn)生新的電子-空穴對。新生的電子-空穴對立即被強(qiáng)電場分開并沿相反方向加速,進(jìn)而獲得足夠動能使另外的點陣原子電離,產(chǎn)生更多的電子-空穴對,載流子在空間電荷區(qū)倍增下去,反向電流迅速增大,發(fā)生雪崩擊穿,直至PN 結(jié)損壞。這個使得PN 結(jié)電場增強(qiáng)到臨界值的外部電壓稱為IGBT的雪崩擊穿電壓。
第二步:IGBT短路,IGBT的雪崩擊穿是一個可逆過程,不會立即導(dǎo)致IGBT損壞,此過程如果通過增加吸收回路等方法使過壓時間控制在10個電壓脈沖周期以內(nèi),IGBT不會表現(xiàn)為不可逆的擊穿狀態(tài),但如果吸收回路沒能在短時間內(nèi)吸收浪涌電壓,那么IGBT則會表現(xiàn)為集電極發(fā)射極短路狀態(tài)(靜電擊穿門級表現(xiàn)為門級發(fā)射極短路),此狀態(tài)不可逆。
1.2 過流擊穿
導(dǎo)致IGBT過流擊穿的原因多為負(fù)載短路、負(fù)載對地短路,此外,由于驅(qū)動電路故障、外界干擾等造成的逆變橋橋臂不正確導(dǎo)通也是過流擊穿的一大原因。
IGBT有一定抗過電流能力,但時間要控制在10 us以內(nèi)。IGBT 內(nèi)部有一個寄生晶閘管,所以有擎住效應(yīng)。在規(guī)定的發(fā)射極電流范圍內(nèi),NPN 的正偏壓不足以使其導(dǎo)通,當(dāng)發(fā)射極電流大到一定程度時,這個正偏壓會使NPN 晶體管開通,進(jìn)而使NPN 和PNP 晶體管處于飽和狀態(tài),導(dǎo)致寄生晶閘管開通,此時門極會失去控制作用,便發(fā)生了擎住效應(yīng),IGBT 發(fā)生擎住效應(yīng)后,發(fā)射極電流過大造成了過高的功耗,最后導(dǎo)致器件的損壞。過流擊穿多表現(xiàn)為可見性炸管。
1.3 過溫?fù)舸?/p>
IGBT的最大工作溫度一般為175 ℃,但實際應(yīng)用中結(jié)溫的最高溫度要控制在150 ℃以下,一般最好不要超過130 ℃,否則高溫會引起外部器件熱疲勞以及IGBT穩(wěn)定性變差,經(jīng)過實際驗證IGBT長時間工作在40 ℃左右為宜。
發(fā)生過溫?fù)舸┑闹饕驗樯嵩O(shè)計不完善,電路設(shè)計原因為死區(qū)時間設(shè)置過短、控制信號受干擾導(dǎo)致的逆變橋臂瞬時短路、負(fù)載阻抗不匹配、驅(qū)動電壓不足、IGBT器件選型錯誤導(dǎo)致的和設(shè)計開關(guān)頻率不匹配等。
過溫失效主要表現(xiàn)在以下幾個方面:柵門檻電壓VGE增大;CE動態(tài)壓降VCE增大;動態(tài)導(dǎo)通時間增大,關(guān)斷時間減??;開關(guān)損耗增大。
2 驅(qū)動保護(hù)電路設(shè)計
2.1 驅(qū)動電路設(shè)計思路
以K40T120(1200 V/40 A)型IGBT為例進(jìn)行驅(qū)動電路設(shè)計:
2.1.1 確定門級電電容及驅(qū)動電壓:用Cin=5 Ciss進(jìn)行計算,根據(jù)手冊可查Ciss=2360 pF,則Cin=2360×5=11.8 nF,
根據(jù)Q=∫idt=Cin×ΔU計算驅(qū)動電壓ΔU經(jīng)查此IGBT門級電容Q=192 nC,ΔU=Q/Cin=16.3 V,因此最小驅(qū)動電壓為16.3 V。
2.1.2 確定門級正偏壓以及負(fù)偏壓:正偏壓Vge越高,器件的導(dǎo)通損耗就越小,但是,Vge不允許超過+20 V,原因是一旦發(fā)生過流或短路,Vge越高,則電流幅值越高,IGBT損壞的可能性就越大。負(fù)偏壓的應(yīng)用是為了在柵極出現(xiàn)開關(guān)噪聲時仍能可靠截止,一般選為5~15 V為宜。綜合最小驅(qū)動電壓16.3 V,由器件Vgate/Ic曲線選定正偏壓+11 V、負(fù)偏壓-9 V為最終驅(qū)動電壓。
