關(guān)于JB/T 4730.2—2005射線檢測部分標準化修訂內(nèi)容的思考

強天鵬，朱從斌

（1.江蘇省特種設(shè)備安全監(jiān)督檢驗研究院，南京 210003；2.中廣核工程有限公司，深圳 518124）

1 概述

JB/T 4730—2005標準［1］發(fā)布至今已有7年，在標準的執(zhí)行過程中積累了較多的經(jīng)驗，相關(guān)章節(jié)需要進行適當修訂或補充，而且目前ASME規(guī)范和歐洲等標準系列中的無損檢測標準有了較大的技術(shù)改進。因此，隨著我國制造業(yè)水平的逐步提高和國家對特種設(shè)備安全性的重視，也為了更好的與國際接軌，根據(jù)國家能源局的要求，全國鍋爐壓力容器標準化技術(shù)委員會組織召開了關(guān)于修訂JB/T 4730—2005（NB/T 47013）的會議。

根據(jù)會議的主旨要求，JB/T 4730.2—2005射線部分的修訂綜合考慮國際和國內(nèi)射線檢測標準的技術(shù)改進，結(jié)合國內(nèi)特種設(shè)備制造的實際特點和標準執(zhí)行的經(jīng)驗，優(yōu)化射線檢測參數(shù)，進一步提高檢測質(zhì)量。

2 射線檢測修訂內(nèi)容的思考

對射線部分修訂的思考基于JB/T 4730—2005為檢測方法標準，主要考慮需要修訂和補充的相關(guān)技術(shù)參數(shù)及參考依據(jù)，涉及檢驗文件、設(shè)備器材、透照工藝、暗室處理和檢驗報告等內(nèi)容，確保標準的全面性、適用性、先進性，同時使標準的執(zhí)行更具可操作性和方便性。

2.1 檢測文件

不同檢測方法規(guī)程編制的差異性大，JB/T 4730.1—2005部分關(guān)于“通用規(guī)程”和“工藝卡”的規(guī)定不能兼顧各種檢測方法的具體要求，考慮是否取消JB/T 4730.1—2005部分關(guān)于“通用規(guī)程”和“工藝卡”的內(nèi)容，移到各分檢測章節(jié)部分，提出檢測工藝規(guī)程內(nèi)容的基本要求，這樣更具體，關(guān)鍵參數(shù)不漏項；或在保留JB/T 4730.1—2005部分“通用規(guī)程”和“工藝卡”規(guī)定的基礎(chǔ)上，對各分檢測章節(jié)補充不同檢測方法的特殊要求。

考慮把目前JB/T 4730.1—2005中“通用規(guī)程”和“工藝卡”相結(jié)合的強制要求修改為推薦方式之一，另一種推薦的方式就是直接編制針對具體檢測對象的可操作性的射線檢測工藝規(guī)程或操作指導(dǎo)書。同時提出首次使用射線檢測規(guī)程或重要參數(shù)改變時對規(guī)程鑒定的具體要求，并分析射線檢測的關(guān)鍵要素，使檢測規(guī)程真正成為指導(dǎo)檢測人員操作的指導(dǎo)性文件。

2.2 膠片分類及其選擇

工程上普遍采用的工業(yè)膠片分類標準是ASTM E1815［2］、EN584－1［3］和ISO 11699［4］，JB/T 4730—2005標準中T1～T4的分類依據(jù)的是等同采用ISO 11699—1998的 GB/T 19348.1—2003［5］標準，目前的ISO 11699—2008標準在膠片分類上已經(jīng)進行了修訂，同于EN 584－1分為C1～C6類，二者只是在C2類膠片（G/σD）min和σDmax兩項參數(shù)指標上存在差異。因此會考慮修訂JB/T 4730—2005標準中T1～T4的分類，采用ISO 11699.1—2008標準的膠片分類依據(jù)，與國際接軌，使分類更加細化，膠片選擇會比較直接和方便。

膠片系統(tǒng)是膠片和膠片處理的組合，為獲得選定的膠片系統(tǒng)性能，考慮優(yōu)先選擇按膠片制造商推薦的處理條件進行，增加膠片供應(yīng)商應(yīng)提供的膠片處理參數(shù)的相關(guān)內(nèi)容。

