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    基于EDXRF光譜法的水系沉積物中多種重金屬成分分析

    2011-09-18 08:55:10秦旭磊孫振路宋忠華
    關(guān)鍵詞:沉積物X射線校正

    秦旭磊,孫振路,宋忠華

    (1.長(zhǎng)春理工大學(xué) 理學(xué)院,長(zhǎng)春 130022;2.河北省激光研究所,石家莊 050081)

    EDXRF(能量色散X射線熒光光譜)分析方法具有精度高、分析速度快、試樣制備簡(jiǎn)單、重現(xiàn)性好、成本低和無(wú)損檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn),這是現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)手段所不能同時(shí)做到的。上世紀(jì)80年代初步形成了以X射線熒光光譜法為主體的化探樣品分析系統(tǒng),產(chǎn)生了巨大的經(jīng)濟(jì)效益。

    由于EDXRF法測(cè)液體樣品誤差大,不適合直接對(duì)水質(zhì)等液體中重金屬成分進(jìn)行檢測(cè),且在受重金屬污染的水體中,水相中的金屬的含量很微小,隨機(jī)性很大,常隨排放狀況與水力學(xué)條件而變化,其金屬含量的分布往往毫無(wú)規(guī)律。而沉積物主要是由有機(jī)質(zhì)及次生粘土礦物等組成,對(duì)進(jìn)入其中的重金屬有很強(qiáng)的吸附作用,致使進(jìn)入水體中的重金屬污染物絕大部分積聚在沉積物中,因此對(duì)沉積物的研究是很有價(jià)值的。

    重金屬元素的污染對(duì)人體、生物和水體都有很大影響,本文選取長(zhǎng)春市南湖水系沉積物作為研究對(duì)象,利用X射線熒光光譜法對(duì)沉積物中的Ba、Pb、As、Cr、Co、Ni、Cu、Zn等重金屬元素進(jìn)行定性定量分析,為南湖環(huán)境治理提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。

    1 EDXRF光譜儀結(jié)構(gòu)和工作原理

    EDXRF光譜儀,一般由高壓電源、X光管、樣品臺(tái)、檢測(cè)器、放大器、多道脈沖分析器、計(jì)算機(jī)以及外設(shè)打印機(jī)組成,如圖1所示。

    圖1 X射線熒光光譜儀結(jié)構(gòu)圖Fig.1 The structure of X-ray fluorescence spectrometer

    EDXRF工作原理:樣品放置于檢測(cè)位置,X射線管發(fā)出X射線激發(fā)樣品,使樣品中各個(gè)元素產(chǎn)生出各自的特征X射線,這些特征X射線進(jìn)入檢測(cè)器產(chǎn)生脈沖信號(hào),經(jīng)過(guò)前置放大器送入脈沖放大器,經(jīng)脈沖放大器的放大與脈沖形成,送入模數(shù)轉(zhuǎn)換器,將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字量,送入計(jì)算機(jī)接口,軟件通過(guò)控制接口電路進(jìn)行譜數(shù)據(jù)的采集和控制。X射線熒光分析軟件通過(guò)對(duì)各種特征X射線能量的分析可以得到定性的結(jié)果,即可知道樣品中含有何種元素,再通過(guò)對(duì)特征X射線的強(qiáng)度計(jì)算與分析,最終完成樣品中各元素含量的分析。

    圖2 X射線熒光產(chǎn)生原理Fig.2 The principle of X-ray fluorescence

    K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可產(chǎn)生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線。同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。

    2 實(shí)驗(yàn)部分

    2.1 樣品制備

    首先在長(zhǎng)春南湖周邊選取七處采樣點(diǎn),它們分布在南湖幾何中心的周圍(如圖3),測(cè)試結(jié)果能夠?qū)δ虾鱿鄬?duì)客觀評(píng)價(jià)。采樣后,濾干水分,包裝好后標(biāo)明采樣點(diǎn)后,運(yùn)回準(zhǔn)備制樣。室溫下(22℃)自然風(fēng)干后,經(jīng)研磨后用200目篩篩過(guò)。稱取2克研磨后的沉積物,放入磨具內(nèi),撥平,用低壓聚乙烯鑲邊墊底,在35t壓力下,試樣壓制成直徑22mm、鑲邊外徑為30mm的原片。標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品采用相同的制樣方法。