另外,驅(qū)動電路還應(yīng)有門極電壓限幅功能,以防外界干擾及器件損壞等造成的門級過驅(qū)動擊穿IGBT。
2.1.3 確定驅(qū)動電流及驅(qū)動電阻:一般來講,IGBT器件的耐壓耐流越大,IGBT的門極和集電極間的等效電容越大,所需的電流越大,此外開關(guān)頻率越大,所需門級電流越大。
K40T120的門級電流為200 mA,以20 V驅(qū)動電壓計算,其最小驅(qū)動電阻為20 V/200 MA=10 K,選擇10 K作為驅(qū)動電阻。
由器件的Rg/Td(on)Td(off)曲線結(jié)合所需開關(guān)頻率確定門級電阻為40 Ω。
此外,IGBT驅(qū)動電路需要設(shè)計隔離電路(可采用光耦隔離或變壓器隔離),防止IGBT擊穿時損壞驅(qū)動電路或者中控電路,設(shè)計的思路是盡可能的簡單實用,要有抗干擾能力,輸出阻抗越低越好。
2.2 IGBT驅(qū)動電路
由于電路中分布電感和分布電容對IGBT高速開關(guān)狀態(tài)會有很大的影響,所以采用分級設(shè)計,前后級用雙絞線進(jìn)行連接。
圖1所示為K40T120的前級驅(qū)動電路:由光耦進(jìn)行隔離,信號由光耦輸入,20 V電壓輸入經(jīng)整形變?yōu)?11/-9 V的驅(qū)動波形由G/E輸出。
圖中電容的作用是使輸出波形更平穩(wěn),穩(wěn)壓管1N4739(9.1 V穩(wěn)壓管)的目的是提供負(fù)偏壓,可根據(jù)實際情況進(jìn)行改變。
圖2所示為IGBT后級驅(qū)動部分,以H橋單橋臂為例實際應(yīng)用中可在電源母線加裝π型濾波器、增加電容組的容量以抑制浪涌電壓,P6KE16CA為雙向瞬態(tài)電壓抑制器件,防止門級電壓過高引起器件損毀。
2.3 IGBT的保護(hù)
IGBT的過壓保護(hù)主要采用減少電路分布電感、增加吸收緩沖回路、增大門級電阻等方法來實現(xiàn),此部分電路加裝在驅(qū)動電路部分。
IGBT的過溫保護(hù)主要采用散熱片加風(fēng)冷的方式實現(xiàn),并參考實際應(yīng)用參數(shù)(工作電流及環(huán)境溫度)進(jìn)行設(shè)計,在此不再贅述。
IGBT過流保護(hù)電路:
IGBT具有一定的過流能力,但是過流時間不可超過10 us,要求過流保護(hù)電路要有高精度、快速反應(yīng)等優(yōu)點,因此采用電源母線采樣、高速比較器進(jìn)行電流比較,一旦超過設(shè)定電流立刻關(guān)斷驅(qū)動波形,保護(hù)IGBT。
圖3所示保護(hù)電路,高速比較器采用LM211,電感L串入母線回路,由330 Ω電阻進(jìn)行采樣并經(jīng)分壓輸入2腳,3腳的基準(zhǔn)電壓有電源電壓分壓得到,調(diào)整20K電阻調(diào)節(jié)保護(hù)靈敏度,CD4013的輸出端可根據(jù)實際需要接入波形發(fā)生電路或經(jīng)光耦隔離接入驅(qū)動電路。
此保護(hù)電路在500 V/20 A的逆變電路中應(yīng)用,IGBT擊穿率下降到7%左右,有實際的應(yīng)用價值。
3 結(jié)語
IGBT器件由于其工作在大電壓、大電流的狀態(tài)下,因此,發(fā)生擊穿甚至炸管的故障較多,但是,只要按照器件手冊及相關(guān)計算公式計算驅(qū)動電壓、電流,選定穩(wěn)定可靠的驅(qū)動電路,合理設(shè)計電路板結(jié)構(gòu),增加相應(yīng)的保護(hù)措施,IGBT完全可以穩(wěn)定可靠地工作。
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