膠片灰霧度的物理意義應(yīng)是未曝光的膠片經(jīng)顯影處理后的總體黑度，與膠片的儲存條件及暗室處理情況有關(guān)，JB/T 4730—2005中規(guī)定膠片灰霧度不得大于0.3，考慮在此基礎(chǔ)上補充膠片灰霧度測量時間間隔、抽樣及暗室處理條件與產(chǎn)品底片暗室處理條件之間的關(guān)系等技術(shù)要求，做到對灰霧度的監(jiān)控，保證底片質(zhì)量。

根據(jù)擬修訂的膠片系統(tǒng)分類等級，重新確定JB/T 4730.2—2005標準中不同的透照技術(shù)、射線源和材料情況下膠片系統(tǒng)的選擇原則。

2.3 射線源170Tm和169Yb

170Tm和169Yb射線源適用于薄板和輕金屬的檢測，為使標準的應(yīng)用范圍更加廣泛，也為薄板和輕金屬檢測時170Tm和169Yb射線源的選擇提供標準依據(jù)，參考GB/T 3323《金屬熔化焊焊接接頭射線照相》，EN 1435［6］和ISO 17636［7］，在工藝性研究試驗的基礎(chǔ)上增加相關(guān)要求（如增感屏選擇、膠片系統(tǒng)選擇等），同時規(guī)定射線源指標應(yīng)符合相應(yīng)的制造標準（如GB/T 14058—2008）［8］。

2.4 像質(zhì)計

考慮使用孔型像質(zhì)計比絲型像質(zhì)計更有益于控制底片質(zhì)量，也為設(shè)計或合同方要求選擇孔型像質(zhì)計時提供標準依據(jù)，在充分調(diào)研的基礎(chǔ)上，考慮JB/T 4730.2—2005增加孔型像質(zhì)計的選擇，主要包括適用的孔型像質(zhì)計標準（如GB/T 23910—2009）［9］、型號、規(guī)格、材料、適用范圍等。

JB/T 7902—2006［10］標準已經(jīng)頒布并替代JB/T 7902—1999標準，考慮是否取消引用HB 7684［11］標準的規(guī)定，同時考慮采用GB/T 23901—2009代替JB/T 7902—2006的可能性（標準附錄A除外），與孔型像質(zhì)計標準保持一致。對于等徑像質(zhì)計，則考慮是否直接引用JB/T 7902—2006附錄A的要求。

考慮增加絲型像質(zhì)計材料選擇的總體原則，絲型像質(zhì)計材料吸收系數(shù)應(yīng)低于或等同于被檢工件材料的系數(shù)（JB/T 7902并未提及），并考慮修訂JB/T 4730.2—2005中表2的適用范圍，如表2中允許奧氏體不銹鋼像質(zhì)計用于碳鋼材料檢測的規(guī)定就不恰當。

2.5 增感屏

規(guī)定增感屏相關(guān)指標應(yīng)符合相應(yīng)的制造標準（如GB/T 23910—2009），保證增感屏質(zhì)量。

根據(jù)采取的不同膠片透照技術(shù)，增加中增感屏技術(shù)要求，在充分調(diào)研和工藝性試驗的基礎(chǔ)上確定中增感屏的材料和厚度選擇原則。

調(diào)研和討論采用60Co射線源透照延遲裂紋傾向或抗壓強度Rm≥540MPa材料時，強制采用鋼或銅增感屏的可能性。實踐證明使用60Co射線源透照時采用鋼或銅比使用鉛增感屏的像質(zhì)計靈敏度至少提高一個等級。

2.6 濾光板

JB/T 4730—2005第4.6.1節(jié)提及了濾光板，但未作出具體闡述，考慮采用γ射線透照（尤其透照大厚度焊縫）時底片對比度低所帶來的靈敏度損失，以及盡可能的減少散射線的影響，建議考慮補充濾光板的使用及選擇要求。