    圖3 待測(cè)沉積物采樣點(diǎn)分布Fig.3 The sampling place of test sediments

    2.2 校準(zhǔn)樣品的選擇與制樣

    對(duì)于粉末狀樣品壓片制樣,礦物效應(yīng)和基體效應(yīng)是產(chǎn)生分析誤差的主要來(lái)源,為了減少這些效應(yīng)的影響,所選擇的校準(zhǔn)樣品應(yīng)與待分析樣品具有相似的類型,即在結(jié)構(gòu)、礦物組成、粒度和化學(xué)組成上要相似,而且校準(zhǔn)樣品中各元素應(yīng)具有足夠?qū)挼暮糠秶瓦m當(dāng)?shù)暮刻荻?。選用GBW07301-GBW07312(水系沉積物)制成樣片作為校準(zhǔn)樣品,校準(zhǔn)樣品中各元素組分的含量范圍見(jiàn)表1。(只列舉8種待測(cè)元素含量范圍)

    表1 校準(zhǔn)樣品中各組分的含量范圍Tab.1 Concentration rang of standard sample composition

    2.3 譜線重疊干擾及基體效應(yīng)校正

    待測(cè)元素扣除相應(yīng)譜線的重疊干擾后,還要用康普頓內(nèi)標(biāo)法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正基體效應(yīng),所用的綜合數(shù)學(xué)校正公式為:

    式中:Ci為未知樣品中分析元素i的含量;Di為元素i的校準(zhǔn)曲線的截距;Lim為干擾元素m的含量或計(jì)數(shù)率;Ei為分析元素i校準(zhǔn)曲線的斜率;Ri為分析元素i的計(jì)數(shù)率(或與內(nèi)標(biāo)線的遷都比值);Zj為共存元素的含量或計(jì)數(shù)率;α為校正基體效應(yīng)的因子;n為共存元素的數(shù)目;i和 j分別為分析元素和共存元素。

    圖4 Ni校正前后工作曲線對(duì)比Fig.4 Comparison of the calibration curve before and after correction for Ni

    對(duì)于微量元素采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法和基本參數(shù)法校正,公式(1)變?yōu)?/p>

    使用多個(gè)校準(zhǔn)樣品,由公式(2)通過(guò)線性回歸求得。

    利用理論方程和基本參數(shù)計(jì)算的理論α系數(shù)校正基體效應(yīng),實(shí)現(xiàn)強(qiáng)度與濃度準(zhǔn)確換算,輔以少量標(biāo)準(zhǔn)樣品建立校準(zhǔn)曲線,經(jīng)過(guò)校正,可以看出經(jīng)過(guò)擬合后的曲線,使儀器工作在線性范圍內(nèi),工作曲線校正完成。

    3 結(jié)論

    3.1 測(cè)試結(jié)果

    以濃度表示的最低檢出限LLD為

    式中:S為靈敏度,單位是cps/(μg/g);Rb為背景計(jì)數(shù)率,單位是cps;Tb為有效測(cè)量時(shí)間,單位是s。

    采用粉末壓片法的7個(gè)標(biāo)樣反復(fù)測(cè)量10次,將所得結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì),其結(jié)果見(jiàn)表2。

    表2 測(cè)試結(jié)果Tab.2 Test result

    3.2 結(jié)語(yǔ)

    (1)對(duì)于固體待測(cè)樣品,采用粉末壓片法制樣,利用EDXRF進(jìn)行成分組成檢測(cè),方法簡(jiǎn)便,準(zhǔn)確靈敏。測(cè)試結(jié)果置信度高,可以作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)手段,特別適合對(duì)土壤、礦物及水系沉積物等地質(zhì)樣品中的重金屬元素檢測(cè)。

    (2)基于EDXRF檢測(cè)強(qiáng)度與含量呈現(xiàn)較好的線性關(guān)系,通過(guò)線性回歸模型對(duì)結(jié)果進(jìn)行含量轉(zhuǎn)換,與南湖湖底沉積物ICP-OES方法所測(cè)元素含量一致,且相對(duì)傳統(tǒng)的檢測(cè)方法,EDXRF方法明顯降低成本,在化探檢測(cè)研究中有廣闊應(yīng)用前景。

    [1]吉昂,陶光儀,卓尚軍,等.X射線熒光光譜分析[M].北京:科學(xué)出版社,2003.

    [2]卓尚軍,陶光儀,韓小元.X射線熒光光譜的基本參數(shù)法[M].上海:上??茖W(xué)技術(shù)出版社,2010.

    [3]雷國(guó)良,張虎才,常鳳琴,等.湖泊沉積物XRF元素連續(xù)掃描與常規(guī)ICP-OES分析結(jié)果的對(duì)比校正[J].湖泊科學(xué):2011,23(2):287-294.

    [4]李哲,庹先國(guó),楊劍波,等.EDXRF中鎳銅鋅元素間效應(yīng)分析及校正技術(shù)研究[J].光譜學(xué)與光譜分析:2010,30(10):2842-2847.

    [5]張江云,黃寧,劉艷芳,等.EDXRF分析裝置的角度布置對(duì)熒光計(jì)數(shù)率影響的蒙特卡羅模擬[J].核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù):2011,31(2):136-138.

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