ASME V SE—1994［12］中提及了濾光板使用的基本原則，但不具體；RCC－M標準［13］對使用γ射線透照時濾光板的選用有具體的規(guī)定，對提高底片的靈敏度在核電建造領(lǐng)域也有良好的工程實踐。在參考兩個標準的要求并作充分的工藝性試驗的基礎(chǔ)上，考慮增加γ射線透照使用濾光板的可能性或作為資料性附錄提出。γ射線源采用濾光板比不使用濾光板時的像質(zhì)計靈敏度至少提高一個等級。

2.7 鉛字“B”和背散射屏蔽鉛板的相對位置

為檢測背散射的影響，應(yīng)在暗盒后面附加背散射屏蔽鉛板，當后增感屏不足以屏蔽背散射時，需要附加背散射屏蔽鉛板進行防護。為了驗證此時的背散射屏蔽效果，且為了避免鉛字“B”對膠片附加增感的影響，此時鉛字“B”放置在屏蔽鉛板后面應(yīng)更為合理，但在實際操作時，許多RT檢測人員對于標準的理解存在歧義，無論是否附加背散射屏蔽鉛板，鉛字“B”往往放置在暗盒后面，甚至在定制暗盒時鉛字“B”已經(jīng)固定，這不合適。為了保證背散射屏蔽的可靠性，考慮標準修訂時對此應(yīng)加以明確。

JB/T 4730—2005、ISO 17636、EN 1435 和ASME標準對此均不明確，RCC－M標準則明確規(guī)定鉛字“B”必須放置于背散射屏蔽鉛板的后面。

2.8 其它透照布置

GB 150標準規(guī)定角接接頭對接焊縫（以下簡稱“角焊縫”）有射線檢測要求時應(yīng)按照JB/T 4730—2005標準來執(zhí)行，但JB/T 4730—2005標準并未規(guī)定角焊縫的相關(guān)檢測技術(shù)參數(shù)。為了使角焊縫的射線檢測有標準依據(jù)，考慮參考 GB/T 3323、ISO 17636或EN 1435標準增加安放式和插入接管全焊透角焊縫的透照布置。根據(jù)目前特種設(shè)備承壓焊縫分類情況和透照的可操作性，暫不考慮T型接頭的射線檢測情況。

換熱器管子管板焊縫的射線檢測已應(yīng)用廣泛，此類焊縫的射線檢測尚無標準依據(jù)，參考化工、核電、火電等行業(yè)的工程實踐，考慮在JB/T 4730.2－2005中補充相關(guān)檢測技術(shù)要求或作為資料性附錄提出，為此類焊縫的檢測提供依據(jù)或參考。

角焊縫或管子管板焊縫射線檢測與對接焊縫檢測相比，主要考慮對背散射屏蔽鉛板厚度選擇、射線源與工件及底片的位置關(guān)系（幾何不清晰度Ug的計算）、透照布置、膠片透照技術(shù)等方面作較為詳細的規(guī)定，并考慮插入式角焊縫內(nèi)透照時Ug的最大值適當放寬的可能性，并針對不同角焊縫的特點進行工藝性研究試驗。

2.9 小徑管透照

鑒于小徑管底片有效評定區(qū)是根據(jù)底片上黑度滿足要求的范圍來確定，為保證管子100%有效檢測，底片評定區(qū)應(yīng)該做到有效的重疊，JB/T 4730.2—2005只是給出了透照次數(shù)。因此必須明確在滿足透照次數(shù)的情況下應(yīng)保證相鄰角度底片評定區(qū)有效重疊。

由于結(jié)構(gòu)原因只能透照一次時，在對不同的管徑和厚度進行充分調(diào)研和實際操作驗證的基礎(chǔ)上，思考是否對焊縫影像兩邊不能評定的區(qū)域根據(jù)不同管徑和壁厚情況給出一個最大范圍，以規(guī)范實際操作。

2.10 有效評定區(qū)的搭接

為保證焊接接頭的整個體積范圍能夠達到100%檢測.考慮增加100%檢測時有效評定區(qū)搭接的技術(shù)要求，意味著增加暗盒直接搭接透照的相關(guān)限制條件和技術(shù)要求。這是因為評定區(qū)的搭接并不意味著暗盒的直接搭接透照.相鄰部位暗盒直接搭接透照時，后面底片搭接部位黑度降低，其長度范圍往往大于前面底片的搭接區(qū)，因此即使采用前面底片對搭接部位進行了評定，仍需要對部分黑度降低區(qū)進行評定，如果黑度不滿足標準要求，也就不能保證對焊縫進行了100%檢測。

2.11 膠片透照技術(shù)和底片觀察技術(shù)

考慮透照大厚度工件、厚度差變化較大焊縫及不同種類材料焊接的需要，明確允許采用雙膠片和多膠片透照技術(shù)的要求。

JB/T 4730—2005對于AB和B級透照技術(shù)只允許單片觀察，雙片疊加觀察只是應(yīng)用于A級透照技術(shù)，建議允許采用雙膠片技術(shù)或多膠片技術(shù)的同時，對應(yīng)的也允許雙片疊加觀察評定，尤其是透照大厚度工件及厚度差變化較大焊縫及不同種類材料焊接的時候該工藝的優(yōu)勢更為突出。ASME V T282允許雙片評定，并對黑度范圍作了規(guī)定；RCC－M標準對此有更為詳細和明確的規(guī)定，并且是強制的，在核電建造領(lǐng)域也有良好的工程實踐?？紤]RCC－M標準對于雙/多膠片透照技術(shù)底片疊加評定的工程實踐經(jīng)驗，允許JB/T 4730.2—2005對雙片疊加評定。

采用雙/多膠片透照技術(shù)及雙片評定，主要考慮以下幾個方面：

（1）采用雙膠片透照技術(shù)時，在保證足夠曝光量的基礎(chǔ)上盡量減少了曝光時間，從而最大可能的減小散射線的影響，提高底片對比度。

（2）在選用滿足上述曝光量和盡量減少散射線的基礎(chǔ)上，采用雙片疊加評定時能得到滿意底片黑度值。

（3）采用雙膠片透照技術(shù)有利于缺陷和偽缺陷的解釋和評定。

（4）獲得較大底片寬容度范圍（如角焊縫透照時）。

（5）與役前和在役射線檢測保持一致，有利于底片評定的一致性和缺陷的跟蹤控制，設(shè)備在役檢測采用雙/多膠片透照技術(shù)更能保證透照質(zhì)量和效率。

2.12 膠片與被檢工件之間的距離

除非其他的布置能使被檢區(qū)域得到更好的透照圖像，否則，曝光期間，膠片應(yīng)緊貼于工件，不得隨意布置。

2.13 像質(zhì)計放置

如果標準修訂增加角焊縫和不等厚焊縫及不同種類材料焊接的射線檢測布置，考慮修訂補充此種透照條件下像質(zhì)計放置的技術(shù)要求。主要是考慮像質(zhì)計的種類、型號和放置數(shù)量及位置等。如角焊縫射線檢測時，考慮像質(zhì)計放置于有效評定區(qū)黑度最低的區(qū)域等規(guī)定。

2.14 底片標識的補充

對于設(shè)計或合同要求內(nèi)外焊縫余高均磨平的情況，底片上不能正確區(qū)別焊縫時，不利于有效評定區(qū)的識別，影響底片評定及缺陷判別，針對此種情況下考慮補充標識確定檢測區(qū)寬度范圍的技術(shù)要求；同時為了能精確的辨別底片位置，考慮補充被檢工件上永久標識，或參考點，或其它確定底片位置方法（如布片圖）等的相關(guān)技術(shù)要求。

2.15 膠片處理

底片的保存壽命直接與底片上殘存的硫代硫酸根離子的含量有關(guān)，為了確保對膠片所進行的處理能使底片得到最佳保存，必須補充底片處理質(zhì)量檢測的相關(guān)技術(shù)要求。ASME SE—1994中提出了測定要求，RCC－M標準對此作了較為詳細的測定方法和后續(xù)行動要求規(guī)定。

考慮實際生產(chǎn)過程中會出現(xiàn)不按照膠片供應(yīng)商推薦的處理方式執(zhí)行的情況（如AGFA膠片，采用KODARK藥液處理），且考慮國內(nèi)藥液質(zhì)量參差不齊，為了保證按照處理的質(zhì)量，考慮是否提出對膠片處理方式改變時進行評估的相關(guān)要求，如GB/T 19348.2—2003和ISO 11699.2—1998附錄A的規(guī)定。

2.16 暗室紅燈安全性測試

國內(nèi)暗室紅燈的制造水平參差不齊，為了控制膠片暗室處理時不合格安全燈對底片灰霧度的影響，參 考 ASME V 、GB/T 6846—2008 和 ISO 8374—2001標準確定暗室安全照明時間的方法，補充安全燈測試的技術(shù)要求。

2.17 標準密度片

JB/T 4730.2—2005 AB級要求的底片黑度范圍是2.0～4.0，為了保證黑度計在有效黑度范圍內(nèi)的測量精度，考慮對標準密度片的黑度范圍和測量點數(shù)目進行規(guī)定。

2.18 檢驗時機和檢驗技術(shù)等級選擇

JB/T 4730—2005作為方法標準不宜直接確定檢驗時機和檢驗技術(shù)等級，應(yīng)按照相應(yīng)的法規(guī)、規(guī)范標準、設(shè)計或業(yè)主的要求進行。例如：國家強制性標準GB 150.4—2011和GB 12337—1998等已經(jīng)全面且明確了檢驗時機和檢驗技術(shù)等級選擇要求；JB/T 4730.2—2005中規(guī)定的“焊后”或“24h”并不能覆蓋各種承壓設(shè)備的要求，且容易造成誤解和遺漏，比如GB 12337—1998中規(guī)定球罐采用具有延遲裂紋傾向材料制造時，應(yīng)在焊后至少36h后進行檢測。

2.19 檢測報告

報告中補充檢測時機（如再熱裂紋需在熱處理前或/和后檢測）、像質(zhì)計、底片評定（如底片像質(zhì)計靈敏度、底片黑度、底片缺陷位置和性質(zhì)）等相關(guān)技術(shù)要求，保證關(guān)鍵參數(shù)不漏項和檢測的可追溯性。

考慮“委托單位”修訂為“制造方，檢測方或委托單位”以適應(yīng)不同性質(zhì)的檢測（如制造廠產(chǎn)品檢測、檢測公司的檢測及法定強制檢測）。

3 結(jié)語

JB/T 4730—2005的修訂工作應(yīng)考慮符合國際無損檢測技術(shù)的發(fā)展方向、與國際接軌，根據(jù)工程實踐經(jīng)驗和我國特種設(shè)備檢測的現(xiàn)實情況，補充、細化和明確相關(guān)檢測技術(shù)參數(shù)和概念，同時還要兼顧生產(chǎn)效率和成本，這需要國內(nèi)無損檢測工作者的共同努力和實踐。

［1］JB/T 4730—2005 特種設(shè)備無損檢測［S］.

［2］ASTM E 1815—2008 工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)分類的標準試驗方法［S］.

［3］EN 584－1—2006 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類［S］.

［4］ISO 11699－1—2008 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片第1部分 工業(yè)射線照相膠片系列的分類［S］.

［5］GB/T 19348.1—2003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第1部分 工業(yè)射線照相膠片系列的分類［S］.

［6］BN 1435—1997 焊縫的無損檢測 熔化焊縫射線照相檢驗［S］.

［7］ISO 17636—2003 焊縫無損檢測 熔化焊焊縫的射線照相檢測［S］.

［8］GB/T 14058—2008 γ射線探傷機［S］.

［9］GB/T 23910—2009 無損檢測 射線照相檢測用金屬增感屏［S］.

［10］JB/T 7902—2006 無損檢測 射線照相檢測用線型像質(zhì)計［S］.

［11］HB 7684—2000 射線照相檢驗用線型像質(zhì)計［S］.

［12］ASME V—2010 ASME Boiler and Pressure Vessel Code V Nondestructive Examination［S］.

［13］RCC－M—2000 Edition ＆ Addendum 2002Deign and Construction Rules for Mechanical Components of PWR Nuclear Islands［S］.